直角測量工具以及直角測量方法技術

本發明專利技術公開了一種直角測量工具以及采用該直角測量工具的直角測量方法。直角測量工具包括底座平臺、表座、擋塊以及設置在表座上的千分表；底座平臺的表面為平面，表座設置在底座平臺的表面，擋塊固定在表座的一側。這種直角測量工具使用方便，可以在不占用機臺的有效稼動時間的前提下完成直角測量，在一定程度上提高了生產效率。

【技術實現步驟摘要】

本專利技術涉及一種直角測量工具以及直角測量方法。
技術介紹
具有直角結構的工件在生產過程中需要對直角結構進行測量，以保證精度。傳統直角測量方法是將工件置于機臺上進行測量。然而，傳統的直角測量方法需要占用機臺有效稼動時間，降低了生產效率。
技術實現思路
基于此，提供一種不需要占用機臺的直角測量工具。一種直角測量工具，其特征在于，包括底座平臺、表座、擋塊以及設置在所述表座上的千分表；所述底座平臺的表面為平面，所述表座設置在所述底座平臺的表面，所述擋塊固定在所述表座的一側。在一個實施例中，所述擋塊遠離所述表座的一側的表面為弧面。在一個實施例中，所述擋塊為圓桿狀或橢圓桿狀。在一個實施例中，所述擋塊與所述表座一體成型。在一個實施例中，所述表座位于所述底座平臺的邊緣位置，所述擋塊固定在所述表座靠近所述底座平臺的中心的一側。在一個實施例中，所述表座上設有安裝孔，所述千分表通過所述安裝孔設置在所述表座上。在一個實施例中，所述底座平臺為長方體狀，所述表座為長條狀。在一個實施例中，所述底座平臺為大理石平臺。一種直角測量方法，采用上述的直角測量工具，包括如下步驟：提供待測工件，所述待測工件具有相互垂直的第一直角面和第二直角面；將所述待測工件放在所述底座平臺上，使得所述第一直角面與所述底座平臺的表面直接接觸，同時所述第二直角面與所述擋塊遠離所述表座的一側抵接，保持所述擋塊與所述第二直角面的抵接處與所述千分表的表頭的測量末端處于同一平面，并且使用所述千分表的表頭測量所述第二直角面的最高點得到第一讀數；翻轉所述待測工件，使得所述第二直角面與所述底座平臺的表面直接接觸，同時所述第一直角面與所述擋塊遠離所述表座的一側抵接，保持所述擋塊與所述第一直角面的抵接處與所述千分表的表頭的測量末端處于同一平面，并且使用所述千分表的表頭測量所述第一直角面的最高點得到第二讀數；以及比較所述第一讀數和所述第二讀數，如果所述第一讀數和所述第二讀數的差值超過閾值，則判定為所述第一直角面和所述第二直角面不符合直角要求，反之，則判定為所述第一直角面和所述第二直角面符合直角要求。在一個實施例中，所述閾值通過如下公式得到：C＝k×max(A1，A2)；其中，所述C為所述閾值，所述k的范圍為0.1％～0.5％，所述A1為所述第一讀數，所述A2為所述第二讀數，所述max(A1，A2)為所述A1和所述A2中的較大值。直角測量工具使用時，將待測工件放在底座平臺上，使得第一直角面與底座平臺的表面直接接觸，同時第二直角面與擋塊遠離表座的一側抵接，保持擋塊與第二直角面的抵接處與千分表的表頭的測量末端處于同一平面，并且使用千分表的表頭測量第二直角面的最高點得到第一讀數；翻轉待測工件，使得第二直角面與底座平臺的表面直接接觸，同時第一直角面與擋塊遠離表座的一側抵接，保持擋塊與第一直角面的抵接處與千分表的表頭的測量末端處于同一平面，并且使用千分表的表頭測量第一直角面的最高點得到第二讀數；比較第一讀數和第二讀數，如果第一讀數和第二讀數的差值超過閾值，則判定為第一直角面和第二直角面不符合直角要求，反之，則判定為第一直角面和第二直角面符合直角要求。這種直角測量工具使用方便，可以在不占用機臺的有效稼動時間的前提下完成直角測量，在一定程度上提高了生產效率。附圖說明圖1為一實施方式的直角測量工具的結構示意圖；圖2為如圖1所示的直角測量工具的測量待測工件時的示意圖。具體實施方式為了便于理解本專利技術，下面主要結合具體附圖對本專利技術作進一步詳細的說明。附圖中給出了本專利技術較佳的實施方式。但是，本專利技術可以以許多不同的形式來實現，并不限于本文所描述的實施方式。相反地，提供這些實施方式的目的是使對本專利技術的公開內容理解的更加透徹全面。需要說明的是，當元件被稱為“固定于”另一個元件，它可以直接在另一個元件上或者也可以存在居中的元件。當一個元件被認為是“連接”另一個元件，它可以是直接連接到另一個元件或者可能同時存在居中元件。本文所使用的術語“垂直的”、“水平的”、“左”、“右”以及類似的表述只是為了說明的目的，并不表示是唯一的實施方式。除非另有定義，本文所使用的所有的技術和科學術語與屬于本專利技術的
的技術人員通常理解的含義相同。本文中在本專利技術的說明書中所使用的術語只是為了描述具體的實施方式的目的，不是旨在于限制本專利技術。結合圖1，一實施方式的直角測量工具，包括底座平臺10、表座20、擋塊30以及設置在表座10上的千分表40。底座平臺10的表面為平面，表座20設置在底座平臺10的表面，擋塊30固定在表座20的一側。優選的，擋塊30遠離表座20的方向的最遠端位于一個平面上。優選的，擋塊30遠離表座20的一側的表面為弧面。更優選的，擋塊30為圓桿狀或橢圓桿狀。結合圖1，本實施方式中，擋塊30與表座20一體成型。優選的，表座20位于底座平臺10的邊緣位置，擋塊30固定在表座20靠近底座平臺10的中心的一側。優選的，表座20上設有安裝孔22，千分表40通過安裝孔22設置在表座20上。優選的，安裝孔22的數量為三個。本實施方式中，底座平臺10為長方體狀，表座20為長條狀。優選的，底座平臺10可以為大理石平臺，通過大理石塊校正后即可得到。這種直角測量工具使用方便，可以在不占用機臺的有效稼動時間的前提下完成直角測量，在一定程度上提高了生產效率。這種直角測量工具的底座平臺20可以為大理石平臺，大理石平臺可以制作成一個很大的臺面，并且不需要使用機臺，相對來說安全系數更高。這種直角測量工具在測量凹凸不平的直角面時，千分表40的表頭不會跳動，測量精度更高。下面對采用上述直角測量工具的直角測量方法進行描述。一實施方式的直角測量方法，采用上述直角測量工具，包括如下步驟：S10、提供待測工件200。結合圖2，待測工件200具有相互垂直的第一直角面210和第二直角面220。S20、將待測工件200放在底座平臺10上，使得第一直角面210與底座平臺10的表面直接接觸，同時第二直角面220與擋塊30遠離表座20的一側抵接，保持擋塊20與第二直角面220的抵接處與千分表40的表頭的測量末端處于同一平面，并且使用千分表40的表頭測量第二直角面220的最高點得到第一讀數。第一讀數可以記為A1。S20還包括對待測工件200的毛刺清理干凈的操作。結合圖2，S20中將待測工件200放在底座平臺10上，使得第一直角面210與底座平臺10的表面直接接觸，同時第二直角面220與擋塊30遠離表座20的一側抵接。一般來說，擋塊20與第二直角面220的抵接處即為擋塊30遠離表座20的方向的最遠端。S30、翻轉待測工件200，使得第二直角面220與底座平臺10的表面直接接觸，同時第一直角面210與擋塊30遠離表座20的一側抵接，保持擋塊20與第一直角面210的抵接處與千分表40的表頭的測量末端處于同一平面，并且使用千分表40的表頭測量第一直角面210的最高點得到第二讀數。第二讀數可以記為A2。一般來說，擋塊20與第一直角面210的抵接處即為擋塊30遠離表座20的方向的最遠端。S40、比較第一讀數和第二讀數，如果第一讀數和第二讀數的差值超過閾值，則判定為第一直角面和第二直角面不符合直角要求，反之，則判定為第一直角面和第二直角面符合直角要求。閾值通過如下公式得到：C＝k×m本文檔來自技高網...

【技術保護點】
一種直角測量工具，其特征在于，包括底座平臺、表座、擋塊以及設置在所述表座上的千分表；所述底座平臺的表面為平面，所述表座設置在所述底座平臺的表面，所述擋塊固定在所述表座的一側。

【技術特征摘要】
1.一種直角測量工具，其特征在于，包括底座平臺、表座、擋塊以及設置在所述表座上的千分表；所述底座平臺的表面為平面，所述表座設置在所述底座平臺的表面，所述擋塊固定在所述表座的一側。2.根據權利要求1所述的直角測量工具，其特征在于，所述擋塊遠離所述表座的一側的表面為弧面。3.根據權利要求1所述的直角測量工具，其特征在于，所述擋塊為圓桿狀或橢圓桿狀。4.根據權利要求1～3中任一項所述的直角測量工具，其特征在于，所述擋塊與所述表座一體成型。5.根據權利要求1所述的直角測量工具，其特征在于，所述表座位于所述底座平臺的邊緣位置，所述擋塊固定在所述表座靠近所述底座平臺的中心的一側。6.根據權利要求1所述的直角測量工具，其特征在于，所述表座上設有安裝孔，所述千分表通過所述安裝孔設置在所述表座上。7.根據權利要求1所述的直角測量工具，其特征在于，所述底座平臺為長方體狀，所述表座為長條狀。8.根據權利要求1所述的直角測量工具，其特征在于，所述底座平臺為大理石平臺。9.一種直角測量方法，其特征在于，采用如權利要求1～8中任一項所述的直角測量工具，包括如下步驟：提供待測工件，所述待測工件具有相互垂直的第一直角面和第二...

【專利技術屬性】
技術研發人員：楊兵，陳平，曾旺忠，譚松青，郭子燕，
申請(專利權)人：廣東長盈精密技術有限公司，
類型：發明
國別省市：廣東;44