【技術實現步驟摘要】
扇出型半導體封裝件本申請要求于2018年11月20日在韓國知識產權局提交的第10-2018-0143626號韓國專利申請的優先權的權益,所述韓國專利申請的全部公開內容出于所有目的通過引用被包含于此。
本公開涉及一種半導體封裝件,更具體地,涉及一種扇出型半導體封裝件。
技術介紹
半導體芯片的技術發展的主要趨勢是不斷減小組件的尺寸。因此,在封裝領域中,根據對小尺寸的半導體芯片等的需求的快速增長,需要在小型化的同時實現多個引腳。為了滿足這種需求,已經提出了扇出型半導體封裝作為封裝技術。在這種扇出型半導體封裝件的情況下,除了其中設置有半導體芯片的區域之外,還可使諸如焊球等的電連接金屬件重新分布,使得可在小型化的同時實現多個引腳。
技術實現思路
提供本
技術實現思路
以按照簡化的形式對所選擇的構思進行介紹,并在下面的具體實施方式中進一步描述所述構思。本
技術實現思路
既不意在限定所要求保護的主題的關鍵特征或必要特征,也不意在用作幫助確定所要求保護的主題的范圍。本公開的一方面在于提供一種扇出型半導體封裝件,該扇出型半導體封裝件即使在使用多個半導體芯片的情況下,也可小型化并改善性能,并且該扇出型半導體封裝件中翹曲可得到改善。本公開中提出的各種方案之一在于通過將半導體芯片設置在連接結構的相應的上側和下側來封裝多個半導體芯片。在這種情況下,可圍繞下部的半導體芯片引入用于上部信號和下部信號之間的連接的金屬構件和用于控制翹曲的金屬構件。根據本公開的一方面,一種扇出型半導體封裝件包括:第一 ...
【技術保護點】
1.一種扇出型半導體封裝件,所述扇出型半導體封裝件包括:/n第一連接結構,包括包含第一信號圖案的第一重新分布層,所述第一連接結構具有彼此相對的第一表面和第二表面;/n第一半導體芯片,設置在所述第一連接結構的所述第一表面上,所述第一半導體芯片具有其上設置有第一連接墊的第一有效表面和與所述第一有效表面相對的第一無效表面;/n第一包封劑,設置在所述第一連接結構的所述第一表面上并覆蓋所述第一半導體芯片的至少一部分;/n第二半導體芯片,設置在所述第一連接結構的所述第二表面上,所述第二半導體芯片具有其上設置有第二連接墊的第二有效表面和與所述第二有效表面相對的第二無效表面;/n一個或更多個第一金屬構件,設置在所述第一連接結構的所述第二表面上并電連接到所述第一信號圖案;/n一個或更多個第二金屬構件,設置在所述第一連接結構的所述第二表面上并與所述第一信號圖案電絕緣;/n第二包封劑,設置在所述第一連接結構的所述第二表面上,并分別覆蓋所述第二半導體芯片的至少一部分以及所述第一金屬構件和所述第二金屬構件的至少一部分;以及/n第二連接結構,設置在所述第二包封劑的其上設置有所述第一連接結構的側的相對側上,所述第二 ...
【技術特征摘要】
20181120 KR 10-2018-01436261.一種扇出型半導體封裝件,所述扇出型半導體封裝件包括:
第一連接結構,包括包含第一信號圖案的第一重新分布層,所述第一連接結構具有彼此相對的第一表面和第二表面;
第一半導體芯片,設置在所述第一連接結構的所述第一表面上,所述第一半導體芯片具有其上設置有第一連接墊的第一有效表面和與所述第一有效表面相對的第一無效表面;
第一包封劑,設置在所述第一連接結構的所述第一表面上并覆蓋所述第一半導體芯片的至少一部分;
第二半導體芯片,設置在所述第一連接結構的所述第二表面上,所述第二半導體芯片具有其上設置有第二連接墊的第二有效表面和與所述第二有效表面相對的第二無效表面;
一個或更多個第一金屬構件,設置在所述第一連接結構的所述第二表面上并電連接到所述第一信號圖案;
一個或更多個第二金屬構件,設置在所述第一連接結構的所述第二表面上并與所述第一信號圖案電絕緣;
第二包封劑,設置在所述第一連接結構的所述第二表面上,并分別覆蓋所述第二半導體芯片的至少一部分以及所述第一金屬構件和所述第二金屬構件的至少一部分;以及
第二連接結構,設置在所述第二包封劑的其上設置有所述第一連接結構的側的相對側上,所述第二連接結構包括具有第二信號圖案的第二重新分布層,
其中,所述第一連接墊和所述第二連接墊通過所述第一重新分布層的所述第一信號圖案和所述第二重新分布層的所述第二信號圖案以及所述第一金屬構件彼此電連接。
2.根據權利要求1所述的扇出型半導體封裝件,其中,所述第一金屬構件和所述第二金屬構件具有相同的厚度。
3.根據權利要求1所述的扇出型半導體封裝件,其中,所述第一金屬構件的表面和所述第二金屬構件的表面與所述第一連接結構接觸,并且所述第一金屬構件和所述第二金屬構件的與和所述第一連接結構接觸的表面相對的表面彼此共面。
4.根據權利要求1所述的扇出型半導體封裝件,其中,所述一個或更多個第二金屬構件分別彼此電隔離并且與所述第一重新分布層和所述第二重新分布層電隔離。
5.根據權利要求1所述的扇出型半導體封裝件,其中,所述第一金屬構件和所述第二金屬構件是金屬柱。
6.根據權利要求5所述的扇出型半導體封裝件,其中,所述第一金屬構件包括比所述第二金屬構件的金屬層的數量更多的數量的金屬層。
7.根據權利要求1所述的扇出型半導體封裝件,其中,所述第一金屬構件和所述第二金屬構件設置為與所述第二半導體芯片并排。
8.根據權利要求1所述的扇出型半導體封裝件,其中,所述第一有效表面與所述第一連接結構的所述第一表面物理接觸,并且
所述第二無效表面通過粘合構件附著到所述第二連接結構的所述第二表面。
9.根據權利要求1所述的扇出型半導體封裝件,所述扇出型半導體封裝件還包括設置在所述第一連接結構的所述第一表面上的框架,所述框架具有通孔,
其中,所述第一半導體芯片設置在所述通孔中,并且
所述第一包封劑覆蓋所述框架的至少一部分并填充所述通孔的至少一部分。
10.根據權利要求9所述的扇出型半導體封裝件,其中,所述框架具有其上分別設置有第一金屬層和第二金屬層的兩個表面。
11.根據權利要求10所述的扇出型半導體封裝件,其中,所述框架還包括設置在所述通孔的內表面上的第三金屬層。
12.根據權利要求9所述的扇出型半導體封裝件,其中,所述框架包括:第一絕緣層,與所述第一連接結構接觸;第一布線層,與所述第一連接結構接觸并且嵌入所述第一絕緣層中;第二布線層,設置在所述第一絕緣層的與所述第一絕緣層的其中嵌入有所述第一布線層的側相對的側上;第二絕緣層,設置在所述第一絕緣層的與所述第一絕緣層的其中嵌入有所述第一布線層的側相對的側上,所述第二絕緣層覆蓋所述第二布線層;以及第三布線層,設置在所述第二絕緣...
【專利技術屬性】
技術研發人員:趙俸紸,姜明衫,高永寬,李健,李在杰,
申請(專利權)人:三星電子株式會社,
類型:發明
國別省市:韓國;KR
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