觸控檢測電路和調光模組制造技術

本發明專利技術公開了一種觸控檢測電路和調光模組，觸控檢測電路包括串接的信號發生器、檢測電容模塊、全波整流模塊、低通濾波模塊、ADC采樣模塊和MCU處理模塊；信號發生器提供正弦波信號；檢測電容模塊，接收正弦波信號，讀取待檢測觸控信號，并進行電容檢測處理獲取第一電信號；全波整流模塊，接收第一電信號，并進行全波整流處理獲取第二電信號；低通濾波模塊，接收第二電信號，并進行過濾處理獲取第三電信號；ADC采樣模塊，接收第三電信號，將第三電信號轉換為數字信號；MCU處理模塊，接收數字信號，根據數字信號是否發生變化判斷待檢測觸控信號是否為觸摸信號，進而可以有效判斷是否有觸摸情況發生。情況發生。情況發生。

Touch detection circuit and dimming module

The invention discloses a touch detection circuit and a dimming module. The touch detection circuit includes a serial signal generator, a detection capacitor module, a full wave rectification module, a low-pass filter module, an ADC sampling module and an MCU processing module; The signal generator provides sine wave signal; The capacitance detection module receives the sine wave signal, reads the touch signal to be detected, and performs capacitance detection processing to obtain the first electrical signal; The full wave rectification module receives the first electrical signal and performs full wave rectification processing to obtain the second electrical signal; The low-pass filter module receives the second electrical signal and performs filtering processing to obtain the third electrical signal; The ADC sampling module receives the third electrical signal and converts the third electrical signal into a digital signal; The MCU processing module receives the digital signal, judges whether the touch signal to be detected is a touch signal according to whether the digital signal changes, and then can effectively judge whether there is a touch condition. The situation happened. The situation happened< br/>

【技術實現步驟摘要】
觸控檢測電路和調光模組


[0001]本專利技術涉及觸控
，更具體地，涉及一種觸控檢測電路和調光模組。

技術介紹

[0002]目前，調光玻璃應用在建筑、交通工具等領域，調光玻璃能夠改變窗戶的光線透過率，從而達到窗戶在暗態和亮態之間的改變，但相關技術中，只能通過外設的裝置等來改變調光玻璃的透光模式，十分不便利。對于內部集成觸控按鈕的技術并不成熟。
[0003]那么，如何在調光玻璃內集成觸控單元，提高調光玻璃產品的實用性，是本領域技術人員亟待解決的技術問題。

技術實現思路

[0004]有鑒于此，本專利技術實施例提供了一種觸控檢測電路和調光模組，根據數字信號是否發生變化判斷待檢測觸控信號是否為觸摸信號，進而可以有效判斷是否有觸摸情況發生。
[0005]一方面，本專利技術實施例提供了一種觸控檢測電路，包括：串接的信號發生器、檢測電容模塊、全波整流模塊、低通濾波模塊、ADC采樣模塊和 MCU處理模塊；
[0006]所述信號發生器提供正弦波信號；
[0007]所述檢測電容模塊，接收所述正弦波信號，讀取待檢測觸控信號，并進行電容檢測處理獲取第一電信號；
[0008]所述全波整流模塊，接收所述第一電信號，并進行全波整流處理獲取第二電信號；
[0009]所述低通濾波模塊，接收所述第二電信號，并進行過濾處理獲取第三電信號；
[0010]所述ADC采樣模塊，接收所述第三電信號，將所述第三電信號轉換為數字信號；
[0011]所述MCU處理模塊，接收所述數字信號，根據所述數字信號是否發生變化判斷所述待檢測觸控信號是否為觸摸信號。
[0012]又一方面，基于同一專利技術構思，本專利技術實施例提供了一種調光模組，包括襯底基板，以及位于所述襯底基板上的第一金屬層，所述第一金屬層包括至少一個待檢測觸摸區域；
[0013]每個所述待檢測觸摸區域與一個上述本申請所提供的任一項所述的觸控檢測電路電連接。
[0014]與相關技術相比，本專利技術實施例提供的觸控檢測電路和調光模組，至少實現了如下的有益效果：
[0015]本專利技術實施例提供的觸控檢測電路和調光模組，觸控檢測電路包括串接的信號發生器、檢測電容模塊、全波整流模塊、低通濾波模塊、ADC采樣模塊和MCU處理模塊，信號發生器提供正弦波信號，檢測電容模塊，接收正弦波信號，讀取待檢測觸控信號，進行電容檢測處理獲取第一電信號，并通過全波整流模塊、低通濾波模塊、ADC采樣模塊和MCU處理模塊依次對第一電信號進行全波整流處理、過濾處理后，將電信號轉換為數字信號，根據數字信號
是否發生變化判斷待檢測觸控信號是否為觸摸信號，可以準確判斷與該觸控檢測電路連接的待檢測區域是否發生觸摸情況，將其集成至調光模組內，從而使調光模組可以實現觸控調光的功能，增加其實用性。
[0016]通過以下參照附圖對本專利技術的示例性實施例的詳細描述，本專利技術的其它特征及其優點將會變得清楚。
附圖說明
[0017]被結合在說明書中并構成說明書的一部分的附圖示出了本專利技術的實施例，并且連同其說明一起用于解釋本專利技術的原理。
[0018]圖1是本專利技術實施例提供的一種觸控檢測電路的結構示意圖；
[0019]圖2為本專利技術實施例提供的一種信號發生器的電路圖；
[0020]圖3為本專利技術實施例提供的一種檢測電容模塊的電路圖；
[0021]圖4為本專利技術實施例提供的又一種檢測電容模塊的電路圖；
[0022]圖5為本專利技術實施例提供的一種全波整流模塊的電路圖；
[0023]圖6為本專利技術實施例提供的一種觸控檢測電路中第一電信號的波形圖；
[0024]圖7為本專利技術實施例提供的一種觸控檢測電路中第二電信號的波形圖；
[0025]圖8為本專利技術實施例提供的一種低通濾波模塊的電路圖；
[0026]圖9為本專利技術實施例提供的一種調光模組；
[0027]圖10為圖9中N
?
N
’
向的一種剖面圖。
具體實施方式
[0028]現在將參照附圖來詳細描述本專利技術的各種示例性實施例。應注意到：除非另外具體說明，否則在這些實施例中闡述的部件和步驟的相對布置、數字表達式和數值不限制本專利技術的范圍。
[0029]在不脫離本專利技術的精神或范圍的情況下，在本專利技術中能進行各種修改和變化，這對于本領域技術人員來說是顯而易見的。因而，本專利技術意在覆蓋落入所對應權利要求(要求保護的技術方案)及其等同物范圍內的本專利技術的修改和變化。需要說明的是，本專利技術實施例所提供的實施方式，在不矛盾的情況下可以相互組合。
[0030]以下對至少一個示例性實施例的描述實際上僅僅是說明性的，決不作為對本專利技術及其應用或使用的任何限制。
[0031]對于相關領域普通技術人員已知的技術、方法和設備可能不作詳細討論，但在適當情況下，技術、方法和設備應當被視為說明書的一部分。
[0032]在這里示出和討論的所有例子中，任何具體值應被解釋為僅僅是示例性的，而不是作為限制。因此，示例性實施例的其它例子可以具有不同的值。
[0033]應注意到：相似的標號和字母在下面的附圖中表示類似項，因此，一旦某一項在一個附圖中被定義，則在隨后的附圖中不需要對其進行進一步討論。
[0034]為了解決上述技術問題，本專利技術提出了一種觸控檢測電路和調光模組。關于本專利技術提供的觸控檢測電路和調光模組的實施例，下文將詳述。
[0035]請結合圖1所示，圖1是本專利技術實施例提供的一種觸控檢測電路的結構示意圖。本
實施例提供的一種觸控檢測電路100包括串接的信號發生器 10、檢測電容模塊20、全波整流模塊30、低通濾波模塊40、ADC采樣模塊50和MCU處理模塊60；信號發生器10提供正弦波信號S1；檢測電容模塊20，接收正弦波信號S1，讀取待檢測觸控信號，并進行電容檢測處理獲取第一電信號S2；全波整流模塊30，接收第一電信號S2，并進行全波整流處理獲取第二電信號S3；低通濾波模塊40，接收第二電信號S3，并進行過濾處理獲取第三電信號S4；ADC采樣模塊50，接收第三電信號S4，將第三電信號S4轉換為數字信號S5；MCU處理模塊60，接收數字信號 S5，根據數字信號S5是否發生變化判斷待檢測觸控信號是否為觸摸信號。
[0036]可以理解的是，本實施例提供的一種觸控檢測電路100，包括串接的信號發生器10、檢測電容模塊20、全波整流模塊30、低通濾波模塊40、ADC 采樣模塊50和MCU處理模塊60，通過信號發生器10提供正弦波信號S1，檢測電容模塊20接收正弦波信號S1，并同時讀取待檢測觸控信號，待檢測觸控信號可以為有觸摸信號和無觸摸信號，有觸摸信號和無觸摸信號對應的檢測電容模塊20中待測電容不同，也即無論待檢測觸控信號為有觸摸信號或者無觸摸信號時，依據有觸摸信號或者無觸摸信號對應的檢測電容模塊20中待測電容不同，會對正弦波信號S1產生影響而轉換為第一電信號S2，進而可以通過全波整流模塊30對第一電信號S2進行全波本文檔來自技高網...

【技術保護點】

【技術特征摘要】
1.一種觸控檢測電路，其特征在于，包括串接的信號發生器、檢測電容模塊、全波整流模塊、低通濾波模塊、ADC采樣模塊和MCU處理模塊；所述信號發生器提供正弦波信號；所述檢測電容模塊，接收所述正弦波信號，讀取待檢測觸控信號，并進行電容檢測處理獲取第一電信號；所述全波整流模塊，接收所述第一電信號，并進行全波整流處理獲取第二電信號；所述低通濾波模塊，接收所述第二電信號，并進行過濾處理獲取第三電信號；所述ADC采樣模塊，接收所述第三電信號，將所述第三電信號轉換為數字信號；所述MCU處理模塊，接收所述數字信號，根據所述數字信號是否發生變化判斷所述待檢測觸控信號是否為觸摸信號。2.根據權利要求1所述的觸控檢測電路，其特征在于，所述信號發生器包括：有源晶振，其第一引腳連接至第一電源信號端，其第二引腳連接至第一晶體管的控制端，其第三引腳接地；所述第一晶體管，其控制端連接至所述有源晶振的第二引腳，其第一端連接至輸出端，其第二端連接至第一電容的第一端；所述第一電容，其第一端連接至所述第一晶體管的第二端，其第二端連接至第一電阻的第一端；所述第一電阻，其第一端連接至所述第一電容的第二端，其第二端連接至所述信號發生器的輸出端。3.根據權利要求2所述的觸控檢測電路，其特征在于，所述第一晶體管為P型晶體管。4.根據權利要求1所述的觸控檢測電路，其特征在于，所述檢測電容模塊包括：待測電容，其第一端連接至第一節點，其第二端連接至第二節點；第二電容，其第一端連接至所述第一節點，其第二端接地；第三電容，其第一端連接至所述第二節點，其第二端接地；第一放大器，其反向輸入端連接至所述第二節點，其正向輸入端接地，其第一輸出端連接至所述檢測電容模塊的輸出端；反饋電容，其第一端連接至所述第二節點，其第二端連接至所述檢測電容模塊的輸出端；T型電阻，其一端連接至所述第二節點，其第二端連接至所述檢測電容模塊的輸出端，其第三端接地；其中，所述第一節點與所述信號發生器連接的輸出端連接。5.根據權利要求4所述的觸控檢測電路，其特征在于，所述T型電阻的阻值大于10M。6.根據權利要求1所述的觸控檢測電...

【專利技術屬性】
技術研發人員：粟平，席克瑞，劉楨，陳瀟，李偉，陳曉君，
申請(專利權)人：上海天馬微電子有限公司，
類型：發明
國別省市：