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    用于校準和測試多個過熱控制器的方法和設備技術

    技術編號:15690163 閱讀:110 留言:0更新日期:2017-06-24 02:19
    本發明專利技術公開了一種校準多個過熱控制器的方法,包括將多個過熱控制器附接至歧管組件、將歧管組件包圍在環境室內,以及同時校準多個過熱控制器中的每個內的壓力傳感器。

    Method and apparatus for calibrating and testing multiple overheating controllers

    The invention discloses a method for calibrating a plurality of overheating controller, including a plurality of overheating controller attached to the manifold assembly, the manifold assembly surrounded in the indoor environment, and at the same time each calibration multiple controller in superheated pressure sensor.

    【技術實現步驟摘要】
    用于校準和測試多個過熱控制器的方法和設備
    本專利技術總體涉及過熱控制器。特別地,本專利技術涉及用于同時校準和/或測試多個過熱控制器內的壓力傳感器的改進的方法和設備。
    技術介紹
    美國專利No.9,140,613公開了過熱控制器(superheatcontroller,SHC)。該專利中公開的SHC是單一的、自成一體的(self-contained)、獨立的裝置,其包括所有傳感器、電子器件和自動探測流體類型如制冷劑的智能,并且報告用于住宅、工業和科學應用的多個常見的流體類型的過熱。美國專利No.9,140,613的全部內容通過引用并入本文。本文的圖5和6示出了已知的SHC10,其與美國專利No.9,140,613公開的過熱控制器類似。如圖5和6所示,SHC10示出的實施例包括具有本體14的殼體12、蓋16和流體入口構件18。流體入口構件18可以通過安裝環19固定到殼體12。安裝環19通過螺紋連接將流體入口構件18附接至殼體12部分。可替代地,可以通過任意希望的方法將安裝環19附接至流體入口構件18,如通過焊接或壓力裝配。在圖5和6示出的實施例中,流體入口構件18是黃銅配件,具有限定密封表面20的中心形成的開口。當在常規的加熱、通風、空調和制冷(HVAC-R)系統(未示出)中以已知的方式使用時,SHC10的密封表面20可以接合HVAC-R系統中的連接器以限定金屬對金屬的密封。已知的過熱控制器包括作為其完整構件的壓力傳感器。例如,已知的SHC10包括集成的壓力和溫度傳感器22,壓力和溫度傳感器22具有安裝到印刷電路板(PCB)28的壓力傳感器部分24和溫度傳感器部分26。過熱處理器30、數據報告或通信模塊32和輸入/輸出(IO)模塊34也安裝到PCB28。IO模塊34是物理硬件接口,接收輸入功率并且通過可用的硬連線接口如電線或電纜36將數據報告到過熱處理器30。可以通過IO模塊34連接到SHC10的目標裝置在圖6中附圖標記38處示意性地示出,并且可以包括額外的溫度傳感器、手提電腦和筆記本電腦、手機、存儲卡,以及在線路測試設備的常規終端中或與其一起使用的任意裝置。可替代地,目標裝置38可以通過無線連接而連接到通信模塊32。過熱處理器30被安裝到PCB28,并且是高分辨率、高準確性的裝置,其處理分別來自集成的壓力和溫度傳感器22的壓力和溫度傳感器部分24和26的輸入信號、探測流體類型、計算流體的過熱,并且提供識別計算的過熱水平的輸出。過熱處理器30還可以被配置為提供其它數據,如流體溫度、流體壓力、流體類型、保持在板載存儲器中的相關歷史日期(如警報和開斷的歷史),以及其它所需的信息。有利地,過熱處理器30在壓力和溫度通常的操作范圍內在一次校準后保持高水平的準確性。合適的過熱處理器的非限制示例包括微處理器、現場可編程門陣列(FPGA)和專用集成電路(ASIC)具有嵌入式和/或外置存儲器和外圍設備。在已知的SHC10中,壓力傳感器或換能器(transducer)如壓力傳感器部分24,可以在非校準狀態下供給,并且因此必須校準SHC10,如在常規的環境室內。對于SHC10已知的校準程序要求使SHC10穩定在兩個不同的溫度。在所述兩個溫度的每個中,校準程序必須在兩個不同的壓力完成并且存儲。在兩個溫度的每個在兩個壓力完成校準后,SHC10返回到驗證溫度,通常為室溫,并且校準的準確性在多個壓力點被驗證,如五個壓力點。通常,使SHC10穩定在兩個校準溫度的每個和在驗證溫度所需的時間為大約一個半小時(1.5小時)。雖然使SHC10穩定在兩個校準溫度的每個和在驗證溫度所需的時間將隨著使用的環境室的類型和特性變化,但是時間可以在大約1.0小時到大約2.0小時的范圍內。執行校準程序和將結果存儲在SHC10中所需的時間可以是大約10分鐘。因此,用于校準和驗證所需的時間大部分用于使SHC10到達和穩定在兩個校準溫度和在驗證溫度。例如,以已知的方式單獨校準和驗證25個SHC10所需的時間大約為79小時。因此,希望的是,提供一種用于同時校準多個過熱控制器內的壓力傳感器的改進的方法和設備。
    技術實現思路
    本專利技術涉及用于同時校準和/或測試多個過熱控制器內的壓力傳感器的改進的方法和設備。在一個實施例中,校準多個過熱控制器的方法包括將多個過熱控制器附接至歧管組件、將歧管組件包圍在環境室內、以及同時校準多個過熱控制器中的每個內的壓力傳感器。在第二實施例中,歧管組件被配置為校準和測試一個或多個過熱控制器,并且包括歧管框架。歧管具有多個流體管道,并且被安裝到歧管框架。多個過熱控制器接頭被安裝到流體管道,每個過熱控制器接頭被配置為使過熱控制器附接至其上。在另一實施例中,壓力校準臺被配置為校準和測試多個過熱控制器,并且包括環境室、計算機、加壓氣源和電源。第一數據采集模塊在其中具有壓力計,并且第二數據采集模塊被連接到環境室內的溫度傳感器。空氣調節器包括過濾器,并且安裝在加壓氣源和第一數據采集模塊之間。歧管組件被配置為安裝在環境室內,并且包括歧管框架和歧管,使得多個流體管道被安裝到歧管框架并且連接到加壓氣源。氣體線路連接器被附接至歧管的入口端部,并且被配置為附接至加壓氣源,并且壓力換能器被附接至歧管的出口端部,并且被配置為檢測或測量歧管的流體管道內的氣壓。多個過熱控制器接頭被安裝到流體管道,并且每個過熱控制器接頭被配置為使過熱控制器附接至其上。每個過熱控制器接頭是陽性接頭,具有安裝在其開口端部處外表面周圍的O形環,并且O形環限定過熱控制器接頭和過熱控制器的流體入口構件的密封表面之間的流體緊密密封。通過參考附圖閱讀優選實施例的以下詳細描述,本專利技術的各個方面將對于本領域技術人員變得清楚。附圖說明圖1是根據本專利技術的改進的歧管組件的透視圖。圖2是圖1中示出的歧管組件的部分的放大透視圖。圖3是圖1和2中示出的歧管組件的部分的截面正視圖,示出了附接至改進的過熱控制器接頭的過熱控制器。圖4是示出了具有兩個圖1所示的歧管組件的壓力校準臺的框圖。圖5是已知的普遍過熱控制器的透視圖。圖6是圖5所示的已知的普遍過熱控制器的剖視圖。圖7是示出了根據本專利技術的改進的壓力校準和驗證方法的圖。圖8是示出了圖7所示的改進的壓力校準和驗證方法的最終功能測試部分的圖。具體實施方式現在參考附圖,圖1到3示出了改進的歧管組件50的基本結構,該歧管組件被配置為同時校準、驗證和/或測試在多個過熱控制器(SHC)10內的壓力傳感器或換能器。SHC10可以是任意希望的SHC,如圖5和6所示的SHC10、美國專利No.9,140,613中公開的SHC的任意一個實施例、其它SHC、其它壓力傳感器或具有壓力傳感器作為其構件的其它裝置。歧管組件50包括具有安裝表面56的歧管框架54。歧管58被附接至安裝表面56,并且包括多個流體管道60。每個流體管道60具有第一端部60a和第二端部60b,并且流體管道60通過在它們的第二端部60b處的連接流體管道62彼此連接。流體管道60通過任意希望的器件附接至安裝表面56,如通過多個基本上U形的安裝支架64。一個或多個電連接器65,如50針扁平帶狀電纜連接器,可以安裝到歧管框架54。在示出的實施例中,每個歧管組件具有五個電連接器65。可替代地,每個歧管組件可以具有任意希望數量的電連接器6本文檔來自技高網
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    用于校準和測試多個過熱控制器的方法和設備

    【技術保護點】
    一種校準多個過熱控制器的方法,包括:將多個過熱控制器附接至歧管組件;將歧管組件包圍在環境室內;以及同時校準多個過熱控制器中的每個內的壓力傳感器。

    【技術特征摘要】
    2015.10.05 US 62/237,1551.一種校準多個過熱控制器的方法,包括:將多個過熱控制器附接至歧管組件;將歧管組件包圍在環境室內;以及同時校準多個過熱控制器中的每個內的壓力傳感器。2.根據權利要求1所述的校準多個過熱控制器的方法,還包括最終功能測試,所述最終功能測試包括:繼同時校準多個過熱控制器中的每個內的壓力傳感器的步驟后,單獨檢查每個過熱控制器的功能測試參數。3.根據權利要求2所述的校準多個過熱控制器的方法,其中,所述最終功能測試還包括:在單獨檢查每個過熱控制器的功能測試參數之前,將所述歧管組件從所述環境室去除、并且允許附接至所述歧管組件上的過熱控制器穩定在室溫。4.根據權利要求3所述的校準多個過熱控制器的方法,其中,所述最終功能測試還包括:從正在測試的過熱控制器內的過熱處理器讀取時間戳和標識信息。5.根據權利要求1所述的校準多個過熱控制器的方法,其中,所述歧管組件包括歧管框架、具有安裝到歧管框架的多個流體管道的歧管、以及安裝到流體管道的多個過熱控制器接頭,每個過熱控制器接頭被配置為使得過熱控制器附接至其上。6.根據權利要求5所述的校準多個過熱控制器的方法,其中,每個過熱控制器接頭是陽性接頭,所述陽性接頭具有安裝在其開口端部處的外表面周圍的O形環。7.根據權利要求6所述的校準多個過熱控制器的方法,其中,所述O形環限定所述過熱控制器接頭和所述過熱控制器的流體入口構件的密封表面之間的流體緊密密封。8.根據權利要求5所述的校準多個過熱控制器的方法,還包括:將環境室內的溫度穩定在第一溫度。9.根據權利要求8所述的校準多個過熱控制器的方法,還包括:當環境室內的溫度在第一溫度時,將加壓氣體在第一壓力引入到所述歧管組件中,并且讀取所述過熱控制器內的壓力傳感器的輸出信號。10.根據權利要求9所述的校準多個過熱控制器的方法,還包括:當環境室內的溫度在第一溫度時,將加壓氣體在第二壓力引入到所述歧管組件中,并且讀取所述過熱控制器內的壓力傳感器的輸出信號。11.根據權利要求10所述的校準多個過熱控制器的方法,還包括:將環境室內的溫度穩定在第二溫度。12.根據權利要求11所述的校準多個過熱控制器的方法,還包括:當環境室內的溫度在第二溫度時,將加壓氣體在第一壓力引入到所述歧管組件中,并且讀取所述過熱控制...

    【專利技術屬性】
    技術研發人員:BC鐘WC朗A拉奧C楊J阮老喬A奧赫達CB賓格爾
    申請(專利權)人:盾安美斯泰克股份有限公司
    類型:發明
    國別省市:美國,US

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