本發明專利技術提供了一種運行狀態查詢方法、裝置及電子設備，包括獲取記錄多個測試用例的運行狀態的狀態文件；如果接收到針對目標測試用例的運行狀態的查詢命令，基于查詢命令，從狀態文件中查詢目標測試用例的運行狀態。該方式通過先獲取記錄多個測試用例的運行狀態的狀態文件；再基于目標測試用例的運行狀態的查詢命令從狀態文件中查詢目標測試用例的運行狀態，可以不用依賴于仿真日志文件，就可以查詢得到狀態文件中測試用例的運行狀態，提高了芯片驗證準確性。證準確性。證準確性。
【技術實現步驟摘要】
運行狀態查詢方法、裝置及電子設備
[0001]本專利技術涉及運行狀態查詢
，尤其是涉及一種運行狀態查詢方法、裝置及電子設備。
技術介紹
[0002]在芯片驗證仿真流程中，需要清晰的知道所有測試用例的一個運行狀態，以及仿真結果，來判斷設計bug(包括計代碼的漏洞，問題，錯誤)收斂的情況。
[0003]現有技術是當測試用例執行完畢后，在測試用例的仿真運行日志文件里面，查找是否有被認為是錯誤的關鍵字，如果有則打印FAIL(失敗)，沒有則打印PASS(通過)到term(terminal，Linux操作系統下的命令運行終端窗口。在linux系統里面，可以打開無數個terminal，運行不同的命令)上，當在仿真執行完畢后，還想要在其他term知道仿真結果，可以切換到仿真目錄，再批量檢查測試用例的運行日志文件，來判斷PASS/FAIL。這種方式在判斷PASS/FAIL的時候,必須去檢查當前的運行日志文件，只能顯示最新的一次仿真結果，當把測試用例的運行日志刪除后，無法再通過檢查日志來知道仿真結果，在其他窗口查看還沒開始仿真的測試用例結果時，因為還沒有運行日志，導致無法得到正確狀態，芯片驗證準確性較低。
技術實現思路
[0004]本專利技術的目的在于提供運行狀態查詢方法、裝置及電子設備，不用依賴于仿真日志文件，就可以查詢得到狀態文件中測試用例的運行狀態，提高了芯片驗證準確性。
[0005]本專利技術提供的一種運行狀態查詢方法，方法包括：
[0006]獲取記錄多個測試用例的運行狀態的狀態文件；
[0007]如果接收到針對目標測試用例的運行狀態的查詢命令，基于查詢命令，從狀態文件中查詢目標測試用例的運行狀態。
[0008]進一步的，方法還包括：
[0009]獲取當前仿真命令對應的標識，及標識對應的測試用例表格；其中，測試用例表格包括：測試用例表格名字和至少一個測試用例；
[0010]將標識及標識對應的測試用例表格，添加到狀態文件中；其中，當前仿真命令對應的標識為狀態文件中的最新一次仿真命令的標識，標識對應的每個測試用例的運行狀態均設定為等待執行狀態；
[0011]將標識對應的每個測試用例的運行狀態更新為正在編譯狀態,以對標識對應的每個測試用例進行編譯，得到編譯結果；
[0012]根據編譯結果更新標識對應的每個測試用例的運行狀態為編譯通過狀態或者編譯失敗狀態；
[0013]將標識對應的編譯通過的每個測試用例的運行狀態更新為正在仿真狀態，以對標識對應的編譯通過的每個測試用例進行仿真，得到仿真結果；
[0014]根據仿真結果更新仿真的每個測試用例的運行狀態為仿真通過狀態或者仿真失敗狀態。
[0015]進一步的，將標識對應的編譯通過的每個測試用例的運行狀態更新為正在仿真狀態，以對標識對應的編譯通過的每個測試用例進行仿真，得到仿真結果的步驟包括：
[0016]將標識對應的編譯通過的每個測試用例的運行狀態更新為正在仿真狀態，以對標識對應的編譯通過的每個測試用例進行仿真，得到仿真日志；
[0017]根據仿真日志，得到仿真結果。
[0018]進一步的，如果接收到針對目標測試用例的運行狀態的查詢命令，基于查詢命令，從狀態文件中查詢目標測試用例的運行狀態的步驟包括：
[0019]如果接收到針對目標測試用例的運行狀態的查詢命令，基于查詢命令，讀取狀態文件；
[0020]對查詢命令進行解析，以判斷查詢命令是否攜帶命令參數；
[0021]如果查詢命令攜帶命令參數，根據命令參數，從狀態文件中查詢目標測試用例的運行狀態。
[0022]進一步的，方法還包括：
[0023]如果查詢命令沒有攜帶命令參數，通過最新一次仿真命令的標識，得到最新一次仿真命令的標識對應的第一測試用例表格；
[0024]從第一測試用例表格中獲取目標測試用例的運行狀態。
[0025]本專利技術提供的一種運行狀態查詢裝置，裝置包括：
[0026]獲取模塊，獲取記錄多個測試用例的運行狀態的狀態文件；
[0027]查詢模塊，用于如果接收到針對目標測試用例的運行狀態的查詢命令，基于查詢命令，從狀態文件中查詢目標測試用例的運行狀態。
[0028]進一步的，裝置還包括：
[0029]獲取當前仿真命令對應的標識，及標識對應的測試用例表格；其中，測試用例表格包括：測試用例表格名字和至少一個測試用例；
[0030]將標識及標識對應的測試用例表格，添加到狀態文件中；其中，當前仿真命令對應的標識為狀態文件中的最新一次仿真命令的標識，標識對應的每個測試用例的運行狀態均設定為等待執行狀態；
[0031]將標識對應的每個測試用例的運行狀態更新為正在編譯狀態,以對標識對應的每個測試用例進行編譯，得到編譯結果；
[0032]根據編譯結果更新標識對應的每個測試用例的運行狀態為編譯通過狀態或者編譯失敗狀態；
[0033]將標識對應的編譯通過的每個測試用例的運行狀態更新為正在仿真狀態，以對標識對應的編譯通過的每個測試用例進行仿真，得到仿真結果；
[0034]根據仿真結果更新仿真的每個測試用例的運行狀態為仿真通過狀態或者仿真失敗狀態。
[0035]進一步的，查詢模塊還用于：
[0036]如果接收到針對目標測試用例的運行狀態的查詢命令，基于查詢命令，讀取狀態文件；
[0037]對查詢命令進行解析，以判斷查詢命令是否攜帶命令參數；
[0038]如果查詢命令攜帶命令參數，根據命令參數，從狀態文件中查詢目標測試用例的運行狀態。
[0039]本專利技術提供的一種電子設備，包括存儲器、處理器，存儲器上存儲有可在處理器上運行的計算機程序，處理器執行計算機程序時實現上述的方法。
[0040]本專利技術提供的一種計算機可讀存儲介質，計算機可讀存儲介質上存儲有計算機程序，計算機程序被處理器運行時執行上述的方法。
[0041]本專利技術提供的運行狀態查詢方法、裝置及電子設備，包括獲取記錄多個測試用例的運行狀態的狀態文件；如果接收到針對目標測試用例的運行狀態的查詢命令，基于查詢命令，從狀態文件中查詢目標測試用例的運行狀態。該方式通過先獲取記錄多個測試用例的運行狀態的狀態文件；再基于目標測試用例的運行狀態的查詢命令從狀態文件中查詢目標測試用例的運行狀態，可以不用依賴于仿真日志文件，就可以查詢得到狀態文件中測試用例的運行狀態，提高了芯片驗證準確性。
附圖說明
[0042]為了更清楚地說明本專利技術具體實施方式或現有技術中的技術方案，下面將對具體實施方式或現有技術描述中所需要使用的附圖作簡單地介紹，顯而易見地，下面描述中的附圖是本專利技術的一些實施方式，對于本領域普通技術人員來講，在不付出創造性勞動的前提下，還可以根據這些附圖獲得其他的附圖。
[0043]圖1為本專利技術實施例提供的一種運行狀態查詢方法的流程圖；
[0044]圖2為本專利技術實施例提供的另一種運行狀態查詢方法的流程圖；
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【技術保護點】
【技術特征摘要】
1.一種運行狀態查詢方法，其特征在于，所述方法包括：獲取記錄多個測試用例的運行狀態的狀態文件；如果接收到針對目標測試用例的運行狀態的查詢命令，基于所述查詢命令，從所述狀態文件中查詢所述目標測試用例的運行狀態。2.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，所述方法還包括：獲取當前仿真命令對應的標識，及所述標識對應的測試用例表格；其中，所述測試用例表格包括：測試用例表格名字和至少一個測試用例；將所述標識及所述標識對應的測試用例表格，添加到所述狀態文件中；其中，所述當前仿真命令對應的標識為所述狀態文件中的最新一次仿真命令的標識，所述標識對應的每個所述測試用例的運行狀態均設定為等待執行狀態；將所述標識對應的每個所述測試用例的運行狀態更新為正在編譯狀態，以對所述標識對應的每個所述測試用例進行編譯，得到編譯結果；根據所述編譯結果更新所述標識對應的每個所述測試用例的運行狀態為編譯通過狀態或者編譯失敗狀態；將所述標識對應的編譯通過的每個所述測試用例的運行狀態更新為正在仿真狀態，以對所述標識對應的編譯通過的每個所述測試用例進行仿真，得到仿真結果；根據所述仿真結果更新仿真的每個所述測試用例的運行狀態為仿真通過狀態或者仿真失敗狀態。3.根據權利要求2所述的方法，其特征在于，將所述標識對應的編譯通過的每個所述測試用例的運行狀態更新為正在仿真狀態，以對所述標識對應的編譯通過的每個所述測試用例進行仿真，得到仿真結果的步驟包括：將所述標識對應的編譯通過的每個所述測試用例的運行狀態更新為正在仿真狀態，以對所述標識對應的編譯通過的每個所述測試用例進行仿真，得到仿真日志；根據所述仿真日志，得到仿真結果。4.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，如果接收到針對目標測試用例的運行狀態的查詢命令，基于所述查詢命令，從所述狀態文件中查詢所述目標測試用例的運行狀態的步驟包括：如果接收到針對目標測試用例的運行狀態的查詢命令，基于所述查詢命令，讀取所述狀態文件；對所述查詢命令進行解析，以判斷所述查詢命令是否攜帶命令參數；如果所述查詢命令攜帶命令參數，根據所述命令參數，從所述狀態文件中查詢所述目標測試用例的運行狀態。5.根據權利要求4所述的方法，其特征在于，所述方法還包括：如果所述查詢命令沒有攜帶命令參數，通過最新一次仿...
【專利技術屬性】
技術研發人員：周鵬，葉云杰，王斐，祝博，
申請(專利權)人：深圳市德明利技術股份有限公司，
類型：發明
國別省市：
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