電容式觸摸按鍵的判鍵方法及判鍵系統技術方案

本發明專利技術公開了一種電容式觸摸按鍵的判鍵方法及判鍵系統，該判鍵系統包括：電容器，多個所述電容器陣列布置以形成所述觸摸按鍵；多路選通模塊，用于選通至少一個所述電容器；電容檢測模塊，用于檢測被所述多路選通模塊選通部分的電容器的電容值；運算模塊，對所述電容值進行邏輯運算；控制狀態機，對所述多路選通模塊、電容檢測模塊以及運算模塊進行流程控制。本發明專利技術提供的電容式觸摸按鍵的判鍵系統，先同時檢測兩個相鄰電容器的電容值，然后再分別單個檢測電容器的電容值，如此通過計算消除寄生電容值，從而避免寄生電容對檢測結果的影響。

【技術實現步驟摘要】

本專利技術涉及電容檢測技術，具體涉及一種電容式觸摸按鍵的判鍵方法及判鍵系統。
技術介紹
電容式觸摸按鍵廣泛的應用于家電、儀器儀表、工業控制、醫療電子等領域的人機交互界面。電容式觸摸按鍵系統陣列布置有一系列電容器，當使用者通過手指(或等效電容筆等)觸摸按鍵時，相應位置的電容器由于人手的靠近發生電容值變化，通過檢測電容器的電容值實現對手指的觸摸檢測。現有技術中對電容式觸摸按鍵的觸摸檢測方法為依次逐一對所有的電容器進行檢測，當某個電容器的電容值發生超過閾值的變化時，即判定為相應處被觸摸了。隨著終端設備功能的復雜化和設備的小型化，使得觸摸面板上的電容器排布的越來越緊密，電容器之間的間距日趨減小，此時，相鄰電容器間的寄生電容隨著電容器之間距離的縮小而變大，寄生電容的數值越大，其對被檢測電容器的干擾越大，較大的寄生電容使得觸摸檢測較易發生誤判，由此，現有技術無法消除寄生電容對觸摸檢測的影響。
技術實現思路
本專利技術的目的是提供一種電容式觸摸按鍵的判鍵方法及判鍵系統，以解決現有技術中寄生電容對檢測結果的影響問題。為了實現上述目的，本專利技術提供如下技術方案：一種電容式觸摸按鍵的判鍵方法，包括以下步驟：同時選通標的電容器和輔助電容器以檢測獲取第一電容值；選通所述輔助電容器以檢測獲取第二電容值；根據所述第一電容值和第二電容值計算獲取所述標的電容器的目標電容值；根據所述目標電容值進行判鍵；上述步驟中，所述標的電容器和所述輔助電容器相鄰設置，所述輔助電容器為一個或兩個以上。上述的判鍵方法，所述輔助電容器有一個或多個，所述同時選通標的電容器以及輔助電容器以檢測獲取第一電容值的步驟包括：依次同時選通標的電容器和其中一個輔助電容器以分別檢測獲取一個或兩個以上第一電容值；所述選通所述輔助電容器以檢測獲取第二電容值的步驟包括：依次選通一個或多個所述輔助電容器以分別檢測獲取一個或兩個以上第二電容值。一種電容式觸摸按鍵的判鍵系統，包括：電容器，多個所述電容器陣列布置以形成所述觸摸按鍵；多路選通模塊，用于選通至少一個所述電容器；電容檢測模塊，用于檢測被所述多路選通模塊選通部分的電容器的電容值；運算模塊，對所述電容值進行邏輯運算；控制狀態機，對所述多路選通模塊、電容檢測模塊以及運算模塊進行流程控制。上述的判鍵系統，所述多路選通模塊為選通電路。一種電容式觸摸按鍵的判鍵方法，包括以下步驟：選通輔助電容器以檢測獲取第二電容值；同時選通標的電容器和所述輔助電容器以檢測獲取第一電容值；根據所述第一電容值和第二電容值計算獲取所述標的電容器的目標電容值；根據所述目標電容值進行判鍵；上述步驟中，所述標的電容器和所述輔助電容器相鄰設置，所述輔助電容器為一個或兩個以上。在上述技術方案中，本專利技術提供的電容式觸摸按鍵的判鍵方法，先同時檢測兩個相鄰電容器的電容值，然后再分別單個檢測電容器的電容值，如此通過計算消除寄生電容值，從而避免寄生電容對檢測結果的影響。由于上述的判鍵方法具有上述技術效果，實現該判鍵方法的判鍵系統也應具有相應的技術效果。附圖說明為了更清楚地說明本申請實施例或現有技術中的技術方案，下面將對實施例中所需要使用的附圖作簡單地介紹，顯而易見地，下面描述中的附圖僅僅是本專利技術中記載的一些實施例，對于本領域普通技術人員來講，還可以根據這些附圖獲得其他的附圖。圖1為本專利技術實施例提供的判鍵方法的流程框圖；圖2為本專利技術實施例提供的判鍵方法的計算流程框圖；圖3為本專利技術實施例提供的判鍵系統的等效電容分布示意框圖；圖4為本專利技術實施例提供的判鍵系統的結構框圖。附圖標記說明：1、電容器；2、多路選通模塊；3、電容檢測模塊；4、運算模塊；5、控制狀態機。具體實施方式為了使本領域的技術人員更好地理解本專利技術的技術方案，下面將結合附圖對本專利技術作進一步的詳細介紹。如圖1-3所示，本專利技術實施例提供的一種電容式觸摸按鍵的判鍵方法，其特征在于，包括以下步驟：101、同時選通標的電容器和輔助電容器以檢測獲取第一電容值；具體的，電容式觸摸按鍵由眾多的電容器陣列設置以組成，本實施例中的標的電容器和輔助電容器均為這些電容器，“標的”和“輔助”僅是形容電容器在當前檢測流程中的位置，而非對其結構或者位置等其它因素的限定，如圖3所示，對于相鄰的兩個電容器Kn和Kn-1，當檢測電容器Kn的電容值時，Kn即為標的電容器，Kn-1為輔助電容器；而當檢測電容器Kn-1的電容值時，Kn-1即為標的電容器，Kn為輔助電容器。標的電容器和輔助電容器相鄰設置，由此兩者之間存在寄生電容，當電容器成線型排列時，如果標的電容器處于非邊緣部位，其兩側各相鄰一個輔助電容器，由此其具有兩個輔助電容器，而當標的電容器處于觸摸按鍵的邊緣部位時，其僅有一側相鄰輔助電容器，由此其僅有一個輔助電容器。如果電容器是矩陣形排布時，那標的電容器周圍一圈相鄰的電容器都是輔助電容器。因此，輔助電容器為一個或多個。現有技術中，對電容器的電容值進行檢測時，每次對單個電容器進行檢測，如圖3所示的三個電容器Kn-1、Kn、Kn+1，現有技術中分三次分別選通三個電容器以檢測獲取電容值。而在本實施例中，首先同時選通標的電容器和一個輔助電容器并檢測獲取第一電容值。很顯然的，經過上述檢測，第一電容值為同時選通的所有電容器的電容值，第一電容值可能為一個，也可能為多個。102、選通輔助電容器以檢測獲取第二電容值；具體的，分別選通各輔助電容器以檢測獲取各輔助電容器的電容值。103、根據第一電容值和第二電容值計算獲取標的電容器的目標電容值；具體的，當選通的電容器不同時，本步驟的計算過程不同，最終結果為求出標的電容器的電容值：目標電容值，由于第一步檢測中同時選通多個相鄰的電容器，此時，根據電容的特性，檢測所得相鄰電容器間的寄生電容值為零，如此通過該檢測數值計算出來的目標電容值自然不包括寄生電容值，或者說，寄生電容對目標電容值的影響可忽略不計。本實施例中，針對多種不同檢測狀況下的第一電容值，后文給出其中典型情況下的計算過程，其余狀況的計算步驟可依次類推，計算過程均為基礎的電學知識，本實施例不對所有狀況一一進行計算。104、根據目標電容值進行判鍵；當最終計算所得的目標電容值超過預定的閾值即判定為有觸摸，反之則無觸摸，判定規則可參考現有技術，本文檔來自技高網...

【技術保護點】
一種電容式觸摸按鍵的判鍵方法，其特征在于，包括以下步驟：同時選通標的電容器和輔助電容器以檢測獲取第一電容值；選通所述輔助電容器以檢測獲取第二電容值；根據所述第一電容值和第二電容值計算獲取所述標的電容器的目標電容值；根據所述目標電容值進行判鍵；上述步驟中，所述標的電容器和所述輔助電容器相鄰設置，所述輔助電容器為一個或兩個以上。

【技術特征摘要】
1.一種電容式觸摸按鍵的判鍵方法，其特征在于，包括以下步驟：
同時選通標的電容器和輔助電容器以檢測獲取第一電容值；
選通所述輔助電容器以檢測獲取第二電容值；
根據所述第一電容值和第二電容值計算獲取所述標的電容器的目標電
容值；
根據所述目標電容值進行判鍵；
上述步驟中，所述標的電容器和所述輔助電容器相鄰設置，所述輔助
電容器為一個或兩個以上。
2.根據權利要求1所述的判鍵方法，其特征在于，所述輔助電容器有
一個或兩個以上，所述同時選通標的電容器以及輔助電容器以檢測獲取第
一電容值的步驟包括：依次同時選通標的電容器和其中一個輔助電容器以
分別檢測獲取一個或兩個以上第一電容值；
所述選通所述輔助電容器以檢測獲取第二電容值的步驟包括：依次選
通一個或多個所述輔助電容器以分別檢測獲取一個或多個第二電容值。
3.一種電容式觸摸按鍵的判鍵系統，其...

【專利技術屬性】
技術研發人員：史衛東，
申請(專利權)人：上海愛矽半導體科技有限公司，
類型：發明
國別省市：上海;31