本發明專利技術屬于電氣檢測設備領域，具體涉及了一種實驗室放電能力驗證插頭、驗證方法和系統，旨在解決現有的放電能力驗證裝置只能根據不同的測試電壓進行單獨制作，造成了實驗資源浪費的問題。本發明專利技術包括：可串接的能力驗證插頭，轉換插頭的后端為單相帶接地插座；所述內置測試電路為模塊一、模塊二或模塊三中的一種；所述模塊一為并聯于單相帶接地插頭零線與火線間的一個標準電阻和一個標準電容，模塊二為并聯于單相帶接地插頭零線與火線間一個電阻，模塊三為并聯于單相帶接地插頭零線與火線間的一個電容。本發明專利技術通過設置幾個可組合的插頭便可提供多個測試電壓，結構簡單，且所有的插頭可在需要不同的測試電壓時重復使用，降低了實驗資源的損耗。了實驗資源的損耗。了實驗資源的損耗。
【技術實現步驟摘要】
實驗室放電能力驗證插頭、驗證方法和系統
[0001]本專利技術屬于電氣檢測設備領域，具體涉及了一種實驗室放電能力驗證插頭、驗證方法和系統。
技術介紹
[0002]能力驗證是利用實驗室間的比對確定實驗室的校準、檢測能力或檢查機構的檢測能力的一項活動，能力驗證活動指任何用于評價實驗室能力的實驗室間的比對和測量審核。
[0003]在能力驗證項目中，需要用一個不會對測量值產生明顯影響的一起，測量被測樣品斷開電源后的殘余電壓。電子電氣產品的輸入電路往往含有儲能元件，通電一段時間后其儲能元件中會充滿電量。拔出插頭后，如果沒有有效的放電電路，或儲能元件中的電量過大，與放電電路的放電速度不匹配，就會給觸碰插頭的人員帶來觸電的感覺。
[0004]傳統的能力驗證裝置如果采用可變電阻或可變電容的方式，則測試樣品在運輸途中容易出現儀器失準，所以傳統的能力驗證項目需要單獨設計制作專用的測試插頭，測試器具在不同電壓下的工作狀態時還需根據每個測試電壓制作專用的測試設備，測試插頭無法重復使用，要測試多少個電壓狀態就需要制作多少個專用測試設備，對實驗資源造成了較大的損耗。
技術實現思路
[0005]為了解決現有技術中的上述問題，即現有的放電能力驗證裝置只能根據不同的測試電壓進行單獨制作，造成了實驗資源浪費的問題，本專利技術提供了一種實驗室放電能力驗證插頭，所述驗證插頭基于多個可串接的能力驗證插頭構建；
[0006]所述可串接的能力驗證插頭包括：
[0007]轉換插頭和內置測試電路；
[0008]轉換插頭的前端為單相帶接地插頭，轉換插頭的后端為單相帶接地插座；前端與后端尺寸匹配；
[0009]所述內置測試電路為模塊一、模塊二或模塊三中的一種；所述模塊一為并聯于單相帶接地插頭零線與火線間的一個標準電阻和一個標準電容，模塊二為并聯于單相帶接地插頭零線與火線間一個電阻，模塊三為并聯于單相帶接地插頭零線與火線間的一個電容。
[0010]在一些優選的實施方式中，所述內置測試電路為模塊一時，用于單獨作為測試樣品組，或將多個能力驗證插頭與至少一個內置測試電路為模塊一的能力驗證插頭進行組合作為測試樣品組，對同一測試組的所有實驗室的放電能力進行測試。
[0011]在一些優選的實施方式中，當所述內置測試電路為模塊二或模塊三時，用于通過與至少一個內置測試電路為模塊一的能力驗證插頭進行組合作為測試樣品組，對同一測試組的所有實驗室的放電能力進行測試。
[0012]本專利技術的另一方面，提出了一種實驗室放電能力驗證方法，通過上述的實驗室放電測試能力驗證插頭進行實施，所述方法包括：
[0013]步驟S100，根據放電能力驗證試驗所需要獲得的測試電壓值或測試電壓值數量，確定需要的放電能力驗證插頭的樣品總數、設備參數及組合方式；
[0014]步驟S200，基于所述樣品總數、設備參數，針對同一測試組的每一個實驗室制作所述放電能力驗證插頭組；
[0015]步驟S300，對同一測試組的每一個實驗室通過所述放電能力驗證插頭組測試所有所述組合方式接入測試系統時，實驗室的放電能力。
[0016]在一些優選的實施方式中，所述步驟S300，具體包括：
[0017]步驟S310，所述組合方式均包含至少一個內置測試電路為模塊一的能力驗證插頭，將任一內置測試電路為模塊一的能力驗證插頭作為連接插頭；
[0018]步驟S320，將組合方式的其他能力驗證插頭插入連接插頭，獲得測試組；
[0019]步驟S330，將測試組在預設的測試環境中進行預處理后，接入測試系統；
[0020]步驟S340，測試系統對測試組施加實驗室放電電壓預設的放電時長后，通過示波器記錄預設的記錄時間時插頭的殘余電壓；
[0021]步驟S350，重復步驟S310
?
步驟S340的方法，直至記錄完成所有組合方式接入測試系統的殘余電壓，獲得殘余電壓集；
[0022]步驟S360，基于所述殘余電壓集計算目標實驗室的放電能力。
[0023]在一些優選的實施方式中，所述基于所述殘余電壓集計算目標實驗室的放電能力，具體包括：
[0024]其中，U表示測試系統放電預設時間后的電壓，U0表示電壓峰值，t表示放電時間，R表示測試組的總電阻，C表示測試組電容，RC表示時間常數。
[0025]在一些優選的實施方式中，所述實驗室放電電壓，具體為：
[0026]使用示波器對待測插頭組進行放電試驗；
[0027]通入電壓為220V，50Hz的交流電，分別測試放電后多個預設時間的插頭組中各個插頭的兩端電壓，所述兩端電壓反映待測插頭組的放電能力。
[0028]本專利技術的第三方面，提出了一種實驗室放電能力驗證系統，所述系統包括：
[0029]測試組確定模塊，配置為根據放電能力驗證試驗所需要獲得的測試電壓值或測試電壓值數量，確定需要的放電能力驗證插頭的樣品總數、設備參數及組合方式；
[0030]樣品制備模塊，配置為基于所述樣品總數、設備參數，針對同一測試組的每一個實驗室制作所述放電能力驗證插頭組；
[0031]放電能力測試模塊，配置為對同一測試組的每一個實驗室通過所述放電能力驗證插頭組測試所有所述組合方式接入測試系統時，實驗室的放電能力。
[0032]本專利技術的第四方面，提出了一種電子設備，包括：至少一個處理器；以及與至少一個所述處理器通信連接的存儲器；其中，所述存儲器存儲有可被所述處理器執行的指令，所述指令用于被所述處理器執行以實現上述的實驗室放電能力驗證方法。
[0033]本專利技術的第五方面，提出了一種計算機可讀存儲介質，所述計算機可讀存儲介質
存儲有計算機指令，所述計算機指令用于被所述計算機執行以實現上述的實驗室放電能力驗證方法。
[0034]本專利技術的有益效果：
[0035](1)本專利技術的實驗室放電能力驗證插頭，通過設置幾個可組合的插頭便可提供多個測試電壓，結構簡單，且所有的插頭可在需要不同的測試電壓時重復使用，降低了實驗資源的損耗。
[0036](2)避免了用可變電阻來實現不同測試電壓的放電測試裝置運輸途中精確度降低的問題，提高了實驗室間放電能力對比的可靠性。
附圖說明
[0037]通過閱讀參照以下附圖所作的對非限制性實施例所作的詳細描述，本申請的其它特征、目的和優點將會變得更明顯：
[0038]圖1是本專利技術實施例中實驗室放電能力驗證插頭的外觀示意圖；
[0039]圖2是本專利技術實施例中內置測試電路的電路圖；
[0040]圖3是本專利技術實施例中實驗室放電能力驗證插頭以模塊一為例的原理示意圖；
[0041]圖4是現有技術中的能力驗證插頭的運用原理示意圖；
[0042]圖5是本專利技術實施例中的實驗室放電能力驗證插頭的運用原理示意圖。
具體實施方式
[0043]下面結合附圖和實施例對本申請作進一步的詳細說明。可以理解的是，此處所描述的具體實施例僅用于解釋相關專利技術本文檔來自技高網...
【技術保護點】
【技術特征摘要】
1.一種實驗室放電能力驗證插頭，其特征在于，所述驗證插頭基于多個可串接的能力驗證插頭構建；所述可串接的能力驗證插頭包括：轉換插頭和內置測試電路；轉換插頭的前端為單相帶接地插頭，轉換插頭的后端為單相帶接地插座；前端與后端尺寸匹配；所述內置測試電路為模塊一、模塊二或模塊三中的一種；所述模塊一為并聯于單相帶接地插頭零線與火線間的一個標準電阻和一個標準電容，模塊二為并聯于單相帶接地插頭零線與火線間一個電阻，模塊三為并聯于單相帶接地插頭零線與火線間的一個電容。2.根據權利要求1所述的實驗室放電能力驗證插頭，其特征在于，所述內置測試電路為模塊一時，用于單獨作為測試樣品組，或將多個能力驗證插頭與至少一個內置測試電路為模塊一的能力驗證插頭進行組合作為測試樣品組，對同一測試組的所有實驗室的放電能力進行測試。3.根據權利要求1所述的實驗室放電能力驗證插頭，其特征在于，當所述內置測試電路為模塊二或模塊三時，用于通過與至少一個內置測試電路為模塊一的能力驗證插頭進行組合作為測試樣品組，對同一測試組的所有實驗室的放電能力進行測試。4.一種實驗室放電能力驗證方法，其特征在于，通過如權利要求1
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3任一項所述的實驗室放電測試能力驗證插頭進行實施，所述方法包括：步驟S100，根據放電能力驗證試驗所需要獲得的測試電壓值或測試電壓值數量，確定需要的放電能力驗證插頭的樣品總數、設備參數及組合方式；步驟S200，基于所述樣品總數、設備參數，針對同一測試組的每一個實驗室制作所述放電能力驗證插頭組；步驟S300，對同一測試組的每一個實驗室通過所述放電能力驗證插頭組測試所有所述組合方式接入測試系統時，實驗室的放電能力。5.根據權利要求4所述的實驗室放電能力驗證方法，其特征在于，所述步驟S300，具體包括：步驟S310，所述組合方式均包含至少一個內置測試電路為模塊一的能力驗證插頭，將任一內置測試電路為模塊一的能力驗證插頭作為連接插頭；步驟S320，將組合方式的其他能力驗證插頭插入連接插頭，獲得測試組；步驟S330，將測試組在預設的測試環境中進行預處理后，接入測試系統；步驟S340，測試系統對測試組施...
【專利技術屬性】
技術研發人員：謝瑩，李楠杰，楊振宇，孫軒，徐蘭，徐娟，
申請(專利權)人：中國家用電器研究院，
類型：發明
國別省市：
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