本發明專利技術公開了一種數據采集方法、裝置及數據采集調試系統，用以解決現有技術中采用計算機進行數據采集時導致的資源浪費以及將調試信息保存到設備內存時導致的重要數據丟失的問題，該裝置包括：調試接口，用于與待測設備進行物理連接；微控制單元MCU，與調試接口相連，用于通過調試接口接收待測設備發送的調試信息，并將調試信息按照指定格式發送至數據存儲單元；數據存儲單元，與MCU相連，用于存儲接收到的調試信息；電源管理單元，用于為數據采集裝置供電。這樣，可以脫離計算機獨立運行，不需要人工值守，也不會造成資源浪費，通過獨立的系統運行，提高了數據采集裝置的穩定性，且可以保證待測設備的所有調試信息都進行采集。
【技術實現步驟摘要】
本專利技術涉及通信領域，尤其涉及一種數據采集方法、裝置及數據采集調試系統。
技術介紹
芯片開發過程中，都需要進行調試，在調試通過后，才能進行批量生產，然而，隨著芯片的片上系統復雜度的不斷提高以及操作系統的多樣性趨勢，調試手段是否有效直接跟生產效率相關，顯得越來越重要。對于開發產品出現的低概率事件，需要耗費較長時間進行調試，在事件重現過程中，即整個調試過程，需要將產品調試過程中所有的調試數據記錄并保存，以便研發人員根據調試數據獲取一些關鍵信息，對產品進行優化。顯然，而在芯片開發過程中調試數據信息的采集是必不可少的。目前常用的調試數據信息采集方式包括以下三種：(1)串口調試信息記錄，需要把待調試芯片的串口連接到通用異步收發傳輸器(UniversalAsynchronousReceiver/Transmitter，UART)接收端，通常是計算機的串口，或者是UART轉通用串行總線(UniversalSerialBus，USB)的串口工具，最后通過計算機的工具抓取日志log信息并保存。(2)安卓調試(AndroidDebugBridge，ADB)調試信息記錄，調試Android程序的有效手段，需要計算機安裝ADB調試環境，并通過計算機端的USB口連接Android設備，對Android設備的log信息進行保存。(3)將調試信息保存到設備內存，待調試設備進行系統調試時，將調試信息保存到設備的內存上。在保存調試信息時，只有系統完全啟動以后才能進行。例如，對開發的產品進行老化測試，對批次數量達50-100臺的產品進行常溫、高溫以及低溫條件下無故障運行48小時或72小時。在待調試產品樣本數量較多時，采用串口調試信息記錄和ADB調試信息記錄這兩種調試數據信息采集方式時，需要每臺待調試產品都連接一臺計算機，因此，會導致資源的浪費，且數據采集效率較低，而采用將調試信息保存到設備內存的調試數據信息采集方式時，由于必須在系統運行正常時才能采集調試信息，因此，會在系統運行異常時的很多重要的調試信息會丟失。
技術實現思路
本專利技術實施例提供一種數據采集方法、裝置及數據采集調試系統，用以解決現有技術中采用計算機進行數據采集時導致的資源浪費以及采用將調試信息保存到設備內存時導致的重要數據丟失的問題。本專利技術實施例提供的具體技術方案如下：一種數據采集裝置，包括：調試接口，用于與待測設備進行物理連接；微控制單元MCU，與調試接口相連，用于通過調試接口接收所述待測設備發送的調試信息，并將所述調試信息按照指定格式發送至數據存儲單元；數據存儲單元，與MCU相連，用于存儲接收到的所述調試信息；電源管理單元，用于為所數據采集裝置供電。這樣，采用數據采集裝置對待測設備的調試信息進行采集，可以脫離于計算機獨立運行，不需要人工值守，也不會造成資源浪費，通過獨立的系統運行，提高了數據采集裝置的穩定性，且數據采集裝置與待測設備建立物理連接后，即可采集待測設備的調試信息，可以保證待測設備的所有調試信息都進行采集，避免了遺漏調試信息的情況。較佳地，所述調試接口采用物理通信接口與待測設備進行物理連接。較佳地，所述MCU具體用于：接收到所述待測設備發送的調試信息后，根據所述調試信息生成保存調試信息任務請求，并將所述保存調試信息任務請求的優先級設置為最高。MCU通過這種方式實時獲取待測設備的調試信息，并實時進行處理并保存。較佳地，所述MCU還用于：接收到所述待測設備發送的設定周期內的或設定數目的調試信息后，判斷所述數據存儲單元的存儲空間是否大于所述調試信息的占用空間；若是，則將所述調試信息按照指定格式發送至所述數據存儲單元；否則，根據所述調試信息的占用空間刪除所述數據存儲單元中已經存儲的數據，再將所述調試信息按照指定格式發送至所述數據存儲單元。這樣，MCU可以保證數據存儲單元有足夠的存儲空間存儲接收到的調試信息。較佳地，所述電源管理單元通過與所述調試接口連接獲取電量為所述數據采集裝置供電。這樣，電源管理單元在數據采集裝置與待測設備進行物理連接后，可以直接從待測設備的物理接口進行取電。較佳地，所述電源管理單元還包括異常處理單元，用于在數據采集設備處于運行異常狀態時，為所述數據采集裝置供電。這樣，可以保證在數據采集設備處于運行異常時，如在數據采集設備插拔的時刻、斷電時刻等，還可以保存異常時刻的調試信息。較佳地，還包括：顯示單元，用于在調試接口與待測設備進行物理連接后，顯示運行狀態信息。這樣，可以提醒用戶數據采集設備的運行狀態。一種如上述的數據采集裝置的數據采集方法，包括：數據采集裝置確定與待測設備建立物理連接；所述數據采集裝置接收所述待測設備發送的調試信息，并將所述調試信息按照指定格式進行存儲。采用數據采集裝置對待測設備的調試信息進行采集，可以脫離于計算機獨立運行，不需要人工值守，也不會造成資源浪費，通過獨立的系統運行，提高了數據采集裝置的穩定性，且數據采集裝置與待測設備建立物理連接后，即可采集待測設備的調試信息，可以保證待測設備的所有調試信息都進行采集，避免了遺漏調試信息的情況。較佳地，所述數據采集裝置采用物理通信接口與待測設備進行物理連接。較佳地，進一步包括：所述數據采集裝置根據接收到的調試信息生成保存調試信息任務請求，并將所述保存調試信息任務請求的優先級設置為最高。數據采集裝置通過這種方式實時獲取待測設備的調試信息，并實時進行處理并保存。較佳地，將所述調試信息按照指定格式進行存儲，包括：所述數據采集裝置接收到所述待測設備發送的設定周期內的或設定數目的調試信息后，判斷所述數據采集裝置的存儲空間是否大于所述調試信息的占用空間；若是，則將所述調試信息按照指定格式發送至所述數據采集裝置；否則，根據所述調試信息的占用空間刪除所述數據采集裝置中已經存儲的數據，再將所述調試信息按照指定格式發送至數據采集裝置。這樣，MCU可以保證數據存儲單元有足夠的存儲空間存儲接收到的調試信息。較佳地，所述數據采集裝置通過與所述待測設備建立的物理連接獲取電量為所述數據采集裝置供電。這樣，電源管理單元在數據采集裝置與待測設備進行物理連接后，可以直接從待測設備的物理接口進行取電。較佳地，所述數據采集裝置中的異常處理單元在數據采集設備處于運行異常狀態時，為所述數據采集裝置供電。這樣，可以保證在數據采集設備本文檔來自技高網...
【技術保護點】
一種數據采集裝置，其特征在于，包括：調試接口，用于與待測設備進行物理連接；微控制單元MCU，與調試接口相連，用于通過調試接口接收所述待測設備發送的調試信息，并將所述調試信息按照指定格式發送至數據存儲單元；數據存儲單元，與MCU相連，用于存儲接收到的所述調試信息；電源管理單元，用于為數據采集裝置供電。
【技術特征摘要】
1.一種數據采集裝置，其特征在于，包括：
調試接口，用于與待測設備進行物理連接；
微控制單元MCU，與調試接口相連，用于通過調試接口接收所述待測設
備發送的調試信息，并將所述調試信息按照指定格式發送至數據存儲單元；
數據存儲單元，與MCU相連，用于存儲接收到的所述調試信息；
電源管理單元，用于為數據采集裝置供電。
2.如權利要求1所述的裝置，其特征在于，所述調試接口采用物理通信
接口與待測設備進行物理連接。
3.如權利要求1所述的裝置，其特征在于，所述MCU具體用于：
接收到所述待測設備發送的調試信息后，根據所述調試信息生成保存調試
信息任務請求，并將所述保存調試信息任務請求的優先級設置為最高。
4.如權利要求1所述的裝置，其特征在于，所述MCU還用于：
接收到所述待測設備發送的設定周期內的或設定數目的調試信息后，判斷
所述數據存儲單元的存儲空間是否大于所述調試信息的占用空間；
若是，則將所述調試信息按照指定格式發送至所述數據存儲單元；
否則，根據所述調試信息的占用空間刪除所述數據存儲單元中已經存儲的
數據，再將所述調試信息按照指定格式發送至所述數據存儲單元。
5.如權利要求1所述的裝置，其特征在于，所述電源管理單元通過與所
述調試接口連接獲取電量為所述數據采集裝置供電。
6.如權利要求1-5任一項所述的裝置，其特征在于，所述電源管理單元
還包括異常處理單元，用于在數據采集設備處于運行異常狀態時，為所述數據
采集裝置供電。
7.如權利要求1-5任一項所述的裝置，其特征在于，還包括：
顯示單元，用于在調試接口與待測設備進行物理連接后，顯示運行狀態信
息。
8.一種如權利要求1-7任一項所述的數據采集裝置的數據采集方法，其
特征在于，包括：
數據采集裝置確定與待測設...
【專利技術屬性】
技術研發人員：嚴家亮，陳長明，
申請(專利權)人：炬芯珠?？萍加邢薰?/a>，
類型：發明
國別省市：廣東;44
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