本實用新型專利技術的裝置是降低保持于系統(200)中的水性液體(201)的離子濃度降低裝置。該裝置包括至少一個離子吸附部(100)。離子吸附部(100)包括液體路徑、以及配置在液體路徑內的多個電極對。液體路徑包括流入口(110a)與流出口(110b)，該流入口(110a)和流出口(110b)與系統(200)連接，以便形成包括液體路徑與系統(200)的循環路。電極對包括第一電極與第二電極。第一電極包括含有活性炭的第一導電性物質。第二電極包括含有活性炭的第二導電性物質。第一電極以及第二電極分別面對供水性液體(201)流通的空隙。（*該技術在2024年保護過期，可自由使用*）
【技術實現步驟摘要】
【國外來華專利技術】
本技術涉及降低保持于系統的水性液體的離子濃度的裝置、以及具備該裝置的裝置。
技術介紹
冷卻塔的水等用于冷卻的水占工業用水的近八成。該冷卻水通過帶走蒸發熱而被冷卻。因此，需要補給蒸發的水。此時，補給水中所包含的各種離子也添加到冷卻水中。另一方面，在蒸發的水中幾乎不含有離子。因此，隨著冷卻水蒸發，冷卻水中的離子濃度增高而產生水垢。另外，若冷卻水中的氯離子濃度增高，則系統容易腐蝕。因此，在以往的冷卻水系統中，定期地排出冷卻水并更換補給水。在該情況下，將產生大量的廢液。另外，在該情況下，需要大量的補給水。大量的廢液以及補給水將增大系統的維持成本。為了減少廢液量，還向冷卻水添加抑制水垢的析出的藥劑(例如日本特開2011-224455號公報)。但是，即便使用藥劑，也未能充分地降低廢液以及補給水的量。另外，在使用藥劑的情況下，會產生環境污染，需要進行廢液的處理。另外，為了抑制結垢，還提出了使用通液型電容器的方法(例如日本特開2012-232233號公報)。日本特開2012-232233號公報提出了用于縮窄通液型電容器的電極間距離的結構。但是，這樣的通液型電容器如后述那樣存在問題。在先技術文獻專利文獻專利文獻1:日本特開2011-224455號公報專利文獻2:日本特開2012-232233號公報雖然上述課題在水資源少的國家是非常重要的問題，但至今仍未提出好方法。
技術實現思路
技術要解決的課題在這樣的狀況下，本技術的目的之一在于提供用于降低保持于系統中的水性液體的離子濃度的新的裝置以及方法。用于解決課題的方法為了實現上述目的，本技術提供一種降低保持于系統中的水性液體的離子濃度的裝置。該離子濃度降低裝置包括至少一個離子吸附部，所述離子吸附部包括液體路徑、以及配置在所述液體路徑內的多個電極對，所述液體路徑包括流入口與流出口，所述流入口和流出口與所述系統連接，以便形成包括所述液體路徑與所述系統的循環路，所述電極對包括第一電極與第二電極，所述第一電極包括含有活性炭的第一導電性物質，所述第二電極包括含有活性炭的第二導電性物質，所述第一電極以及第二電極分別面對供所述水性液體流通的空隙。另外，本技術還提供其他裝置。該裝置具備:保持水性液體的系統、以及降低所述水性液體的離子濃度的本技術的離子濃度降低裝置。另外，本技術提供一種方法，使用本技術的離子濃度降低裝置來降低保持于系統中的水性液體的離子濃度。該方法包括以下工序:(i)在所述水性液體在所述離子吸附部與所述系統之間循環的狀態下，以所述第一電極成為陽極的方式向所述第一電極與所述第二電極之間施加電壓，從而使所述水性液體中的離子吸附于所述第一導電性物質以及第二導電性物質；以及(ii)在切斷所述水性液體從所述離子吸附部向所述系統的流通的狀態下，將吸附于所述第一導電性物質以及第二導電性物質的所述離子向所述離子吸附部內的液體放出，并將放出所述離子后的所述液體向所述循環路的外部排出的工序。技術效果根據本技術，能夠容易地降低保持于系統中的水性液體的離子濃度。【附圖說明】圖1是示意性地示出活性炭電極的電位、水的電解的反應電位、離子的吸附的關系的圖。圖2是示意性地示出陽極的容量與陰極的容量相同的情況下的離子的吸附、放出的狀態的圖。圖3是示出離子吸附電極的示意性的等效電路的圖。圖4是示意性地示出使陽極的容量比陰極的容量大時的離子吸附的狀態的圖。圖5是示出電壓施加時間與離子吸附率的關系的示意圖。圖6是示意性地示出本技術的裝置中所包含的離子吸附部的一例的圖。圖7是示意性地示出離子吸附部中所包含的電極組件的一例的剖視圖。圖8是示意性地示出布線的配置的一例的圖。圖9是示意性地示出在本技術中所使用的隔板的一例的主視圖。圖10是圖9所示的隔板的剖視圖。圖11是圖9所示的隔板的另一剖視圖。圖12是示意性地示出本技術的裝置的一例的圖。圖13是示意性地示出本技術的裝置的另一例的圖。圖14是示意性地示出本技術的裝置的又一例的局部的圖。圖15是示意性地示出本技術的裝置的又一例的圖。圖16A是示意性地示出本技術的實施方式的一例的一種狀態的圖。圖16B是示意性地示出圖16A所示的一例的其他狀態的圖。圖17是示意性地示出本技術的電極對的一例的圖。圖18是不意性地不出本技術的電極對的另一例的圖。圖19是示意性地示出在本技術中所使用的電極對的另一例的剖視圖。圖20是示意性地示出在本技術中所使用的電極對的另一例的剖視圖。圖21是示意性地示出能夠在本技術中使用的水質調節裝置的一例的圖。圖22是示意性地示出能夠在本技術中使用的游離氯濃度調節裝置的一例的圖。圖23是示出對在離子吸附部中流動的水性液體的流速與水性液體的導電率的變化的關系進行研究的結果的一例的圖表。圖24是示出對在離子吸附部中流動的水性液體的流速與水性液體的導電率的變化的關系進行研究的結果的另一例的圖表。圖25是示出處理100L的水性液體的實施例的結果的一部分的圖表。圖26是示出處理10L的水性液體的實施例的結果的一部分的圖表。圖27是示出本技術的系統的離子濃度的變化的示意圖。圖28是示出實施例2的結果的圖。圖29是示出實施例3的結果的圖。圖30是示意性地示出以往的基于分批法的離子去除的一例的圖。【具體實施方式】以下，對本技術的實施方式進行說明。在以下的說明中，舉例對本技術的實施方式進行說明，但本技術并不限定于以下說明的實施方式。在以下的說明中有時會例示特定的數值、特定的材料，但只要能夠得到本技術的效果，也可以應用其他數值、其他材料。(離子濃度降低裝置)以下對用于降低保持于系統中的水性液體的離子濃度的本技術的裝置進行說明。以下，有時將該裝置記載為“裝置(A)”。另外，以下，有時將保持有水性液體的系統記載為“系統(S)”。在其他觀點中，本技術的裝置(A)還能夠用作去除存在于系統(S)中的水性液體中的離子的裝置、將存在于系統(S)中的水性液體中的離子濃縮并從系統(S)排出的裝置、防止系統(S)的劣化的裝置、使排水側的水性液體循環、濃縮從而提高離子濃度的裝置、或者降低水的硬度的裝置。本技術的裝置(A)包括至少一個離子吸附部。一個離子吸附部包括液體路徑、以及配置在液體路徑內的多個電極對。以下，有時將該液體路徑記載為“液體路徑(P)”。液體路徑(P)包括與系統(S)連接的流入口和流出口，以形成包括液體路徑(P)與系統(S)的循環路。在一個觀點中，通過使液體路徑(P)的兩端與系統(S)連接而形成包括液體路徑(P)與系統(S)的循環路。一個電極對包括第一電極與第二電極。作為代表，第一電極以及第二電極分別是平板狀的電極。第一電極包括含有活性炭的第一導電性物質。第二電極包括含有活性炭的第二導電性物質。作為代表，第一導電性物質以及第二導電性物質分別具有平板狀的形狀。第一電極以及第二電極分別面對供水性液體流動的空隙。在其他的觀點中，第一導電性物質以及第二導電性物質分別面對供水性液體流動的空隙。多個電極對既可以并聯連接，也可以串聯連接。在將多個電極對并聯連接的情況下，多個電極對中所包含的第一電極彼此連接，多個電極對中所包含的第二電極彼此連接。電極對還可以本文檔來自技高網...
【技術保護點】
一種離子濃度降低裝置，其降低保持于系統中的水性液體的離子濃度，其特征在于，所述離子濃度降低裝置包括至少一個離子吸附部，所述離子吸附部包括液體路徑、以及配置在所述液體路徑內的多個電極對，所述液體路徑包括流入口與流出口，所述流入口和流出口與所述系統連接，以便形成包括所述液體路徑與所述系統的循環路，所述電極對包括第一電極與第二電極，所述第一電極包括含有活性炭的第一導電性物質，所述第二電極包括含有活性炭的第二導電性物質，所述第一電極以及第二電極分別面對供所述水性液體流通的空隙。
【技術特征摘要】
【國外來華專利技術】...
【專利技術屬性】
技術研發人員：棚橋正治，登祥子，中野貴德，棚橋正和，
申請(專利權)人：棚氏處理有限公司，
類型：新型
國別省市：日本;JP
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