本發(fā)明專利技術(shù)公開了一種光電鼠標(biāo)集成電路測(cè)試裝置，包括裝置本體，所述裝置本體從上至下依次開設(shè)有第一轉(zhuǎn)動(dòng)槽、升降槽、測(cè)試槽、放置槽，所述測(cè)試槽的內(nèi)壁開設(shè)有穿過槽，所述第一轉(zhuǎn)動(dòng)槽與升降槽內(nèi)設(shè)有測(cè)試機(jī)構(gòu)，所述放置槽內(nèi)設(shè)有升降機(jī)構(gòu)，所述裝置本體的一側(cè)設(shè)有轉(zhuǎn)移機(jī)構(gòu)；所述測(cè)試機(jī)構(gòu)包括轉(zhuǎn)動(dòng)連接在第一轉(zhuǎn)動(dòng)槽內(nèi)壁的第一轉(zhuǎn)軸。本發(fā)明專利技術(shù)通過測(cè)試機(jī)構(gòu)來測(cè)試待檢測(cè)的集成電路板是否合格，通過升降機(jī)構(gòu)來下沉或抬升得集成電路板以定位或放棄定位，通過轉(zhuǎn)移機(jī)構(gòu)來夾取已檢測(cè)結(jié)束的集成電路板，并根據(jù)是否合格來將其轉(zhuǎn)移至不同的輸送帶上，兩個(gè)輸送帶分別用以傳送合格品和不合格品，能夠輪流測(cè)試得集成電路板各鍵位的靈敏度與使用壽命。試得集成電路板各鍵位的靈敏度與使用壽命。試得集成電路板各鍵位的靈敏度與使用壽命。
【技術(shù)實(shí)現(xiàn)步驟摘要】
一種光電鼠標(biāo)集成電路測(cè)試裝置
[0001]本專利技術(shù)涉及集成電路
，尤其涉及一種光電鼠標(biāo)集成電路測(cè)試裝置。
技術(shù)介紹
[0002]集成電路是光電鼠標(biāo)中最為重要的組成部分，集成電路板中一般具有三個(gè)按鍵，分別適配于左鍵、右鍵和中鍵，左鍵、右鍵、中鍵均具有按壓效果，中鍵另外還具有滾動(dòng)效果，在組裝成鼠標(biāo)之前，需要對(duì)上述鍵位進(jìn)行壽命測(cè)試以及反應(yīng)靈敏度，以便保持批量生產(chǎn)的質(zhì)量，而現(xiàn)有的測(cè)試裝置不能輪流測(cè)試各個(gè)按鍵的壽命以及靈敏度。
[0003]為此，我們提出一種光電鼠標(biāo)集成電路測(cè)試裝置來解決上述問題。
技術(shù)實(shí)現(xiàn)思路
[0004]本專利技術(shù)意在提供一種光電鼠標(biāo)集成電路測(cè)試裝置以解決
技術(shù)介紹
中提出的問題。
[0005]為了實(shí)現(xiàn)上述目的，本專利技術(shù)采用了如下技術(shù)方案：
[0006]一種光電鼠標(biāo)集成電路測(cè)試裝置，包括裝置本體，所述裝置本體從上至下依次開設(shè)有第一轉(zhuǎn)動(dòng)槽、升降槽、測(cè)試槽、放置槽，所述測(cè)試槽的內(nèi)壁開設(shè)有穿過槽，所述第一轉(zhuǎn)動(dòng)槽與升降槽內(nèi)設(shè)有測(cè)試機(jī)構(gòu)，所述放置槽內(nèi)設(shè)有升降機(jī)構(gòu)，所述裝置本體的一側(cè)設(shè)有轉(zhuǎn)移機(jī)構(gòu)；所述測(cè)試機(jī)構(gòu)包括轉(zhuǎn)動(dòng)連接在第一轉(zhuǎn)動(dòng)槽內(nèi)壁的第一轉(zhuǎn)軸，所述第一轉(zhuǎn)動(dòng)槽內(nèi)壁嵌設(shè)有用于驅(qū)動(dòng)第一轉(zhuǎn)軸的第一電機(jī)，所述第一轉(zhuǎn)軸上固定套接有第一凸輪，所述升降槽的兩側(cè)內(nèi)壁開設(shè)有滑槽，各所述滑槽內(nèi)滑動(dòng)連接有滑塊，各所述滑塊的下端與滑槽的內(nèi)底壁共同固定連接有第一彈簧，其中一個(gè)所述滑塊轉(zhuǎn)動(dòng)連接有螺紋桿，另一個(gè)所述滑塊內(nèi)嵌設(shè)有用于驅(qū)動(dòng)螺紋桿的第二電機(jī)，所述螺紋桿上螺紋連接有底盒，且底盒僅能在水平方向位移，所述底盒的下端設(shè)有第二轉(zhuǎn)動(dòng)槽，所述第二轉(zhuǎn)動(dòng)槽的內(nèi)壁通過短軸轉(zhuǎn)動(dòng)連接有轉(zhuǎn)輪，所述第二轉(zhuǎn)動(dòng)槽的內(nèi)壁嵌設(shè)有用于驅(qū)動(dòng)短軸的第三電機(jī)。
[0007]優(yōu)選地，所述轉(zhuǎn)移機(jī)構(gòu)的兩側(cè)均設(shè)有輸送帶。
[0008]優(yōu)選地，所述底盒的下端固定連接有接電件，所述接電件包括固定連接在底盒下端的第一固定箱，所述第一固定箱內(nèi)滑動(dòng)連接有T型的第一限位桿，所述第一固定箱的內(nèi)頂壁與第一限位桿的上端共同固定連接有第二彈簧，所述第一限位桿的下端貫穿第一固定箱設(shè)置，所述第一限位桿的下端嵌設(shè)有接電塊，所述接電塊電性連接有控制器，所述控制器固定安裝在裝置本體的一側(cè)。
[0009]優(yōu)選地，所述升降機(jī)構(gòu)包括轉(zhuǎn)動(dòng)連接在放置槽內(nèi)壁的第三轉(zhuǎn)軸，所述放置槽內(nèi)壁嵌設(shè)有用于驅(qū)動(dòng)第三轉(zhuǎn)軸的第四電機(jī)，所述第三轉(zhuǎn)軸上固定套接有第二凸輪，所述升降板與放置槽內(nèi)底壁之間連接有至少一個(gè)導(dǎo)向件。
[0010]優(yōu)選地，所述導(dǎo)向件包括固定連接在放置槽內(nèi)底壁的第二固定箱，所述第二固定箱內(nèi)滑動(dòng)連接有T型的第二限位桿，所述第二限位桿下端與第二固定箱內(nèi)底壁之間共同固定連接有第三彈簧。
[0011]優(yōu)選地，所述轉(zhuǎn)移機(jī)構(gòu)包括框盒，所述框盒內(nèi)壁對(duì)稱限位滑動(dòng)連接有兩個(gè)夾框，所
述框盒的一側(cè)固定安裝有伸縮桿，所述伸縮桿的伸縮端對(duì)稱連接有兩個(gè)連桿，各所述連桿遠(yuǎn)離伸縮桿的一端分別與對(duì)應(yīng)位置的夾框轉(zhuǎn)動(dòng)連接。
[0012]優(yōu)選地，所述夾框的一側(cè)固定連接有限位塊，所述框盒內(nèi)壁開設(shè)有與限位塊滑動(dòng)連接的限位槽。
[0013]優(yōu)選地，所述框盒的下端固定設(shè)置有旋轉(zhuǎn)云臺(tái)。
[0014]與現(xiàn)有技術(shù)相比，本專利技術(shù)的有益效果是：
[0015]本專利技術(shù)通過測(cè)試機(jī)構(gòu)來測(cè)試待檢測(cè)的集成電路板是否合格，通過升降機(jī)構(gòu)來下沉或抬升得集成電路板以定位或放棄定位，通過轉(zhuǎn)移機(jī)構(gòu)來夾取已檢測(cè)結(jié)束的集成電路板，并根據(jù)是否合格來將其轉(zhuǎn)移至不同的輸送帶上，兩個(gè)輸送帶分別用以傳送合格品和不合格品，能夠輪流測(cè)試得集成電路板各鍵位的靈敏度與使用壽命。
附圖說明
[0016]圖1為本專利技術(shù)提出的一種光電鼠標(biāo)集成電路測(cè)試裝置正視的結(jié)構(gòu)剖面圖；
[0017]圖2為圖1中A處放大的結(jié)構(gòu)示意圖；
[0018]圖3為本專利技術(shù)提出的一種光電鼠標(biāo)集成電路測(cè)試裝置轉(zhuǎn)移機(jī)構(gòu)與輸送帶俯視的結(jié)構(gòu)剖面圖；
[0019]圖4為本專利技術(shù)提出的一種光電鼠標(biāo)集成電路測(cè)試裝置導(dǎo)向件與接電件正視的結(jié)構(gòu)剖面圖；
[0020]圖5為本專利技術(shù)提出的一種光電鼠標(biāo)集成電路測(cè)試裝置裝置本體正視的結(jié)構(gòu)示意圖。
[0021]圖中：1裝置本體、11第一轉(zhuǎn)動(dòng)槽、12升降槽、13測(cè)試槽、14放置槽、15穿過槽、2測(cè)試機(jī)構(gòu)、21第一轉(zhuǎn)軸、211第一電機(jī)、212第一凸輪、22螺紋桿、221底盒、222滑塊、223第二電機(jī)、224滑槽、225第一彈簧、23第二轉(zhuǎn)動(dòng)槽、231轉(zhuǎn)輪、232第三電機(jī)、24接電件、241第一固定箱、242第一限位桿、243第二彈簧、244接電塊、25控制器、3升降機(jī)構(gòu)、31第三轉(zhuǎn)軸、32第二凸輪、33第四電機(jī)、34導(dǎo)向件、341第二固定箱、342第二限位桿、343第三彈簧、35升降板、4轉(zhuǎn)移機(jī)構(gòu)、41框盒、42夾框、43連桿、44伸縮桿、45旋轉(zhuǎn)云臺(tái)、5輸送帶。
具體實(shí)施方式
[0022]下面將結(jié)合本專利技術(shù)實(shí)施例中的附圖，對(duì)本專利技術(shù)實(shí)施例中的技術(shù)方案進(jìn)行清楚、完整地描述，顯然，所描述的實(shí)施例僅僅是本專利技術(shù)一部分實(shí)施例，而不是全部的實(shí)施例。
[0023]參照?qǐng)D1
?
5，一種光電鼠標(biāo)集成電路測(cè)試裝置，包括裝置本體1，裝置本體1從上至下依次開設(shè)有第一轉(zhuǎn)動(dòng)槽11、升降槽12、測(cè)試槽13、放置槽14，測(cè)試槽13的內(nèi)壁開設(shè)有穿過槽15，第一轉(zhuǎn)動(dòng)槽11與升降槽12內(nèi)設(shè)有測(cè)試機(jī)構(gòu)2，放置槽14內(nèi)設(shè)有升降機(jī)構(gòu)3，裝置本體1的一側(cè)設(shè)有轉(zhuǎn)移機(jī)構(gòu)4，轉(zhuǎn)移機(jī)構(gòu)4的兩側(cè)均設(shè)有輸送帶5。
[0024]本裝置的基本構(gòu)思是：通過測(cè)試機(jī)構(gòu)2來測(cè)試待檢測(cè)的集成電路板是否合格，通過升降機(jī)構(gòu)3來下沉或抬升得集成電路板以定位或放棄定位，通過轉(zhuǎn)移機(jī)構(gòu)4來夾取已檢測(cè)結(jié)束的集成電路板，并根據(jù)是否合格來將其轉(zhuǎn)移至不同的輸送帶5上，兩個(gè)輸送帶5分別用以傳送合格品和不合格品。
[0025]升降機(jī)構(gòu)包括轉(zhuǎn)動(dòng)連接在放置槽14內(nèi)壁的第三轉(zhuǎn)軸31，放置槽14內(nèi)壁嵌設(shè)有用于
驅(qū)動(dòng)第三轉(zhuǎn)軸31的第四電機(jī)33，第三轉(zhuǎn)軸31上固定套接有第二凸輪32，升降板35與放置槽14內(nèi)底壁之間連接有至少一個(gè)導(dǎo)向件34。
[0026]將待檢測(cè)的集成電路板放置在升降板35的上端，在進(jìn)行測(cè)試時(shí)，第四電機(jī)33驅(qū)動(dòng)第三轉(zhuǎn)軸31并帶動(dòng)與之連接的第二凸輪32旋轉(zhuǎn)至第二凸輪32距離第三轉(zhuǎn)軸31軸線的最近點(diǎn)與升降板35相抵接觸，使集成電路板下沉，需要說明的是，放置槽14的內(nèi)部結(jié)構(gòu)特征與集成電路板結(jié)構(gòu)特征相符，以便后續(xù)的測(cè)試作業(yè)。
[0027]為了使升降板35在豎直方向上穩(wěn)定升降，而另外設(shè)置：導(dǎo)向件34包括固定連接在放置槽14內(nèi)底壁的第二固定箱341，第二固定箱341內(nèi)滑動(dòng)連接有T型的第二限位桿342，第二限位桿342下端與第二固定箱341內(nèi)底壁之間共同固定連接有第三彈簧343，在升降板35在作升降作業(yè)時(shí)，第二限位桿342限位滑動(dòng)在第二固定箱341內(nèi)，第三彈簧343便于第二限位桿342復(fù)位。
[0028]測(cè)試機(jī)構(gòu)2包括轉(zhuǎn)動(dòng)連接在第一轉(zhuǎn)動(dòng)槽11內(nèi)壁的第一轉(zhuǎn)軸21，第一轉(zhuǎn)動(dòng)槽11內(nèi)壁嵌設(shè)有用于驅(qū)動(dòng)第一轉(zhuǎn)軸21的第一電機(jī)211，第一轉(zhuǎn)軸21上固本文檔來自技高網(wǎng)...
【技術(shù)保護(hù)點(diǎn)】
【技術(shù)特征摘要】
1.一種光電鼠標(biāo)集成電路測(cè)試裝置，其特征在于：包括裝置本體(1)，所述裝置本體(1)從上至下依次開設(shè)有第一轉(zhuǎn)動(dòng)槽(11)、升降槽(12)、測(cè)試槽(13)、放置槽(14)，所述測(cè)試槽(13)的內(nèi)壁開設(shè)有穿過槽(15)，所述第一轉(zhuǎn)動(dòng)槽(11)與升降槽(12)內(nèi)設(shè)有測(cè)試機(jī)構(gòu)(2)，所述放置槽(14)內(nèi)設(shè)有升降機(jī)構(gòu)(3)，所述裝置本體(1)的一側(cè)設(shè)有轉(zhuǎn)移機(jī)構(gòu)(4)；所述測(cè)試機(jī)構(gòu)(2)包括轉(zhuǎn)動(dòng)連接在第一轉(zhuǎn)動(dòng)槽(11)內(nèi)壁的第一轉(zhuǎn)軸(21)，所述第一轉(zhuǎn)動(dòng)槽(11)內(nèi)壁嵌設(shè)有用于驅(qū)動(dòng)第一轉(zhuǎn)軸(21)的第一電機(jī)(211)，所述第一轉(zhuǎn)軸(21)上固定套接有第一凸輪(212)，所述升降槽(12)的兩側(cè)內(nèi)壁開設(shè)有滑槽(224)，各所述滑槽(224)內(nèi)滑動(dòng)連接有滑塊(222)，各所述滑塊(222)的下端與滑槽(224)的內(nèi)底壁共同固定連接有第一彈簧(225)，其中一個(gè)所述滑塊(222)轉(zhuǎn)動(dòng)連接有螺紋桿(22)，另一個(gè)所述滑塊(222)內(nèi)嵌設(shè)有用于驅(qū)動(dòng)螺紋桿(22)的第二電機(jī)(223)，所述螺紋桿(22)上螺紋連接有底盒(221)，且底盒(221)僅能在水平方向位移，所述底盒(221)的下端設(shè)有第二轉(zhuǎn)動(dòng)槽(23)，所述第二轉(zhuǎn)動(dòng)槽(23)的內(nèi)壁通過短軸轉(zhuǎn)動(dòng)連接有轉(zhuǎn)輪(231)，所述第二轉(zhuǎn)動(dòng)槽(23)的內(nèi)壁嵌設(shè)有用于驅(qū)動(dòng)短軸的第三電機(jī)(232)。2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種光電鼠標(biāo)集成電路測(cè)試裝置，其特征在于：所述轉(zhuǎn)移機(jī)構(gòu)(4)的兩側(cè)均設(shè)有輸送帶(5)。3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種光電鼠標(biāo)集成電路測(cè)試裝置，其特征在于：所述底盒(221)的下端固定連接有接電件(24)，所述接電件(24)包括固定連接在底盒(221)下端的第一固定箱(241)，所述第一固定箱(241)內(nèi)滑動(dòng)連接有T型的第一限位桿(242)，所述第一固定箱(241)的內(nèi)頂壁...
【專利技術(shù)屬性】
技術(shù)研發(fā)人員：姜一平，
申請(qǐng)(專利權(quán))人：深圳市正宇興電子有限公司，
類型：發(fā)明
國(guó)別省市：
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