【技術實現步驟摘要】
【國外來華專利技術】專利
本專利技術基于如下在先美國臨時專利申請:2013年8月19日的61/867,180、2013年11月20日的61/906,430和2013年12月11的61/914,402,且基于2014年3月6日的德國專利申請102014006279.1。這些在先申請的全部內容在此通過引入并入。本專利技術涉及一種尤其是用于確定至少一種物體的位置的光學檢測器、一種檢測器系統和一種光學檢測方法。本專利技術進一步涉及一種用于在用戶和機器之間交換至少一個信息項的人-機接口、一種娛樂裝置、一種跟蹤系統、一種照相機以及所述光學檢測器的各種用途。本專利技術的裝置、系統、方法和用途尤其可用于例如日常生活的各個領域、游戲、交通技術、生產技術、保密技術、攝影如數碼攝影或用于藝術的視頻攝影、記錄或技術目的、醫療技術或科學中。額外或者替代地,本申請可用于空間地圖繪制領域中,例如用于產生一個或多個房間、一棟或多棟建筑物或一條或多條街道的地圖。然而,其他應用也是可能的。現有技術大量光學檢測器、光學傳感器和光伏器件是現有技術所已知的。盡管光伏器件通常用于將電磁輻射如紫外、可見或紅外光轉化為電信號或電能,光學檢測器通常用于采集圖像信息和/或檢測至少一種光學參數,例如亮度。大量通常可基于使用無機和/或有機傳感器材料的光學傳感器是現有技術所已知的。該類傳感器的實例公開于US2007/0176165A1、US6,995,445B2、DE2501124A1、DE32 ...
【技術保護點】
一種光學檢測器(110),其包含:?至少一個適于以空間分辨的方式調節光束(136)的至少一種性質的空間光調制器(114),其具有像素(134)的矩陣(132),其中各像素(134)可控以單獨調節通過像素(134)的光束(136)部分的至少一種光學性質;?至少一個適于檢測通過空間光調制器(114)的像素(134)的矩陣(132)之后的光束(136)且產生至少一個傳感器信號的光學傳感器(116);?至少一個適于以不同調制頻率周期性控制至少兩個像素(134)的調制器裝置(118);和?至少一個適于實施頻率分析以確定用于調制頻率的傳感器信號的信號分量的評價裝置(120)。
【技術特征摘要】
【國外來華專利技術】2014.03.06 DE 102014006279.1;2014.06.10 EP 14171751.一種光學檢測器(110),其包含:
-至少一個適于以空間分辨的方式調節光束(136)的至少一種性質的空間光調制器
(114),其具有像素(134)的矩陣(132),其中各像素(134)可控以單獨調節通過像素(134)的
光束(136)部分的至少一種光學性質;
-至少一個適于檢測通過空間光調制器(114)的像素(134)的矩陣(132)之后的光束
(136)且產生至少一個傳感器信號的光學傳感器(116);
-至少一個適于以不同調制頻率周期性控制至少兩個像素(134)的調制器裝置(118);
和
-至少一個適于實施頻率分析以確定用于調制頻率的傳感器信號的信號分量的評價裝
置(120)。
2.根據前一權利要求的光學檢測器(110),其中評價裝置(120)進一步適于根據其調制
頻率將各信號分量指定給相應的像素(134)。
3.根據前述權利要求中任一項的光學檢測器(110),其中調制器裝置(118)適于使得以
獨特的調制頻率控制各像素(134)。
4.根據前述權利要求中任一項的光學檢測器(110),其中調制器裝置(118)適于以不同
的調制頻率調制所述至少兩個像素(134)。
5.根據前述權利要求中任一項的光學檢測器(110),其中評價裝置(120)適于通過以不
同的調制頻率解調傳感器信號而實施頻率分析。
6.根據前述權利要求中任一項的光學檢測器(110),其中被空間光調制器(114)以空間
分辨的方式調節的光束(136)的至少一種性質為選自如下組的至少一種性質:光束(136)部
分的強度;光束(136)部分的相位;光束(136)部分的光譜性質,優選顏色;光束(136)部分的
極化;光束(136)部分的傳播方向。
7.根據前述權利要求中任一項的光學檢測器(110),其中所述至少一個空間光調制器
(114)包含至少一個選自如下組的空間光調制器(114):透射型空間光調制器(114),其中光
束(136)通過像素(134)的矩陣(132)且其中像素(134)適于以單獨可控的方式調節通過相
應像素(134)的各光束(136)部分的光學性質;反射型空間光調制器(114),其中像素(134)
具有單獨可控的反射性質且適于單獨改變被相應像素(134)反射的各光束(136)部分的傳
播方向;電致變色空間光調制器(114),其中像素(134)具有可由施加至相應像素(134)上的
電壓單獨控制的可控光譜性質;聲光空間光調制器,其中像素(134)的雙折射可通過聲波控
制;電光空間光調制器,其中像素(134)的雙折射可通過電場控制。
8.根據前述權利要求中任一項的光學檢測器(110),其中所述至少一個空間光調制器
(114)包含至少一個選自如下組的空間光調制器(114):液晶裝置,優選有源矩陣(132)液晶
裝置,其中像素(134)為可單獨控制的液晶裝置的單元;微鏡裝置,其中像素(134)為就其反
射表面的方向而言可單獨控制的微鏡裝置的微鏡;電致變色裝置,其中像素(134)為具有可
通過施加至相應單元上的電壓單獨控制的光譜性質的電致變色裝置的單元;聲光裝置,其
中像素(134)為具有可通過施加至單元上的聲波單獨控制的雙折射的聲光裝置的單元;電
光裝置,其中像素(134)為具有可通過施加至單元上的電場單獨控制的雙折射的電光裝置
的單元。
9.根據前述權利要求中任一項的光學檢測器(110),其中評價裝置(120)適于將各信號
分量指定給矩陣(132)的像素(134)。
10.根據前述權利要求中任一項的光學檢測器(110),其中評價裝置(120)適于通過評
價信號分量而確定矩陣(132)的哪些像素(134)被光束(136)照射。
11.根據前述權利要求中任一項的光學檢測器(110),其中評價裝置(120)適于通過識
別被光束(136)照射的矩陣(132)的像素(134)的橫向位置而識別光束(136)的橫向位置和
光束(136)的方向中的至少一種。
12.根據前述權利要求中任一項的光學檢測器(110),其中評價裝置(120)適于通過評
價信號分量而確定光束(136)的寬度。
13.根據前述權利要求中任一項的光學檢測器(110),其中評價裝置(120)適于識別指
定給被光束(136)照射的像素(134)的信號分量且由像素(134)排列的已知幾何性質確定空
間光調制器(114)位置處的光束(136)的寬度。
14.根據前述權利要求中任一項的光學檢測器(110),其中通過使用光束(136)由其朝
所述檢測器傳播的物體的縱坐標和空間光調制器(114)位置處的光束(136)的寬度或被光
束(136)照射的空間光調制器(114)的像素(134)數量之一或二者之間的已知或可確定的關
系,評價裝置(120)適于確定物體的縱坐標。
15.根據前述權利要求中任一項的光學檢測器(110),其中空間光調制器(114)包含不
同顏色的像素(134),其中評價裝置(120)適于將信號分量指定給所述不同顏色。
16.根據前述權利要求中任一項的光學檢測器(110),其中所述至少一個光學傳感器
(116)包含至少一個適于檢測通過多個像素(134)的多個光束(136)部分的大面積光學傳感
器(116)。
17.根據前述權利要求中任一項的光學檢測器(110),其中所述至少一個光學傳感器
(116)包含至少兩個光學傳感器(116)的堆棧(166)。
18.根據前一權利要求的光學檢測器(110),其中堆棧(166)的至少一個光學傳感器
(116)為至少部分透明的光學傳感器(158)。
19.根據前述兩個權利要求中任一項的光學檢測器(110),其中堆棧(166)的至少一個<...
【專利技術屬性】
技術研發人員:R·森德,I·布魯德,S·伊爾勒,E·蒂爾,H·沃內博格,
申請(專利權)人:巴斯夫歐洲公司,
類型:發明
國別省市:德國;DE
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