一種直流電壓降、溫升及電阻測試系統技術方案

本實用新型專利技術提供了一種直流電壓降、溫升及電阻測試系統，包括嵌入式微處理器，其特點是所述嵌入式微處理器與高精度恒流源連接，所述高精度恒流源分別與電流輸出單元，電壓輸出單元和溫度輸出接口連接，所述電流輸出單元，電壓輸出單元和所述溫度輸出接口均與測試治具連接，所述測試治具與被測樣品連接，所述被測樣品通過模擬檢測電路與所述嵌入式微處理器連接；所述嵌入式微處理器分別連接有電壓檢測單元和溫升檢測單元，以及電阻檢測單元；所述嵌入式微處理器還連接有大屏幕顯示單元、鍵盤。該技術方案精度高、智能化、高性能，可以和電腦上位機或其他外部控制單元相連接，完成數據的自動化記錄、統計、分析。

【技術實現步驟摘要】

本技術涉及一種直流電壓降、溫升及電阻測試系統，屬于國際專利分類表中“G01R測量電變量；測量磁變量”

技術介紹
在材料的電性能特性測試方面：電壓降、溫升及電阻測量是非常重要的衡量指標。目前常用的都是單一功能機型比如只能測試電壓降，或其中某兩項功能；無法完成材料的一次性測試和質量評估；單一的電壓降儀器采用的都是傳統的開關電源作為恒流源，通過儀表或者數碼管顯示測試電流和電壓降數據，與被測樣品提供負載，在從被測樣品測試端采集電壓，從而測試出電壓降值，電阻值需要單獨的人工換算，被測樣品在負載中發熱產生的溫升數據幾乎被忽略，傳統的電壓降測試精度會受到顯示儀表精度的限制，測試電流存在漂移波動很大無法實現高精度的測量，特別是在大功率開關電源作為負載源的電壓降測試中誤差值偏差非常大，無法獲得精準數據，在設計中電流通過分流器或者康銅絲電阻采樣，無法過濾電流采樣本身和整體系統帶來的干擾信號源，至此難以獲得恒流輸出。另外，隨著科技水平的提高，人工成本增加，客戶對產品質量的高要求；自動化生產線對產品要求全檢，提高品質；傳統電壓降測試儀無法實行自動化控制或者與外部控制單元的結合；傳統的壓降數據采用人工記錄無法實現自動數據管理、數據保存和數據的分析；綜上，由于目前的測試方法存在效率低，精度不高，智能化程度低等缺陷，不適應當今材料測試方面的需求。
技術實現思路
有鑒于此，本技術的目的是提供一種高精度、高智能化、高性能的直流電壓降，溫升及電阻測試系統，其可以和電腦上位機或其他外部控制單元相 連接，完成數據的自動化記錄、統計、分析。為解決上述技術問題，本技術的技術方案是：一種直流電壓降、溫升及電阻測試系統，包括嵌入式微處理器，其中所述嵌入式微處理器與高精度恒流源連接，所述高精度恒流源分別與電流輸出單元，電壓輸出單元和溫度輸出接口連接，所述電流輸出單元，電壓輸出單元和所述溫度輸出接口均與測試治具連接，所述測試治具與被測樣品連接，所述被測樣品通過模擬檢測電路與所述嵌入式微處理器連接；所述嵌入式微處理器分別連接有電壓檢測單元和溫升檢測單元，以及電阻檢測單元；所述嵌入式微處理器還連接有大屏幕顯示單元、鍵盤。優選地，上述的一種直流電壓降、溫升及電阻測試系統，其中所述嵌入式微處理器還與一外控單元電連接，所述外控單元包括USB接口、RS232接口、RS485接口。優選地，上述的一種直流電壓降、溫升及電阻測試系統，其中所述嵌入式微處理器與所述電流輸出單元之間依次連接有恒流源，模擬信號電路，高穩定模壓電阻，反相器，高精度運算放大器和模擬多路復用器。優選地，上述的一種直流電壓降、溫升及電阻測試系統，其中所述嵌入式微處理器為32位嵌入式微處理器。優選地，上述的一種直流電壓降、溫升及電阻測試系統，其中所述大屏幕顯示單元為480×272的4.3寸TFT彩色液晶屏。較現有技術，本技術技術效果主要體現在：本技術中由嵌入式微處理器對高精度恒流源進行信號數據處理產生恒流電流，通過電流輸出單元或電壓輸出單元加到被測單元上，由模擬檢測電路進行信號采集完成被測單元上的電壓的取樣，送入嵌入式微處理器，由電壓降檢測單元或電阻檢測單元進行測試，測試結果由嵌入式微處理器讀入，計算出被測單元的電壓降值和電阻值，并通過大屏幕顯示單元顯示出來。另外，通過溫度輸出接口完成對被測樣品溫升數據的采集，并由溫升檢測單元對溫升進行檢測，此外，整機的所有操作可以通過USB接口或者RS232接口連接上位機電腦完成。附圖說明圖1：本技術結構原理示意框圖；圖2：本技術部分結構原理示意框圖。具體實施方式以下結合附圖，對本技術的具體實施方式作進一步詳述，以使本專利技術技術方案更易于理解和掌握。如圖1所示，一種直流電壓降、溫升及電阻測試系統，包括嵌入式微處理器，其中所述嵌入式微處理器與高精度恒流源連接，所述高精度恒流源分別與電流輸出單元，電壓輸出單元和溫度輸出接口連接，所述電流輸出單元，電壓輸出單元和所述溫度輸出接口均與測試治具連接，所述測試治具與被測樣品連接，所述被測樣品通過模擬檢測電路與所述嵌入式微處理器連接；所述嵌入式微處理器分別連接有電壓檢測單元和溫升檢測單元，以及電阻檢測單元；所述嵌入式微處理器還連接有大屏幕顯示單元、鍵盤。其中所述嵌入式微處理器還與一外控單元電連接，所述外控單元包括USB接口、RS232接口、RS485接口。另外，如圖2所示，其中所述嵌入式微處理器與所述電壓降檢測單元之間依次連接有恒流源，模擬信號電路，高穩定模壓電阻，反相器，高精度運算放大器和模擬多路復用器，所述嵌入式微處理器與所述電流輸出單元之間依次連接有恒流源，模擬信號電路，高穩定模壓電阻，反相器，高精度運算放大器和模擬多路復用器。此外嵌入式微處理器為32位嵌入式微處理器，大屏幕顯示單元為480×272的4.3寸TFT彩色液晶屏。該技術方案中由嵌入式微處理器對高精度恒流源進行信號數據處理產生恒流電流，通過電流輸出單元或電壓輸出單元加到被測單元上，由模擬檢測電路進行信號采集完成被測單元上的電壓的取樣，送入嵌入式微處理器，由電壓降 檢測單元或電阻檢測單元進行測試，測試結果由嵌入式微處理器讀入，計算出被測單元的電壓降值和電阻值，并通過大屏幕顯示單元顯示出來。另外，通過溫度輸出接口完成對被測樣品溫升數據的采集，并由溫升檢測單元對溫升進行檢測，此外，整機的所有操作可以通過USB接口或者RS232接口連接上位機電腦完成。當然，以上僅是本技術的具體應用范例，對本技術的保護范圍不構成任何限制。凡采用等同變換或者等效替換而形成的技術方案，均落在本技術權利保護范圍之內。本文檔來自技高網...

【技術保護點】
一種直流電壓降、溫升及電阻測試系統，包括嵌入式微處理器，其特征在于：所述嵌入式微處理器與高精度恒流源連接，所述高精度恒流源分別與電流輸出單元、電壓輸出單元和溫度輸出接口連接，所述電流輸出單元、電壓輸出單元和所述溫度輸出接口均與測試治具連接，所述測試治具與被測樣品連接，所述被測樣品通過模擬檢測電路與所述嵌入式微處理器連接；所述嵌入式微處理器分別連接有電壓檢測單元和溫升檢測單元，以及電阻檢測單元；所述嵌入式微處理器還連接有大屏幕顯示單元、鍵盤。

【技術特征摘要】
1.一種直流電壓降、溫升及電阻測試系統，包括嵌入式微處理器，其特征在于：所述嵌入式微處理器與高精度恒流源連接，所述高精度恒流源分別與電流輸出單元、電壓輸出單元和溫度輸出接口連接，所述電流輸出單元、電壓輸出單元和所述溫度輸出接口均與測試治具連接，所述測試治具與被測樣品連接，所述被測樣品通過模擬檢測電路與所述嵌入式微處理器連接；所述嵌入式微處理器分別連接有電壓檢測單元和溫升檢測單元，以及電阻檢測單元；所述嵌入式微處理器還連接有大屏幕顯示單元、鍵盤。2.根據權利要求1所述的一種直流電壓降、溫升及電阻測試系統，其特征在于：所述嵌入式微處...

【專利技術屬性】
技術研發人員：曾令長，
申請(專利權)人：曾令長，
類型：新型
國別省市：浙江;33