帶抖動校正功能的透鏡驅動裝置制造方法及圖紙

本發明專利技術提供了一種帶抖動校正功能的透鏡驅動裝置，其無需位置檢測用磁鐵，而且也不會降低擺動時的驅動力。該帶抖動校正功能的透鏡驅動裝置構成為，磁鐵支架為自Z軸方向觀察時呈正方形狀的框體，磁鐵為呈等腰梯形的柱體，磁鐵以長底邊側朝向磁鐵支架中心的狀態安裝于對角位置上，磁力檢測機構由X方向磁力檢測機構和Y方向磁力檢測機構構成，X方向磁力檢測機構對磁感應強度的X軸方向成分具有檢測靈敏度，其安裝在裝配于Y軸方向對角位置上的兩個磁鐵中的至少一個磁鐵的短底邊外側，Y方向磁力檢測機構對磁感應強度的Y軸方向成分具有檢測靈敏度，其安裝在裝配于X軸方向對角位置上的兩個磁鐵中的至少一個磁鐵的短底邊外側。

【技術實現步驟摘要】

本專利技術涉及一種用于驅動移動電話等中所使用的攝像頭進行自動對焦，并且校正攝像頭上發生的抖動的帶抖動校正功能的透鏡驅動裝置。
技術介紹
帶抖動校正功能的透鏡驅動裝置利用自動對焦功能進行對焦，同時在拍攝中產生抖動時使透鏡向與透鏡光軸成直角的方向相對應地擺動，以抑制成像于圖像傳感器上的圖像發生模糊。例如，日本專利申請公開號JP2013-24938A，公開日2013年2月4日（以該申請為優先權進入中國的公開號為CN102879973A，公開日為2013年1月16日，進入美國的公開號為US2013016427A1，US2015226978A1，公開日為2013年1月17日和2015年8月13日）提出了一種帶抖動校正功能的透鏡驅動裝置，其利用沿光軸方向延伸形成為線狀的彈簧構件，將對焦單元懸架支承為使其能夠向與光軸成直角的方向擺動，通過運轉抖動校正單元使對焦單元擺動，以抑制圖像發生模糊。如圖10至圖12所示，其示出了現有的帶抖動校正功能的透鏡驅動裝置50。特別是圖10為帶抖動校正功能的透鏡驅動裝置50的立體圖，圖11為帶抖動校正功能的透鏡驅動裝置50的爆炸圖，圖12為帶抖動校正功能的透鏡驅動裝置50的主要部分的立體圖。在此，將未圖示的透鏡的光軸方向設為Z（Z軸）方向，且將分別與Z軸成直角且相互垂直的兩個方向設為P（P軸）方向以及Q（Q軸）方向。如圖10所示，帶抖動校正功能的透鏡驅動裝置50收納于屏蔽箱體65內，其整體上形成為長方體形狀。屏蔽箱體65的中央部沿著Z軸方向呈圓環形開口，其中，在中央部由后述透鏡支架53保持有未圖示的透鏡。帶抖動校正功能的透鏡驅動裝置50由對焦單元51和抖動校正單元52構成。對焦單元51具有：透鏡支架53、對焦用線圈54A、磁鐵55A、磁鐵支架56；由板狀彈簧構件構成的懸架支承機構57以及墊片（Spacer）58。抖動校正單元52具有擺動用線圈59A、配線基板62A、連接基板62B、由線狀彈簧構件構成的擺動支承機構60、位置檢測用霍爾元件61以及基臺63。透鏡支架53由沿著Z軸方向開口的筒狀構件，將透鏡保持于內周側。在透鏡支架53的外周側，對焦用線圈54A沿著透鏡支架53的外徑形狀而卷繞為四方環狀。合計四個形成為長方體形狀的磁鐵55A的磁極面朝向P軸方向以及Q軸方向，在與Z軸平行的軸周圍，以90度的間隔配設于對焦用線圈54A的外徑側。磁鐵55A與對焦用線圈54A沿著P軸方向以及Q軸方向隔開空隙相互對置。另外，磁鐵55A被保持于正方形框狀的磁鐵支架56的框邊部56a。懸架支承機構57由前側彈簧構件57A和后側彈簧構件57B構成。前側彈簧構件57A和后側彈簧構件57B的內周部分別與透鏡支架53的＋Z側端面以及-Z側端面相連接。另外，前側彈簧構件57A的外周部與磁鐵支架56的＋Z側的端面相連接。后側彈簧構件57B的外周部與外周部墊片58一起連接到磁鐵支架56的-Z側端面。這樣一來，前側彈簧構件57A和后側彈簧構件57B將透鏡支架53懸架支承為使其能夠向Z軸方向移動。當向上述那樣構成的對焦單元51的對焦用線圈54A通電時，該對焦用線圈54A產生朝向Z軸方向的洛倫茲力，利用該洛倫茲力使透鏡支架53在Z軸方向移動。中央部具有朝向Z軸方向開口的板狀基臺63的＋Z側（的）面上，安裝有與外部的控制電路相連接的連接基板62B。在該連接基板62B的＋Z側面上，安裝有配線基板62A。在配線基板62A上形成有電力供給線路，其上部連接有擺動用線圈59A。擺動用線圈59A包括：繞與Z軸平行的軸卷繞，分別配設于配線基板62A的-P側以及＋P側的P側擺動用線圈59AP、分別配設于-Q側以及＋Q側的Q側擺動用線圈59AQ。擺動用線圈59A與磁鐵55A的-Z側的側面沿著Z軸方向隔開空隙相互對置。擺動支承機構60由沿著Z軸方向延伸的、形成為線狀的四條彈簧構件構成。各彈簧構件的前側端部60a與前側彈簧構件57A相連接，各彈簧構件的后側端部60b與基臺63相連結。擺動支承機構60將對焦單元51支承為使其能夠分別向P軸方向以及Q軸方向擺動。如圖12所示，位置檢測用霍爾元件61由P軸側的霍爾元件61P和Q軸側的霍爾元件61Q構成。霍爾元件61P配設于擺動用線圈59AP的-Z側，且固定于基臺63上，其隔著擺動用線圈59AP沿著Z軸方向與磁鐵55A的-Z側（的）側面隔開空隙相互對置。霍爾元件61Q配設于擺動用線圈59AQ的-Z側，且固定于基臺63上，其隔著擺動用線圈59AQ沿著Z軸方向與磁鐵55A的-Z側側面隔開空隙相互對置。霍爾元件61P、61Q均用于檢測由其所對置的磁鐵55A產生的磁感應強度的Z軸方向成分。其結果為，霍爾元件61P檢測到所對置的磁鐵55A隨著向P軸方向的擺動而發生的磁感應強度變化。另外，霍爾元件61Q檢測到所對置的磁鐵55A隨著向Q軸方向的擺動而發生的磁感應強度變化。因此，霍爾元件61P可知磁鐵支架56沿著P軸方向的擺動位置，而霍爾元件61Q可知磁鐵支架56沿著Q軸方向的擺動位置。進而，當向抖動校正單元52的P側擺動用線圈59AP通電時，P側擺動用線圈59AP產生朝向P軸方向的洛倫茲力，而磁鐵55A產生反作用力，使對焦單元51向P軸方向擺動。另外，當向Q側擺動用線圈59AQ通電時，Q側擺動用線圈59AQ產生朝向Q軸方向的洛倫茲力，而磁鐵55A產生反作用力，使對焦單元51Q軸方向擺動。其結果為，當拍攝時發生手抖產生時，向P側擺動用線圈59AP以及Q側擺動用線圈59AQ通電，由霍爾元件61P和霍爾元件61Q監測擺動大小，實施抖動校正。但是，如圖12所示，自Z軸方向觀察到的截面形狀呈長方形的磁鐵55A，配設于形成為四方環狀的對焦用線圈54A的四邊外側、即P軸方向及Q軸方向的外側，為此，導致P軸方向的寬度尺寸以及Q軸方向的寬度尺寸增大，從而使帶抖動校正功能的透鏡驅動裝置50大型化。因此，如圖13所示，日本專利申請公開號JP2014-126668A，公開日為2014年7月7日的專利公開了另一帶抖動校正功能的透鏡驅動裝置（以該申請為優先權進入中國的公開號為CN103901701A，公開日為2014年7月2日，進入美國的公開號為US2014177056A1公開日為2014年6月26日）。圖13和圖14示出了如下的帶抖動校正功能的透鏡驅動裝置主要部分的立體圖。該帶抖動校正功能的透鏡驅動裝置將自Z軸方向觀察到的截面形狀呈等腰梯形的磁鐵55B保持于未圖示的磁鐵支架的拐角、即距離長的對角位置（X軸方向和Y軸方向）上，以避免P軸方向的寬度尺寸及Q軸方向的寬度尺寸的增大。此外，在圖13和圖14中，X軸方向為從P軸方向繞Z軸朝向+Q軸方向旋轉45度的方向，Y軸方向為從Q軸方向繞Z軸朝向-P軸方向旋轉45度的方向。對焦用線圈54B順著未圖示的透鏡支架外徑形狀繞著與Z軸平行的軸卷繞為八角環狀。磁鐵55B磁極面朝向X軸方向以及Y軸方向，沿著與Z軸平行的軸周圍以90度的間隔呈對角地將合計四個磁鐵55B配設于對焦用線圈54B的外徑側。進而，磁鐵55B與對焦用線圈54B沿著X軸方向以及Y軸方向隔開空隙相互對置，且被保持于未圖示的正方形框狀的磁鐵支架的四角。當向對焦用線圈54B通電時，對焦用線圈54B產生朝向Z軸方向的洛倫茲力，使未圖示的透鏡支本文檔來自技高網...

【技術保護點】
一種帶抖動校正功能的透鏡驅動裝置，其以透鏡的光軸方向作為Z軸方向，并以分別與該Z軸方向正交且相互正交的兩軸作為X軸方向和Y軸方向，所述透鏡驅動裝置包括：對焦單元，其包括：用于保持所述透鏡的透鏡支架；繞著所述Z軸方向卷繞，安裝于所述透鏡支架外側的對焦用線圈；沿著透鏡徑向與所述對焦用線圈隔開空隙相互對置的多個磁鐵；用于保持所述多個磁鐵的磁鐵支架；以及連接所述透鏡支架和磁鐵支架，沿著所述X軸方向和Y軸方向延伸，將所述透鏡支架支承為能夠向Z軸方向移動的懸架支承機構；以及抖動校正單元，其包括：基臺；安裝于所述基臺的磁力檢測機構；繞著與所述Z軸平行的軸卷繞，且沿著Z軸方向與所述多個磁鐵隔開空隙相互對置的多個擺動用線圈；以及連接在所述基臺和對焦單元之間、將所述對焦單元支承為能夠向與Z軸正交的方向擺動的擺動支承機構；其特征在于，所述磁鐵支架為自所述Z軸方向觀察時呈正方形狀的框體，框體的對角分別位于X軸方向和Y軸方向，每個磁鐵為呈等腰梯形的柱體，所述磁鐵以長底邊側朝向所述磁鐵支架中心的狀態安裝于所述磁鐵支架的對角位置上，所述磁力檢測機構包括X方向磁力檢測機構和Y方向磁力檢測機構，所述X方向磁力檢測機構對磁鐵的磁感應強度的X軸方向成分具有檢測靈敏度，其安裝在裝配于Y軸方向的磁鐵支架的對角位置上的兩個磁鐵中的至少一個磁鐵的短底邊外側，所述Y方向磁力檢測機構對磁感應強度的Y軸方向成分具有檢測靈敏度，其安裝在裝配于X軸方向的磁鐵支架的對角位置上的兩個磁鐵中的至少一個磁鐵的短底邊外側。...

【技術特征摘要】
2015.10.27 JP 2015-2105711.一種帶抖動校正功能的透鏡驅動裝置，其以透鏡的光軸方向作為Z軸方向，并以分別與該Z軸方向正交且相互正交的兩軸作為X軸方向和Y軸方向，所述透鏡驅動裝置包括：對焦單元，其包括：用于保持所述透鏡的透鏡支架；繞著所述Z軸方向卷繞，安裝于所述透鏡支架外側的對焦用線圈；沿著透鏡徑向與所述對焦用線圈隔開空隙相互對置的多個磁鐵；用于保持所述多個磁鐵的磁鐵支架；以及連接所述透鏡支架和磁鐵支架，沿著所述X軸方向和Y軸方向延伸，將所述透鏡支架支承為能夠向Z軸方向移動的懸架支承機構；以及抖動校正單元，其包括：基臺；安裝于所述基臺的磁力檢測機構；繞著與所述Z軸平行的軸卷繞，且沿著Z軸方向與所述多個磁鐵隔開空隙相互對置的多個擺動用線圈；以及連接在所述基臺和對焦單元之間、將所述對焦單元支承為能夠向與Z軸正交的方向擺動的擺動支承機構；其特征在于，所述磁鐵支架為自所述Z軸方向觀察時呈正方形狀的框體，框體的對角分別位于X軸方向和Y軸方向，每個磁鐵為呈等腰梯形的柱體，所述磁鐵以長底邊側朝向所述磁鐵支架中心的狀態安裝于所述磁鐵支架的對角位置上，所述磁力檢測機構包括X方向磁力檢測機構和Y方向磁力檢測機構，所述X方向磁力檢測機構對磁鐵的磁感應強度的X軸方向成分具有檢測靈敏度，其安裝在裝配于Y軸方向的磁鐵支架的對角位置上的兩個磁鐵中的至少一個磁鐵的短底邊外側，所述Y方向磁力檢測機構對磁感應強度的Y軸方向成分具有檢測靈敏度，其安裝在裝配于X軸方向的磁鐵支架的對角位置上的兩個磁鐵中的至少一個磁鐵的短底邊外側。2.根據權利要求1所述的帶抖動校正功能的透鏡驅動裝置，其特征在于，所述磁鐵支架上還安裝有：在所述X方...

【專利技術屬性】
技術研發人員：寺嶋厚吉，
申請(專利權)人：惠州市大亞灣永昶電子工業有限公司，景美達光學技術有限公司，惠州大亞灣三美達光學技術有限公司，
類型：發明
國別省市：廣東;44