一種高壓輸出的液晶顯屏Cell測試方法技術(shù)

本發(fā)明專利技術(shù)公開了一種高壓輸出的液晶顯屏光玻璃測試方法，步驟如下：步驟1、提供高壓輸出的液晶顯示屏屏光玻璃測試治具；步驟2、提供待測液晶顯示屏光玻璃；步驟3、接通液晶顯示屏屏光玻璃測試治具電源，探針對位模塊與光玻璃接觸；步驟4、若探針對位接觸不良，光玻璃左右兩邊GNDPIN會不導(dǎo)通；步驟5、所述微處理器工作，通過初始化程序設(shè)定，按照光玻璃時序要求輸出TTL信號；步驟6、信號通過繼電器模塊及探針對位模塊，驅(qū)動光玻璃，顯示對應(yīng)的圖像；步驟7、根據(jù)圖像信號判斷該待測液晶顯示屏光玻璃是否合格。本發(fā)明專利技術(shù)具有高壓輸出，測試對位防呆的特點，有效提升了模組廠的制程能力。

A liquid crystal display screen Cell test method for high voltage output

The present invention discloses a liquid crystal display screen high voltage output optical glass test method comprises the following steps: Step 1, liquid crystal display screen optical glass test fixture high voltage output; step 2, liquid crystal display optical glass to be measured; step 3, switch on the LCD screen glass optical test instrument of power, contact with the probe alignment module optical glass; step 4, if the probe position is bad, optical glass on both sides of GNDPIN will be conducted; step 5, the microprocessor, the initialization program set, in accordance with the timing requirements of optical glass TTL output signal; step 6, the signal through the relay module and probe alignment module, driving optical glass, display the corresponding image; step 7, according to the image signal to be measured to determine the LCD screen glass is qualified. The invention has the characteristics of high voltage output, testing contraposition and stopping, and effectively improving the process capability of the module factory.

【技術(shù)實現(xiàn)步驟摘要】
一種高壓輸出的液晶顯屏Cell測試方法
本專利技術(shù)屬于液晶顯示
，具體地說，涉及一種高壓輸出的液晶顯屏Cell測試方法。
技術(shù)介紹
普通的TN，IPS液晶顯示器GOA線路，VGH與VGL測試電壓需±15V左右，但是隨著液晶行業(yè)的發(fā)展，特別是IGZO的面板，Cell測試電壓需要電壓比較高，需要-38V以上，且由于電荷殘留的問題，需要測試裝置有下電防呆，上電對位的嚴(yán)格要求，普通測試架無法達(dá)到此要求，本專利技術(shù)使用高壓功放芯片，輸出電壓可達(dá)±48V，同時對位探針結(jié)合繼電器控制，很好地解決了高壓和對位控制的技術(shù)難點。
技術(shù)實現(xiàn)思路
本專利技術(shù)要解決的技術(shù)問題是克服上述缺陷，提供了一種高壓輸出的液晶顯示屏Cell的測試方法，具有高壓輸出，測試對位防呆的特點，有效提升了模組廠的制程能力。為解決上述問題，本專利技術(shù)所采用的技術(shù)方案是：一種高壓輸出的液晶顯屏光玻璃測試方法，其特征在于：步驟如下：步驟1、提供高壓輸出的液晶顯示屏屏光玻璃測試治具；所述液晶顯示屏光玻璃測試治具包括五個模塊：微處理器驅(qū)動模塊、DAC模塊、功放模塊、繼電器模塊和探針對位模塊；步驟2、提供待測液晶顯示屏光玻璃，待測光玻璃與探針對位模塊電性連接；步驟3、接通液晶顯示屏屏光玻璃測試治具電源，探針對位模塊與光玻璃接觸，若對位成功，光玻璃左右兩邊GNDPIN會導(dǎo)通，此時繼電器模塊綠色LED燈回路導(dǎo)通，綠色LED燈提示可以測試，同時繼電器通過探針對位模塊電路控制，處于導(dǎo)通狀態(tài)；按下微處理器模塊按鍵，微處理器做進(jìn)行初始化并且輸出信號，開始進(jìn)行測試；步驟4、若探針對位接觸不良，光玻璃左右兩邊GNDPIN會不導(dǎo)通，繼電器模塊紅色LED顯示，探針對位彈片處于導(dǎo)通狀態(tài)，蜂鳴器回路導(dǎo)通，出去異常報警提示；步驟5、所述微處理器工作，通過初始化程序設(shè)定，按照光玻璃時序要求輸出TTL信號；步驟6、所述微處理器模塊下發(fā)TTL信號至DAC模塊，所述DAC模塊做數(shù)模轉(zhuǎn)換，把所述微處理器輸出之TTL信號轉(zhuǎn)換成模擬信號，所述功放模塊再放大DAC輸出的模擬信號，此信號通過繼電器模塊及探針對位模塊，驅(qū)動光玻璃，顯示對應(yīng)的圖像；步驟7、根據(jù)圖像信號判斷該待測液晶顯示屏光玻璃是否合格。作為一種優(yōu)化的技術(shù)方案，所述微處理器模塊輸出TTL信號時序，預(yù)先燒錄測試程序；所述DAC模塊接收到微處理器模塊輸出的數(shù)字信號，轉(zhuǎn)換成模擬電壓信號；所述功放模塊放大DAC輸出的電壓信號，所述繼電器模塊控制運放輸出的時序信號；所述探針對位模塊控制繼電器模塊開啟和關(guān)閉；所述FPGA采用FPGAEP2C5Q208C8N芯片；所述功放模塊采用PA78DK芯片。作為一種優(yōu)化的技術(shù)方案，所述液晶顯示屏屏光玻璃測試治具設(shè)有一個USB接口，所述初始化程序可通過此USB接口與電腦連接，進(jìn)行在線調(diào)試和燒錄。由于采用了上述技術(shù)方案，與現(xiàn)有技術(shù)相比，本專利技術(shù)具有高壓輸出，測試對位防呆的特點，有效提升了模組廠的制程能力。同時下面結(jié)合附圖和具體實施方式對本專利技術(shù)作進(jìn)一步說明。附圖說明圖1為本專利技術(shù)一種實施例的結(jié)構(gòu)框圖。具體實施方式實施例：如圖1所示，一種高壓輸出的液晶顯屏光玻璃測試方法，包括以下步驟：步驟1、提供高壓輸出的液晶顯示屏屏光玻璃測試治具，該液晶顯示屏光玻璃測試治具包括五個模塊：微處理器驅(qū)動模塊、DAC模塊、功放模塊、繼電器模塊、探針對位模塊。所述微處理器模塊輸出TTL信號時序，預(yù)先通過USB接口燒錄測試程序；所述DAC模塊接收到微處理器模塊輸出的數(shù)字信號，轉(zhuǎn)換成模擬電壓信號。所述功放模塊放大DAC輸出的電壓信號，所述繼電器模塊控制運放輸出的時序信號。所述探針對位模塊控制繼電器模塊開啟和關(guān)閉。所述微處理器模塊312采用FPGAEP2C5Q208C8N芯片。所述功放模塊314采用PA78DK功放及采用AD5445DAC芯片。本案中所述DAC模塊和功放模塊，使用12BitDAC轉(zhuǎn)換芯片AD5445，實現(xiàn)高精度時序輸出。所述功放模塊，采用功放ICPA78DK，實現(xiàn)±48V高壓GIP信號輸出。所述繼電器模塊采用7個4路繼電器和3個三路繼電器，控制著GIP信號的輸出及對位指示模塊及蜂鳴報警模塊。步驟2、提供待測液晶顯示屏光玻璃，光玻璃即Cell，為沒有經(jīng)過綁定IC的LCD玻璃，該液晶顯示屏光玻璃為未綁定IC的光玻璃。該待測光玻璃與探針對位模塊電性連接。所述待測光玻璃與探針對位模塊通過繼電器模塊中的蜂鳴報警模塊及對位模塊識別，做到對位防呆了報警功能。步驟3、接通液晶顯示屏屏光玻璃測試治具電源，探針對位模塊與待測光玻璃接觸，若對位成功，光玻璃左右兩邊GNDPIN會導(dǎo)通，此時繼電器模塊中對位指示模塊綠色LED燈回路導(dǎo)通，綠色LED燈提示可以測試，同時繼電器通過探針對位模塊電路控制，處于導(dǎo)通狀態(tài)。按下微處理器模塊中開關(guān)中斷模塊按鍵，微處理器做進(jìn)行初始化并且輸出信號，開始進(jìn)行測試。步驟4、若探針對位模塊接觸不良，待測光玻璃左右兩邊GNDPIN會不導(dǎo)通，繼電器模塊中對位指示模塊紅色LED顯示，探針對位彈片處于導(dǎo)通狀態(tài)，蜂鳴報警模塊蜂鳴器回路導(dǎo)通，出去異常報警提示。步驟5、按下所述微處理器模塊中開關(guān)中斷模塊開始測試按鍵，微處理器開始運行初始化程序，通過初始化程序設(shè)定，按照光玻璃時序要求輸出TTL信號。步驟6、所述微處理器模塊下發(fā)TTL信號至DAC模塊+功放模塊，所述DAC模塊做數(shù)模轉(zhuǎn)換，把所述微處理器輸出之TTL信號轉(zhuǎn)換成模擬信號，所述功放模塊再放大DAC輸出的模擬信號，此信號通過繼電器模塊及探針對位模塊，驅(qū)動待測光玻璃，顯示對應(yīng)的圖像。本專利技術(shù)具有高壓輸出，測試對位防呆的特點，有效提升了模組廠的制程能力。本專利技術(shù)不局限于上述的優(yōu)選實施方式，任何人應(yīng)該得知在本專利技術(shù)的啟示下做出的結(jié)構(gòu)變化，凡是與本專利技術(shù)具有相同或者相近似的技術(shù)方案，均屬于本專利技術(shù)的保護(hù)范圍。本文檔來自技高網(wǎng)...

【技術(shù)保護(hù)點】
一種高壓輸出的液晶顯屏光玻璃測試方法，其特征在于：步驟如下：步驟1、提供高壓輸出的液晶顯示屏屏光玻璃測試治具；所述液晶顯示屏光玻璃測試治具包括五個模塊：微處理器驅(qū)動模塊、DAC模塊、功放模塊、繼電器模塊和探針對位模塊；步驟2、提供待測液晶顯示屏光玻璃，待測光玻璃與探針對位模塊電性連接；步驟3、接通液晶顯示屏屏光玻璃測試治具電源，探針對位模塊與光玻璃接觸，若對位成功，光玻璃左右兩邊GND?PIN會導(dǎo)通，此時繼電器模塊綠色LED燈回路導(dǎo)通，綠色LED燈提示可以測試，同時繼電器通過探針對位模塊電路控制，處于導(dǎo)通狀態(tài)；按下微處理器模塊按鍵，微處理器做進(jìn)行初始化并且輸出信號，開始進(jìn)行測試；步驟4、若探針對位接觸不良，光玻璃左右兩邊GND?PIN會不導(dǎo)通，繼電器模塊紅色LED顯示，探針對位彈片處于導(dǎo)通狀態(tài)，蜂鳴器回路導(dǎo)通，出去異常報警提示；步驟5、所述微處理器工作，通過初始化程序設(shè)定，按照光玻璃時序要求輸出TTL信號；步驟6、所述微處理器模塊下發(fā)TTL信號至DAC模塊，所述DAC模塊做數(shù)模轉(zhuǎn)換，把所述微處理器輸出之TTL信號轉(zhuǎn)換成模擬信號，所述功放模塊再放大DAC輸出的模擬信號，此信號通過繼電器模塊及探針對位模塊，驅(qū)動光玻璃，顯示對應(yīng)的圖像；步驟7、根據(jù)圖像信號判斷該待測液晶顯示屏光玻璃是否合格。...

【技術(shù)特征摘要】
1.一種高壓輸出的液晶顯屏光玻璃測試方法，其特征在于：步驟如下：步驟1、提供高壓輸出的液晶顯示屏屏光玻璃測試治具；所述液晶顯示屏光玻璃測試治具包括五個模塊：微處理器驅(qū)動模塊、DAC模塊、功放模塊、繼電器模塊和探針對位模塊；步驟2、提供待測液晶顯示屏光玻璃，待測光玻璃與探針對位模塊電性連接；步驟3、接通液晶顯示屏屏光玻璃測試治具電源，探針對位模塊與光玻璃接觸，若對位成功，光玻璃左右兩邊GNDPIN會導(dǎo)通，此時繼電器模塊綠色LED燈回路導(dǎo)通，綠色LED燈提示可以測試，同時繼電器通過探針對位模塊電路控制，處于導(dǎo)通狀態(tài)；按下微處理器模塊按鍵，微處理器做進(jìn)行初始化并且輸出信號，開始進(jìn)行測試；步驟4、若探針對位接觸不良，光玻璃左右兩邊GNDPIN會不導(dǎo)通，繼電器模塊紅色LED顯示，探針對位彈片處于導(dǎo)通狀態(tài)，蜂鳴器回路導(dǎo)通，出去異常報警提示；步驟5、所述微處理器工作，通過初始化程序設(shè)定，按照光玻璃時序要求輸出TTL信號；步驟6、所述微處理器模塊下發(fā)...

【專利技術(shù)屬性】
技術(shù)研發(fā)人員：陳良忠，歐陽生運，
申請(專利權(quán))人：深圳市帝晶光電科技有限公司，
類型：發(fā)明
國別省市：廣東,44