一種PCB翹曲檢測裝置制造方法及圖紙

本實用新型專利技術公開了一種PCB翹曲檢測裝置。其中，所述檢測裝置包括用于對PCB進行加熱的密封加熱倉、載物臺及陰影波紋光學系統(tǒng)；所述陰影波紋光學系統(tǒng)包括：設置在載物臺上方的朗奇光柵；提供平行白光的光源以及圖像獲取裝置；所述載物臺包括用于放置PCB的載物支架、用于驅動載物支架移動的步進電機；所述載物支架上還設置用于固定朗奇光柵的固定支架；所述載物臺及朗奇光柵設置在所述密封加熱倉的發(fā)熱機構上。通過設置一體化的加熱密封倉及光學系統(tǒng)，利用陰影波紋光學技術實現對PCB基板的非接觸式翹曲檢測。

【技術實現步驟摘要】

本技術涉及PCB制作
，尤其涉及一種PCB翹曲檢測裝置。
技術介紹
在PCB制造領域中，由于表面貼裝行業(yè)的無鉛回流焊化，需要更高的加工溫度和較弱的連接性。PCB基板的厚度越來越小，降低了元器件的剛性。因此，對于制造商而言，PCB的翹曲對封裝器件時的合格率影響非常大。若PCB受熱后翹曲量過大，必然會導致批量裝貼元器件時的不良。傳統(tǒng)的PCB基本翹曲/彎曲的檢測時采用純手工的測量方法，將基板置于水平不銹鋼臺面并人工采用規(guī)塞的方法進行檢查。但是這一方法僅能測定邊緣部分的翹曲量，對于操作人員的技能要求也較高。因此，無法滿足現有的翹曲檢測要求。現有還有一些利用光學技術的非接觸式翹曲檢測方法，例如投影波紋或者陰影波紋等方法，但投影波紋的方法精度有待提高，而陰影波紋則存在檢測基板面積受限等問題。因此，現有技術還有待發(fā)展。
技術實現思路
鑒于上述現有技術的不足之處，本技術的目的在于提供一種PCB翹曲檢測裝置，旨在解決現有技術中PCB基板翹曲檢測效果不佳的問題。為了達到上述目的，本技術采取了以下技術方案：一種PCB翹曲檢測裝置，其中，所述檢測裝置包括用于對PCB進行加熱的密封加熱倉、載物臺及陰影波紋光學系統(tǒng)；所述陰影波紋光學系統(tǒng)包括：設置在載物臺上方的朗奇光柵；提供平行白光的光源以及圖像獲取裝置；所述載物臺包括用于放置PCB的載物支架、用于驅動載物支架移動的步進電機；所述載物支架上還設置用于固定朗奇光柵的固定支架；所述載物臺及朗奇光柵設置在所述密封加熱倉的發(fā)熱機構上。所述的PCB翹曲檢測裝置，其中，所述發(fā)熱機構具體包括電加熱絲及設置在電加熱絲上的多層溫度擴散片。所述的PCB翹曲檢測裝置，其中，所述溫度擴散片設置為3層，依次設置為云母片、銅板、金屬外殼。所述的PCB翹曲檢測裝置，其中，所述光源具體為LED白光燈及設置在所述LED白光燈前的透鏡組。所述的PCB翹曲檢測裝置，其中，所述檢測裝置還包括一溫度控制模塊，用于控制所述電熱絲的發(fā)熱溫度。有益效果：本技術提供的一種PCB翹曲檢測裝置，通過設置一體化的加熱密封倉及光學系統(tǒng)，利用陰影波紋光學技術實現對PCB基板的非接觸式翹曲檢測。所述裝置還設置有隨載物臺一體移動的朗奇光柵，能夠通過調整朗奇光柵及PCB基板的位置，能夠實現方便的操控，更便于實際操作檢測操作中的使用，具有良好的應用前景。附圖說明圖1為本技術具體實施的一種PCB翹曲檢測裝置的結構示意圖。圖2為本技術具體實施的一種PCB翹曲檢測裝置的發(fā)熱機構的結構示意圖。具體實施方式本技術提供一種PCB翹曲檢測裝置。為使本技術的目的、技術方案及效果更加清楚、明確，以下參照附圖并舉實施例對本專利技術進一步詳細說明。應當理解，此處所描述的具體實施例僅用以解釋本技術，并不用于限定本技術。如圖1所示，為本技術具體實施例的一種PCB翹曲檢測裝置。其中，所述檢測裝置包括：用于對PCB進行加熱的密封加熱倉100、載物臺200及陰影波紋光學系統(tǒng)300。所述陰影波紋光學系統(tǒng)包括：設置在載物臺上方的朗奇光柵310；提供平行白光的光源320以及圖像獲取裝置330。其中，在一個典型的陰影波紋(shadowmoire)系統(tǒng)中，所述光源提供平行白光，以相對朗奇光柵310約45°入射，圖像獲取裝置330垂直于朗奇光柵310設置，獲取形成的莫爾紋圖。所述圖像獲取裝置330具體可以為任何合適的圖像獲取裝置，例如CCD、CMOS等等。依據所述莫爾紋圖的變化，能夠計算出PCB基板在垂直方向上的變化量，通過數字建模等方法即可實現對PCB基板10的翹曲程度的檢測。所述載物臺200包括用于放置PCB基板10的載物支架210、用于驅動載物支架移動的步進電機。所述載物支架上還設置用于固定朗奇光柵的固定支架230。如圖1所示，所述載物支架可以采取如圖1所示的結構，為具有一定距離的兩個頂針，分別由兩個步進電機所驅動。所述固定支架則設置在載物支架上，用于支撐所述朗奇光柵310。通過上述結構設置，能夠在實現對于待測PCB基板及朗奇光柵310的位置的同步調整。而上述位置調整，可以實現不同位置上的數據采集，將多個位置上的數據采集整合后能夠得到更為準確的結果，并且還可以拓展能夠檢測的PCB基板的面積。所述載物臺200設置在所述密封加熱倉的發(fā)熱機構110上。通過發(fā)熱機構來模擬PCB基板10受熱時產生的翹曲。較佳的是，如圖2所示，所述發(fā)熱機構具體包括電加熱絲111及設置在電加熱絲上的多層溫度擴散片。具體的，所述溫度擴散片設置為3層，依次設置為云母片112、銅板113、金屬外殼114。上述導熱結構設置，能夠盡可能的避免加熱時的溫度場多方向擴散所帶來的影響。能夠使電發(fā)熱絲產生的熱量沿上述溫度擴散片的層疊方向擴撒，實現對PCB基板的均勻加熱，實現更好的模擬效果。具體的，所述光源具體為LED白光燈及設置在所述LED白光燈前的透鏡組。更佳的是，所述檢測裝置還包括一溫度控制模塊，用于控制所述電熱絲的發(fā)熱溫度。在實際使用時，通過調整溫度變化并實時監(jiān)測各個溫度點上的翹曲情況，即可獲得PCB基板隨溫度變化的形變翹曲程度變化曲線，能夠為PCB板的制造提供更好的指導。可以理解的是，對本領域普通技術人員來說，可以根據本技術的技術方案及本技術構思加以等同替換或改變，而所有這些改變或替換都應屬于本技術所附的權利要求的保護范圍。本文檔來自技高網...

【技術保護點】
一種PCB翹曲檢測裝置，其特征在于，所述檢測裝置包括用于對PCB進行加熱的密封加熱倉、載物臺及陰影波紋光學系統(tǒng)；所述陰影波紋光學系統(tǒng)包括：設置在載物臺上方的朗奇光柵；提供平行白光的光源以及圖像獲取裝置；所述載物臺包括用于放置PCB的載物支架、用于驅動載物支架移動的步進電機；所述載物支架上還設置用于固定朗奇光柵的固定支架；所述載物臺及朗奇光柵設置在所述密封加熱倉的發(fā)熱機構上。

【技術特征摘要】
1.一種PCB翹曲檢測裝置，其特征在于，所述檢測裝置包括用于對PCB進行加熱的密封加熱倉、載物臺及陰影波紋光學系統(tǒng)；
所述陰影波紋光學系統(tǒng)包括：設置在載物臺上方的朗奇光柵；提供平行白光的光源以及圖像獲取裝置；
所述載物臺包括用于放置PCB的載物支架、用于驅動載物支架移動的步進電機；所述載物支架上還設置用于固定朗奇光柵的固定支架；
所述載物臺及朗奇光柵設置在所述密封加熱倉的發(fā)熱機構上。
2.根據權利要求1所述的PCB翹曲檢測裝置，其特征在...

【專利技術屬性】
技術研發(fā)人員：盧磊，
申請(專利權)人：磊鑫達電子深圳有限公司，
類型：新型
國別省市：廣東;44