適用于LCD裝配流程的多次元評估方法及系統技術方案

本發明專利技術涉及LCD裝配工藝技術領域，具體而言，涉及適用于LCD裝配流程的多次元評估方法及系統，該方法的步驟包括：以第一次元指數作為標的，依次選取關聯器具及對應的裝配模型作為輸出，在選定不同仿真環境表征為LCD的工況執行器具裝配評測，并按照第二次元指數作為標的對器具評測結果進行綜合排序的同時，依據預設有光學算法的采集模組對LCD進行透鏡成像評測，并按照第三次元指數作為標的對透鏡評測結果進行排序，結合第一次元指數、第二次元指數及第三次元指數，并以效率優先作為裝配序列進行融合計算，以最優選計算結果作為決策并輸出，完成LCD裝配流程的多次元評估。完成LCD裝配流程的多次元評估。完成LCD裝配流程的多次元評估。

【技術實現步驟摘要】
適用于LCD裝配流程的多次元評估方法及系統


[0001]本專利技術涉及LCD裝配工藝
，具體而言，涉及適用于LCD裝配流程的多次元評估方法及系統。

技術介紹

[0002]近年來，隨著科技技術的不斷創新，其對電子器件的裝配工藝提出了向智能化發展的需求。目前，LCD的裝配工藝技術已愈加成熟，其通常采用根據LCD的設計圖紙或框架模型，通過自動或者半自動的方式對其進行裝配。然而，這樣卻存在了以下問題：LCD的裝配部件在市面上存在多種，且每種裝配部件都是由不同廠商所生產，其質量大小不一，在實際生產中，無法評估各個裝配部件對于LCD使用周期的影響，以及裝配器具對于各個裝配部件兼容性的影響；另外，屏幕作為LCD的顯示端，其重要性不言而喻，現有技術中對于LCD的成像效果通常采用攝像頭及TTR透鏡的組合進行評估檢測，由于受光量的影響，常常導致成像檢測效果不好。基于此，我們亟需能夠適用于LCD裝配流程的多次元評估方法。

技術實現思路

[0003]本專利技術的目的在于提供適用于LCD裝配流程的多次元評估方法及系統，通過采用第一次元指數、第二次元指數及第三次元指數分別對于LCD裝配模型、LCD的裝配部件及器具以及LCD的成像進行多次元評測，基于最終排序的最優化作為決策，克服了現有技術無法評估各個裝配部件對于LCD使用周期的影響，以及裝配器具對于各個裝配部件兼容性的影響。
[0004]本專利技術的實施例通過以下技術方案實現：
[0005]適用于LCD裝配流程的多次元評估方法，該方法的步驟包括：
[0006]以第一次元指數作為標的，依次選取關聯器具及對應的裝配模型作為輸出，在選定不同仿真環境表征為LCD的工況執行器具裝配評測，并按照第二次元指數作為標的對器具評測結果進行綜合排序的同時，依據預設有光學算法的采集模組對LCD進行透鏡成像評測，并按照第三次元指數作為標的對透鏡評測結果進行排序，結合第一次元指數、第二次元指數及第三次元指數，并以效率優先作為裝配序列進行融合計算，以最優選計算結果作為決策并輸出，完成LCD裝配流程的多次元評估。
[0007]可選的，對于第一次元指數作為標的，其評估過程為：
[0008]輸入待建立的LCD裝配模型，基于待建立的LCD裝配模型獲取LCD裝配部件，并按照相似度分別選取LCD裝配部件植入至模型相應區域，形成多個初始LCD裝配模型，通過第一次元指數對多個初始LCD裝配模型進行優化計算，同時按照相應價值度進行關聯器具篩選，輸出LCD裝配指令包，所述LCD裝配指令包由滿足預期值的LCD裝配模型及其對應的關聯器具所組成。
[0009]可選的，對于第一次元指數作為標的的評估過程中，以獲取前的LCD裝配部件的部件成本及其余成本表征為LCD裝配成本，基于設定量對所獲取前的LCD裝配部件進行過濾
后，得到所述LCD裝配部件。
[0010]可選的，對于第二次元指數作為標的，其評估過程為：
[0011]選定不同仿真環境表征為同一批次LCD的工況依次選取LCD裝配指令執行器具裝配評測，同時以同一批次LCD的故障率與維修周期作為第二次元指數的評測基準，求得LCD的器具評測結果，對LCD的器具評測結果進行綜合排序并輸出。
[0012]可選的，對于第二次元指數作為標的的評估過程中，具體以故障率表征LCD的標準工作時間與維修周期表征LCD的周期修復次數對LCD的器具評測結果進行綜合排序，并按照綜合排序結果從大到小的順序輸出。
[0013]可選的，對于第二次元指數作為標的的評估過程中，所述同一批次LCD的故障率與維修周期具體還包括同一批次LCD裝配部件的故障率與維修周期。
[0014]可選的，對于第三次元指數作為標的，其評估過程為：
[0015]LCD的屏幕正前方設定距離處平行設置有光學透鏡陣列，光學透鏡的曲面包括多個裝設有攝像頭的孔隙，且各個攝像頭之間相互連接，各個攝像頭分別通過光學路徑獲取LCD的圖像，在預設時間內，基于各個攝像頭的布設區域構造第一時序與第二時序，將第一時序與第二時序結合并進行特定處理，依次對生成的特定時序進行讀取、整合，并根據各個攝像頭的關系對整合后的成像序列進行反向計算，形成光學優化后的透鏡成像結果，以第三次元指數對透鏡成像結果進行評測，得到LCD圖像評測結果并輸出。
[0016]可選的，對于第三次元指數作為標的的評估過程中，具體將第一時序與第二時序結合并進行錯位計算，并對生成的錯位時序進行依次讀取，并根據單個時間序列進行整合，形成整合后的成像序列。
[0017]可選的，對于第三次元指數作為標的的評估過程中，光學透鏡的曲面具體通過光學算法所建立。
[0018]適用于LCD裝配流程的多次元評估系統，包括：
[0019]構造組，以第一次元指數作為標的，依次選取關聯器具及對應的裝配模型作為輸出；
[0020]測試組，選定不同仿真環境表征為LCD的工況執行器具裝配評測，并按照第二次元指數作為標的對器具評測結果進行綜合排序并輸出；
[0021]成像組，依據預設有光學算法的采集模組對LCD進行透鏡成像評測，并按照第三次元指數作為標的對透鏡評測結果進行排序并輸出；
[0022]決策組，結合第一次元指數、第二次元指數及第三次元指數，并以效率優先作為裝配序列進行融合計算，以最優選計算結果作為決策并輸出。
[0023]本專利技術實施例的技術方案至少具有如下優點和有益效果：
[0024]本專利技術實施例提供了適用于LCD裝配流程的多次元評估方法及系統，通過采用第一次元指數、第二次元指數及第三次元指數分別對于LCD裝配模型、LCD的裝配部件及器具以及LCD的成像進行多次元評測，基于最終排序的最優化作為決策，不僅克服了現有技術無法評估各個裝配部件對于LCD使用周期的影響，與裝配器具對于各個裝配部件兼容性的影響，同時提升了LCD裝配的質量性，也兼顧LCD裝配的成本值。
附圖說明
[0025]為了更清楚地說明本專利技術實施例的技術方案，下面將對本專利技術實施例中所需要使用的附圖作簡單地介紹，應當理解，以下附圖僅示出了本專利技術的某些實施例，因此不應被看作是對范圍的限定，對于本領域普通技術人員來講，在不付出創造性勞動的前提下，還可以根據這些附圖獲得其他相關的附圖。
[0026]圖1為本專利技術實施例提供的適用于LCD裝配流程的多次元評估方法的整體流程示意圖；
[0027]圖2為本專利技術實施例提供的第一次元指數的評估流程示意圖；
[0028]圖3為本專利技術實施例提供的第二次元指數的評估流程示意圖；
[0029]圖4為本專利技術實施例提供的第三次元指數的評估流程示意圖；
[0030]圖5為本專利技術實施例提供的適用于LCD裝配流程的多次元評估系統的原理示意圖。
具體實施方式
[0031]為使本專利技術實施例的目的、技術方案和優點更加清楚，下面將結合本專利技術實施例中的附圖，對本專利技術實施例中的技術方案進行清楚、完整地描述，顯然，所描述的實施例是本專利技術一部分實施例，而不是全部的實施例本文檔來自技高網...

【技術保護點】

【技術特征摘要】
1.適用于LCD裝配流程的多次元評估方法，其特征在于，該方法的步驟包括：以第一次元指數作為標的，依次選取關聯器具及對應的裝配模型作為輸出，在選定不同仿真環境表征為LCD的工況執行器具裝配評測，并按照第二次元指數作為標的對器具評測結果進行綜合排序的同時，依據預設有光學算法的采集模組對LCD進行透鏡成像評測，并按照第三次元指數作為標的對透鏡評測結果進行排序，結合第一次元指數、第二次元指數及第三次元指數，并以效率優先作為裝配序列進行融合計算，以最優選計算結果作為決策并輸出，完成LCD裝配流程的多次元評估。2.根據權利要求1所述的適用于LCD裝配流程的多次元評估方法，其特征在于，對于第一次元指數作為標的，其評估過程為：輸入待建立的LCD裝配模型，基于待建立的LCD裝配模型獲取LCD裝配部件，并按照相似度分別選取LCD裝配部件植入至模型相應區域，形成多個初始LCD裝配模型，通過第一次元指數對多個初始LCD裝配模型進行優化計算，同時按照相應價值度進行關聯器具篩選，輸出LCD裝配指令包，所述LCD裝配指令包由滿足預期值的LCD裝配模型及其對應的關聯器具所組成。3.根據權利要求2所述的適用于LCD裝配流程的多次元評估方法，其特征在于，對于第一次元指數作為標的的評估過程中，以獲取前的LCD裝配部件的部件成本及其余成本表征為LCD裝配成本，基于設定量對所獲取前的LCD裝配部件進行過濾后，得到所述LCD裝配部件。4.根據權利要求3所述的適用于LCD裝配流程的多次元評估方法，其特征在于，對于第二次元指數作為標的，其評估過程為：選定不同仿真環境表征為同一批次LCD的工況依次選取LCD裝配指令執行器具裝配評測，同時以同一批次LCD的故障率與維修周期作為第二次元指數的評測基準，求得LCD的器具評測結果，對LCD的器具評測結果進行綜合排序并輸出。5.根據權利要求4所述的適用于LCD裝配流程的多次元評估方法，其特征在于，對于第二次元指數作為標的的評估過程中，具體以故障率表征LCD的標準工作時間與維修周期表征LCD的周期修復次數對LCD的器具評...

【專利技術屬性】
技術研發人員：張仕強，張仕剛，舒成業，洪仁輝，
申請(專利權)人：四川京龍光電科技有限公司，
類型：發明
國別省市：