過熱檢測電路及半導(dǎo)體裝置制造方法及圖紙

本發(fā)明專利技術(shù)題為過熱檢測電路及半導(dǎo)體裝置。本發(fā)明專利技術(shù)提供不會因瞬間的電源電壓變動等的干擾噪聲而進(jìn)行意外的誤輸出而在過熱狀態(tài)下能夠迅速輸出過熱狀態(tài)檢測信號的過熱檢測電路。過熱檢測電路采用這樣的結(jié)構(gòu)，即，具備：感溫部；比較部；以及在既定延遲時間后將過熱狀態(tài)檢測信號向輸出部輸出的干擾噪聲除去部，延遲時間與溫度成比例地縮短。

【技術(shù)實(shí)現(xiàn)步驟摘要】
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【技術(shù)保護(hù)點(diǎn)】
一種過熱檢測電路，具備感溫部和比較部，其特征在于，所述過熱檢測電路具備將過熱狀態(tài)檢測信號在既定延遲時間后向輸出部輸出的干擾噪聲除去部，所述延遲時間與溫度成比例地縮短。

【技術(shù)特征摘要】
...

【專利技術(shù)屬性】
技術(shù)研發(fā)人員：杉浦正一，澤井英幸，
申請(專利權(quán))人：精工半導(dǎo)體有限公司，
類型：發(fā)明
國別省市：日本;JP