本發明專利技術提供了一種高壓測量裝置及其操作方法，用來對待測試物品進行高壓測試，所述的高壓測量裝置包括：基頻產生電路，用來產生高壓測試時所需要的基本頻率；以及，高壓輸出模塊，與所述的基頻產生電路連接，所述的高壓輸出模塊包括鎖相環電路與復數個輸出級電路，所述的鎖相環電路用來接收所述的基本頻率，并用來產生倍頻信號輸入所述的復數個輸出級電路，所述的復數個輸出級電路用來放大輸出所需的測試電壓。本發明專利技術提供的技術方案使得高壓裝置的體積減少，減少配線；并且采用開關式放大電路以降低高壓測試時的功率輸出級能量損耗，提高能源效率；此外，本發明專利技術提供的技術方案還能提供可變頻率同相位測試高壓輸出。
【技術實現步驟摘要】
本專利技術屬于高壓測量
，尤其涉及到對待測試物進行高壓測試的高 壓測量裝置。
技術介紹
在一般零件測試，如電容器、變壓器...等，在進行安全規格測量及質量 才全驗時，須使用耐壓機提供連續高壓以進行額定電壓及時間的測量，確認待測 物是否符合安全規格的耐電壓條件。這些測試條件為固定測試條件，需符合法 規規定的標準，且每一個耐壓機提供的測量高壓點必須要有獨立的電壓、電流 顯示以及控制系統。一般而言，每一個待測物品需要測試一定時間，如果要提高測試效率，則 必須采用多臺高壓測試設備(測量裝置)同時進行測試；目前，業界一般采用大 量相同設備以同時進行測試。由于傳統的高壓多通道測量設備，多是單機再以 連接線做多通道高壓輸出，以達成同時多個待測物品之高壓測試，其高壓多通 道測量設備配線復雜，使其可靠度降低，而且所占據的體積龐大、采用傳統功 率輸出裝置導致其熱損耗極大，且未能提供調整頻率之功能，不能滿足同相位 輸出但頻率改變之需求。請參閱圖1,其為現有的高壓測量裝置1示意圖。高壓測量裝置1可連接 復數個待測試物，對待測試物進行一固定時間高壓測試，以測量待測試物的耐 電壓與電流的基本數值。高壓測量裝置1由復數組高壓輸出模塊10.....19所組成。以下以第一組高壓輸出模塊IO為例說明，其中，第一組高壓輸出模塊IO具有一鎖相環電路 10a、 一數字/模擬轉換電路10b、 一放大器10c、 一高壓變壓器10d與一輸出端10e。以上述高壓測量裝置1而言，其僅能提供與電源同頻率同相位之輸出，無 法滿足需要改變頻率的測試需求。又舉例來說，以傳統的多信道高壓測量裝置 1輸出條件為輸出頻率60Hz、輸出電壓5000伏特(V)及輸出電流10毫安(mA), 即其功率輸出級系輸出50瓦特(W);以此條件連續工作，則其總消耗功率可以 高達120W,其中有高達70W的熱損失。若多信道數量以32信道計算，熱損 失將高達2200W,造成嚴重的熱損耗產生。由于現有的高壓測量裝置具有上述缺點；提供可變頻率同相位輸出，降低 設備的體積與能量損耗，以提高設備可靠度，進而達到提高測試可靠度的要求 的高壓測量裝置就成為了需要解決的問題。
技術實現思路
本專利技術的目的在于提供一種高壓測量裝置及其測量方法，該高壓測量裝置 具有多信道及可變頻率同相位輸出，且其內部以數字式放大器設計，旨在解決 降低設備體積、能量損耗，達到提高測試可靠度的要求的問題。為實現上述目的，本專利技術是這樣實現的， 一種高壓測量裝置，用來對待測 試物品進行高壓測試，所述的高壓測量裝置包括基頻產生電路，用來產生高壓測試時所需要的基本頻率；以及一高壓輸出模塊，與所述的基頻產生電路連接，所述的高壓輸出模塊包括 鎖相環電路與復數個輸出級電路，所述的鎖相環電路用來接收所述的基本頻率， 并用來產生倍頻信號輸入所述的復數個輸出級電路，所述的復數個輸出級電路 用來放大輸出所需的測試電壓。所述的復數個輸出級電路中的任一個包括數字/模擬轉換電路、開關功率放 大器與高壓變壓器，所述的數字/模擬轉換電路用來接收所述的倍頻信號并用來 產生正弦波訊號，所述的開關放大器用來將所述的正弦波訊號進行功率轉換以 推動所述的高壓變壓器，所述的高壓變壓器用來輸出所述的測試電壓。所述的高壓輸出模塊包括十個所述的輸出級電路。所述的鎖相環電路提供所述基本頻率的8倍至256倍的倍頻信號或者其它 復數倍的倍頻信號。本專利技術還提供了另一種高壓測量裝置，用來對待測試物品進行高壓測試， 所述的高壓測量裝置包括基頻產生電路，用來產生高壓測試時所需要的基本頻率；以及復數個高壓輸出模塊，所述的復數個高壓輸出模塊分別與所述的基頻產生 電路連接，所述的復數個高壓輸出模塊中的任一個包括鎖相環電路與復數個輸 出級電路，所述的鎖相環電路用來接收所述的基本頻率，并用來產生倍頻信號 輸入所述的復數個輸出級電路，所述的復數個輸出級電路用來放大輸出所需的 測試電壓。所述的復數個輸出級電路中的任一個包括數字/模擬轉換電路、開關功率放 大器與高壓變壓器，所述的數字/模擬轉換電路用來接收所述的倍頻信號以產生正弦波訊號，所述的開關放大器用來將所述的正弦波訊號進行功率轉換以推動 所述的高壓變壓器，所述的高壓變壓器用來輸出所述的測試電壓。所述的高壓輸出模塊通過所述的鎖相環電路輸出不同頻率同相位的測試電壓。本專利技術還提供了 一種高壓測量裝置的操作方法，所述的高壓測量裝置包括 基頻產生電路與至少 一 高壓輸出模塊，用以連結復數個待測試物品以進行高壓 測試，其中，所述高壓輸出模塊包括鎖相環電路與復數個輸出級電路，所述的 方法包括如下步驟產生一基本頻率供應所述的高壓輸出模塊； 利用所述的鎖相環電路將所述基本頻率倍頻后輸出；以及 任一個所述的輸出級電路接收倍頻信號，將其轉換并》文大以輸出測試所需 要的高電壓。所述的基本頻率為由所述的基頻產生電路產生的可變動的頻率。本專利技術克服現有技術的不足，利用一個獨立的基本頻率產生裝置，產生整 個測試系統所需要的輸出基本數字信號，并聯供應多信道使用，以達到可變頻率、多信道與同相位輸出高壓的要求。本專利技術提供的技術方案具有以下優點1. 多通道放入一個機箱內，使得高壓裝置的體積減少，減少配線。2. 采用開關式放大電路以降低高壓測試時的功率輸出級能量損耗，提高能 源效率，進而達到降低測試設備工作溫度，提高設備的可靠度。3. 提供可變頻率同相位測試高壓輸出。附圖說明圖1是現有的高壓測量裝置1示意圖2是本專利技術實施例所述的高壓測量裝置示意圖3是本專利技術實施例所述高壓測量裝置操作流程圖。具體實施例方式本專利技術提供的技術方案是利用一個獨立的基本頻率產生裝置，產生整個 測試系統所需要的輸出基本數字信號，并聯供應多信道使用，以達到可變頻率、 多信道與同相位輸出高壓的要求。為了使本專利技術的目的、技術方案及優點更加清楚明白，以下結合附圖及實 施例，對本專利技術進行進一步詳細說明。應當理解，此處所描述的具體實施例僅 僅用以解釋本專利技術，并不用于限定本專利技術。請參閱圖2，其為本專利技術實施例所述的高壓測量裝置的示意圖。高壓測量 裝置可連接復數個待測試物，對待測試物進行一固定時間高壓測試，以測量待 測試物的耐電壓與電流的基本數值；其中，高壓測量裝置包括一基頻產生電路 20與復數組高壓輸出模塊22、 23.....N等。其中，基頻產生電路20用以產生高壓測試時所需要的基本頻率，即產生整 個高壓測量裝置所需要的輸出基本數字信號，且基本頻率可以依其高壓測試所需求的頻率做變動更改，其中，基本頻率可以是50Hz、 60Hz或是其它的工作 頻率，利用0伏特至5伏特之間的邏輯信號輸出，減少被干擾的機會。復數組高壓輸出模塊22、 23.....N等電性連接基頻產生電路20,以接收基本頻率并放大以輸出所需的測試高壓值。其中，每一組高壓輸出模塊具有一 鎖相環電路與復數個輸出級電路；以下以第一組高壓輸出模塊22加以說明，第 一組高壓輸出模塊22中具有一鎖相環電路2200與復數個輸出級電路2210~ 2219。每一鎖相環電路2200中，具有一正弦波內存(圖中未顯示)，鎖相環電路2200 用以接收基本頻率將其倍頻到基頻的256倍，當然也可視其需要從8倍至256 倍、或其它復數倍頻供選擇，再經由正弦波內存產生一倍頻信號，即推動輸出 本文檔來自技高網...
【技術保護點】
一種高壓測量裝置，用來對待測試物品進行高壓測試，其特征在于，所述的高壓測量裝置包括： 基頻產生電路，用來產生高壓測試時所需要的基本頻率；以及 高壓輸出模塊，與所述的基頻產生電路連接，所述的高壓輸出模塊包括鎖相環電路與復數個輸出級電路，所述的鎖相環電路用來接收所述的基本頻率，并用來產生倍頻信號輸入所述的復數個輸出級電路，所述的復數個輸出級電路用來放大輸出所需的測試電壓。
【技術特征摘要】
【專利技術屬性】
技術研發人員：王耀南，吳文杰，范富強，
申請(專利權)人：中茂電子深圳有限公司，
類型：發明
國別省市：94[中國|深圳]
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