【技術實現步驟摘要】
本技術屬于光學儀器領域，尤其是涉及一種卷積定理光學實驗儀。
技術介紹
卷積定理也稱卷積特性，是傅里葉變換的基本性質之一，它廣泛應用于通信系統和信號處理研究領域。它由兩部分組成：一是時域卷積定理；二是頻域卷積定理。兩個函數乘積的傅立葉變換，等于它們各自的傅立葉變換的卷積。反之，兩個函數卷積的傅立葉變換，等于它們各自傅立葉變換的乘積?，F在人們通常通過光學方法來研究卷積定理。
技術實現思路
本技術的目的是提供一種卷積定理光學實驗儀，便于人們研究卷積定理。本技術的技術方案是：一種卷積定理光學實驗儀，包括底座，所述底座中部設置有導軌，所述導軌橫貫底座的兩端，導軌上方從左到右依次設置有半導體激光器，第一正交光柵，第二正交光柵和光屏，所述半導體激光器，第一正交光柵，第二正交光柵和光屏均通過支架體與導軌連接，所述支架體包括滑座，固定在滑座上的套筒以及套設在套筒內的伸縮桿，所述滑座的兩端卡合在導軌的兩側，滑座可沿著導軌滑動。進一步，所述滑座上設置有固定螺栓。進一步，所述第一正交光柵和第二正交光柵的空間頻率不同。進一步，所述底座下方固定有四個支撐腿。本技術具有的優點和積極效果是：由于采用上述技術方案，利用該卷積定理光學實驗儀可研究卷積定理，進一步加深對卷積定理的理解，該儀器操作簡單，使用方便。附圖說明圖1是本技術的結構示意圖。圖中：1、底座2、導軌3、半導體激光器4、第一正交光柵5、第二正交光柵6...
【技術保護點】
一種卷積定理光學實驗儀，其特征在于：包括底座，所述底座中部設置有導軌，所述導軌橫貫底座的兩端，導軌上方從左到右依次設置有半導體激光器，第一正交光柵，第二正交光柵和光屏，所述半導體激光器，第一正交光柵，第二正交光柵和光屏均通過支架體與導軌連接，所述支架體包括滑座，固定在滑座上的套筒以及套設在套筒內的伸縮桿，所述滑座的兩端卡合在導軌的兩側。
【技術特征摘要】
1.一種卷積定理光學實驗儀，其特征在于：包括底座，所述底座中部設置有導軌，
所述導軌橫貫底座的兩端，導軌上方從左到右依次設置有半導體激光器，第一正交光柵，
第二正交光柵和光屏，所述半導體激光器，第一正交光柵，第二正交光柵和光屏均通過
支架體與導軌連接，所述支架體包括滑座，固定在滑座上的套筒以及套設在套筒內的伸
縮桿，所述滑座...
【專利技術屬性】
技術研發人員：李讓峰，
申請(專利權)人：天津良益科技有限公司，
類型：新型
國別省市：天津;12
還沒有人留言評論。發表了對其他瀏覽者有用的留言會獲得科技券。