求取用于待借助于磁共振設(shè)施記錄的測試測量的測試位置制造技術(shù)

根據(jù)本發(fā)明專利技術(shù)的用于求取用于待借助于磁共振設(shè)施記錄的測試測量的至少一個測試位置的方法包括如下步驟：

【技術(shù)實(shí)現(xiàn)步驟摘要】
Simultaneous Multislice Echo Planar Imaging With Reduced g
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Factor Penalty”，Magnetic Resonance in Medicine 67,2012,第1210
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1224頁中所描述，其中在最后提及的標(biāo)題中提及的g因數(shù)(“g
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factor”，“幾何因數(shù)”的簡稱)是用于所使用的不同的接收線圈的可分離性的量度。
[0006]作為進(jìn)一步減小所述g因數(shù)的方法，對于CAIPIRINHA方法還已知的是，改變在k空間中的讀出軌跡，從而改變采集模式，使得沿著波形或螺旋形伸展的讀出軌跡檢測測量數(shù)據(jù)。這例如在US8981776B2中，在Bilgic等人的文章“Wave
?
CAIPI for Highly Accelerated 3D Imaging”，Magnetic Resonance in Medicine 73:2152
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2162(2015)中所描述，或?qū)τ诙S(2D)成像在Chen等人的“Self
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Calibrating Wave
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Encoded Variable
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Density Single
?
Shot Fast Spin Echo Imaging”，J.Magn.Reson.Imaging 2018,47:954
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966中所描述，或也對于Spinecho(SE，自旋回波)方法在Gagoski等人的“RARE/Turbo Spin Echo Imaging with Simultaneous Multislice Wave
?
CAIPI”，Magn.Reson.Med.73:929
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938(2015)中所描述。
[0007]簡言之，對于這種波技術(shù)(Wave
?
Techniken)，在讀出過程期間同時(shí)借助在讀出方向上的梯度獲得在垂直于讀出方向的方向上的至少一個正弦形調(diào)制的梯度。以所述方式獲得的波形的或螺旋形的k空間軌跡將如通過用于縮短測量時(shí)間的對k空間的欠采樣出現(xiàn)的偽影、例如混疊偽影(Aliasing
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Artefakte)分布到至少兩個空間方向上，或?qū)τ诼菪蔚膋空間軌跡分布到所有空間方向上，從而可以實(shí)現(xiàn)，也可以在多個(全部三個)空間方向上使用所使用的RF線圈的靈敏度數(shù)據(jù)，這引起g因數(shù)的所提及的降低。因此，借助波技術(shù)，在所獲得的圖像數(shù)據(jù)的質(zhì)量相對于具有更小的加速度的“非波ppa技術(shù)”保持不變的情況下，可以應(yīng)用例如更高的加速度、即更強(qiáng)的欠采樣。
[0008]調(diào)制的也稱為波梯度的梯度對在空間點(diǎn)Wave(x,y,z)處的磁化m的作用可以描述為與描述欠采樣模式的混疊偽影的傳播的所謂的“點(diǎn)擴(kuò)散函數(shù)(Point
?
Spread
?
Funktion)”PSF相乘：
[0009]Wave(x,y,z)＝F
?
1x
PSF(k
x
,y,z)F
x
m(x,y,z)，
[0010]其中F
x
代表傅里葉變換，并且F
?
1x
代表傅里葉逆變換，并且PSF(k
x
,y,z)代表在混合的k
x
?
y
?
z空間中示出的用于波梯度的PSF。PSF描述調(diào)制的梯度對在k
x
方向上的成像相位的作用，并且可以分離成分別與y和z相關(guān)的項(xiàng)。因此，如在已經(jīng)提及的Bilgic等人的文章中，混疊偽影可以借助于SENSE重建通過“反混疊(Unaliasing)”來消除。這例如在Polak等人的文章“Highly
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Accelerated Volumetric Brain Examination Using Optimized Wave
?
CAIPI Encoding”，J.Magn.Reason.Imaging 2019,50:961
?
974中更精確地描述。
[0011]在理想情況下，正弦或余弦調(diào)制的梯度的PSF同樣是正弦的或余弦的。因此，通過這種PSF的傅里葉變換獲得的調(diào)制傳遞函數(shù)MTF應(yīng)具有僅一個頻率分量。實(shí)際上，真實(shí)的PSF的通過MTF描述的譜通常通過在讀出過程期間使用的梯度的缺陷擴(kuò)寬，所述缺陷例如可能通過在所切換的梯度中的渦流和延遲等引起。因此，圖像數(shù)據(jù)的使用理想的PSF的重建引起重建圖像數(shù)據(jù)中的模糊(英文：“blurring”)。
[0012]因此，與在讀出過程期間使用的梯度的缺陷相比，波技術(shù)被證明為是特別敏感的，使得在讀出時(shí)間段期間在測量期間實(shí)際產(chǎn)生的梯度與相應(yīng)的為所述讀出時(shí)間段規(guī)劃的理想的梯度的偏差引起最終獲得的圖像數(shù)據(jù)中的偽影。
[0013]然而，在讀出時(shí)間段期間在測量期間實(shí)際產(chǎn)生的梯度與相應(yīng)的為所述讀出時(shí)間段規(guī)劃的梯度的這種偏差有規(guī)律地出現(xiàn)，例如由于在相應(yīng)的梯度線圈中的高電流和由此引起的影響，如渦流、更高階的場等。
[0014]已經(jīng)嘗試，在重建時(shí)通過注意相應(yīng)的梯度線圈的已知的、靜態(tài)的、恒定的時(shí)間延遲來回顧性地減輕上文中提及的偏差的負(fù)面影響。然而，所述方法忽略了在所切換的梯度中的延遲的頻率相關(guān)的分量和由此引起的偏差以及所切換的梯度與所規(guī)劃的梯度的所實(shí)現(xiàn)的量級的任何偏差，由此通過所述不靈活的方案僅可以實(shí)現(xiàn)偽影的可能不充分的消除。
[0015]此外，例如在Cauley等人的文章“Autocalibrated Wave
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CAIPI Reconstruction；Joint Optimization of k
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Space Trajectory and Parallel Imaging Reconstruction”，Magnetic Resonance in Medicine 78,2017,第1093
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1099頁中描述迭代方法，所述迭代方法改變所謂的“點(diǎn)擴(kuò)散函數(shù)(Point
?
Spread
?
Funktion)”PSF的頻率參數(shù)并且所述迭代方法將借助不同的頻率參數(shù)在所選擇的測試位置處獲得的重建結(jié)果經(jīng)由其均方根誤差(RMSE，英文：“root
?
mean
?
square
?
error”)進(jìn)行比較，所述點(diǎn)擴(kuò)散函數(shù)描述欠采樣模式的混疊偽影的傳播。如果RMES接近局部最小值，則頻率參數(shù)的所屬的值采納為所尋找的PSF的值?；谒页龅腜SF來描述用于波k空間軌跡的梯度的偏差的修正。然而，所述方法的缺點(diǎn)是需要用于找出所尋找的PSF的可能長的時(shí)間。

技術(shù)實(shí)現(xiàn)思路

[0016]本專利技術(shù)所基于的目的在于，改進(jìn)在檢查對象的測試位置處使用測試測量的方法。
[0017]所述目的通過根據(jù)本專利技術(shù)的用于求取用于待本文檔來自技高網(wǎng)...

【技術(shù)保護(hù)點(diǎn)】

【技術(shù)特征摘要】
1.一種用于求取用于待借助于磁共振設(shè)施記錄的測試測量的至少一個測試位置的方法，所述方法包括如下步驟：
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記錄測試圖像(B)，
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基于所述測試圖像(B)選擇至少一個測試位置(P，P1，P1'，P2)。2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其中將第一測試位置(P1)根據(jù)預(yù)設(shè)的第一測試柵格在所述測試圖像(B)中定位。3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的方法，其中預(yù)設(shè)的所述第一測試柵格均勻地覆蓋所述測試圖像(B)的目標(biāo)體積。4.根據(jù)上述權(quán)利要求中任一項(xiàng)所述的方法，其中選擇所述測試位置(P，P1，P1'，P2)包括根據(jù)基于所述測試圖像(B)在所述測試位置(P，P1，P1'，P2)處的強(qiáng)度值的關(guān)聯(lián)函數(shù)(M)將所述測試位置(P，P1，P1'，P2)與允許的測試位置和禁止的測試位置相關(guān)聯(lián)。5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的方法，其中所述關(guān)聯(lián)函數(shù)(M)考慮最小強(qiáng)度值。6.根據(jù)上述權(quán)利要求中任一項(xiàng)所述的方法，其中選擇測試位置(P，P1，P1'，P2)包括根據(jù)與所述測試圖像(B)在相應(yīng)的測試位置處的強(qiáng)度值相關(guān)的加權(quán)因數(shù)對測試位置(P，P1，P1'，P2)進(jìn)行加權(quán)，其中借助加權(quán)因數(shù)零的加權(quán)對應(yīng)于禁止所述測試位置(P，P1，P1'，P2)。7.根據(jù)權(quán)利要求4至6中任一項(xiàng)所述的方法，其中禁止的測試位置、尤其禁止的第一測試位置(P1)移動到第二測試位置(P2)上，所述第二測試位置(P2)根據(jù)所述關(guān)聯(lián)函數(shù)(M)與允許的測試位置或禁止的測試位置相關(guān)聯(lián)。8.根據(jù)權(quán)利要求7所述的方法，其中對于所述第一測試柵格的行或列逐行地或逐列地移動第一測試位置(P1)。9.根據(jù)權(quán)利要求7所述的方法，其中各個禁止的第一測試位置(P1)在所述測試圖像(B)的至少一個空間方向(x,y)上朝向所述測試圖像(B)的圖像中心的方向移動到第二測試位置(P2)上，或移動到在所述測試圖像(B)中具有期望的...

【專利技術(shù)屬性】
技術(shù)研發(fā)人員：馬里奧，
申請(專利權(quán))人：西門子醫(yī)療有限公司，
類型：發(fā)明
國別省市：