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    一種微電子組件測試用邏輯分析儀制造技術(shù)

    技術(shù)編號:41377094 閱讀:14 留言:0更新日期:2024-05-20 10:20
    本技術(shù)涉及邏輯分析儀技術(shù)領(lǐng)域,提出了一種微電子組件測試用邏輯分析儀,包括外殼,外殼內(nèi)安裝有邏輯分析儀主體,邏輯分析儀主體與外殼設(shè)置有連接安裝組件,支撐組件設(shè)置在外殼底部,散熱處理組件設(shè)置在外殼內(nèi),散熱處理組件包括矩形口,矩形口內(nèi)側(cè)表面開設(shè)有安裝槽,安裝槽內(nèi)插裝連接有過濾網(wǎng),外殼內(nèi)側(cè)表面固定連接有內(nèi)罩。通過上述技術(shù)方案,解決了相關(guān)技術(shù)中現(xiàn)有大部分邏輯分析儀常放置于機房內(nèi)或工作室內(nèi),且邏輯分析儀處于相對封閉的狀態(tài),使得邏輯分析儀內(nèi)部的組件在工作中產(chǎn)生的熱量無法很好地排出,導(dǎo)致邏輯分析儀內(nèi)部溫度較高,影響邏輯分析儀的正常使用的問題的問題。

    【技術(shù)實現(xiàn)步驟摘要】

    本技術(shù)涉及邏輯分析儀,具體的,涉及一種微電子組件測試用邏輯分析儀。


    技術(shù)介紹

    1、在這個科技高速發(fā)展的社會,一切都在追求高效率,自動化、智能化已經(jīng)成為協(xié)議分析的發(fā)展方向,在這個思想的指引下各種測試儀器的協(xié)議分析功能出現(xiàn)并發(fā)展起來,大多數(shù)開發(fā)人員通過邏輯分析儀等測試工具的協(xié)議分析功能可以很輕松的發(fā)現(xiàn)錯誤、調(diào)試硬件、加快開發(fā)進度,為高速度、高質(zhì)量完成工程提供保障。

    2、現(xiàn)有大部分邏輯分析儀常放置于機房內(nèi)或工作室內(nèi),且邏輯分析儀處于相對封閉的狀態(tài),使得邏輯分析儀內(nèi)部的組件在工作中產(chǎn)生的熱量無法很好地排出,導(dǎo)致邏輯分析儀內(nèi)部溫度較高,影響邏輯分析儀的正常使用的問題。針對上述提出的問題,在原有的邏輯分析儀基礎(chǔ)上進行創(chuàng)新設(shè)計。


    技術(shù)實現(xiàn)思路

    1、本技術(shù)提出一種微電子組件測試用邏輯分析儀,解決了相關(guān)技術(shù)中現(xiàn)有大部分邏輯分析儀常放置于機房內(nèi)或工作室內(nèi),且邏輯分析儀處于相對封閉的狀態(tài),使得邏輯分析儀內(nèi)部的組件在工作中產(chǎn)生的熱量無法很好地排出,導(dǎo)致邏輯分析儀內(nèi)部溫度較高,影響邏輯分析儀的正常使用的問題。

    2、本技術(shù)的技術(shù)方案如下:包括

    3、外殼,所述外殼內(nèi)安裝有邏輯分析儀主體;

    4、所述邏輯分析儀主體與所述外殼設(shè)置有連接安裝組件;

    5、支撐組件,所述支撐組件設(shè)置在所述外殼底部;

    6、散熱處理組件,所述散熱處理組件設(shè)置在所述外殼內(nèi),所述散熱處理組件包括矩形口,所述矩形口內(nèi)側(cè)表面開設(shè)有安裝槽,所述安裝槽內(nèi)插裝連接有過濾網(wǎng),所述外殼內(nèi)側(cè)表面固定連接有內(nèi)罩。

    7、作為進一步的技術(shù)方案,所述內(nèi)罩上表面安裝有散熱風(fēng)扇,所述外殼內(nèi)壁固定連接有負離子發(fā)生器,所述負離子發(fā)生器位于所述散熱風(fēng)扇正上方。

    8、作為進一步的技術(shù)方案,所述連接安裝組件包括底板,所述底板與所述外殼內(nèi)底部連接有伸縮桿,所述底板與所述邏輯分析儀主體之間采用螺栓固定連接,所述邏輯分析儀主體一端設(shè)置有外罩板。

    9、作為進一步的技術(shù)方案,所述邏輯分析儀主體頂部固定連接有內(nèi)螺紋塊,所述外殼內(nèi)頂部轉(zhuǎn)動連接有驅(qū)動絲杠,所述驅(qū)動絲杠與所述內(nèi)螺紋塊通過螺紋配合連接,所述外殼頂部轉(zhuǎn)動連接有旋擰塊,所述旋擰塊下端與所述驅(qū)動絲杠一端均固定連接有傳動齒輪。

    10、作為進一步的技術(shù)方案,所述支撐組件包括后座,所述后座固定在所述外殼底面一側(cè),所述外殼底部固定連接有固定塊,所述固定塊內(nèi)通過銷軸轉(zhuǎn)動連接有支撐腿,所述支撐腿內(nèi)部通過銷軸轉(zhuǎn)動連接有支撐桿,所述支撐腿底部開設(shè)有通孔。

    11、作為進一步的技術(shù)方案,所述內(nèi)罩上表面以及所述散熱風(fēng)扇均為傾斜狀。

    12、作為進一步的技術(shù)方案,所述支撐桿整體呈l字形結(jié)構(gòu),所述支撐腿下端面以及所述支撐桿上端面均為磨砂狀防滑結(jié)構(gòu)。

    13、作為進一步的技術(shù)方案,所述外殼頂部通過銷軸轉(zhuǎn)動連接有把手架。

    14、本技術(shù)的工作原理及有益效果為:

    15、1、本技術(shù)中設(shè)置有散熱處理組件,在外殼的尾端內(nèi)部安裝有散熱風(fēng)扇,可將外部的空氣通過矩形口的過濾網(wǎng)過濾護理后進入到外殼內(nèi),并在外殼內(nèi)向前端流動,流動的過程中將邏輯分析儀主體產(chǎn)生的熱量向外吹出,并且進入的空氣會通過負離子發(fā)生器來攜帶負離子,通過負離子對消除邏輯分析儀主體產(chǎn)生的靜電。

    16、2、本技術(shù)中設(shè)置有連接安裝組件,在外殼內(nèi)的底部設(shè)置有底板,底板可配合伸縮桿向外移動伸縮,并采用驅(qū)動絲杠與內(nèi)螺紋塊的配合傳動,調(diào)節(jié)方式簡單且位置牢固,不會出現(xiàn)滑動的情況,具有很好的使用效果。

    本文檔來自技高網(wǎng)...

    【技術(shù)保護點】

    1.一種微電子組件測試用邏輯分析儀,其特征在于,包括

    2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種微電子組件測試用邏輯分析儀,其特征在于,所述內(nèi)罩(3-4)上表面安裝有散熱風(fēng)扇(3-5),所述外殼(1)內(nèi)壁固定連接有負離子發(fā)生器(3-6),所述負離子發(fā)生器(3-6)位于所述散熱風(fēng)扇(3-5)正上方。

    3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種微電子組件測試用邏輯分析儀,其特征在于,所述連接安裝組件(4)包括底板(4-1),所述底板(4-1)與所述外殼(1)內(nèi)底部連接有伸縮桿(4-2),所述底板(4-1)與所述邏輯分析儀主體(2)之間采用螺栓固定連接,所述邏輯分析儀主體(2)一端設(shè)置有外罩板(4-3)。

    4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種微電子組件測試用邏輯分析儀,其特征在于,所述邏輯分析儀主體(2)頂部固定連接有內(nèi)螺紋塊(4-4),所述外殼(1)內(nèi)頂部轉(zhuǎn)動連接有驅(qū)動絲杠(4-5),所述驅(qū)動絲杠(4-5)與所述內(nèi)螺紋塊(4-4)通過螺紋配合連接,所述外殼(1)頂部轉(zhuǎn)動連接有旋擰塊(4-6),所述旋擰塊(4-6)下端與所述驅(qū)動絲杠一端均固定連接有傳動齒輪(4-7)。

    5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種微電子組件測試用邏輯分析儀,其特征在于,所述支撐組件(5)包括后座(5-1),所述后座(5-1)固定在所述外殼(1)底面一側(cè),所述外殼(1)底部固定連接有固定塊(5-2),所述固定塊(5-2)內(nèi)通過銷軸轉(zhuǎn)動連接有支撐腿(5-3),所述支撐腿(5-3)內(nèi)部通過銷軸轉(zhuǎn)動連接有支撐桿(5-4),所述支撐腿(5-3)底部開設(shè)有通孔(5-5)。

    6.根據(jù)權(quán)利要求2所述的一種微電子組件測試用邏輯分析儀,其特征在于,所述內(nèi)罩(3-4)上表面以及所述散熱風(fēng)扇(3-5)均為傾斜狀。

    7.根據(jù)權(quán)利要求5所述的一種微電子組件測試用邏輯分析儀,其特征在于,所述支撐桿(5-4)整體呈L字形結(jié)構(gòu),所述支撐腿(5-3)下端面以及所述支撐桿(5-4)上端面均為磨砂狀防滑結(jié)構(gòu)。

    8.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種微電子組件測試用邏輯分析儀,其特征在于,所述外殼(1)頂部通過銷軸轉(zhuǎn)動連接有把手架(6)。

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    【技術(shù)特征摘要】

    1.一種微電子組件測試用邏輯分析儀,其特征在于,包括

    2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種微電子組件測試用邏輯分析儀,其特征在于,所述內(nèi)罩(3-4)上表面安裝有散熱風(fēng)扇(3-5),所述外殼(1)內(nèi)壁固定連接有負離子發(fā)生器(3-6),所述負離子發(fā)生器(3-6)位于所述散熱風(fēng)扇(3-5)正上方。

    3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種微電子組件測試用邏輯分析儀,其特征在于,所述連接安裝組件(4)包括底板(4-1),所述底板(4-1)與所述外殼(1)內(nèi)底部連接有伸縮桿(4-2),所述底板(4-1)與所述邏輯分析儀主體(2)之間采用螺栓固定連接,所述邏輯分析儀主體(2)一端設(shè)置有外罩板(4-3)。

    4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種微電子組件測試用邏輯分析儀,其特征在于,所述邏輯分析儀主體(2)頂部固定連接有內(nèi)螺紋塊(4-4),所述外殼(1)內(nèi)頂部轉(zhuǎn)動連接有驅(qū)動絲杠(4-5),所述驅(qū)動絲杠(4-5)與所述內(nèi)螺紋塊(4-4)通過螺紋配合連接,所述外殼(1)頂部轉(zhuǎn)動連接有旋擰塊(4-6),所述旋擰塊(...

    【專利技術(shù)屬性】
    技術(shù)研發(fā)人員:劉佳杭,裴梓霖裴懷寶,劉穎,
    申請(專利權(quán))人:唐山宏佳電子科技有限公司
    類型:新型
    國別省市:

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