本發(fā)明專利技術(shù)公開一種發(fā)光裝置的測(cè)試設(shè)備，包含一積分球、一探針用以在測(cè)試上述發(fā)光裝置時(shí)傳導(dǎo)一電流至上述發(fā)光裝置、以及一連接部與上述積分球相接；其中，上述連接部具有一開孔或缺口，上述探針穿過上述開孔或缺口，且上述連接部具有一光輸入口用以接收上述發(fā)光裝置所發(fā)出的光。
【技術(shù)實(shí)現(xiàn)步驟摘要】
本專利技術(shù)涉及一種發(fā)光裝置的測(cè)試設(shè)備，特別是涉及可增加收光的發(fā)光裝置的測(cè)試設(shè)備。
技術(shù)介紹
圖1所示為現(xiàn)有的發(fā)光裝置的測(cè)試設(shè)備。此測(cè)試設(shè)備包含一承載體102，一電流源104及一積分球103。承載體102可供待測(cè)物101置于其上，并且由電流源104通過探針(probe)105a與105b與待測(cè)物101的電極接觸而提供一電流至待測(cè)物101，待測(cè)物101因而放射出光線，其中探針固定裝置106a與106b分別用以固定探針105a與105b。積分球103為一中空球體，包含一光輸入口103i及一光輸出口103e。待測(cè)物101置于積分球103的光輸入口103i附近，且待測(cè)物101放射出的光線通過光輸入口103i進(jìn)入積分球103并為其所收集，光輸入口103i具有一開口內(nèi)直徑W。待測(cè)物101發(fā)射出的光線在積分球103的內(nèi)表面多次散射、反射后會(huì)均勻分布到積分球103的內(nèi)表面上，由此特性，一偵測(cè)器108連接到積分球103的光輸出口103e以量測(cè)待測(cè)物101的光學(xué)特性。偵測(cè)器108可通過一光纖107與積分球103的光輸出口103e連接。偵測(cè)器108可為一光度計(jì)(photometer)、一輻射計(jì)(radiometer)、一分光輻射計(jì)(spectroradiometer)或一色度計(jì)colorimeter)。如圖2所示為圖1的測(cè)試設(shè)備在收集光線時(shí)，待測(cè)物與積分球光輸入口的距離及收光角度限制的情形，此測(cè)試設(shè)備在收集光線時(shí)，即使盡量調(diào)整待測(cè)物101向積分球103的光輸入口103i靠近，但因受限于探針105a與105b的阻礙，待測(cè)物101與積分球103的光輸入口103i的距離H有其限制，一般大致最靠近時(shí)可調(diào)整至6mm～8mm，而以一光輸入口103i具有一開口內(nèi)直徑W為14mm的情形，其收光角θ約當(dāng)90°～100°，即存在收光角度較小的缺點(diǎn)，容易有光線漏未收集的情形，而影響測(cè)試的精準(zhǔn)度。雖然在圖1說明了現(xiàn)有的發(fā)光裝置的測(cè)試裝置，然而，此種現(xiàn)有的發(fā)光裝置的測(cè)試裝置并無法用于測(cè)試倒裝式(Flip-Chiptype)發(fā)光裝置。如圖9A或圖9B所示，為現(xiàn)有用以測(cè)試倒裝式發(fā)光裝置的測(cè)試設(shè)備，其中圖9A所示為測(cè)試位于邊緣的發(fā)光裝置901的情形；而圖9B所示則為測(cè)試位于非邊緣的發(fā)光裝置901的情形。此測(cè)試設(shè)備包含一透明的承載體902，一電流源(圖未示)通過分別以探針固定裝置906a與906b固定的探針905a與905b而提供一電流至待測(cè)的發(fā)光裝置901。如圖所示，多個(gè)發(fā)光裝置901以陣列排列粘著于一薄膜912上，薄膜912例如是一藍(lán)膜(bluetape)是架附固定于一環(huán)狀體911。此多個(gè)發(fā)光裝置901連同薄膜912都置于透明的承載體902上。由于發(fā)光裝置901是倒裝式的發(fā)光裝置，具有兩電極位于相對(duì)于其基板的同側(cè)，且出光面在基板的另一側(cè)。探針905a與905b由發(fā)光裝置901的上方與發(fā)光裝置901的電極接觸，而發(fā)光裝置901由下方出光，其中，承載體902為一透明的承載體，使位于承載體902下方的下積分球903L通過其光輸入口903i收集上述發(fā)光裝置901向下的出光。而為了使測(cè)試更精準(zhǔn)，另一個(gè)積分球，即上積分球903U則被設(shè)置于發(fā)光裝置901之上，用以通過其光輸入口903i’收集發(fā)光裝置901向上的光線，此部分主要是反射或散射的光線。而最終的量測(cè)數(shù)據(jù)為加總下積分球903L與上積分球903U的量測(cè)結(jié)果。如圖9B所示，測(cè)試位于非邊緣的發(fā)光裝置901時(shí)，待測(cè)的發(fā)光裝置901周圍會(huì)有其他發(fā)光裝置901，而如圖9A所示，測(cè)試位于邊緣的發(fā)光裝置901時(shí)，待測(cè)的發(fā)光裝置901的外側(cè)已沒有其他發(fā)光裝置901，故位于邊緣的發(fā)光裝置901，在測(cè)試時(shí)，其周圍的情形與位于非邊緣的發(fā)光裝置901測(cè)試時(shí)其周圍的情形不同。更詳細(xì)地說，位于邊緣的發(fā)光裝置901測(cè)試時(shí)，部分向上的光線因缺乏其他發(fā)光裝置901的反射作用而易漏失。
技術(shù)實(shí)現(xiàn)思路
為解決上述問題，本專利技術(shù)提供一種發(fā)光裝置的測(cè)試設(shè)備，包含一積分球、一探針用以于測(cè)試上述發(fā)光裝置時(shí)傳導(dǎo)一電流至上述發(fā)光裝置、以及一連接部與上述積分球相接；其中，上述連接部具有一開孔或缺口，上述探針穿過上述開孔或缺口，且上述連接部具有一光輸入口用以接收上述發(fā)光裝置所發(fā)出的光。本專利技術(shù)還提供一種發(fā)光裝置的測(cè)試設(shè)備，包含一積分球包含一光輸入口用以接收上述發(fā)光裝置所發(fā)出的光、一透明承載體位于上述光輸入口之上，用以承載上述發(fā)光裝置、以及一反射裝置鄰近上述發(fā)光裝置用以反射上述發(fā)光裝置所發(fā)出的光。附圖說明圖1為現(xiàn)有的發(fā)光裝置的測(cè)試設(shè)備的示意圖；圖2為圖1的發(fā)光裝置的測(cè)試設(shè)備在收集光線時(shí)，待測(cè)物與積分球光輸入口的距離及收光角度限制的情形的示意圖；圖3為本專利技術(shù)第一實(shí)施例的發(fā)光裝置的測(cè)試設(shè)備的示意圖；圖3A為圖3中積分球303、連接部303c、及發(fā)光裝置301關(guān)系的局部放大圖；圖4A及圖4B分別為圖3的測(cè)試設(shè)備中的積分球及連接部的兩種實(shí)施態(tài)樣的側(cè)視圖；圖5為第一實(shí)施例的積分球及連接部于連接部內(nèi)嵌裝孔徑調(diào)整裝置后的下視圖；圖6為本專利技術(shù)第二實(shí)施例的發(fā)光裝置的測(cè)試設(shè)備的示意圖；圖7為圖6中的連接部的可分離部分的示意圖；圖8為本專利技術(shù)第三實(shí)施例的發(fā)光裝置的測(cè)試設(shè)備的示意圖；圖9A及圖9B為現(xiàn)有用以測(cè)試倒裝式發(fā)光裝置的測(cè)試設(shè)備，其中圖9A所示為測(cè)試多個(gè)排列的發(fā)光裝置中位于邊緣的發(fā)光裝置的示意圖，而圖9B所示則為測(cè)試位于非邊緣的發(fā)光裝置的示意圖；圖10為本專利技術(shù)第四實(shí)施例的發(fā)光裝置的測(cè)試設(shè)備的示意圖；圖11為本專利技術(shù)第五實(shí)施例的發(fā)光裝置的測(cè)試設(shè)備的示意圖；圖12為圖11中的反射裝置與透明承載體的上視圖；圖13為本專利技術(shù)第六實(shí)施例的發(fā)光裝置的測(cè)試設(shè)備的示意圖；圖14為圖13中的環(huán)狀體、薄膜、及反射裝置的相對(duì)關(guān)系的上視圖。符號(hào)說明103e光輸出口104電流源107光纖108偵測(cè)器W開口內(nèi)直徑H待測(cè)物與積分球的光輸入口的距離θ收光角101,301,801,901發(fā)光裝置102,302承載體302p頂針裝置103,303,603,803,903L’積分球303c,603c,803c連接部103i,303i,803i,903i,903i’光輸入口303h開孔303h’,609h’缺口105a、105b,305a、305b,605a、605b,805a、805b,905a、905b探針106a、106b,306a、306b,906a、906b探針固定裝置309孔徑調(diào)整裝置309r,609r開口309s供探針移動(dòng)的走道W’內(nèi)直徑6031,8031固定部分6032,8032可分離部分609中空柱體609f固定裝置609W上開口的內(nèi)直徑609W’內(nèi)直徑803W固定部分的開口內(nèi)徑809D可分離部分的外徑810影像裝置902透明承載體902R,909,911R反射裝置903L下積分球903U上積分球903W光輸入口內(nèi)直徑909W反射裝置的開口內(nèi)直徑911環(huán)狀體912薄膜具體實(shí)施方式圖3顯示本專利技術(shù)第一實(shí)施例的發(fā)光裝置的測(cè)試設(shè)備，而圖4A及圖4B分別顯示此測(cè)試設(shè)備中的積分球303及連接部303c的兩種實(shí)施態(tài)樣的側(cè)視圖。因此，請(qǐng)同時(shí)參閱圖3及圖4A～圖4B，如圖所示，本實(shí)施例的測(cè)試設(shè)備包含積分球303、連接部303c與積分球303相接且具有如圖4A或圖4B中的開孔303h或缺口303h本文檔來自技高網(wǎng)...
【技術(shù)保護(hù)點(diǎn)】
一種發(fā)光裝置的測(cè)試設(shè)備，包含：積分球；探針，用以于測(cè)試該發(fā)光裝置時(shí)傳導(dǎo)一電流至該發(fā)光裝置；以及連接部，與該積分球相接，該連接部具有開孔或缺口；其中，該探針穿過該開孔或缺口，且該連接部具有光輸入口，用以接收該發(fā)光裝置所發(fā)出的光。
【技術(shù)特征摘要】
1.一種發(fā)光裝置的測(cè)試設(shè)備，包含：積分球；探針，用以于測(cè)試該發(fā)光裝置時(shí)傳導(dǎo)一電流至該發(fā)光裝置；以及連接部，與該積分球相接，該連接部具有開孔或缺口；其中，該探針穿過該開孔或缺口，且該連接部具有光輸入口，用以接收該發(fā)光裝置所發(fā)出的光。2.如權(quán)利要求1所述的測(cè)試設(shè)備，其中該測(cè)試設(shè)備對(duì)該發(fā)光裝置的一收光角度大于130°，或該發(fā)光裝置測(cè)試時(shí)與該光輸入口的垂直距離小于或等于約3mm。3.如權(quán)利要求1所述的測(cè)試設(shè)備，還包含孔徑調(diào)整裝置，設(shè)于該光輸入口，該孔徑調(diào)整裝置具有一開口，小于該光輸入口，且該孔徑調(diào)整裝置包含反射層，位于該孔徑調(diào)整裝置面向該積分球的表面，該反射層對(duì)于該發(fā)光裝置所發(fā)出的光的反射率大于70％。4.如權(quán)利要求1所述的測(cè)試設(shè)備，還包含頂針裝置，用以控制該發(fā)光裝置與該光輸入口的距離或一影像裝置穿過該連接部。5.如權(quán)利要求1所述的測(cè)試設(shè)備，其中該連接部與該積分球?yàn)橐惑w。6.如權(quán)利要求1所述的測(cè)試設(shè)備，其中該連接部包含一可分離部分，可分離于該積分球，且于測(cè)試該發(fā)光裝置時(shí)與該積分球相接合。7.如權(quán)利要求6所述的測(cè)試設(shè)備，其中該連接部包含反射層，位于該連接部的該可分離部分的面向該積分球的表面，該反射層對(duì)于該發(fā)光裝置所發(fā)出的光的反射率大于70％。8.一種發(fā)光裝置的測(cè)試設(shè)備，包含：積分球，包含一光輸入口，用以接收該發(fā)光裝置所發(fā)出的光；透明承載體，位于...
【專利技術(shù)屬性】
技術(shù)研發(fā)人員：吳佳裕，曾俊龍，沈慶興，趙堂鐘，林盟凱，陳達(dá)享，曾培翔，王建偉，尤家鴻，
申請(qǐng)(專利權(quán))人：晶元光電股份有限公司，
類型：發(fā)明
國別省市：中國臺(tái)灣;71
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