【技術實現步驟摘要】
本技術屬于檢測儀器
，尤其涉及一種傅立葉變換紅外光譜儀。
技術介紹
傅立葉變換紅外光譜是利用邁克爾遜干涉儀將檢測光(紅外光)分成兩束，在動鏡和定鏡上反射回分束器上，這兩束光是寬帶的相干光，會發(fā)生干涉。相干的紅外光照射到樣品上，經檢測器采集，獲得含有樣品信息的紅外干涉圖數據，經過計算機對數據進行傅立葉變換后，得到樣品的紅外光譜圖。傅立葉變換紅外光譜具有掃描速率快，分辨率高，穩(wěn)定的可重復性等特點，目前被廣泛使用。目前實際使用的光譜儀，控制電路板緊貼殼體設置，使電路板只能一面散熱，散熱效果不佳。
技術實現思路
本技術提供一種傅立葉變換紅外光譜儀，以解決上述
技術介紹
中提出的電路板散熱不佳的問題。本技術所解決的技術問題采用以下技術方案來實現：一種傅立葉變換紅外光譜儀，其特征在于：包括底殼、上蓋，所述底殼的上表面設有定位凸起，所述上蓋的下底面設有與定位凸起相配合的定位凹槽，所述底殼內設有隔斷，所述隔斷水平設置，所述隔斷下方設有樣品倉，所述隔斷上方設有檢測倉，所述樣品倉底部設有樣品支座，所述樣品支座上設有樣品支架，所述檢測倉內設有下支撐桿，所述下支撐桿水平設置，所述下支撐桿上表面設有第一下支撐柱、第二下支撐柱，所述第一下支撐柱上表面設有第一下限位柱，所述第二下支撐柱上表面設有第二下限位柱，所述上蓋下底面設有上支撐桿，所述上支撐桿下底面設有第一上支撐柱、第二上支撐柱，所述第一上支撐柱下底面設有第一上限位柱，所述...
【技術保護點】
一種傅立葉變換紅外光譜儀，其特征在于：包括底殼、上蓋，所述底殼的上表面設有定位凸起，所述上蓋的下底面設有與定位凸起相配合的定位凹槽，所述底殼內設有隔斷，所述隔斷水平設置，所述隔斷下方設有樣品倉，所述隔斷上方設有檢測倉，所述樣品倉底部設有樣品支座，所述樣品支座上設有樣品支架，所述檢測倉內設有下支撐桿，所述下支撐桿水平設置，所述下支撐桿上表面設有第一下支撐柱、第二下支撐柱，所述第一下支撐柱上表面設有第一下限位柱，所述第二下支撐柱上表面設有第二下限位柱，所述上蓋下底面設有上支撐桿，所述上支撐桿下底面設有第一上支撐柱、第二上支撐柱，所述第一上支撐柱下底面設有第一上限位柱，所述第二上支撐柱下底面設有第二上限位柱，所述上支撐桿、下支撐桿之間設有集成電路板，所述集成電路板設有第一限位槽、第二限位槽，所述第一上限位柱、第一下限位柱位于第一限位槽內，所述第二上限位柱、第二下限位柱位于第二限位槽內。
【技術特征摘要】
1.一種傅立葉變換紅外光譜儀，其特征在于：包括底殼、上蓋，所述底殼的上表面設有定位
凸起，所述上蓋的下底面設有與定位凸起相配合的定位凹槽，所述底殼內設有隔斷，所述隔
斷水平設置，所述隔斷下方設有樣品倉，所述隔斷上方設有檢測倉，所述樣品倉底部設有樣
品支座，所述樣品支座上設有樣品支架，所述檢測倉內設有下支撐桿，所述下支撐桿水平設
置，所述下支撐桿上表面設有第一下支撐柱、第二下支撐柱，所述第一下支撐柱上表面設有
第一下限位柱，所述第二下支撐柱上表面設有第二下限位柱，所述上蓋下底面設有上支撐桿，
所述上支撐桿下底面設有...
【專利技術屬性】
技術研發(fā)人員：萬成富，趙朋輝，白志恒，
申請(專利權)人：天津中世沃克科技發(fā)展有限公司，
類型：新型
國別省市：天津;12
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