缺陷像素點檢測方法、裝置及圖像處理芯片制造方法及圖紙

本發明專利技術適用于圖像處理技術領域，提供了一種缺陷像素點檢測方法、裝置及圖像處理芯片，所述方法包括：提取待檢測圖像的RGB顏色空間中均勻分布的N*N個檢測像素點，以所有檢測像素點的像素值計算門限值，所述N為大于等于3的正整數；計算各個檢測像素點的像素值與所述門限值的和值及差值；如果檢測像素點對應的和值小于預設像素閥值，或檢測像素點對應的差值大于預設像素閥值，則對該檢測像素點做缺陷標識，確定為缺陷像素點。本發明專利技術，通過自適應門限的缺陷像素點檢測，對于非敏感像素點做局部特性的門限值，可以檢測出對敏感度低的缺陷像素點。

【技術實現步驟摘要】
缺陷像素點檢測方法、裝置及圖像處理芯片
本專利技術屬于圖像處理
，尤其涉及一種缺陷像素點檢測方法、裝置及圖像處理芯片。
技術介紹
圖像傳感器在制造過程中，其監視和測量系統需要保證每個像素點都統一、不失真、穩定的圖像輸出。但是有時會在制造過程中或之后，像素點會產生缺陷，從而出現輸出異常電平信號的缺陷像素點。另外，所使用的攝像元件的像素點數有逐年增大的傾向，且伴隨著這種傾向，缺陷像素點數目也增大。眾所周知，一般的缺陷像素點類型有如下兩種：一種類型是熱噪點Hotpixels，其像素值因為過激的暗電流導致有較大的偏移；第二種類型是死點Deadpixels，即為敏感度較低的像素,主要有以下三種：（1）顯示為圖像中的白點；（2）不符合傳感器的參數的像素點，如溫度和集成時間；(3)相對于周圍點表現為暗點；為了減少缺陷像素點對視覺的影響，現有圖像處理系統中會加入壞點檢測。缺陷點矯正（DefectivePixelCorrection、DPC）的算法一般都是在像素點區域進行檢測，以當前像素點與周邊像素點的差值與全局門限值之間的差值來判決是否為缺陷點，然后進行糾正。這種做法有如下不足：（1）對于敏感性較低的缺陷像素點，其像素值與周邊像素值的差值與當前像素區域的激勵有關，屬于局部的特性，所以用全局的門限值可能會遺漏這種類型的缺陷點；（2）大多數非缺陷點無需處理，對于LineBuffer行緩沖區的浪費。綜上所述，現有缺陷像素點獲取方法存在遺漏敏感性較低的缺陷像素點、且系統消耗過大的問題。
技術實現思路
本專利技術實施例提供了一種缺陷像素點檢測方法、裝置及圖像處理芯片，旨在解決現有缺陷像素點獲取方法存在遺漏敏感性較低的缺陷像素點、且系統消耗過大的問題。一方面，提供一種缺陷像素點檢測方法，所述方法包括：提取待檢測圖像的RGB顏色空間中均勻分布的N*N個檢測像素點，以所有檢測像素點的像素值計算門限值，所述N為大于等于3的正整數；計算各個檢測像素點的像素值與所述門限值的和值及差值；如果檢測像素點對應的和值小于預設像素閥值，或檢測像素點對應的差值大于預設像素閥值，則對該檢測像素點做缺陷標識，確定為缺陷像素點。進一步地，所述確定該檢測像素點為缺陷像素點的步驟之后，還包括：判斷所有檢測像素點的缺陷標識數量之和是否大于預設缺陷點數量閥值；如果所有檢測像素點的缺陷標識數量之和大于預設缺陷點數量閥值，則對待檢測圖像進行均值濾波。進一步地，所述方法還包括：如果所有檢測像素點的缺陷標識數量之和小于或等于預設缺陷點數量閥值，則對待檢測圖像進行降噪濾波。進一步地，所述以所有檢測像素點的像素值計算門限值具體：以N*N個檢測像素點的像素值的均值與預設比例系數之積，作為門限值。另一方面，提供一種缺陷像素點檢測的裝置，所述裝置包括：像素點提取單元，用于提取待檢測圖像的RGB顏色空間中均勻分布的N*N個檢測像素點，以所有檢測像素點的像素值計算門限值，所述N為大于等于3的正整數；差值計算單元，用于計算各個檢測像素點的像素值與所述門限值的和值及差值；缺陷檢測單元，用于如果檢測像素點對應的和值小于預設像素閥值，或檢測像素點對應的差值大于預設像素閥值，則對該檢測像素點做缺陷標識，確定為缺陷像素點。進一步地，所述裝置還包括：缺陷判斷單元，用于判斷所有檢測像素點的缺陷標識數量之和是否大于預設缺陷點數量閥值；第一校正單元，用于如果所有檢測像素點的缺陷標識數量之和大于預設缺陷點數量閥值，則對待檢測圖像進行均值濾波。進一步地，所述裝置還包括：第二校正單元，用于如果所有檢測像素點的缺陷標識數量之和小于或等于預設缺陷點數量閥值，則對待檢測圖像進行降噪濾波。進一步地，所述像素點提取單元具體用于以N*N個檢測像素點的像素值的均值與預設比例系數之積，作為門限值。再一方面，提供一種圖像處理芯片，包括處理器和用于存儲處理器可執行指令的存儲器，所述處理器包括如上所述的缺陷像素點檢測裝置。在本專利技術實施例，提取待檢測圖像的RGB顏色空間中均勻分布的N*N個檢測像素點，以所有檢測像素點的像素值計算門限值，所述N為大于等于3的正整數；計算各個檢測像素點的像素值與所述門限值的和值及差值；如果檢測像素點對應的和值小于預設像素閥值，或檢測像素點對應的差值大于預設像素閥值，則對該檢測像素點做缺陷標識，確定為缺陷像素點。本專利技術，通過自適應門限的缺陷像素點檢測，對于非敏感像素點做局部特性的門限值，可以檢測出對敏感度低的缺陷像素點，同時，對非缺陷點上只做降噪濾波，系統消耗小，行緩沖區利用率高。附圖說明圖1是本專利技術實施例一提供的第一缺陷像素點檢測方法的實現流程圖；圖2a是本專利技術實施例一提供的RGB顏色空間中藍、綠、紅的示意圖；圖2b是本專利技術實施例一提供的提取的檢測像素點的示意圖；圖3是本專利技術實施例二提供的第二缺陷像素點檢測方法的實現流程圖；圖4是本專利技術實施例三提供的缺陷像素點檢測裝置的結構框圖；圖5是本專利技術實施例四提供的圖像處理芯片的結構框圖。具體實施方式為了使本專利技術的目的、技術方案及優點更加清楚明白，以下結合附圖及實施例，對本專利技術進行進一步詳細說明。應當理解，此處所描述的具體實施例僅僅用以解釋本專利技術，并不用于限定本專利技術。以下結合具體實施例對本專利技術的實現進行詳細描述：實施例一圖1示出了本專利技術實施例一提供的缺陷像素點檢測方法的實現流程，詳述如下：在步驟S101中，提取待檢測圖像的RGB顏色空間中均勻分布的N*N個檢測像素點，以所有檢測像素點的像素值計算門限值，所述N為大于等于3的正整數。在本實施例中，所示N為從待檢測圖像中縱向、橫向提取像素點的預設值，優選的，N為3。如2a所示RGB顏色空間中藍、綠、紅均勻分布25等份，選取如圖2b所示的3*3的分量作為檢測像素點，具體的，以3*3個檢測像素點的像素值的均值與預設比例系數之積，作為門限值valTh=aValTh=rate*mean（P0,P1,P2,P3,P4,P5,P6,P7,P8），其中，aValTh為提取的3*3個檢測像素點的均值，mean表示均值；rate為比例系數，其取值為0~1之間的數值。在步驟S102中，計算各個檢測像素點的像素值與所述門限值的和值及差值。在本實施例中，由于缺陷像素點可兩種可能，為了全部檢測出所有權限像素點，因為需要對各個檢測像素點做兩種情況處理，第一種處理情況是針對熱噪點，逐一計算各個檢測像素點的像素點與所述門限值的和值；第二種處理情況是針對死點，逐一計算各個檢測像素點的像素點與所述門限值的差值。在步驟S103中，如果檢測像素點對應的和值小于預設像素閥值，或檢測像素點對應的差值大于預設像素閥值，則對該檢測像素點做缺陷標識，確定為缺陷像素點。在本實施例中，逐一判斷檢測像素點對應的和值是否小于預設像素閥值，或判斷檢測像素點對應的差值是否大于預設像素閥值，如果檢測像素點對應的和值小于預設像素閥值或檢測像素點對應的差值大于預設像素閥值，則對該檢測像素點做缺陷標識，即將該檢測像素點的缺陷標識為1，確定為缺陷像素點，如果以上兩種情況都沒有出現，則該檢測像素點不做缺陷標識，即將該檢測像素點的缺陷標識為0，確定為正常像素點。本實施例，通過自適應門限的缺陷像素點檢測，對于非敏感像素點做局部特性的門限值，可以檢測出對敏感度低的缺陷像素點。實施例二圖3示出本文檔來自技高網...

【技術保護點】
一種缺陷像素點檢測方法，其特征在于，所述方法包括：提取待檢測圖像的RGB顏色空間中均勻分布的N*N個檢測像素點，以所有檢測像素點的像素值計算門限值，所述N為大于等于3的正整數；計算各個檢測像素點的像素值與所述門限值的和值及差值；如果檢測像素點對應的和值小于預設像素閥值，或檢測像素點對應的差值大于預設像素閥值，則對該檢測像素點做缺陷標識，確定為缺陷像素點。

【技術特征摘要】
1.一種缺陷像素點檢測方法，其特征在于，所述方法包括：提取待檢測圖像的RGB顏色空間中均勻分布的N*N個檢測像素點，以所有檢測像素點的像素值計算門限值，所述N為大于等于3的正整數；計算各個檢測像素點的像素值與所述門限值的和值及差值；如果檢測像素點對應的和值小于預設像素閥值，或檢測像素點對應的差值大于預設像素閥值，則對該檢測像素點做缺陷標識，確定為缺陷像素點。2.根據權利要求1所述的缺陷像素點檢測方法，其特征在于，所述確定該檢測像素點為缺陷像素點的步驟之后，還包括：判斷所有檢測像素點的缺陷標識數量之和是否大于預設缺陷點數量閥值；如果所有檢測像素點的缺陷標識數量之和大于預設缺陷點數量閥值，則對待檢測圖像進行均值濾波。3.根據權利要求2所述的缺陷像素點檢測方法，其特征在于，所述方法還包括：如果所有檢測像素點的缺陷標識數量之和小于或等于預設缺陷點數量閥值，則對待檢測圖像進行降噪濾波。4.根據權利要求1所述的缺陷像素點檢測方法，其特征在于，所述以所有檢測像素點的像素值計算門限值具體：以N*N個檢測像素點的像素值的均值與預設比例系數之積，作為門限值。5.一種缺陷像素點檢測裝置，其特征在于，所述裝置包括：像素點提取單元，用于提取待檢測圖像的RGB顏...

【專利技術屬性】
技術研發人員：曠開智，
申請(專利權)人：建榮半導體深圳有限公司，建榮集成電路科技珠海有限公司，珠海煌榮集成電路科技有限公司，
類型：發明
國別省市：廣東,44