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    觸控裝置的觸控感測方法制造方法及圖紙

    技術編號:2912004 閱讀:181 留言:0更新日期:2012-04-11 18:40
    本發明專利技術是關于一種觸控裝置的觸控感測方法,該方法包括:在一觸控裝置中包括有一第一基板及第二基板,第一基板形成有一第一導電層,第二基板形成有一第二導電層,第一導電層及第二導電層分別連接于一控制電路,且控制電路分別連接于一微控器,藉由控制電路驅動第一導電層,以在第一導電層形成一電位梯度,再以控制電路掃描第二導電層,求得觸控位置的第一軸向坐標位置。再交替地以控制電路驅動第二導電層,以在第二導電層形成電位梯度,而以控制電路掃描第一導電層,求得觸控位置的第二軸向坐標位置。本發明專利技術可以使得在進行觸控板觸壓位置的檢測時,僅需搭配簡易的結構組成及電路設計,即可決定出觸控板上一個或多個觸壓位置。

    【技術實現步驟摘要】

    本專利技術是關于一種觸控裝置的設計,特別是關于一種觸控裝置的多點觸控感測方法。
    技術介紹
    傳統觸控板結構主要是在一玻璃基板(Glass?Substrate)表面涂布有一層透明導電層(一般為氧化銦錫ITO導電層),以組成一導電玻璃。導電玻璃上設有另一玻璃基板或薄膜,并在所述的玻璃基板或薄膜的底面涂布有一透明導電層,其相對應于玻璃基板的透明導電層。在玻璃基板的透明導電層與薄膜的透明導電層之間具有復數個絕緣隔點,用以隔絕所述的透明導電層與透明導電層,使兩者間保持一預定間距。再以一微控器交互檢測X軸及Y軸的電壓值,由所觸壓位置檢測X軸及Y軸的分壓而計算出觸壓位置,以檢測觸控板上的觸壓位置。而觸控板的導電層亦可以導電長條的結構,并配合以掃描的方式來檢測觸壓位置。例如在美國專利技術專利第5181030號專利案中,揭示一種包括有復數條導電長條的導電層結構,兩軸向的導電長條相互垂直,利用檢測電位差與位置的關系來檢測出觸壓位置。又如美國專利技術專利第4587378號專利案中,揭示一種包括有復數條導電長條的導電層結構,兩軸向的導電長條相互垂直,在兩軸向電極端個別施加電位,并在另一側檢測信號的變化,藉此檢測觸壓的位置。
    技術實現思路
    本專利技術所欲解決的技術問題-->然而,現有的觸控板結構設計主要為檢測單一觸控點的設計,在同時觸壓多個不同位置的觸控點時,無法同時執行多點檢測判別,或其判別的精準度不足,易產生誤差。在現今社會中,由于軟硬件的進步,對于多點觸控功能的需求日益增加,故如何以簡易的設計達到多點觸控檢測的功能,一直是亟待解決的問題。緣此,本專利技術的一目的即是提供一種觸控裝置的觸控感測方法,僅需以第一導電層及對應的第二導電層所構成的主要結構,并配合建立的電位梯度,在兩者間交替進行驅動及掃描感測的步驟,即可決定出觸控板上一個或多個觸壓位置。本專利技術解決問題的技術手段本專利技術為解決現有技術的問題所采用的技術手段是在一觸控裝置中包括有一第一基板及一第二基板,第一基板及第二基板間隔有復數個絕緣隔點。在第一基板及一第二基板上分別形成有相對的一第一導電層及一第二導電層,且分別連接于一控制電路,且控制電路連接于一微控器。首先藉由控制電路提供一驅動電壓,以在第一導電層上形成一電位梯度,再以控制電路掃描第二導電層,求得各觸控位置的第一軸向坐標位置。再交替地以控制電路驅動第二導電層,而以控制電路掃描第一導電層,求得各觸控位置的第二軸向坐標位置。本專利技術對照先前技術的功效經由本專利技術所采用的技術手段,可以使得在進行觸控板觸壓位置的檢測時,僅需搭配簡易的結構組成及電路設計,即可決定出觸控板上一個或多個觸壓位置,避免如部份現有技術可能發生接觸力量或接觸面積的變化造成阻抗不穩定進而影響觸控位置檢知的正確性。相較于現有技術,不論在電路設計或是觸壓位置的判別等各方面皆較現有技術簡易、快速且精確。-->本專利技術所采用的具體實施例,將藉由以下的實施例及附圖作進一步的說明。附圖說明圖1為顯示本專利技術第一實施例的系統方塊圖;圖2為顯示圖1觸控裝置的第一基板及第二基板之間隔有復數個絕緣隔點的立體圖;圖3為顯示本專利技術第一實施例的操作流程圖;圖4A為顯示本專利技術第一實施例中,第一導電層形成有一電位梯度的示意圖;圖4B為顯示本專利技術第一實施例中,第二導電層受到掃描感測時的示意圖;圖5A為顯示本專利技術第一實施例中,第一導電層受到掃描感測時的示意圖;圖5B為顯示本專利技術第一實施例中,第二導電層形成有一電位梯度的示意圖;圖6為顯示本專利技術第二實施例的系統方塊圖;圖7為顯示圖6觸控裝置的第一基板及第二基板之間隔有復數個絕緣隔點的立體圖;圖8為顯示本專利技術第三實施例的系統方塊圖;圖9為顯示本專利技術第三實施例的操作流程圖。附圖標號100、100a、100b?????????????觸控裝置1???????????????????????????第一基板10??????????????????????????第一導電層101?????????????????????????第一端-->102?????????????????????第二端2???????????????????????第二基板21??????????????????????第二導電層3???????????????????????絕緣隔點4???????????????????????控制電路5???????????????????????微控器G???????????????????????接地電位V1??????????????????????電位V2??????????????????????已知預設電位0V??????????????????????0電位L1、L1’、L2、L2’??????觸壓位置X1、X2、X3...Xn?????????導電長條X1a、X2a、X3a...Xna?????第一端X1b、X2b、X3b...Xnb?????第二端Y1、Y2、Y3...Yn?????????導電長條Y1a、Y2a、Y3a、Yna??????第一端Y1b、Y2b、Y3b、Ynb??????第二端I???????????????????????第一軸向II??????????????????????第二軸向具體實施方式參閱圖1及圖2,圖1為顯示本專利技術第一實施例的系統方塊圖,圖2為顯示本專利技術第一實施例的觸控裝置的立體圖。如圖所示,一觸控裝置100包括有一第一基板1及一第二基板2,且兩者之間隔有復數個絕緣隔點3。第一基板1形成有一第一導電層10,在本實施例中第一導電層10為一氧化銦錫(ITO)的連續平面結構,沿著一第一軸向I在其兩側形成一第一端101-->及一第二端102,且第一端101及第二端102分別連接至一控制電路4。所述的控制電路4連接于一微控器5。通過所述的控制電路4可對第一導電層10的第一端101施加一驅動電壓,并將第二端102連接至一預設電位,而此預設電位可為接地G、零電位0V或是一固定數值電位V2(同時參閱圖4A、圖4B所示),以在第一導電層10上建立一電位梯度。第二基板2形成有一第二導電層21,所述的第二導電層21包括有復數個以第二軸向II延伸的導電長條Y1、Y2、Y3...Yn,各個導電長條Y1、Y2、Y3...Yn彼此平行且不相接觸,且分別形成第一端Y1a、Y2a、Y3a...Yna及第二端Y1b、Y2b、Y3b...Ynb。第二導電層21的各個導電長條Y1、Y2、Y3...Yn的第一端Y1a、Y2a、Y3a...Yna及第二端Y1b、Y2b、Y3b...Ynb分別連接于控制電路4??刂齐娐?交替地驅動及掃描對應的第一導電層10及第二導電層21,并將第二導電層21所接收到的感測信號經計算所求得的坐標位置定義為第一軸向坐標位置x,而第一導電層10所接收到的感測信號經計算所求得的坐標位置定義為第二軸向坐標位置y。參閱圖3,該圖為為顯示本專利技術第一實施例的操作流程圖。如圖所示,首先通過控制電路4對第一導電層10的第一端101施加一已知預設電位V1(同時參閱圖4A、圖4B所示)作為驅動電壓,并將第二端102連接至一預設電位,而此預設電位可為接地G、零電位0V或是一固定數值電位V2(同時參閱圖4A、圖4B所示),如此可在第一導電層1本文檔來自技高網...

    【技術保護點】
    一種觸控裝置的觸控感測方法,其特征在于,在一觸控裝置中包括有一第一基板及第二基板,所述的第一基板形成有一第一導電層,所述的第一導電層包括有復數個彼此平行且不相接觸的導電長條,所述的各個導電長條的第一端及第二端分別連接一控制電路,所述的第二基板形成有一第二導電層,所述的第二導電層包括有復數個彼此平行且不相接觸的導電長條,所述的第二導電層的各個導電長條的第一端及第二端分別連接所述的控制電路,所述的方法包括下列步驟:?。ǎ幔┧龅目刂齐娐肥┘右或寗与妷褐了龅牡谝粚щ妼拥膶щ婇L條的第一端,而所述的第一導電層的導電長條的第二端連接至一預設電位,以在所述的第一導電層的導電長條建立一電位梯度; (b)所述的觸控裝置的至少一觸壓位置受到觸壓時,所述的第一導電層與所述的第二導電層在觸壓位置接觸,由所述的第一導電層依據所述的觸壓位置而施加所述的驅動電壓至所述的第二導電層;?。ǎ悖┮运龅目刂齐娐犯袦y所述的第二導電層,以感測得到所述的觸壓位置的第一軸向坐標位置;?。ǎ洌┧龅目刂齐娐肥┘铀龅尿寗与妷褐了龅牡诙щ妼拥膶щ婇L條的第一端,而所述的第二導電層的導電長條的第二端連接至一預設電位,以在所述的第二導電層的導電長條建立一電位梯度; (e)所述的觸控裝置的至少一觸壓位置受到觸壓時,所述的第一導電層與所述的第二導電層在所述的觸壓位置接觸,由所述的第二導電層依據所述的觸壓位置而施加所述的驅動電壓至所述的第一導電層;?。ǎ妫┮运龅目刂齐娐犯袦y所述的第一導電層,以感測得到所述的觸壓位置的第二軸向坐標位置;?。ǎ纾┓磸瓦M行步驟(a)至步驟(f)。...

    【技術特征摘要】
    CN 2007-12-20 200710160006.51.一種觸控裝置的觸控感測方法,其特征在于,在一觸控裝置中包括有一第一基板及第二基板,所述的第一基板形成有一第一導電層,所述的第一導電層包括有復數個彼此平行且不相接觸的導電長條,所述的各個導電長條的第一端及第二端分別連接一控制電路,所述的第二基板形成有一第二導電層,所述的第二導電層包括有復數個彼此平行且不相接觸的導電長條,所述的第二導電層的各個導電長條的第一端及第二端分別連接所述的控制電路,所述的方法包括下列步驟:(a)所述的控制電路施加一驅動電壓至所述的第一導電層的導電長條的第一端,而所述的第一導電層的導電長條的第二端連接至一預設電位,以在所述的第一導電層的導電長條建立一電位梯度;(b)所述的觸控裝置的至少一觸壓位置受到觸壓時,所述的第一導電層與所述的第二導電層在觸壓位置接觸,由所述的第一導電層依據所述的觸壓位置而施加所述的驅動電壓至所述的第二導電層;(c)以所述的控制電路感測所述的第二導電層,以感測得到所述的觸壓位置的第一軸向坐標位置;(d)所述的控制電路施加所述的驅動電壓至所述的第二導電層的導電長條的第一端,而所述的第二導電層的導電長條的第二端連接至一預設電位,以在所述的第二導電層的導電長條建立一電位梯度;(e)所述的觸控裝置的至少一觸壓位置受到觸壓時,所述的第一導電層與所述的第二導電層在所述的觸壓位置接觸,由所述的第二導電層依據所述的觸壓位置而施加所述的驅動電壓至所述的第一導電層;(f)以所述的控制電路感測所述的第一導電層,以感測得到所述的觸壓位置的第二軸向坐標位置;(g)反復進行步驟(a)至步驟(f)。2.如權利要求1所述的觸控裝置的觸控感測方法,其特征在于,步驟(a)中,所述的控制電路以循序驅動方式,循序施加所述的驅動電壓至所述的第一導電層的各個導電長條。3.如權利要求1所述的觸控裝置的觸控感測方法,其特征在于,步驟(a)中,所述的控制電路以同時驅動方式,同時施加所述的驅動電壓至所述的第一導電層的各個導電長條。4.如權利要求1所述的觸控裝置的觸控感測方法,其特征在于,步驟(c)中,所述的控制電路以循序掃描方式,循序感測所述的第二導電層的各個導電長條。5.如權利要求1所述的觸控裝置的觸控感測方法,其特征在于,步驟(c)中,所述的控制電路以同時掃描方式,同時感測所述的第二導電層的各個導電長條。6.如權利要求1所述的觸控裝置的觸控感測方法,其特征在于,步驟(d)中,所述的控制電路以循序驅動方式,循序施加所述的驅動電壓至所述的第二導電層的各個導電長條。7....

    【專利技術屬性】
    技術研發人員:劉振宇林俊基,
    申請(專利權)人:宸鴻光電科技股份有限公司
    類型:發明
    國別省市:71[中國|臺灣]

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