內存測試方法、系統及計算機可讀存儲介質技術方案

本發明專利技術提供了一種內存測試方法、系統及計算機可讀存儲介質，方法包括：根據預設條件調節被測內存儲器的測試加速因子，測試加速因子包括溫度、工作電壓和接口時序等；將預設測試數據輸入被測內存儲器，預設測試數據用于測試被測內存儲器的物理結構在測試加速因子影響下是否正常工作；獲得被測內存儲器的實際測試數據；當實際測試數據與預設測試數據一致，確定測試通過，并由此建立產品的質量多維近似模型。本發明專利技術通過改變被測內存儲器的工作環境，在測試加速因子改變的狀態下對內存儲器進行測試，從而檢測被測內存儲器的物理結構在當前工作環境下是否能夠正常工作，同時也擴展了測試過程中的可調節的外部因素，更有利于激發出深層次的故障模式。深層次的故障模式。深層次的故障模式。

【技術實現步驟摘要】
內存測試方法、系統及計算機可讀存儲介質


[0001]本專利技術涉及內存測試
，尤其涉及一種內存測試方法、系統及計算機可讀存儲介質。

技術介紹

[0002]目前，內存(內存儲器)和固態硬盤廣泛應用于電腦、手機、服務器、智能汽車等產品設備。內存和固態硬盤是數據處理、數據存儲的關鍵部件，其可靠性至關重要。同時，DRAM(Dynamic Random Access Memory，動態隨機存取存儲器)、3DNANDFLASH(NAND閃存)等存儲介質，是用于研發內存、固態硬盤的關鍵器件。這些介質在物理特性上都存在較高的離散性故障失效比例。因此，研發內存、固態硬盤產品時，都會在研發生產的測試環節中進行嚴格的篩選測試，以此將不符合要求的失效品篩選出來。
[0003]相關技術中，常將生產好的成品插入主板上，通過運行預設的測試數據來觸發故障的發生，進而實現篩選的目的。然而，由于對存儲介質容量、密度，降低功耗等需求的不斷提高，其制作工藝也更為復雜，這樣的測試方式帶來越來越多的隨機性和不確定性，難以篩選出深層次的故障。

技術實現思路

[0004]以下是對本文詳細描述的主題的概述。本概述并非是為了限制權利要求的保護范圍。
[0005]本專利技術實施例提供了一種內存測試方法、系統及計算機可讀存儲介質，通過對接口時序、溫度以及工作電壓進行聯合控制，以實現對存儲介質的深層次故障的檢測。同時，也能夠更真實地模擬在實際使用過程中可能遇到的臨界情況。
[0006]第一方面，本專利技術實施例提供了一種內存測試方法，該方法包括：
[0007]根據預設條件調節被測內存儲器的測試加速因子，所述測試加速因子包括溫度、工作電壓和接口時序；
[0008]將預設測試數據輸入所述被測內存儲器，所述預設測試數據用于測試所述被測內存儲器的物理結構在所述測試加速因子影響下是否正常工作；
[0009]獲得所述被測內存儲器的實際測試數據；
[0010]當所述實際測試數據與所述預設測試數據一致，確定測試通過；
[0011]根據所述實際測試數據建立質量多維近似模型。
[0012]在一些實施例中，所述獲得所述被測內存儲器的實際測試數據，包括：根據預設間隔多次獲取所述實時測試數據；根據多個所述實時測試數據，得到所述實際測試數據。
[0013]在一些實施例中，所述獲得所述被測內存儲器的實際測試數據，包括：根據預設時間節點單次測得所述實際測試數據。
[0014]在一些實施例中，所述方法還包括：當所述實際測試數據與所述預設測試數據不一致，確定測試不通過。
[0015]在一些實施例中，所述方法還包括：當確定測試不通過，更換所述預設測試數據并對所述被測內存儲器進行測試。
[0016]在一些實施例中，所述方法還包括：當確定測試不通過，將所述被測內存儲器標記為失效品。
[0017]在一些實施例中，所述方法還包括：在完成測試后，將當前的所述預設測試數據與測試結果進行存儲記錄。
[0018]在一些實施例中，在所述將當前的預設測試數據進行存儲記錄之后，還包括：獲得所述被測內存儲器的型號數據；根據所述型號數據、多個所述預設測試數據與相對應的所述測試結果，得到所述型號數據對應的最優測試數據。
[0019]在一些實施例中，所述方法還包括：建立所述測試加速因子、所述型號數據、所述預設測試數據以及所述最優測試數據之間的映射關系。
[0020]在一些實施例中，所述根據預設條件調節被測內存儲器的測試加速因子，具體為：根據預設條件調節被測內存儲器的測試加速因子中的一種或多種。
[0021]第二方面，本專利技術實施例提供了一種內存測試系統，包括：
[0022]調節模塊，用于對被測內存儲器的測試加速因子進行調節，所述測試加速因子包括溫度、工作電壓和接口時序；
[0023]寫入模塊，用于將預設測試數據輸入所述被測內存儲器，所述預設測試數據用于測試所述被測內存儲器的物理結構在所述測試加速因子影響下是否正常工作；
[0024]讀取模塊，用于獲得所述被測內存儲器的實際測試數據；
[0025]判斷模塊，用于判斷所述實際測試數據與所述預設測試數據是否一致，當所述實際測試數據與所述預設測試數據一致，確定測試通過；
[0026]建模模塊，用于根據所述實際測試數據建立質量多維近似模型。
[0027]第三方面，本專利技術實施例提供一種計算機可讀存儲介質，存儲有計算機程序，所述計算機程序被處理器執行時，實現如上述第一方面的內存測試方法。
[0028]本專利技術實施例包括：將溫度、工作電壓以及接口時序作為被測內存儲器的測試加速因子，然后根據預設條件來調節被測內存儲器的測試加速因子。在設置好測試加速因子后，將預設測試數據輸入被測內存儲器中，而在不同的測試加速因子的組合作用下，預設測試數據在實際檢測過程中可能會發生改變，因此在輸入預設測試數據之后并進行檢測之后，需要從被測內存儲器中讀取實際測試數據，并將實際測試數據與預設測試數據進行比較，當判斷得知實際測試數據與預設測試數據一致時，確定測試通過。根據本專利技術實施例提供的方案，通過改變被測內存儲器的工作環境，以便在多種測試加速因子的不同組合的狀態下對內存儲器進行測試，從而檢測被測內存儲器的物理結構在當前工作環境下是否能夠正常工作，最終根據實際測試數據建立質量多維近似模型。本專利技術中擴展了測試過程中的可調節的外部因素，更有利于激發出深層次的故障模式，為內存儲器的設計提供更廣泛的思路。
[0029]本專利技術的其它特征和優點將在隨后的說明書中闡述，并且，部分地從說明書中變得顯而易見，或者通過實施本專利技術而了解。本專利技術的目的和其他優點可通過在說明書以及附圖中所特別指出的結構來實現和獲得。
附圖說明
[0030]附圖用來提供對本專利技術技術方案的進一步理解，并且構成說明書的一部分，與本專利技術的實施例一起用于解釋本專利技術的技術方案，并不構成對本專利技術技術方案的限制。
[0031]圖1是本專利技術實施例提供的內存測試方法的流程圖；
[0032]圖2是本專利技術實施例提供的多次獲取實際測試數據的流程圖；
[0033]圖3是本專利技術實施例提供的單次獲取實際測試數據的流程圖；
[0034]圖4是本專利技術實施例提供的確定最優測試數據的流程圖；
[0035]圖5是本專利技術實施例提供的內存測試系統的模塊框圖。
具體實施方式
[0036]為了使本專利技術的目的、技術方案及優點更加清楚明白，以下結合附圖及實施例，對本專利技術進行進一步詳細說明。應當理解，此處所描述的具體實施例僅用以解釋本專利技術，并不用于限定本專利技術。
[0037]需要說明的是，雖然在模塊示意圖中進行了功能模塊劃分，在流程圖中示出了邏輯順序，但是在某些情況下，可以以不同于模塊中的模塊劃分，或流程圖中的順序執行所示出或描述的步驟。
[0038]本專利技術實施例描述的內存測試方法以及應用場景是為了更加清楚的說明本專利技術實施例的技術方案，并不構成對于本專利技術實施例提供的技本文檔來自技高網...

【技術保護點】

【技術特征摘要】
1.一種內存測試方法，其特征在于，包括：根據預設條件調節被測內存儲器的測試加速因子，所述測試加速因子包括溫度、工作電壓和接口時序；將預設測試數據輸入所述被測內存儲器，所述預設測試數據用于測試所述被測內存儲器的物理結構在所述測試加速因子影響下是否正常工作；獲得所述被測內存儲器的實際測試數據；當所述實際測試數據與所述預設測試數據一致，確定測試通過；根據所述實際測試數據建立質量多維近似模型。2.根據權利要求1所述的內存測試方法，其特征在于，所述獲得所述被測內存儲器的實際測試數據，包括：根據預設間隔多次獲取所述實時測試數據；根據多個所述實時測試數據，得到所述實際測試數據。3.根據權利要求1所述的內存測試方法，其特征在于，所述獲得所述被測內存儲器的實際測試數據，包括：根據預設時間節點單次測得所述實際測試數據。4.根據權利要求1所述的內存測試方法，其特征在于，所述方法還包括：當所述實際測試數據與所述預設測試數據不一致，確定測試不通過。5.根據權利要求4所述的內存測試方法，其特征在于，所述方法還包括：當確定測試不通過，更換所述預設測試數據并對所述被測內存儲器進行測試。6.根據權利要求4所述的內存測試方法，其特征在于，所述方法還包括：當確定測試不通過，將所述被測內存儲器標記為失效品。7.根據權利要求5所述的內存測試方法，其特征在于，所述方法還包括：在完成測試后，將當前的所述預設測試數據與測試結果進行存儲記錄。8.根...

【專利技術屬性】
技術研發人員：趙春輝，劉石柱，曹祥，曾祥衛，
申請(專利權)人：深圳市章江科技有限公司，
類型：發明
國別省市：