【技術(shù)實(shí)現(xiàn)步驟摘要】
本技術(shù)涉及半導(dǎo)體集成電路的，特別是涉及一種半導(dǎo)體集成電路測(cè)試裝置。
技術(shù)介紹
1、半導(dǎo)體集成電路是指在一個(gè)半導(dǎo)體襯底上至少有一個(gè)電路塊的半導(dǎo)體集成電路裝置；半導(dǎo)體集成電路是將晶體管，二極管等等有源元件和電阻器，電容器等無(wú)源元件，按照一定的電路互聯(lián)，“集成”在一塊半導(dǎo)體單晶片上，從而完成特定的電路或者系統(tǒng)功能；通常在生產(chǎn)過程中會(huì)對(duì)產(chǎn)品進(jìn)行檢測(cè)，檢測(cè)一般分為三個(gè)方向：一、功能測(cè)試：通過對(duì)電路的輸入和輸出進(jìn)行驗(yàn)證，檢測(cè)電路的各個(gè)功能是否正常；二、可靠性測(cè)試：主要包括高溫老化、低溫老化、高濕老化、低濕老化等環(huán)境測(cè)試，檢驗(yàn)電路在各種極端環(huán)境下是否正常工作；三、特性參數(shù)測(cè)試：包括電流、電壓、頻率等特性參數(shù)的測(cè)試，以驗(yàn)證電路在各種工況下的性能是否穩(wěn)定。
2、現(xiàn)有技術(shù)中申請(qǐng)?zhí)枮閏n202022910120.9的中國(guó)技術(shù)專利涉及一種半導(dǎo)體集成電路的測(cè)試裝置，包括馬達(dá)、轉(zhuǎn)軸、齒輪、齒條板、連接座、連接桿、活動(dòng)軸、固定板、滑桿和測(cè)試頭，能夠便于使用者對(duì)半導(dǎo)體集成電路的表面進(jìn)行高強(qiáng)度測(cè)試，提高了半導(dǎo)體集成電路表面的抗撞擊強(qiáng)度，降低半導(dǎo)體集成電路表面在使用過程中的損壞概率，同時(shí)進(jìn)一步延長(zhǎng)了半導(dǎo)體集成電路的使用壽命，提高了半導(dǎo)體集成電路的生產(chǎn)品質(zhì)。
3、但是上述裝置在實(shí)際使用中還存在以下問題：第一，上述裝置的測(cè)試環(huán)境非封閉狀態(tài)，環(huán)境中的灰塵及漂浮的雜質(zhì)落在電路板上會(huì)對(duì)檢測(cè)數(shù)據(jù)造成影響；第二，上述裝置不便于測(cè)試過程中操作人員對(duì)電路板的物理狀態(tài)進(jìn)行觀察。
技術(shù)實(shí)現(xiàn)思路
1、為解決上述技術(shù)問
2、本技術(shù)的一種半導(dǎo)體集成電路測(cè)試裝置，包括集塵裝置、顯示裝置、防護(hù)裝置、輔助裝置、旋轉(zhuǎn)裝置和固定裝置，顯示裝置安裝在集塵裝置上，防護(hù)裝置安裝在集塵裝置上，輔助裝置安裝在集塵裝置上，旋轉(zhuǎn)裝置安裝在集塵裝置上，固定裝置安裝在旋轉(zhuǎn)裝置上；通過集塵裝置提供密封的檢測(cè)環(huán)境，并能夠?qū)﹄娐钒灞砻娴袈涞幕覊m及雜質(zhì)進(jìn)行清理，提高了數(shù)據(jù)檢測(cè)的準(zhǔn)確性；通過顯示裝置便于操作人員在檢測(cè)過程中對(duì)檢測(cè)數(shù)值的實(shí)時(shí)觀察；通過防護(hù)裝置減少外界環(huán)境對(duì)電路板檢測(cè)過程的影響；通過輔助裝置使檢測(cè)人員更好的觀察電路板表面物理狀態(tài)，通過旋轉(zhuǎn)裝置改變電路板的空間擺放位置，便于操作人員對(duì)電路板外形整體進(jìn)行觀察；通過固定裝置對(duì)電路板的位置進(jìn)行固定，便于后續(xù)進(jìn)行電路檢測(cè)，提高了裝置的實(shí)用性。
3、優(yōu)選的，集塵裝置包括測(cè)試倉(cāng)、玻璃觀察窗、密封倉(cāng)、集塵袋、風(fēng)機(jī)、吸塵頭和橡膠頭，測(cè)試倉(cāng)的下端面上設(shè)置有多組支腿，測(cè)試倉(cāng)的前端面上部?jī)A斜安裝有玻璃觀察窗，測(cè)試倉(cāng)的后端面上部安裝有密封倉(cāng)，密封倉(cāng)的上端面上連接有集塵管，集塵管的輸入端穿過測(cè)試倉(cāng)的后端面進(jìn)入到測(cè)試倉(cāng)內(nèi)部，吸塵頭安裝在集塵管的輸入端上，吸塵頭的輸入端上套裝有橡膠頭，密封倉(cāng)內(nèi)集塵口上套裝有集塵袋，密封倉(cāng)的下端面上安裝有風(fēng)機(jī)；通過玻璃觀察窗便于操作人員對(duì)操作過程進(jìn)行觀察，通過測(cè)試倉(cāng)提供密封的操作環(huán)境，降低外界環(huán)境對(duì)測(cè)試過程造成的影響，開啟風(fēng)機(jī)將密封倉(cāng)內(nèi)空氣抽出使密封倉(cāng)內(nèi)處于負(fù)壓狀態(tài)，從而使測(cè)試倉(cāng)內(nèi)空氣由吸塵頭進(jìn)入至集塵袋，通過集塵袋將灰塵及雜質(zhì)進(jìn)行篩除收集，通過橡膠頭對(duì)電路板表面集塵過程進(jìn)行保護(hù)，防止對(duì)電路板表面造成劃傷。
4、優(yōu)選的，顯示裝置包括支撐架、圓柱滑軌、控制器和顯示器，測(cè)試倉(cāng)的上端面前部通過支撐架水平安裝有圓柱滑軌，控制器的后端面上部通過套筒套裝在圓柱滑軌上，控制器的前端面上安裝有顯示器；通過顯示器顯示測(cè)試數(shù)據(jù)，?并通過圓柱滑軌改變控制器的水平位置，防止控制器影響操作人員對(duì)測(cè)試過程的觀察，提高了裝置的靈活性。
5、優(yōu)選的，防護(hù)裝置包括操作孔、合頁(yè)和密封板，測(cè)試倉(cāng)的前端面上開有兩組操作孔，操作孔內(nèi)套裝有橡膠手套，測(cè)試倉(cāng)的右端面上通過合頁(yè)安裝有密封板；操作人員通過操作孔和操作孔上的橡膠手套進(jìn)入測(cè)試倉(cāng)內(nèi)部對(duì)電路板進(jìn)行操作測(cè)試，減少外界環(huán)境對(duì)測(cè)試過程造成的影響，電路板與測(cè)試工具通過密封板進(jìn)入至測(cè)試倉(cāng)內(nèi)部。
6、優(yōu)選的，輔助裝置包括支撐柱、滑動(dòng)柱、套管、連接柱、緊固螺栓和放大鏡，測(cè)試倉(cāng)內(nèi)前端面上部水平安裝有支撐柱，支撐柱的前端面上設(shè)置有滑動(dòng)槽，滑動(dòng)槽中放置有滑動(dòng)柱，滑動(dòng)柱的側(cè)面上連接有兩組套管，兩組套管位于支撐柱的前側(cè)，連接柱左右兩部分分別插入到兩組套管中，連接柱的側(cè)面上連接有放大鏡，一組套管的側(cè)面下部安裝有緊固螺栓；根據(jù)使用需求移動(dòng)支撐柱中的滑動(dòng)柱從而改變放大鏡的使用位置，通過轉(zhuǎn)動(dòng)套管中的連接柱改變放大鏡的使用角度，通過緊固螺栓對(duì)套管中連接柱的空間位置進(jìn)行固定，通過放大鏡為操作人員對(duì)測(cè)試過程中電路板狀態(tài)觀察提供輔助，提高了裝置的實(shí)用性。
7、優(yōu)選的，旋轉(zhuǎn)裝置包括旋轉(zhuǎn)平臺(tái)、轉(zhuǎn)軸、電動(dòng)缸和固定夾爪，測(cè)試倉(cāng)內(nèi)底部通過軸承連接有轉(zhuǎn)軸，轉(zhuǎn)軸的上端面上安裝有旋轉(zhuǎn)平臺(tái)，轉(zhuǎn)軸的下部穿過測(cè)試倉(cāng)的下端面延伸至測(cè)試倉(cāng)下側(cè)，測(cè)試倉(cāng)的下端面上水平安裝有兩組電動(dòng)缸，兩組電動(dòng)缸分別位于轉(zhuǎn)軸的前后兩側(cè)，兩組電動(dòng)缸的移動(dòng)端上均安裝有固定夾爪；將電路板放置在旋轉(zhuǎn)平臺(tái)上，通過轉(zhuǎn)動(dòng)旋轉(zhuǎn)平臺(tái)改變電路板的展示狀態(tài)，調(diào)整好電路板的空間位置后控制兩組電動(dòng)缸伸長(zhǎng)使兩組固定夾爪壓緊轉(zhuǎn)軸從而對(duì)旋轉(zhuǎn)平臺(tái)進(jìn)行固定，減少測(cè)試過程中旋轉(zhuǎn)平臺(tái)晃動(dòng)對(duì)測(cè)試結(jié)果造成的影響，?提高了裝置的穩(wěn)定性。
8、優(yōu)選的，固定裝置包括連桿、拉環(huán)、彈簧和橡膠夾爪，旋轉(zhuǎn)平臺(tái)的上端面上通過支架對(duì)稱安裝有兩組連桿，兩組連桿的外側(cè)端面上均連接有拉環(huán)，連桿的內(nèi)側(cè)端面上連接有橡膠夾爪，連桿上套裝有彈簧，彈簧的兩端分別與連桿和橡膠夾爪連接；通過拉環(huán)拉動(dòng)連桿將電路板放置在兩組橡膠夾爪之間，之后通過彈簧為橡膠夾爪提供的彈力使兩組橡膠夾爪對(duì)電路板的位置進(jìn)行固定，通過彈簧能夠?qū)崿F(xiàn)電路板的快速固定和取出，提高了裝置的實(shí)用性
9、與現(xiàn)有技術(shù)相比本技術(shù)的有益效果為：通過集塵裝置提供密封的檢測(cè)環(huán)境，并能夠?qū)﹄娐钒灞砻娴袈涞幕覊m及雜質(zhì)進(jìn)行清理，提高了數(shù)據(jù)檢測(cè)的準(zhǔn)確性；通過顯示裝置便于操作人員在檢測(cè)過程中對(duì)檢測(cè)數(shù)值的實(shí)時(shí)觀察；通過防護(hù)裝置減少外界環(huán)境對(duì)電路板檢測(cè)過程的影響；通過輔助裝置使檢測(cè)人員更好的觀察電路板表面物理狀態(tài)，通過旋轉(zhuǎn)裝置改變電路板的空間擺放位置，便于操作人員對(duì)電路板外形整體進(jìn)行觀察；通過固定裝置對(duì)電路板的位置進(jìn)行固定，便于后續(xù)進(jìn)行電路檢測(cè)，提高了裝置的實(shí)用性。
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1.一種半導(dǎo)體集成電路測(cè)試裝置，其特征在于，包括集塵裝置、顯示裝置、防護(hù)裝置、輔助裝置、旋轉(zhuǎn)裝置和固定裝置，顯示裝置安裝在集塵裝置上，防護(hù)裝置安裝在集塵裝置上，輔助裝置安裝在集塵裝置上，旋轉(zhuǎn)裝置安裝在集塵裝置上，固定裝置安裝在旋轉(zhuǎn)裝置上。
2.如權(quán)利要求1所述的一種半導(dǎo)體集成電路測(cè)試裝置，其特征在于，集塵裝置包括測(cè)試倉(cāng)（1）、玻璃觀察窗（2）、密封倉(cāng)（3）、集塵袋（4）、風(fēng)機(jī)（5）、吸塵頭（6）和橡膠頭（7），測(cè)試倉(cāng)（1）的下端面上設(shè)置有多組支腿，測(cè)試倉(cāng)（1）的前端面上部?jī)A斜安裝有玻璃觀察窗（2），測(cè)試倉(cāng)（1）的后端面上部安裝有密封倉(cāng)（3），密封倉(cāng)（3）的上端面上連接有集塵管，集塵管的輸入端穿過測(cè)試倉(cāng)（1）的后端面進(jìn)入到測(cè)試倉(cāng)（1）內(nèi)部，吸塵頭（6）安裝在集塵管的輸入端上，吸塵頭（6）的輸入端上套裝有橡膠頭（7），密封倉(cāng)（3）內(nèi)集塵口上套裝有集塵袋（4），密封倉(cāng)（3）的下端面上安裝有風(fēng)機(jī)（5）。
3.如權(quán)利要求2所述的一種半導(dǎo)體集成電路測(cè)試裝置，其特征在于，顯示裝置包括支撐架（8）、圓柱滑軌（9）、控制器（10）和顯示器（11），測(cè)試倉(cāng)（1）的上端面前部通
4.如權(quán)利要求2所述的一種半導(dǎo)體集成電路測(cè)試裝置，其特征在于，防護(hù)裝置包括操作孔（13）、合頁(yè)（14）和密封板（15），測(cè)試倉(cāng)（1）的前端面上開有兩組操作孔（13），操作孔（13）內(nèi)套裝有橡膠手套，測(cè)試倉(cāng)（1）的右端面上通過合頁(yè)（14）安裝有密封板（15）。
5.如權(quán)利要求2所述的一種半導(dǎo)體集成電路測(cè)試裝置，其特征在于，輔助裝置包括支撐柱（16）、滑動(dòng)柱（17）、套管（18）、連接柱（19）、緊固螺栓（20）和放大鏡（21），測(cè)試倉(cāng)（1）內(nèi)前端面上部水平安裝有支撐柱（16），支撐柱（16）的前端面上設(shè)置有滑動(dòng)槽，滑動(dòng)槽中放置有滑動(dòng)柱（17），滑動(dòng)柱（17）的側(cè)面上連接有兩組套管（18），兩組套管（18）位于支撐柱（16）的前側(cè)，連接柱（19）左右兩部分分別插入到兩組套管（18）中，連接柱（19）的側(cè)面上連接有放大鏡（21），一組套管（18）的側(cè)面下部安裝有緊固螺栓（20）。
6.如權(quán)利要求2所述的一種半導(dǎo)體集成電路測(cè)試裝置，其特征在于，旋轉(zhuǎn)裝置包括旋轉(zhuǎn)平臺(tái)（22）、轉(zhuǎn)軸（23）、電動(dòng)缸（24）和固定夾爪（25），測(cè)試倉(cāng)（1）內(nèi)底部通過軸承連接有轉(zhuǎn)軸（23），轉(zhuǎn)軸（23）的上端面上安裝有旋轉(zhuǎn)平臺(tái)（22），轉(zhuǎn)軸（23）的下部穿過測(cè)試倉(cāng)（1）的下端面延伸至測(cè)試倉(cāng)（1）下側(cè)，測(cè)試倉(cāng)（1）的下端面上水平安裝有兩組電動(dòng)缸（24），兩組電動(dòng)缸（24）分別位于轉(zhuǎn)軸（23）的前后兩側(cè)，兩組電動(dòng)缸（24）的移動(dòng)端上均安裝有固定夾爪（25）。
7.如權(quán)利要求6所述的一種半導(dǎo)體集成電路測(cè)試裝置，其特征在于，固定裝置包括連桿（26）、拉環(huán)（27）、彈簧（28）和橡膠夾爪（29），旋轉(zhuǎn)平臺(tái)（22）的上端面上通過支架對(duì)稱安裝有兩組連桿（26），兩組連桿（26）的外側(cè)端面上均連接有拉環(huán)（27），連桿（26）的內(nèi)側(cè)端面上連接有橡膠夾爪（29），連桿（26）上套裝有彈簧（28），彈簧（28）的兩端分別與連桿（26）和橡膠夾爪（29）連接。
...【技術(shù)特征摘要】
1.一種半導(dǎo)體集成電路測(cè)試裝置，其特征在于，包括集塵裝置、顯示裝置、防護(hù)裝置、輔助裝置、旋轉(zhuǎn)裝置和固定裝置，顯示裝置安裝在集塵裝置上，防護(hù)裝置安裝在集塵裝置上，輔助裝置安裝在集塵裝置上，旋轉(zhuǎn)裝置安裝在集塵裝置上，固定裝置安裝在旋轉(zhuǎn)裝置上。
2.如權(quán)利要求1所述的一種半導(dǎo)體集成電路測(cè)試裝置，其特征在于，集塵裝置包括測(cè)試倉(cāng)（1）、玻璃觀察窗（2）、密封倉(cāng)（3）、集塵袋（4）、風(fēng)機(jī)（5）、吸塵頭（6）和橡膠頭（7），測(cè)試倉(cāng)（1）的下端面上設(shè)置有多組支腿，測(cè)試倉(cāng)（1）的前端面上部?jī)A斜安裝有玻璃觀察窗（2），測(cè)試倉(cāng)（1）的后端面上部安裝有密封倉(cāng)（3），密封倉(cāng)（3）的上端面上連接有集塵管，集塵管的輸入端穿過測(cè)試倉(cāng)（1）的后端面進(jìn)入到測(cè)試倉(cāng)（1）內(nèi)部，吸塵頭（6）安裝在集塵管的輸入端上，吸塵頭（6）的輸入端上套裝有橡膠頭（7），密封倉(cāng)（3）內(nèi)集塵口上套裝有集塵袋（4），密封倉(cāng)（3）的下端面上安裝有風(fēng)機(jī)（5）。
3.如權(quán)利要求2所述的一種半導(dǎo)體集成電路測(cè)試裝置，其特征在于，顯示裝置包括支撐架（8）、圓柱滑軌（9）、控制器（10）和顯示器（11），測(cè)試倉(cāng)（1）的上端面前部通過支撐架（8）水平安裝有圓柱滑軌（9），控制器（10）的后端面上部通過套筒套裝在圓柱滑軌（9）上，控制器（10）的前端面上安裝有顯示器（11）。
4.如權(quán)利要求2所述的一種半導(dǎo)體集成電路測(cè)試裝置，其特征在于，防護(hù)裝置包括操作孔（13）、合頁(yè)（14）和密封板（15），測(cè)試倉(cāng)（1）的前端面上開有兩組操作孔（13），操作孔（13）內(nèi)套裝有橡膠手套，測(cè)試倉(cāng)（1）的右端面上通過合頁(yè)（14）安裝有密封板（15）。...
【專利技術(shù)屬性】
技術(shù)研發(fā)人員：李美華，
申請(qǐng)(專利權(quán))人：李美華，
類型：新型
國(guó)別省市：
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