【技術實現步驟摘要】
201610080643
【技術保護點】
一種基于壓縮感知的雙波長溫度場成像設備，其特征在于，包括：光輻射調制裝置，配置為接收待測對象的光輻射，且加載預設的多個掩膜，將接收到的光輻射調制為多束第一光輻射和多束第二光輻射，并使多束所述第一光輻射沿第一路徑射出、多束所述第二光輻射沿不同于第一路徑的第二路徑射出，所述多個掩膜根據符合壓縮感知理論的RIP條件的測量矩陣Φ變換生成；布置在所述第一路徑上的第一濾光元件，配置為接收多束所述第一光輻射，并將接收到的第一光輻射過濾為波長為第一波長λ1的多束光；布置在所述第二路徑上的第二濾光元件，配置為接收多束所述第二光輻射，并將接收到的第二光輻射過濾為波長為第二波長λ2的多束光；布置在第一路徑上的第一探測裝置，配置為接收波長為第一波長λ1的多束光并將其轉換為相應的多個第一光電信號參量；布置在第二路徑上的第二探測裝置，配置為接收波長為第二波長λ2的多束光并將其轉換為相應的多個第二光電信號參量；溫度確定裝置，配置為接收來自所述第一探測裝置和第二探測裝置的多個所述第一和第二光電信號參量，并根據多個所述第一和第二光電信號參量與溫度的預定關系確定出所述待測對象每一個像素點的溫度值；圖像生成裝置，配置為根據...
【技術特征摘要】
【專利技術屬性】
技術研發人員：俞文凱，趙清，葛墨林，翟光杰，姚旭日，劉雪峰，
申請(專利權)人：北京理工大學，
類型：發明
國別省市：北京;11
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