【技術(shù)實現(xiàn)步驟摘要】
注塑產(chǎn)品尺寸檢測方法
[0001]本專利技術(shù)屬于注塑產(chǎn)品檢測
,具體涉及一種注塑產(chǎn)品尺寸檢測方法。
技術(shù)介紹
[0002]注塑生產(chǎn)中,對于成型后的產(chǎn)品,通常需要檢測其尺寸,來對比產(chǎn)品的實際尺寸與設(shè)計時的理論尺寸,以判斷產(chǎn)品在注塑時是否發(fā)生了變形或各維度尺寸是否產(chǎn)生偏差,若變形或尺寸偏差超出誤差范圍則需要相應(yīng)進行注塑工藝調(diào)整或模具調(diào)整。
[0003]現(xiàn)有技術(shù)中,通常采用如下方式進行注塑產(chǎn)品的尺寸檢測:1、采用檢具進行檢測,即制作相應(yīng)的檢具,將塑料產(chǎn)品放入檢具中夾住,進行需要位置的測試,從而進行變形和尺寸的確認,這種檢測方式檢測結(jié)果比較準確,但是注塑產(chǎn)品的檢具價格昂貴,不同塑料產(chǎn)品對應(yīng)不同的檢具,不能通用,新制作一套檢具可能價格在幾萬到幾十萬不等,導致檢測成本高;2、長度檢測通常是人工手持卡尺進行檢測,但是人工檢測由于主觀原因會導致測試結(jié)果準確性差;3、采用三坐標測量機檢測,但是三坐標檢測只能測試一些已經(jīng)測試過很多次的測試問題,不能根據(jù)實際測量結(jié)果自動找尋偏移點,需要工作人員輔助進行偏移找點,也存在檢測效率效率低的問題。
[0004]本
技術(shù)介紹
所公開的上述信息僅僅用于增加對本申請
技術(shù)介紹
的理解,因此,其可能包括不構(gòu)成本領(lǐng)域普通技術(shù)人員已知的現(xiàn)有技術(shù)。
技術(shù)實現(xiàn)思路
[0005]本專利技術(shù)提供了一種注塑產(chǎn)品尺寸檢測方法,可以解決現(xiàn)有技術(shù)中注塑產(chǎn)品尺寸檢測采用相關(guān)檢測裝置進行檢測成本高、通用性差的問題,以及人工檢測檢測精度低的問題。
[0006]為實現(xiàn)上述專利技術(shù)目的,本專利技術(shù) ...
【技術(shù)保護點】
【技術(shù)特征摘要】
1.一種注塑產(chǎn)品尺寸檢測方法,其特征在于,包括如下步驟:1)確定測量基準點,根據(jù)該測量基準點建立三維坐標系,建立方式是以此測量基準點為坐標原點;2)將產(chǎn)品定位在該三維坐標系下,并將圖紙上產(chǎn)品的所有點位的二維坐標轉(zhuǎn)換為該三維坐標系下的三維坐標,作為理論三維坐標值;3)尺寸檢測,其包括固定點位檢測和定維度偏移找點檢測;所述固定點位檢測的檢測方法為:自動化測量裝置直接測量產(chǎn)品上固定點位的三維坐標值;所述定維度偏移找點檢測的檢測方法為:以所有點位的理論三維坐標值中有任一維度的坐標值最大的該點位為待測點位,自動化測量裝置測量該待測點位在該維度上的坐標值;4)將步驟3)中固定點位的實際測量值和待測點位的實際測量值分別與其對應(yīng)的理論坐標值對比,以分別獲知產(chǎn)品的翹曲變形情況和某一維度上的變形情況;5)測量結(jié)束。2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的注塑產(chǎn)品尺寸檢測方法,其特征在于,步驟1)中測量基準點的確定方法為:將一矩形底座平臺置于自動化測量裝置的工作臺上,該矩形底座平臺的頂面上固設(shè)有兩個相互垂直設(shè)置的矩形定位條,兩個矩形定位條分別與矩形底座平臺頂面的一組相鄰側(cè)邊平行,兩個矩形定位條的長度方向的交點即為所述的測量基準點,兩個矩形定位條的長度方向分別為所述三維坐標系的X軸方向和Y軸方向,過所述測量基準點且與X軸和Y軸均垂直的方向為Z軸方向,所述產(chǎn)品定位在所述矩形底座平臺上。3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的注塑產(chǎn)品尺寸檢測方法,其特征在于,產(chǎn)品按照圖紙上的擺放方向置于所述矩形底座平臺上,并抵靠在兩個所述矩形定位條上。4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的注塑產(chǎn)品尺寸檢測方法,其特征在于,通過一壓力裝置對產(chǎn)品施壓,使產(chǎn)品抵靠在兩個所述矩形定位條上,所述產(chǎn)品上設(shè)有壓力傳感器,用于防止壓力過大導致產(chǎn)品變形。5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的注塑產(chǎn)品尺寸檢測方法,其特征在于,步驟2)中將圖紙上產(chǎn)品的所有點位的二維坐標轉(zhuǎn)換為三維坐標系下的三維坐標的方法為:結(jié)合圖紙上各視圖確定產(chǎn)品上各點位在圖紙上的三維坐標值,并將各點位在圖紙上的三維坐標值分別以(X1,Y1,Z1)、(X2,Y2,Z2)
……
(X
n
,Y
n
,Z
n
)表示,n為點位個數(shù);在所述三維坐標系下,測量基準點的坐標為(0,0,0),圖紙上的原點與測量基準點相比,在三維方向上的差值為(a,b,c),則各點位在三維坐標系下的坐標值則分別為(X1+a,Y1+b,Z1+c)、(X2+a,Y2+b,Z2+c)
……
(X
n
+a,Y
n
+b,Z
n
+c)。6...
【專利技術(shù)屬性】
技術(shù)研發(fā)人員:鄭彥博,劉新新,周豐龍,黃倍莉,趙曉琳,邢同珍,李學濤,
申請(專利權(quán))人:青島海模智云科技有限公司海爾卡奧斯物聯(lián)科技有限公司,
類型:發(fā)明
國別省市:
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