本發(fā)明專利技術(shù)的實(shí)施例可提供用于測(cè)量定子部件如定子線棒中電容的電容葉片的系統(tǒng)、方法和設(shè)備。在一個(gè)實(shí)施例中，用于測(cè)量電容的系統(tǒng)（１００，２００）可包括可操作來測(cè)量物體（１１４）中電容的輸出裝置（２０８）。此外，系統(tǒng)（１００，２００）可包括可操作來安裝到待檢測(cè)物（１１４）上的至少三個(gè)觸點(diǎn)（１０２，１０４，１０６）。另外，系統(tǒng)（１００，２００）可包括可操作來安裝到所述待檢測(cè)物（１１４）上的至少一種導(dǎo)電材料（１１２）。而且，系統(tǒng)（１００，２００）可包括鄰近至少三個(gè)觸點(diǎn)（１０２，１０４，１０６）中的至少一些觸點(diǎn)和至少一種導(dǎo)電材料（１１２）的可壓縮材料（１１０），其中，可壓縮材料（１１０）可壓縮以允許觸點(diǎn)（１０２，１０４，１０６）同時(shí)接觸待檢測(cè)物（１１４），并且輸出裝置（２０８）可輸出與待檢測(cè)物（１１４）相關(guān)的電容測(cè)量值。
【技術(shù)實(shí)現(xiàn)步驟摘要】
本專利技術(shù)涉及電力發(fā)電機(jī)，更具體地，涉及用于測(cè)量定子部件如電 力發(fā)電機(jī)的定子線棒中電容的系統(tǒng)、方法和設(shè)備。
技術(shù)介紹
在大型工業(yè)發(fā)動(dòng)機(jī)或多用途發(fā)動(dòng)機(jī)(utility motor)和發(fā)電機(jī)中，定 子繞組，亦稱電樞繞組，可包括一系列的定子繞組。各定子繞組可包 括一系列包封在一個(gè)或多個(gè)絕緣層中的導(dǎo)電線棒或定子線棒。絕緣可 限制定子線棒中的電流，并可防止繞組之間的電流電弧。此外，絕緣 可保護(hù)定子線棒免受電學(xué)上可短路線棒的雜散物影響。如果絕緣體的 絕緣特性隨著時(shí)間的推移而下降，或因來自冷卻滲漏的過多水分而衰 減，則電壓電弧可從定子線棒穿過絕緣體的絕緣特性下降區(qū)跳弧，而 造成可傷害人和/或損害裝置的電氣短路。較早檢測(cè)到此類滲漏可最小 化或防止對(duì)人和/或設(shè)備的傷害。可以繪制定子繞組，尤其是定子線棒絕緣體的各種圖，以跟蹤和 監(jiān)控不同的物理特性，例如溫度或其它的物理特性。這些圖可幫助操 作員或試驗(yàn)人員識(shí)別定子繞組或定子線棒中的故障或缺陷。如上所 述，未能檢測(cè)到定子繞組和定子線棒中的水分可導(dǎo)致危險(xiǎn)的電氣短 路，例如"相地故障(phase to ground fault)"或"相間故障(phase to phase fault)"。在發(fā)電機(jī)檢修期間可以生成的一種圖為"電容圖"。電容圖可包 含對(duì)各個(gè)定子線棒的電容測(cè)量值的顯示。在此實(shí)例中，各電容測(cè)量值 可沿著定子線棒在兩個(gè)位置進(jìn)行測(cè)量， 一個(gè)測(cè)量值在發(fā)電機(jī)的每一端 各測(cè)量一次。典型地，已收集數(shù)據(jù)的統(tǒng)計(jì)分析可在數(shù)據(jù)收集期間或在其之后進(jìn)行，以基于預(yù)定標(biāo)準(zhǔn)濾除異常型或假陰性的數(shù)據(jù)。然而，使 用常規(guī)的技術(shù)和裝置收集數(shù)據(jù)或會(huì)易于出錯(cuò)。當(dāng)使用常規(guī)探針測(cè)量電 容時(shí)，該常規(guī)探針可安裝到定子線棒上，在此探針直接接觸定子線棒。 在有些情況下，探針表面區(qū)域的變化或瑕疵可造成電容測(cè)量的噪音。 在某些其它情況下，探針和定子線棒或絕緣定子線棒表面之間的間隙 可造成電容測(cè)量的噪音。其它情況下，探針未對(duì)準(zhǔn)可造成電容測(cè)量的 噪音。在任何情況下，電容測(cè)量的噪音都會(huì)影響所收集數(shù)據(jù)的質(zhì)量。因此，需要改進(jìn)的定子監(jiān)測(cè)系統(tǒng)和方法。還需要用來從定子部件 收集電容數(shù)據(jù)的系統(tǒng)、方法和設(shè)備。同時(shí)，需要有用于測(cè)量定子部件 中電容的系統(tǒng)、方法和設(shè)備。
技術(shù)實(shí)現(xiàn)思路
本專利技術(shù)的實(shí)施例可處理上述一些或全部需求。本專利技術(shù)的實(shí)施例通 常指向用于測(cè)量定子部件如定子線棒中電容的系統(tǒng)、方法和設(shè)備。根據(jù)本專利技術(shù)的一個(gè)實(shí)施例，用于測(cè)量電容的系統(tǒng)可包括可操作用來測(cè)量 物體中電容的輸出裝置。此外，該系統(tǒng)可包括至少三個(gè)觸點(diǎn)，其中， 這些觸點(diǎn)可同時(shí)安裝到待檢測(cè)物上。另外，該系統(tǒng)可包括至少一種可 操作用來安裝到待檢測(cè)物上的導(dǎo)電材料。而且，該系統(tǒng)可包括鄰近于 至少三個(gè)觸點(diǎn)中一些觸點(diǎn)和至少一種導(dǎo)電材料的可壓縮材料，其中， 該可壓縮材料可壓縮以容許觸點(diǎn)同時(shí)接觸待;險(xiǎn)測(cè)物，且該輸出裝置可 輸出與物體相關(guān)的電容測(cè)量值。根據(jù)該實(shí)施例的實(shí)施例，用于測(cè)量電容的方法可包括提供電容測(cè) 量裝置。提供電容測(cè)量裝置可包括提供含有輸出裝置的儀器，該輸出 裝置可操作用來輸出與物體電容相關(guān)的指示。另外，提供電容測(cè)量裝 置可包括提供含有至少三個(gè)觸點(diǎn)的儀器，該觸點(diǎn)可操作以安裝到待檢 測(cè)物上。此外，提供電容測(cè)量裝置可包括提供含有至少一種導(dǎo)電材料 的儀器，該導(dǎo)電材料可操作以安裝到待檢測(cè)物上。而且，提供電容測(cè) 量裝置可包括提供含有可壓縮材料的儀器，該可壓縮材料設(shè)置成鄰近于該至少三個(gè)觸點(diǎn)中的一些觸點(diǎn)和所述至少一種導(dǎo)電材料，其中，該 可壓縮材料可壓縮以允許觸點(diǎn)中的至少 一些觸點(diǎn)同時(shí)接觸該待檢測(cè) 物。該方法還可包括將電容測(cè)量裝置定位成鄰近待檢測(cè)物。此外，該 方法可包括擠靠著待檢測(cè)物壓縮該可壓縮材料，以及觀測(cè)來自輸出裝 置的輸出，其中，觸點(diǎn)中至少一些觸點(diǎn)同時(shí)接觸待檢測(cè)物，而且該輸 出與待檢測(cè)物的電容相關(guān)。根據(jù)本專利技術(shù)的另一個(gè)實(shí)施例，提供了用于測(cè)量電容的系統(tǒng)。該系 統(tǒng)可包括至少一個(gè)輸出裝置，其可操作來測(cè)量待檢測(cè)物的電容。此 夕卜，該系統(tǒng)可包括第一葉片和第二葉片。各葉片可包括至少一個(gè)觸點(diǎn)， 其中，該至少一個(gè)觸點(diǎn)與該至少一個(gè)輸出裝置連通。各葉片還可以包 括可操作來安裝到待檢測(cè)物上的導(dǎo)電材料。此外，各葉片可包括鄰近 于該至少一個(gè)觸點(diǎn)的可壓縮材料和導(dǎo)電材料，其中，該可壓縮材料可 壓縮以允許該至少一個(gè)觸點(diǎn)接觸待檢測(cè)物，且該輸出裝置可輸出與有 關(guān)于各葉片的至少一個(gè)電容部件相關(guān)的電容測(cè)量值。根據(jù)以下說明并結(jié)合下述附圖，本專利技術(shù)的其它實(shí)施例和方面將變 得顯而易見。附圖說明這樣概括地描述了本專利技術(shù)，現(xiàn)在將參考附圖，其中，附圖無需按比例繪制，圖中圖1為根據(jù)本專利技術(shù)的實(shí)施例用于電容測(cè)量裝置的實(shí)例系統(tǒng)和設(shè)備 的透視圖。圖2為圖1所示的實(shí)例系統(tǒng)和設(shè)備的側(cè)視圖，其中，該設(shè)備安裝在實(shí)例定子部件如定子線棒上。圖3為根據(jù)本專利技術(shù)實(shí)施例的實(shí)例系統(tǒng)和設(shè)備的電路圖。圖4為根據(jù)本專利技術(shù)的 一個(gè)實(shí)施例示出了實(shí)例系列的用于電容測(cè)量裝置的系統(tǒng)和設(shè)備的示意圖。部件列表100系統(tǒng)和裝置102觸點(diǎn)104觸點(diǎn)106觸點(diǎn)108安裝裝置110可壓縮材料112導(dǎo)電材料114定子線棒116分級(jí)電容118把手200系統(tǒng)或電路202觸點(diǎn)204觸點(diǎn)206觸點(diǎn)208輸出裝置210C分級(jí)或C。^電容部件212C絕緣或C線棒電容部件300系統(tǒng)302定子線棒304定子線豐奉306葉片型裝置308葉片型裝置310葉片型裝置312葉片型裝置314輸出裝置316處理器318計(jì)算機(jī)可執(zhí)行指令320存儲(chǔ)器 具體實(shí)施例方式本專利技術(shù)的一些或全部實(shí)施例可提供以下方面中的一些或全部(1) 改進(jìn)的電容測(cè)量值和數(shù)據(jù)；(2)用于發(fā)電機(jī)電容圖的較低的水分檢測(cè)閾 值，從而有利于較早檢測(cè)到滲漏的定子線棒；(3)用于測(cè)試和分析的相 對(duì)更快的周期時(shí)間；(4)相對(duì)較低的用于檢查和測(cè)試的設(shè)備費(fèi)用；和(5) 相對(duì)較低的用于檢查和測(cè)試設(shè)備的保養(yǎng)費(fèi)用。現(xiàn)在將在下此處參考附圖更詳細(xì)地描述本專利技術(shù)，附圖中示出了本 專利技術(shù)的實(shí)例實(shí)施例。然而，本專利技術(shù)可以許多不同的形式實(shí)施而不應(yīng)認(rèn) 為局限于此處所闡述的實(shí)例實(shí)施例；更確切地說，提供這些實(shí)施例是同的^:字指相同的元件。本專利技術(shù)的實(shí)施例，例如圖1和圖2中所示的實(shí)例系統(tǒng)和設(shè)備100， 以及圖3中所示的實(shí)例系統(tǒng)200，都可通過帶有一個(gè)或多個(gè)定子部件 或定子線棒的發(fā)電機(jī)而實(shí)施。本領(lǐng)域技術(shù)人員應(yīng)當(dāng)理解，此處所述實(shí) 施例可適用于各種系統(tǒng)、裝置和環(huán)境，且不限于發(fā)電機(jī)、液冷發(fā)電機(jī)、 定子部件、定子線棒、絕緣定子線棒或類似于在圖1至圖4的上下文 中所述的那些裝置的其它裝置。圖1和圖2的實(shí)例系統(tǒng)和設(shè)備100為葉片型裝置，其可操作來測(cè) 量物體如定子部件或定子線棒中的電容。當(dāng)實(shí)例系統(tǒng)和設(shè)備100與輸 出裝置如電容表或萬用表連通時(shí)，便可獲得物體的電容測(cè)量值。圖1 為實(shí)例系統(tǒng)和設(shè)備100的透視圖，而圖2示出了圖1中的系統(tǒng)和設(shè)備 100安裝到定子部件如定子線棒上的側(cè)視圖。在所示實(shí)例中，系統(tǒng)和 設(shè)備100可包括一系列的觸點(diǎn)102、 104、 106、安裝裝置108、至少 一種可壓縮材料110以及導(dǎo)電材料112。在其它實(shí)施例中，根據(jù)本發(fā) 明可使用上述部件中的 一些或全部。圖1和圖2的實(shí)例系統(tǒng)和設(shè)備100 可安裝到待檢測(cè)物上，例如圖2中所示的定子部件或定子線棒114。在其它實(shí)施例中，系統(tǒng)和設(shè)備100可安裝到在需要測(cè)量電容的各種環(huán) 境中的其它裝置上本文檔來自技高網(wǎng)...
【技術(shù)保護(hù)點(diǎn)】
一種用于測(cè)量電容的系統(tǒng)（１００，２００），所述系統(tǒng)（１００，２００）包括可操作來測(cè)量物體（１１４）中電容的輸出裝置（２０８）、可操作來安裝到待檢測(cè)物（１１４）上的至少三個(gè)觸點(diǎn)（１０２，１０４，１０６）和可操作來安裝到所述待檢測(cè)物（１１４）上的至少一種導(dǎo)電材料（１１２），所述系統(tǒng)（１００，２００）進(jìn)一步的特征在于： 鄰近于所述至少三個(gè)觸點(diǎn)（１０２，１０４，１０６）中至少一些觸點(diǎn)和所述至少一種導(dǎo)電材料（１１２）的可壓縮材料（１１０），其中，所述可壓縮材料（１１０）可壓縮以允許所述觸點(diǎn)（１０２，１０４，１０６）同時(shí)地接觸所述待檢測(cè)物（１１４），并且所述輸出裝置（２０８）可輸出與所述物體（１１４）相關(guān)的電容測(cè)量值。
【技術(shù)特征摘要】
...
【專利技術(shù)屬性】
技術(shù)研發(fā)人員：BD費(fèi)爾德曼，RM盧斯泰，BM拉普，
申請(qǐng)(專利權(quán))人：通用電氣公司，
類型：發(fā)明
國(guó)別省市：US[美國(guó)]
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