一種焊接質量檢測方法技術

本發明專利技術涉及數據處理技術領域，具體涉及一種焊接質量檢測方法，包括：獲取焊接區域灰度圖像中缺陷區域灰度值范圍；根據灰度直方圖中最高峰對應灰度級的均值與缺陷區域灰度值范圍得到區域生長算法的閾值區間，獲取焊接區域灰度圖像中灰度值最小的像素點，將焊接區域灰度圖像中灰度值最小的像素點作為種子點；根據種子點和閾值區間進行區域生長得到細胞區域，根據細胞區域間的連續性識別缺陷區域的缺陷類型是否為未熔合缺陷；根據細胞區域內像素點灰度值的關聯性識別缺陷區域的缺陷類型是否為未焊透缺陷。本發明專利技術提高了識別焊接區域缺陷類型的準確性。類型的準確性。類型的準確性。

【技術實現步驟摘要】
一種焊接質量檢測方法


[0001]本專利技術涉及數據處理
，具體涉及一種焊接質量檢測方法。

技術介紹

[0002]隨著制造產業的快速發展，焊接技術已經被廣泛應用于能源交通、建筑、機械、航空等工業領域。在焊接過程中，由于設施設置不合理或者操作不當都可能導致焊縫工件產生未熔合缺陷和未焊透缺陷，焊縫未熔合缺陷和未焊透缺陷不僅會導致工件的結構強度降低，而且可能造成工件斷裂，引發嚴重的安全事故，因此，對焊接工件的缺陷檢測尤為重要。
[0003]目前對于焊接工件的缺陷檢測往往使用X射線檢測技術，X射線檢測技術借助計算機技術實現X射線焊縫圖片中缺陷區域連通域的自動分析和檢測，通過分析和檢測得到缺陷區域連通域的輪廓，根據缺陷區域連通域的輪廓識別缺陷區域類型；但是該方法是利用缺陷區域連通域的輪廓分析缺陷區域的類型，由于焊縫缺陷類型中部分類型的連通域相似，如氣孔缺陷和未熔合缺陷連通域相似、未焊透缺陷和未熔合缺陷連通域相似，因此，只根據缺陷區域的輪廓判斷焊縫未熔合缺陷和未焊透缺陷，判斷依據單一，從而導致識別的缺陷類型不準確。

技術實現思路

[0004]本專利技術提供一種焊接質量檢測方法，以解決現有的缺陷類型識別不準確的問題。
[0005]本專利技術的一種焊接質量檢測方法，采用如下技術方案：S1、獲取焊接區域灰度圖像及焊接區域灰度圖像的灰度直方圖，根據灰度直方圖得到焊接區域灰度圖像中缺陷區域灰度值范圍；S2、根據灰度直方圖中最高峰對應灰度級的均值與缺陷區域灰度值范圍得到區域生長算法的閾值區間，獲取焊接區域灰度圖像中灰度值最小的像素點，將焊接區域灰度圖像中灰度值最小的像素點作為種子點；S3、根據種子點和閾值區間進行區域生長得到細胞區域，若區域生長得到細胞區域中存在多個細胞區域，根據相鄰細胞區域間的距離得到細胞區域間的連續性，根據細胞區域間的連續性判斷缺陷區域的缺陷類型是否為未熔合缺陷；S4、若區域生長得到細胞區域為單個細胞區域，獲取細胞區域內每個像素點的梯度，根據每個細胞區域內每個像素點的梯度得到細胞區域內像素點灰度值的關聯性，根據細胞區域內像素點灰度值的關聯性判斷缺陷區域的缺陷類型是否為未焊透缺陷。
[0006]進一步的，所述缺陷區域灰度值范圍是按如下方法確定的：獲取灰度直方圖中最高峰左拐點對應灰度級，獲取灰度直方圖中最小灰度級；將灰度直方圖中最小灰度級作為缺陷區域灰度值范圍的左端點，將灰度直方圖中最高峰左拐點對應灰度級作為缺陷區域灰度值范圍的右端點，根據左端點和右端點得到缺陷區域灰度值范圍。
[0007]進一步的，所述最高峰對應灰度級的均值是按如下方法確定的：
若灰度圖像中最高峰所對應灰度級只有一個，則該灰度級為最高峰對應灰度級的均值；若最高峰對應灰度級有多個，則求平均灰度級，將平均灰度級作為最高峰對應灰度級的均值。
[0008]進一步的，所述區域生長算法的閾值區間是按如下方法確定的：獲取灰度直方圖最高峰所對應灰度級與灰度直方圖中最小灰度級；根據取灰度直方圖最高峰所對應灰度級與灰度直方圖中最小灰度級得到區域生長算法的閾值區間。
[0009]進一步的，所述細胞區域是按如下方法確定的：獲取每個種子點的8鄰域內滿足閾值區間的像素點，將滿足閾值區間的像素點與對應種子點連通，同理對滿足閾值區間的像素點繼續搜索其8鄰域直到將所有滿足閾值條件的像素點連通得到多個細胞區域。
[0010]進一步的，所述細胞區域間的連續性是按如下方法確定的：獲取相鄰細胞區域間的最短距離；利用每兩個相鄰細胞區域間的最短距離的距離差得到細胞區域間的連續性。
[0011]進一步的，所述細胞區域內像素點灰度值的關聯性是按如下方法確定的：根據細胞區域內每個像素點的梯度得到細胞區域內每個像素點的梯度方向；沿細胞區域內每個像素點的梯度方向做延長線直到細胞區域內每個像素點的梯度方向的延長線與細胞區域邊緣相交，計算每條延長線上相鄰像素點的灰度差；根據每條延長線上相鄰像素點的灰度差得到細胞區域內每個像素點的梯度方向延長線上相鄰像素點的灰度差的關聯性；根據細胞區域內每個像素點的梯度方向延長線相鄰像素點灰度差的關聯性得到細胞區域內像素點灰度值的關聯性。
[0012]進一步的，所述細胞區域內像素點灰度值的關聯性是按如下方法確定的：將細胞區域內像素點梯度方向延長線上像素點灰度值的關聯性作為目標像素點的關聯性；統計所有目標像素點的關聯性中大于0的像素點個數；獲取所有目標像素點的關聯性中大于0的像素點數量與目標像素點總個數的比值，將該比值作為細胞區域內像素點灰度值的關聯性。
[0013]進一步的，所述未熔合缺陷是按如下方法確定的：設置連續性閾值0.4，當細胞區域間的連續性大于等于時，焊接區域的缺陷類型非未熔合缺陷，當細胞區域間的連續性小于時，焊接區域的缺陷類型是未熔合缺陷。
[0014]進一步的，所述未焊透缺陷是按如下方法確定的：設置關聯性閾值0.8，當細胞區域內像素點灰度值的關聯性大于等于0.8時，焊縫區域缺陷類型是未焊透缺陷，當細胞區域內像素點灰度值的關聯性小于0.8時，焊縫區域缺陷類型非未焊透缺陷。
[0015]本專利技術的有益效果是：本專利技術首先根據焊縫區域灰度圖像的灰度直方圖得到了正常區域灰度區間、缺陷區域的灰度區間及同時存在缺陷區域和正常區域的灰度區間，根據
同時存在缺陷區域和正常區域的灰度區間、缺陷區域的灰度值范圍得到區域生長算法的閾值區間，使所獲得的閾值區間更加準確，利用閾值區間進行區域生長，使得到的細胞區域更加準確，進而，根據細胞區域的個數判斷出的缺陷類型更加準確；本專利技術在利用細胞區域判斷缺陷區域缺陷類型后，再次利用細胞區域間的連續性和細胞區域內像素點灰度值的關聯性判斷缺陷區域缺陷類型，細胞區域間的連續性結合了未熔合缺陷對應的細胞區域的分布特征，細胞區域內像素點灰度值的關聯性結合了未焊透缺陷對應的細胞區域內像素點灰度值的分布特征，利用細胞區域間的連續性和細胞區域內像素點灰度值的關聯性分別對未熔合缺陷和未焊透缺陷進行二了次判斷，使得最終得到的缺陷類型更加準確。
附圖說明
[0016]為了更清楚地說明本專利技術實施例或現有技術中的技術方案，下面將對實施例或現有技術描述中所需要使用的附圖作簡單地介紹，顯而易見地，下面描述中的附圖僅僅是本專利技術的一些實施例，對于本領域普通技術人員來講，在不付出創造性勞動性的前提下，還可以根據這些附圖獲得其他的附圖。
[0017]圖1為本專利技術的一種焊接質量檢測方法的實施例的流程圖；圖2為本專利技術的一種焊接質量檢測方法的實施例所述灰度直方圖；圖3為本專利技術的一種焊接質量檢測方法的實施例所述的未熔合缺陷；圖4為本專利技術的一種焊接質量檢測方法的實施例所述的未焊透缺陷。
具體實施方式
[0018]下面將結合本專利技術實施例中的附圖，對本專利技術實施例中的技術方案進行清楚、完整地描述，顯然，所描述的實施例僅僅是本專利技術一部分實施例，而不是全部的實施例。基于本專利技術中的實施例，本領域普通技術人員在沒有做出創造性勞動前提下所獲得的所有其他實施例，都屬于本專利技術保護的范圍。
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【技術保護點】

【技術特征摘要】
1.一種焊接質量檢測方法，其特征在于，包括：S1、獲取焊接區域灰度圖像及焊接區域灰度圖像的灰度直方圖，根據灰度直方圖得到焊接區域灰度圖像中缺陷區域灰度值范圍；S2、根據灰度直方圖中最高峰對應灰度級的均值與缺陷區域灰度值范圍得到區域生長算法的閾值區間，獲取焊接區域灰度圖像中灰度值最小的像素點，將焊接區域灰度圖像中灰度值最小的像素點作為種子點；S3、根據種子點和閾值區間進行區域生長得到細胞區域，若區域生長得到細胞區域中存在多個細胞區域，根據相鄰細胞區域間的距離得到細胞區域間的連續性，根據細胞區域間的連續性判斷缺陷區域的缺陷類型是否為未熔合缺陷；S4、若區域生長得到細胞區域為單個細胞區域，獲取細胞區域內每個像素點的梯度，根據每個細胞區域內每個像素點的梯度得到細胞區域內像素點灰度值的關聯性，根據細胞區域內像素點灰度值的關聯性判斷缺陷區域的缺陷類型是否為未焊透缺陷。2.根據權利要求1所述的一種焊接質量檢測方法，其特征在于，所述缺陷區域灰度值范圍是按如下方法確定的：獲取灰度直方圖中最高峰左拐點對應灰度級，獲取灰度直方圖中最小灰度級；將灰度直方圖中最小灰度級作為缺陷區域灰度值范圍的左端點，將灰度直方圖中最高峰左拐點對應灰度級作為缺陷區域灰度值范圍的右端點，根據左端點和右端點得到缺陷區域灰度值范圍。3.根據權利要求1所述的一種焊接質量檢測方法，其特征在于，所述最高峰對應灰度級的均值是按如下方法確定的：若灰度圖像中最高峰所對應灰度級只有一個，則該灰度級為最高峰對應灰度級的均值；若最高峰對應灰度級有多個，則求平均灰度級，將平均灰度級作為最高峰對應灰度級的均值。4.根據權利要求1所述的一種焊接質量檢測方法，其特征在于，所述區域生長算法的閾值區間是按如下方法確定的：獲取灰度直方圖最高峰所對應灰度級與灰度直方圖中最小灰度級；根據取灰度直方圖最高峰所對應灰度級與灰度直方圖中最小灰度級得到區域生長算法的閾值區間。5.根據權利要求1所述的一種焊接質量檢測方法，其特征在于，所述細胞區域是按如下方法確定的：獲取每個種子點的8鄰域內滿足閾值區間的像素點...

【專利技術屬性】
技術研發人員：趙建軍，仲睿，徐俊鋒，趙建梅，顏鑫鑫，翟翚，
申請(專利權)人：江蘇思銳裝備科技有限公司，
類型：發明
國別省市：