測試模式設置電路和包括其的半導體器件制造技術

一種測試模式設置電路可以包括：第一測試模式信號發生單元，其通過第一電源電壓來操作，第一測試模式信號發生單元適用于在模式設置完成的狀態下在第一電壓電平處激活第一測試模式信號，所述第一測試模式信號在多個第一測試模式信號之中與測試碼相對應；以及第二測試模式信號發生單元，其通過第二電源電壓來操作，第二測試模式信號發生單元適用于將第一測試模式信號鎖存在第二電壓電平處，以及當第一電源電壓被重置時將鎖存的第一測試模式信號產生為第二測試模式信號。

Test mode setting circuit and semiconductor device including the same

A test mode setting circuit may include a first test mode signal generating unit, the first supply voltage to the operation, the first test pattern signal generating unit suitable for complete set in the mode activates the first test mode signal at the first voltage level, the first test mode signal in the first test mode signal. With the corresponding test code; and second test mode signal generating unit, the second power supply voltage to operate, second test mode signal generating unit for the first test pattern signal lock has second voltage level, and the first test mode signal when the first power supply voltage will be reset when the latch for second test mode signal.

【技術實現步驟摘要】
測試模式設置電路和包括其的半導體器件相關申請的交叉引用本申請要求2015年12月11日提交的申請號為10-2015-0176812的韓國專利申請的優先權，其全部內容通過引用合并于此。
本專利技術的示例性實施例涉及測試模式設置電路和包括其的半導體器件。
技術介紹
半導體器件可以包括測試模式設置電路，該測試模式設置電路用于設置測試模式，然后在多個測試操作之中選擇測試操作。此外，半導體器件可以包括與多個測試操作相對應的多個測試電路。當測試操作被選中時，半導體器件可以將對應的測試電路使能，以執行選中的測試操作。測試模式可以表示為半導體器件設置的用來執行測試操作的特定操作模式。圖1為圖示測試模式設置電路100的框圖。圖2為用于圖示圖1的測試模式設置電路100的操作的波形圖。參見圖1，測試模式設置電路100可以響應于測試碼TM_CODE來設置多個測試模式之中的與測試碼TM_CODE相對應的測試模式。每個測試模式可以與多個測試模式信號TM1至TMn之中的測試模式信號相對應。參見圖2，測試模式設置電路100可以在模式設置完成(SET1)或者設置信號MRS_SET被激活時，設置多個測試模式之中的與測試碼TM_CODE相對應的測試模式。測試模式設置電路100可以將多個測試模式信號TM1至TMn之中的與設置的測試模式相對應的測試模式信號激活。即，測試模式信號TMx可以被激活，其中，x為具有以下關系的自然數：1≤x≤n。激活的測試模式信號TMx可以在電源電壓VDD被重置(VDD_RESET)時被去激活。僅當模式設置完成時，測試模式設置電路100可以接著設置測試模式。因此，測試模式設置電路100在電源電壓VDD被重置(VDD_RESET)之后直到模式設置完成(SET2)為止的時段A期間不能設置測試模式。供作參考，重置操作可以包括在電源電壓被去激活之后重新激活電源電壓。
技術實現思路
各種實施例涉及一種測試模式設置電路和包括其的半導體器件，該測試模式設置電路能夠無論電源電壓的重置如何都保持激活的測試模式信號的狀態，以及設置測試模式以在電源電壓重置之后模式設置完成之前執行測試模式。在一個實施例中，一種測試模式設置電路可以包括：第一測試模式信號發生單元，第一測試模式信號發生單元通過第一電源電壓來操作，第一測試模式信號發生單元適用于在模式設置完成的狀態下在第一電壓電平處激活第一測試模式信號，所述第一測試模式信號在多個第一測試模式信號之中與測試碼相對應；以及第二測試模式信號發生單元，第二測試模式信號發生單元通過第二電源電壓來操作，第二測試模式信號發生單元適用于將第一測試模式信號鎖存在第二電壓電平處，以及在第一電源電壓被重置時將鎖存的第一測試模式信號產生為第二測試模式信號。在一個實施例中，一種半導體器件可以包括：模式寄存器組電路，適用于響應于命令和地址來設置和儲存半導體器件的操作模式，以及在設置完成時激活設置信號；第一測試模式信號發生單元，第一測試模式信號發生單元通過第一電源電壓來操作，并且適用于在設置信號被激活的狀態下在第一電壓電平處激活第一測試模式信號，所述第一測試模式信號在多個第一測試模式信號之中與測試碼相對應；第二測試模式信號發生單元，第二測試模式信號發生單元通過第二電源電壓來操作，適用于將第一測試模式信號鎖存在第二電壓電平處，以及在第一電源電壓被重置時，將鎖存的第一測試模式信號產生為第二測試模式信號；以及內部電路，適用于在第二測試模式信號被激活時執行與第二測試模式信號相對應的預定操作。在一個實施例中，一種半導體器件可以包括：模式寄存器組電路，適用于響應于命令和地址來設置半導體器件的操作模式；測試模式設置電路，適用于在操作模式的設置完成之后，設置多個測試模式之中的與測試碼相對應的測試模式，以及即使當第一電源電壓被重置時也保持設置的測試模式；以及內部電路，適用于當所述多個測試模式之中的一個或更多個測試模式被設置時，執行與所述一個或更多個測試模式相對應的預定操作。附圖說明圖1為圖示測試模式設置電路100的框圖。圖2為圖示圖1的測試模式設置電路100的操作的波形圖。圖3為根據本專利技術的實施例的測試模式設置電路的框圖。圖4為圖示圖3的測試模式設置電路的操作的波形圖。圖5為圖3的測試模式設置電路的第二測試模式信號發生單元的配置示例的框圖。圖6為在圖5的第二測試模式信號發生單元中采用的鎖存單元的電路圖。圖7為用于圖示圖6的鎖存單元520_1的操作的波形圖。圖8為根據本專利技術的實施例的半導體器件的框圖。具體實施方式在下文中，將參照附圖來更詳細地描述各種實施例。然而，本專利技術可以采用不同的形式來實施，而不應解釋為限制于本文所闡述的實施例。確切地說，提供這些實施例使得本公開將是徹底和完整的，并且這些實施例將向本領域技術人員充分傳達本專利技術。在本公開中，相同的附圖標記在本專利技術的各個附圖和實施例中指示相同的部分。現在參見圖3，提供了根據本專利技術的實施例的測試模式設置電路300。參見圖3，測試模式設置電路300可以包括第一測試模式信號發生單元310和第二測試模式信號發生單元320。第一測試模式設置信號發生單元310可以通過第一電源電壓VDD來操作。第一測試模式設置信號發生單元310可以在模式設置完成或者設置信號MRS_SET被激活的狀態下，將第一測試模式信號激活至第一電壓電平。該第一測試模式信號在多個第一測試模式信號TM1_1至TM1_n之中可以與測試碼TM_CODE相對應。第一電壓電平可以對應于第一電源電壓VDD的電壓電平。第一電源電壓VDD可以為在測試模式設置電路300和包括設置電路300的半導體器件中使用的主電源電壓。當模式設置未完成或者設置信號MRS_SET被去激活時，第一測試模式信號發生單元310可以保持所有的測試模式信號TM1_1至TM1_n被去激活的狀態，而不管測試碼TM_CODE如何。即，第一測試模式信號發生單元310在模式設置未完成時不會設置測試模式。第二測試模式信號發生單元320可以通過第二電源電壓VPP來操作。第二測試模式信號發生單元320可以產生與各個第一測試模式信號TM_1至TM1_n相對應的多個第二測試模式信號TM2_1至TM2_n。第二測試模式信號發生單元320可以將在第一電壓電平處激活的第一測試模式信號的電壓電平移位至第二電壓電平，并且可以在第二電壓電平處將與激活的第一測試模式信號相對應的第二測試模式信號激活。當第二電源電壓VPP被保持時，第二測試模式信號發生單元320可以保持在第二電壓電平處激活的第二測試模式信號的狀態。第二電源電壓VPP可以為具有比在測試模式設置電路300和包括其的半導體器件中使用的主電源電壓高的電壓電平的電源電壓。由于第二測試模式信號發生單元320不使用第一電源電壓VDD，因此當第二電源電壓VPP保持激活狀態，而第一電源電壓VDD被重置時，第二測試模式信號發生單元320可以正常地操作。當第二電源電壓VPP被重置時，第二測試模式信號發生單元320可以將所有激活的第二測試模式信號去激活。現在參見圖4的波形圖，將描述圖3的測試模式設置電路300的操作。因此，當模式設置完成(SET1)或者設置信號MRS_SET被激活時，測試模式設置電路300可以在第一電壓電平VDD處激活第一測試模式信號。在多個第一測試模式信號T本文檔來自技高網...

【技術保護點】
一種測試模式設置電路，包括：第一測試模式信號發生單元，第一測試模式信號發生單元通過第一電源電壓來操作，第一測試模式信號發生單元適用于在模式設置完成的狀態下在第一電壓電平處激活第一測試模式信號，所述第一測試模式信號在多個第一測試模式信號之中與測試碼相對應；以及第二測試模式信號發生單元，第二測試模式信號發生單元通過第二電源電壓來操作，第二測試模式信號發生單元適用于將第一測試模式信號鎖存在第二電壓電平處，以及在第一電源電壓被重置時將鎖存的第一測試模式信號產生為第二測試模式信號。

【技術特征摘要】
2015.12.11 KR 10-2015-01768121.一種測試模式設置電路，包括：第一測試模式信號發生單元，第一測試模式信號發生單元通過第一電源電壓來操作，第一測試模式信號發生單元適用于在模式設置完成的狀態下在第一電壓電平處激活第一測試模式信號，所述第一測試模式信號在多個第一測試模式信號之中與測試碼相對應；以及第二測試模式信號發生單元，第二測試模式信號發生單元通過第二電源電壓來操作，第二測試模式信號發生單元適用于將第一測試模式信號鎖存在第二電壓電平處，以及在第一電源電壓被重置時將鎖存的第一測試模式信號產生為第二測試模式信號。2.根據權利要求1所述的測試模式設置電路，其中，第二測試模式信號發生單元包括：多個電平移位器，所述多個電平移位器通過第二電源電壓來操作，每個電平移位器適用于在所述多個第一測試模式信號之中的對應的第一測試模式信號被激活時，通過將對應的第一測試模式信號的電平從第一電壓電平移位至第二電壓電平，來產生多個第二測試模式信號之中的對應的第二測試模式信號；以及多個鎖存單元，所述多個鎖存單元通過第二電源電壓來操作，每個鎖存單元適用于鎖存所述多個第二測試模式信號之中的對應的第二測試模式信號。3.根據權利要求2所述的測試模式設置電路，其中，第一電源電壓包括具有第一電壓電平的電源電壓，第二電源電壓包括具有第二電壓電平的電源電壓，并且第二電壓電平比第一電壓電平高。4.根據權利要求2所述的測試模式設置電路，其中，模式設置包括模式寄存器組MRS設置。5.根據權利要求2所述的測試模式設置電路，其中，即使當第一電源電壓被重置時，每個鎖存單元也保持對應的第二測試模式信號的狀態。6.根據權利要求2所述的測試模式設置電路，其中，當第二電源電壓被去激活時，每個鎖存單元將對應的第二測試模式信號去激活。7.根據權利要求2所述的測試模式設置電路，其中，當模式設置未完成時，第一測試模式信號發生單元將所有的第一測試模式信號保持在去激活狀態。8.一種半導體器件，包括：模式寄存器組電路，適用于響應于命令和地址來設置和儲存半導體器件的操作模式，以及在設置完成時將設置信號激活；第一測試模式信號發生單元，第一測試模式信號發生單元通過第一電源電壓來操作，并且適用于在設置信號被激活的狀態下在第一電壓電平處激活第一測試模式信號，所述第一測試模式信號在多個第一測試模式信號之中與測試碼相對應；第二測試模式信號發生單元，第二測試模式信號發生單元通過第二電源電壓來操作，適用于將第一測試模式信號鎖存在第二電壓電平處，以及在第一電源電壓被重置時將鎖存的第一測試模式信號產生為第二測試模式信號；以及內部電路，適用于在第二測試模式信號被激活時，執行與第二測試模式信號相對應的預定操作。9.根據權利要求8所述的半導體器件，其中，第二測試模式信號發生單元包括：多個電平移位器，所述多個電平移位器通過第二電源電壓來操作，每個電平移位器適用于在所述多個第一測試模式信號之中的對應的第一測試模式信號被激活時，通過將對應的第一測試模式信號的電平從第一電壓電平移位至第二電壓電平來產生第二測試...

【專利技術屬性】
技術研發人員：李相昊，金京兌，樸宰范，
申請(專利權)人：愛思開海力士有限公司，
類型：發明
國別省市：韓國,KR