本發明專利技術涉及提供一種能夠使光學裝置小型化的光學元件、光學裝置、距離測定裝置及移動體。本發明專利技術的光學元件(100)具備彼此相對的第一面(120a)和第二面(120b)，其中具有光透射部(121)和光偏轉部(122)，所述光透射部(121)使來自所述第一面(120a)外側的入射光擴散，同時使該入射光向所述第二面(120b)外側透射，所述光偏轉部(122)將來自所述第一面(120a)外側的入射光向從所述第一面外側且與所述第一面(120a)的正反射方向不同的方向偏轉。(120a)的正反射方向不同的方向偏轉。(120a)的正反射方向不同的方向偏轉。
【技術實現步驟摘要】
光學元件、光學裝置、距離測定裝置以及移動體
[0001]本專利技術涉及光學元件、光學裝置、距離測定裝置及移動體。
技術介紹
[0002]玻璃蓋等光學元通常是收納光發射元件的封裝的蓋。
[0003]另一方面，例如專利文獻1(JP特許6019552號公報)公開了一種傾斜設置的光學元件，通過光學元件將從光發射元件射出的光中的一部分光反射到光檢測部，來檢測光發射元件所射出的光受到玻璃蓋等光學元件反射后返回光發射元件而產生的光發射元件的光量變動。
[0004]但是，專利文獻1公開的光學元件由于是傾斜設置，因此會帶來包括光源和光學元件的光學裝置大型化的問題。
技術實現思路
[0005]本專利技術的課題在于提供一種有助于光學裝置小型化的光學元件。
[0006]本專利技術的光學元件具備彼此相對的第一面和第二面，其中具有光透射部和光偏轉部，所述光透射部使來自所述第一面外側的入射光擴散，同時使該入射光向所述第二面外側透射，所述光偏轉部將來自所述第一面外側的入射光向從所述第一面外側且與所述第一面的正反射方向不同的方向偏轉。
[0007]本專利技術的效果在于可以提供有利于光學裝置小型化的光學元件。
附圖說明
[0008]圖1是實施方式涉及的距離測定裝置整體上的示意圖。
[0009]圖2是第一實施方式涉及的光源裝置的剖面圖。
[0010]圖3是第一實施方式涉及的光源裝置的分解圖，(a)是玻璃蓋的平面圖，(b)是電路板的平面圖。
[0011]圖4是第一實施方式的第一變形例涉及的光源裝置的分解圖，(a)是玻璃蓋的平面圖，(b)是電路板的平面圖。
[0012]圖5是第一實施方式的第二變形例的光源裝置的分解圖，(a)是玻璃蓋的平面圖，(b)是電路板的平面圖。
[0013]圖6是圖5的A
?
A截面圖。
[0014]圖7是實施方式涉及的VCSEL的截面圖。
[0015]圖8是第一實施方式涉及的光透射部擴散作用的示意圖，(a)是第一例、(b)是第二例、(c)是第三例、(d)是第四例、(e)是第五例、(f)是第六例。
[0016]圖9是實施方式涉及的DOE的截面圖，(a)是第一例，(b)是第二例，(c)是第三例。
[0017]圖10是實施方式涉及的光偏轉部的第一例示意圖，(a)是偏轉狀況示意圖，(b)是光偏轉部的上面圖，(c)是光偏轉部的截面圖。
[0018]圖11是實施方式涉及的光偏轉部的第二例示意圖，(a)是偏轉狀況，(b)是偏裝部的上面圖，(c)是偏向部的截面圖。
[0019]圖12是實施方式涉及的光透射部的示意圖，(a)是擴散狀況示意圖，(b)是光透射部的截面圖。
[0020]圖13是實施方式的DOE的制造工序圖，(a)至(e)是各工序。
[0021]圖14是伴隨玻璃蓋偏移的衍射效率變化的示意圖，(a)是偏轉情況示意圖，(b)是衍射效率示意圖。
[0022]圖15是第二實施方式的光源裝置的截面圖。
[0023]圖16是第二實施方式的光源裝置的分解圖，(a)是玻璃蓋的平面圖，(b)是電路板的平面圖。
[0024]圖17是第二實施方式的第一變形例的光源裝置的截面圖。
[0025]圖18是第二實施方式的第一變形例的光源裝置的分解圖，(a)是玻璃蓋的平面圖，(b)是電路板的平面圖。
[0026]圖19是第二實施方式的第二變形例的光源裝置的分解圖，(a)是玻璃蓋的平面圖，(b)是電路板的平面圖。
[0027]圖20是正常動作時的檢測電壓變化的示意圖。
[0028]圖21是異常動作時的檢測電壓變化的示意圖。
[0029]圖22是第三實施方式涉及的光源裝置射出的光擴散的第一例示意圖。
[0030]圖23是第三實施方式涉及的光源裝置射出的光擴散的第二例示意圖。
[0031]圖24是第四實施方式涉及的光源裝置的示意圖。
[0032]圖25是第四實施方式的第一變形例的光源裝置的示意圖。
[0033]圖26是第四實施方式的第二變形例的光源裝置的示意圖。
[0034]圖27是第五實施方式涉及的移動體的示意圖。
具體實施方式
[0035]以下參考附圖，說明實施專利技術的方式。在以下的說明中，對各個附圖中相同的構成標注相同的符號，并省略重復的說明。
[0036]下述實施方式例示了具體體現本專利技術技術構思的光學元件、光學裝置及距離測定裝置，但是，本專利技術并不受以下示出的實施方式的限制。除非另有特別說明，下述構成元件的形狀、其相對位置、參數值等只是用來舉例說明本專利技術的范圍，并不對本專利技術范圍的構成限制。另外，為了清晰描述本專利技術，附圖所示的元件大小和位置關系等或有不符合實際情況的表示。
[0037]實施方式涉及的光學元件是具有彼此相對的第一面和第二面的光學元件，包括光透射部，使得從第一面外側入射的入射光擴散，同時向第二面外側透射；以及光偏轉部，將從第一面外側入射的入射光向第一面外側且與第一面的正反射方向不同的方向偏轉。
[0038]本專利技術提供一種光學元件，通過使光檢測部接收經過光偏轉部偏轉的光，不需要為了檢測光發射元件的光量變動等而傾斜設置光學元件，由此可以使光學裝置小型化。
[0039]以下，以距離測定裝置為例說明實施方式，該距離測定裝置采用具有光發射元件和實施方式涉及的光學元件的光源裝置。在以下的示圖中，以與安裝光發射元件的電路板
的平面平行的平面內的規定方向為X軸方向，與電路板的平面平行的平面內的X軸正交的方向為Y軸方向，同時與X軸和Y軸正交的方向為Z軸方向。光發射元件沿Z軸方向發射光，距離測量裝置沿Z軸方向投光。但是，這些軸是為了便于說明，對光學元件、光學裝置及距離測定裝置的方向沒有特別限制，可以在任意方向上分別使用光學元件、光學裝置及距離測定裝置。
[0040][第一實施方式][0041]首先說明第一實施方式涉及的距離測定裝置。圖1是說明本實施方式的涉及距離測定裝置100的整體構成的一例框圖，如圖1所示，距離測定裝置100具有光源裝置1、受光部4、受光電路5以及距離取得部6。
[0042]距離測定裝置100將光源裝置1射出的光作為投光激光101進行投光，并接受投光激光101的對象物200的反饋光102，反饋光102為反射光或散射光。距離測定裝置100是基于投光激光101的投光時機和對象物200的反饋光102的受光時機，測定距離測定裝置100與對象物200之間的距離，即所謂的TOF(Time Of Flight)方式距離測定裝置。
[0043]為了測定對象物200在投光激光101的投光方向上的位置，距離測定裝置100也可以稱為位置測定裝置。投光激光101既是在與投光方向交叉方向上擴散的閃光，也可以用來測量與投光方向交叉的方向上的對象物200的位置。因此，由于能夠測定對象物200的三維位置，所以距離測定裝置100也可以稱為三維位置測定裝置。
[0044]光源裝置1本文檔來自技高網...
【技術保護點】
【技術特征摘要】
1.一種光學元件，具備彼此相對的第一面和第二面，其中具有光透射部和光偏轉部，所述光透射部使來自所述第一面外側的入射光擴散，同時使該入射光向所述第二面外側透射，所述光偏轉部將來自所述第一面外側的入射光向從所述第一面外側且與所述第一面的正反射方向不同的方向偏轉。2.根據權利要求1所述的光學元件，其中，所述光偏轉部通過衍射、擴散、折射之中至少一種方式，偏轉入射所述光偏轉部的入射光之中的一部分光。3.根據權利要求1或2所述的光學元件，其中，所述光透射部通過衍射、擴散、折射之中至少一種方式，擴散入射所述光透射部的入射光之中的一部分光。4.根據權利要求1至3中任意一項所述的光學元件，其中，所述光透射部和所述光偏轉部位于所述第一面和所述第二面之中的至少一方。5.一種光學裝置，其中具有根據權利要求1至4中任意一項所述的光學元件；向所述光學元件射出光的光源；以及光檢測部，檢測從所述光源射出且經過所述光偏轉部偏轉的光。6.根據權利要求5所述的光學裝置，其中，所述光源是表面發射激光器和邊緣發射激光器以及發光二極管之中的任意一種。7.根據權利要求5或6所述的光學裝置，其中，所述光源是具有多個光發射元件的表面發射激光器，所述...
【專利技術屬性】
技術研發人員：佐藤拓海，岡佑紀，
申請(專利權)人：株式會社理光，
類型：發明
國別省市：
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