公開了定影裝置。定影裝置包括:包含基層、第一和第二導(dǎo)電層以及設(shè)置在基層上并且具有比基層的體積電阻率小的體積電阻率的多個(gè)發(fā)熱電阻器的加熱構(gòu)件;溫度檢測(cè)構(gòu)件;以及電極構(gòu)件。發(fā)熱電阻器被螺旋形地設(shè)置在基層周圍以使得其螺旋軸沿著可旋轉(zhuǎn)構(gòu)件的縱向方向延伸,并且被有間隔地布置。每個(gè)發(fā)熱電阻器的一端和另一端分別與第一和第二導(dǎo)電層電氣連接。可旋轉(zhuǎn)構(gòu)件的被溫度檢測(cè)構(gòu)件檢測(cè)的溫度檢測(cè)區(qū)域與發(fā)熱電阻器重疊。
【技術(shù)實(shí)現(xiàn)步驟摘要】
本專利技術(shù)涉及使用筒狀可旋轉(zhuǎn)構(gòu)件(可旋轉(zhuǎn)加熱構(gòu)件)的定影裝置并且適合于與諸如打印機(jī)或復(fù)印機(jī)之類的圖像形成部件一起使用的定影裝置。作為用于諸如打印機(jī)或復(fù)印機(jī)之類的圖像形成部件的定影裝置,使用了一種定影裝置,其中電力被提供給諸如包括導(dǎo)電層的輥之類的可旋轉(zhuǎn)加熱構(gòu)件以造成焦耳加熱(發(fā)熱)并且高速上升和節(jié)能因而被實(shí)現(xiàn)。具體而言,日本特開專利申請(qǐng)2013-97315公開了包括其中碳填充劑被分散在耐熱樹脂材料中的發(fā)熱電阻器層并且包括被涂覆在發(fā)熱電阻器層上的絕緣彈性層和離型層的定影裝置。在該定影裝置中,通過向作為可旋轉(zhuǎn)加熱構(gòu)件的一部分的發(fā)熱電阻器層直接提供電力來發(fā)熱,因而變熱時(shí)間可被縮短。然而,包括彈性層和離型層的絕緣層的強(qiáng)度不是足夠的,因而存在一種可能性,即絕緣層通過與從外部進(jìn)入定影裝置的異物或者與記錄材料的摩擦(滑動(dòng))而被損壞并且隨后該損壞對(duì)發(fā)熱電阻器層有影響。另外,由于用戶等的卡紙清除,存在發(fā)熱電阻器層被用鑷子或切刀損壞的可能性。在這種情況下,電流密度在受損部分的端部的外圍處局部地增大,所以存在在該部分處發(fā)生異常發(fā)熱的可能性。圖18是示出了一種狀態(tài)的示意圖,在該狀態(tài)下,在使用包括傳統(tǒng)的發(fā)熱電阻器層的定影構(gòu)件的定影裝置中,當(dāng)在發(fā)熱電阻器層中產(chǎn)生裂縫C時(shí),在發(fā)熱電阻器層中流動(dòng)的電流在裂縫C的端部附近集中。在作為可旋轉(zhuǎn)加熱構(gòu)件的定影膜1的相對(duì)于定影膜1的縱向方向的兩個(gè)端部周圍,導(dǎo)電層1b被提供,并且用于通電的電力供給構(gòu)件3a和3b與導(dǎo)電層1b接觸,以使得由AC電壓源50進(jìn)行通電并且因而使定影膜1發(fā)熱。加壓輥4被可旋轉(zhuǎn)地驅(qū)動(dòng)并且與定影膜1相對(duì),以使得加壓輥4與定影膜1協(xié)作形成壓合部(通電)。另外,電流I1-I4在一時(shí)間點(diǎn)流入發(fā)熱電阻器層。通過提供導(dǎo)電層1b,電流在定影膜1的發(fā)熱電阻器層中的縱向方向上均勻地流動(dòng),故熱量可被均勻地生成。然而,當(dāng)在發(fā)熱電阻器層中產(chǎn)生裂縫C時(shí),電流I2和I3的行進(jìn)(移動(dòng))被阻擋,故電流I2和I3沿著裂縫C的端部的外圍流動(dòng)。因此,在端部的外圍處的區(qū)域A和B中的每個(gè)中,電流集中并且因而電流密度增大,故在該部分(區(qū)域A,區(qū)域B)中局部地發(fā)生異常發(fā)熱。在發(fā)生異常發(fā)熱的部分處,溫度與正常部分相比顯著增大,因而使定影膜熱損壞并且在一些情況下造成圖像缺陷。為了在裂縫的發(fā)生期間防止異常發(fā)熱,如在圖19中示出,將考慮使用如下構(gòu)造:其中,通過沿著圓周方向劃分而得到的多個(gè)發(fā)熱電阻器被形成并且即使當(dāng)沿著圓周方向發(fā)生裂縫時(shí)電流密度也不部分地集中。在圖19中,發(fā)熱電阻器1e被形成在絕緣基層1a上。然而,在圖19中示出的構(gòu)造中,發(fā)生新問題,即在裂縫的發(fā)生期間變得難以在旋轉(zhuǎn)停止?fàn)顟B(tài)下檢測(cè)溫度。這是因?yàn)椋涸诎l(fā)熱電阻器被沿著圓周方向的裂縫中斷(切斷)的情況下,在其中形成有切斷的發(fā)熱電阻器層的整個(gè)縱向方向區(qū)域中不發(fā)熱,并且在該區(qū)域中,設(shè)置在縱向方向區(qū)域中的溫度檢測(cè)元件無法進(jìn)行調(diào)色劑檢測(cè)。另一方面,在未發(fā)生裂縫的部分處,旋轉(zhuǎn)停止?fàn)顟B(tài)下的調(diào)色劑增大以及結(jié)果異常高溫度無法被立即檢測(cè)到。這將參照?qǐng)D20具體描述。圖20示出了一種狀態(tài),在該狀態(tài)下在具有圖19中示出的其中形成有多個(gè)發(fā)熱電阻器的構(gòu)造的定影膜中發(fā)生裂縫。實(shí)心灰區(qū)域是其中發(fā)熱電阻器被裂縫C中斷(切斷)并且因而即使當(dāng)進(jìn)行通電時(shí)也不發(fā)熱的區(qū)域。因此,在溫度檢測(cè)元件被設(shè)置在發(fā)生裂縫C的部分處的縱向方向區(qū)域中的情況下,調(diào)色劑上升無法被檢測(cè)到。
技術(shù)實(shí)現(xiàn)思路
根據(jù)本專利技術(shù)的一方面,提供了一種用于將圖像定影在記錄材料上的定影裝置,包括:用于加熱圖像的可旋轉(zhuǎn)加熱構(gòu)件,其中該可旋轉(zhuǎn)加熱構(gòu)件包括基層、分別設(shè)置在基層的相對(duì)于可旋轉(zhuǎn)加熱構(gòu)件的縱向方向的端部處的第一和第二導(dǎo)電層,以及設(shè)置在基層上并且具有比基層的體積電阻率小的體積電阻率的多個(gè)發(fā)熱電阻器;用于檢測(cè)可旋轉(zhuǎn)加熱構(gòu)件的溫度的溫度檢測(cè)構(gòu)件;以及電極構(gòu)件,其接觸第一導(dǎo)電層和第二導(dǎo)電層,用于向發(fā)熱電阻器提供電力,其中發(fā)熱電阻器被螺旋形地設(shè)置在基層周圍以使得其螺旋軸沿著可旋轉(zhuǎn)構(gòu)件的縱向方向延伸,并且發(fā)熱電阻器被有間隔地布置,其中每個(gè)發(fā)熱電阻器的一端和另一端分別與第一和第二導(dǎo)電層電氣連接,并且其中可旋轉(zhuǎn)加熱構(gòu)件的被溫度檢測(cè)構(gòu)件檢測(cè)的溫度檢測(cè)區(qū)域與發(fā)熱電阻器重疊。根據(jù)參照附圖對(duì)示例性實(shí)施例的以下描述,本專利技術(shù)的另外特征將變得清楚。附圖說明在圖1中,(a)是第一實(shí)施例中的定影膜的示意性正視圖,并且(b)是定影膜的發(fā)熱電阻器的展開圖。在圖2中,(a)和(b)是分別沿著圖1的(a)中的D1線和D2線得到的第一實(shí)施例中的定影膜的示意性截面圖。圖3是沿著第一實(shí)施例中的縱向方向的定影膜的示意性截面圖。圖4是第一實(shí)施例中的發(fā)熱電阻器的放大圖。在圖5中,(a)是該實(shí)施例中的定影裝置的示意圖,并且(b)是如在第一實(shí)施例中的記錄材料進(jìn)給方向上看到的定影裝置的透視圖。在圖6中,(a)是第一實(shí)施例中的溫度檢測(cè)元件(熱敏電阻)的正視圖,并且(b)是第一實(shí)施例中的溫度檢測(cè)元件的截面圖。圖7是第一實(shí)施例中的溫度檢測(cè)區(qū)域與發(fā)熱區(qū)域之間的關(guān)系視圖。圖8是示出第一實(shí)施例中的裂縫的產(chǎn)生期間的發(fā)熱區(qū)域的示意圖。在圖9中,(a)和(b)是各自示出第一實(shí)施例中的定影膜發(fā)生移動(dòng)期間的溫度檢測(cè)元件的示意圖。在圖10中,(a)是第二實(shí)施例中的定影輥的示意圖,并且(b)是沿著圖10的(a)中的D4線得到的第二實(shí)施例中的定影輥的示意性截面圖。在圖11中,(a)和(b)是分別沿著圖10的(a)中的D5線和D6線得到的第二實(shí)施例中的定影輥的示意性截面圖。圖12是第二實(shí)施例中的發(fā)熱電阻器的放大視圖。在圖13中,(a)是第二實(shí)施例中的定影裝置的示意圖,并且(b)是如在第二實(shí)施例中的記錄材料進(jìn)給方向上看到的第二實(shí)施例中的定影裝置的示意圖。圖14是第二實(shí)施例中的溫度檢測(cè)元件(熱電堆)的示意圖。圖15是第二實(shí)施例中的溫度檢測(cè)區(qū)域與發(fā)熱區(qū)域之間的關(guān)系視圖。圖16是第三實(shí)施例中的溫度檢測(cè)區(qū)域與發(fā)熱區(qū)域之間的關(guān)系視圖。在圖17中,(a)和(b)是各自示出第三實(shí)施例中的定影膜發(fā)生移動(dòng)期間的溫度檢測(cè)區(qū)域的示意圖。圖18是使用包括發(fā)熱電阻器層的可旋轉(zhuǎn)加熱構(gòu)件的傳統(tǒng)定影裝置的示意圖。圖19是包括多個(gè)發(fā)熱電阻器的傳統(tǒng)定影膜的示意圖。圖20是示出包括多個(gè)發(fā)熱電阻器的傳統(tǒng)定影膜在發(fā)生裂縫期間的發(fā)熱分布的示意圖。具體實(shí)施方式根據(jù)本專利技術(shù)的可旋轉(zhuǎn)加熱構(gòu)件(筒狀可旋轉(zhuǎn)構(gòu)件)和使用該可旋轉(zhuǎn)加熱構(gòu)件的定影裝置將被具體描述。在對(duì)可旋轉(zhuǎn)加熱構(gòu)件和定影裝置的以下描述中,縱向方向指的是可旋轉(zhuǎn)加熱構(gòu)件的表面的筒狀形狀的母線方向。另外,圓周方向指的是可旋轉(zhuǎn)加熱構(gòu)件的表面的筒狀形狀的圓的圓周的方向。另外,厚度方向指的是可旋轉(zhuǎn)加熱構(gòu)件的表面的筒狀形狀的徑向方向。<第一實(shí)施例>(定影裝置)將使用圖5來描述根據(jù)本專利技術(shù)的第一實(shí)施例的使用可旋轉(zhuǎn)加熱構(gòu)件的定影裝置。在圖5中,(a)是縱向中央部處的定影裝置的示意性截面圖,并且(b)是如在與縱向方向相交的記錄材料進(jìn)給方向上看到的定影裝置的示意圖。定影裝置在壓合部(定影壓合部)處對(duì)通過一般電子照相類型的圖像形成方法在圖像形成部處形成的調(diào)色劑圖像進(jìn)行加熱和定影。從圖5的(a)中的左手側(cè),在其上承載調(diào)色劑圖像T的記錄材料P被未示出的進(jìn)給部件進(jìn)給并且穿過定影裝置,以使得調(diào)色劑圖像T在記錄材料P上被加熱和定影。該實(shí)施例中的定影裝本文檔來自技高網(wǎng)...

【技術(shù)保護(hù)點(diǎn)】
一種用于將圖像定影在記錄材料上的定影裝置,包括:可旋轉(zhuǎn)加熱構(gòu)件,用于加熱圖像,其中所述可旋轉(zhuǎn)加熱構(gòu)件包括:基層,分別設(shè)置在所述基層的相對(duì)于所述可旋轉(zhuǎn)加熱構(gòu)件的縱向方向的端部處的第一導(dǎo)電層和第二導(dǎo)電層,以及設(shè)置在所述基層上并且具有比所述基層的體積電阻率小的體積電阻率的多個(gè)發(fā)熱電阻器;溫度檢測(cè)構(gòu)件,用于檢測(cè)所述可旋轉(zhuǎn)加熱構(gòu)件的溫度;以及電極構(gòu)件,接觸所述第一導(dǎo)電層和所述第二導(dǎo)電層,用于向所述發(fā)熱電阻器提供電力,其中,所述發(fā)熱電阻器被螺旋形地設(shè)置在所述基層周圍以使得其螺旋軸沿著所述可旋轉(zhuǎn)加熱構(gòu)件的縱向方向延伸,并且所述發(fā)熱電阻器被有間隔地布置,其中,所述發(fā)熱電阻器中的每個(gè)發(fā)熱電阻器的一端和另一端分別與所述第一導(dǎo)電層和所述第二導(dǎo)電層電氣連接,并且其中,所述可旋轉(zhuǎn)加熱構(gòu)件的被所述溫度檢測(cè)構(gòu)件檢測(cè)的溫度檢測(cè)區(qū)域與所述發(fā)熱電阻器重疊。
【技術(shù)特征摘要】
2015.09.01 JP 2015-1718331.一種用于將圖像定影在記錄材料上的定影裝置,包括:可旋轉(zhuǎn)加熱構(gòu)件,用于加熱圖像,其中所述可旋轉(zhuǎn)加熱構(gòu)件包括:基層,分別設(shè)置在所述基層的相對(duì)于所述可旋轉(zhuǎn)加熱構(gòu)件的縱向方向的端部處的第一導(dǎo)電層和第二導(dǎo)電層,以及設(shè)置在所述基層上并且具有比所述基層的體積電阻率小的體積電阻率的多個(gè)發(fā)熱電阻器;溫度檢測(cè)構(gòu)件,用于檢測(cè)所述可旋轉(zhuǎn)加熱構(gòu)件的溫度;以及電極構(gòu)件,接觸所述第一導(dǎo)電層和所述第二導(dǎo)電層,用于向所述發(fā)熱電阻器提供電力,其中,所述發(fā)熱電阻器被螺旋形地設(shè)置在所述基層周圍以使得其螺旋軸沿著所述可旋轉(zhuǎn)加熱構(gòu)件的縱向方向延伸,并且所述發(fā)熱電阻器被有間隔地布置,其中,所述發(fā)熱電阻器中的每個(gè)發(fā)熱電阻器的一端和另一端分別與所述第一導(dǎo)電層和所...
【專利技術(shù)屬性】
技術(shù)研發(fā)人員:楢原隆史,宍道健史,今泉徹,道田一洋,若津康平,
申請(qǐng)(專利權(quán))人:佳能株式會(huì)社,
類型:發(fā)明
國別省市:日本;JP
還沒有人留言評(píng)論。發(fā)表了對(duì)其他瀏覽者有用的留言會(huì)獲得科技券。