A method and system for adjusting a circuit symbol, including a method to obtain first data representing a first circuit symbol, and second data representing a second circuit symbol. The first circuit symbol has a plurality of first pins having a first position vector associated with the first pin. The second circuit symbol has a plurality of second pins, the second pins having a second position vector associated with them, and each of the second pins corresponds to one of the plurality of first pins. An adjustment transformation that determines the mapping position vector to transform the position vector. The adjustment transformation maximizes the error measurement based on one or more deviations. Each deviation is a deviation between the transformation position vector and the first position vector associated with one of the first pins. The transformation position vector is obtained by applying the adjustment transformation to the second position vector associated with the second pin to which the first pin is to be located.
【技術實現步驟摘要】
用以調整電路符號的方法及系統
本專利技術通常涉及電路的電腦輔助設計,尤其涉及可用于以第二電路符號替代電路原理圖中的第一電路符號的情境中的方法及系統。
技術介紹
在電子電路的電腦輔助設計中,可使用電子設計自動化工具。電子設計自動化工具可以軟件形式提供,該軟件包括指令,該指令可由計算機執行以處理表示電路原理圖的數據。該電路原理圖可包括表示例如晶體管、二極管、電阻器、電容器及電感的電路元件的電路符號。另外,該電路原理圖可包括表示該些電路元件之間的電性連接的導線。表示電路原理圖的數據可定義電路符號、導線和/或其元素的位置及取向,其定義例如在電腦顯示器和/或電路原理圖的打印輸出上所繪制的電路符號、導線和/或其元素的位置及取向。這些位置通常不同于在電路實際物理實施時所設置的電路元件及電性連接的位置及取向。各電路符號可包括一個或多個所謂的引腳,該些引腳可用以定義與電路元件的部分的連接。例如,場效應晶體管的電路符號通常可具有柵極、源極、漏極以及可選的塊體引腳。該些引腳可用以定義電路中與該電路元件的電性連接,其中,當在引腳的位置設置表示電性連接的導線的端部時,尤其是當該導線的該端部與位于引腳的位置的中心的引腳形狀(例如矩形或圓形)接觸時,可認為已經與電路元件的部分形成電性連接。除引腳外,電路符號還可包括作為表示電子裝置的圖標繪制的原圖(artwork),以及參數和/或文本。電路符號及其元素的位置,尤其引腳的位置,可被定義于網格上,該網格確定其布置的最小粒度(granularity)。在半導體工業中,制程設計套件(processdesignkits;PDKs)可由晶圓代工廠提 ...
【技術保護點】
一種方法,包括:獲得表示第一電路符號的第一數據,該第一電路符號具有多個第一引腳,各第一引腳具有與其關聯的第一位置向量;獲得表示第二電路符號的第二數據,該第二電路符號具有多個第二引腳,各第二引腳具有與其關聯的第二位置向量,各該多個第二引腳與該多個第一引腳的其中相應一個對應;以及確定將位置向量映射至變換位置向量的調整變換,其中,該調整變換最大限度地降低基于一個或多個偏差的誤差測量,各偏差是變換位置向量與關聯該第一引腳的其中一個的該第一位置向量之間的偏差,通過將該調整變換應用于與對應該第一引腳的該第二引腳關聯的該第二位置向量可獲得該變換位置向量。
【技術特征摘要】
2015.07.29 US 14/812,3411.一種方法,包括:獲得表示第一電路符號的第一數據,該第一電路符號具有多個第一引腳,各第一引腳具有與其關聯的第一位置向量;獲得表示第二電路符號的第二數據,該第二電路符號具有多個第二引腳,各第二引腳具有與其關聯的第二位置向量,各該多個第二引腳與該多個第一引腳的其中相應一個對應;以及確定將位置向量映射至變換位置向量的調整變換,其中,該調整變換最大限度地降低基于一個或多個偏差的誤差測量,各偏差是變換位置向量與關聯該第一引腳的其中一個的該第一位置向量之間的偏差,通過將該調整變換應用于與對應該第一引腳的該第二引腳關聯的該第二位置向量可獲得該變換位置向量。2.如權利要求1所述的方法,其中,該誤差測量包括該多個第一引腳的通過將該調整變換應用于與對應該第一引腳的該第二引腳關聯的該第二位置向量所獲得的該變換位置向量與關聯該第一引腳的該第一位置向量之間的該偏差之和;以及其中,該變換位置向量與關聯該第一引腳的該第一位置向量之間的該偏差包括該變換位置向量與關聯該第一引腳的該第一位置向量之間的差的向量范數。3.如權利要求2所述的方法,其中,該調整變換的該確定包括基于第一引腳位置矩陣及第二引腳位置矩陣計算調整取向矩陣,各該第一引腳位置矩陣及該第二引腳位置矩陣具有與該第一引腳的數目及該第二引腳的數目相等的行數,該第一引腳位置矩陣的各該行包括通過自該多個第一位置向量的其中相應一個減去該多個第一位置向量的平均數所獲得的向量的分量,該第二引腳位置矩陣的各該行包括通過自該多個第二位置向量的其中相應一個減去該多個第二位置向量的平均數所獲得的向量的分量。4.如權利要求3所述的方法,其中,該調整取向矩陣定義旋轉及反射的至少其中一種。5.如權利要求4所述的方法,其中,該調整取向矩陣的該計算包括計算該第一引腳位置矩陣及該第二引腳位置矩陣的其中一個的奇異值分解。6.如權利要求5所述的方法,其中,該調整變換的該確定還包括基于該調整取向矩陣、該多個第一位置向量的該平均數及該多個第二位置向量的該平均數確定調整平移向量。7.如權利要求6所述的方法,其中,該調整變換的該確定還包括:將該調整取向矩陣取整為多個預定約束取向變化的其中一個;以及將該調整平移向量取整為預定對齊網格。8.如權利要求7所述的方法,還包括:對于各該多個第二引腳:通過將該確定的調整變換應用于與該第二引腳關聯的該位置向量來計算變換位置向量;以及如果該計算的變換位置向量不同于與對應該第二引腳的該第一引腳關聯的該第一位置向量,則形成表示連接該變換位置向量所表示的位置及與對應該第二引腳的該第一引腳關聯的該第一位置向量所表示的位置的一條或多條線段的第三數據。9.如權利要求8所述的方法,還包括:提供表示電路原理圖的第四數據,該電路原理圖包括該第一電路符號的一個或多個實例,該第一電路符號的各實例具有與其關聯的第一實例變換,該第一實例變換將電路符號主坐標系統中的位置向量映射至原理圖坐標系統中的位置向量;以及用該第二電路符號的相應實例替代該第一電路符號的各實例,該第二電路符號的各實例具有與其關聯的第二實例變換,該第二實例變換將該電路符號主坐標系統中的位置向量映射至該原理圖坐標系統中的位置向量;其中,該第二電路符號的相應實例對該第一電路符號的各實例的該替代包括:針對該第一電路符號的各實例,確定與該第二電路符號的該相應實例關聯的該第二實例變換。10.如權利要求9所述的方法,其中,各該第一位置向量是該電路符號主坐標系統中的位置向量,其定義與該電路符號主坐標系統中的該第一位置向量關聯的該第一引腳的位置,以及其中,各該第二位置向量是該電路符號主坐標系統中的位置向量,其定義與該電路符號主坐標系統中的該第二位置向量關聯的該第二引腳的位置。11.如權利要求10所述的方法,其中,該第二實例變換的該確定包括將該調整變換與該第一實例變換聯系,以使該第二實例變換對應該調整變換與該第一實例變換的組合,其中,該調整變換執行于該第一實例變換之前。12.如權利要求11所述的方法,還包括:針對該第一電路符號的各實例,將與該第一電路符號的該實例關聯的該第一實例變換應用于表示一條或多條線段的各該第三數據,以獲得與該第二電路符號的該相應實例相鄰的一條或多條線段,并將該一條或多條線段包括于該第四數據所表示的該電路原理圖中。13.如權利要求12所述的方法,還包括:在該第二電路符號的相應實例對該第一電路符號的各該實例的該替代之前,自該電路原理圖提取第一網表;在該第二電路符號的相應實例對該第一電路符號的各該實例的該替代之后,自該電路原理圖提取第二網表;以及比較該第一網表與該第二網表,以確定該電路原理圖所表示的電路的連接性是否已被該第二電路符號的相應實例對該第一電路符號的各該實例的該替代影響。14.如權利要求13所述的方法...
【專利技術屬性】
技術研發人員:G·扎梅爾,
申請(專利權)人:格羅方德半導體公司,
類型:發明
國別省市:開曼群島,KY
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