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    探針及CNC加工探測(cè)方法技術(shù)

    技術(shù)編號(hào):13133094 閱讀:178 留言:0更新日期:2016-04-06 19:12
    本發(fā)明專利技術(shù)涉及一種探針,包括:主體,為圓柱狀設(shè)置,主體的一端設(shè)有用于和檢測(cè)機(jī)臺(tái)連接的連接部;探頭,為鼓形設(shè)置,包括上測(cè)試部、過(guò)渡部和下測(cè)試部;上測(cè)試部為圓臺(tái)狀設(shè)置,過(guò)渡部為圓柱狀設(shè)置,下測(cè)試部為倒圓臺(tái)狀設(shè)置。同時(shí),提供一種CNC加工探測(cè)方法。本發(fā)明專利技術(shù)的有益效果為:圓臺(tái)狀設(shè)置的上測(cè)試部的母線處斜面可以與弧形輪廓的下倒角的傾斜方向匹配,使得探針可以準(zhǔn)確測(cè)量出下倒角的輪廓值。倒圓臺(tái)狀設(shè)置的下測(cè)試部的母線處斜面可以與弧形輪廓的上倒角形狀的傾斜方向匹配,使得探針可以準(zhǔn)確測(cè)量出上倒角的輪廓值。從而,提高探針的測(cè)量精度。

    【技術(shù)實(shí)現(xiàn)步驟摘要】

    本專利技術(shù)涉及CNC加工探測(cè)技術(shù),特別是涉及一種探針及CNC加工探測(cè)方法
    技術(shù)介紹
    探針,是一種用于CNC加工探測(cè)的工具。探針安裝在檢測(cè)機(jī)臺(tái)使用,在檢測(cè)機(jī)臺(tái)的帶動(dòng)下觸碰工件的輪廓,根據(jù)探針?lè)答伣o檢測(cè)機(jī)臺(tái)的位移信號(hào),檢測(cè)機(jī)臺(tái)計(jì)算出工件的輪廓參數(shù),并與預(yù)先記錄于檢測(cè)機(jī)臺(tái)內(nèi)的理論參考值進(jìn)行比對(duì),得出實(shí)際值和理論值的偏差值。根據(jù)該偏差值可以區(qū)分合格品和不良品,并且該偏差值能夠用于對(duì)工件的輪廓進(jìn)行修正,以挽救不良品。傳統(tǒng)的探針,其探頭一般為圓柱形或者球形,對(duì)于輪廓形狀為異形結(jié)構(gòu),如存在上倒角和下倒角的弧形輪廓的工件,因?yàn)樯系菇呛拖碌菇堑膬A斜面相反,導(dǎo)致圓柱形的探頭和球形的探頭都難以找到同時(shí)匹配上倒角和下倒角的接觸點(diǎn),導(dǎo)致檢測(cè)機(jī)臺(tái)計(jì)算出的輪廓參數(shù)值與實(shí)際值存在較大誤差,測(cè)量精度下降。
    技術(shù)實(shí)現(xiàn)思路
    基于此,針對(duì)上述問(wèn)題,提供一種高測(cè)量精度的探針。一種探針,用于與檢測(cè)機(jī)臺(tái)連接以實(shí)現(xiàn)CNC加工探測(cè),該探針包括:主體,該主體為圓柱狀設(shè)置,主體的一端設(shè)有連接部以與所述檢測(cè)機(jī)臺(tái)連接;探頭,該探頭為鼓形設(shè)置,探頭包括上測(cè)試部、過(guò)渡部和下測(cè)試部;上測(cè)試部為圓臺(tái)狀設(shè)置,過(guò)渡部為圓柱狀設(shè)置,下測(cè)試部為倒圓臺(tái)狀設(shè)置;上測(cè)試部的中軸線、過(guò)渡部的中軸線、下測(cè)試部的中軸線和主體的中軸線均重合;上測(cè)試部的頂端與主體的另一端連接,上測(cè)試部的底端與過(guò)渡部的一端連接;過(guò)渡部的另一端與下測(cè)試部的頂端連接。上述探針,其探頭為鼓形設(shè)置,該圓柱狀設(shè)置的過(guò)渡部用于對(duì)工件的弧形輪廓進(jìn)行分中,分中后確定弧形輪廓的上倒角和下倒角區(qū)域。圓臺(tái)狀設(shè)置的上測(cè)試部的母線處斜面可以與弧形輪廓的下倒角的傾斜方向匹配,使得探針可以準(zhǔn)確測(cè)量出下倒角的輪廓值。倒圓臺(tái)狀設(shè)置的下測(cè)試部的母線處斜面可以與弧形輪廓的上倒角的傾斜方向匹配,使得探針可以準(zhǔn)確測(cè)量出上倒角的輪廓值。從而,提高探針的測(cè)量精度。同時(shí),本專利技術(shù)還提供一種CNC加工探測(cè)方法。一種CNC加工探測(cè)方法,包括步驟:提供一種探針,用于與檢測(cè)機(jī)臺(tái)連接以實(shí)現(xiàn)CNC加工探測(cè),該探針包括:主體,該主體為圓柱狀設(shè)置,主體的一端設(shè)有連接部以與所述檢測(cè)機(jī)臺(tái)連接;探頭,為鼓形設(shè)置,該探頭包括上測(cè)試部、過(guò)渡部和下測(cè)試部;上測(cè)試部為圓臺(tái)狀設(shè)置,過(guò)渡部為圓柱狀設(shè)置,下測(cè)試部為倒圓臺(tái)狀設(shè)置;上測(cè)試部的中軸線、過(guò)渡部的中軸線、下測(cè)試部的中軸線和主體的中軸線均重合;上測(cè)試部的頂端與主體的另一端連接,上測(cè)試部的底端與過(guò)渡部的一端連接;過(guò)渡部的另一端與下測(cè)試部的頂端連接;將探針與檢測(cè)機(jī)臺(tái)連接;檢測(cè)機(jī)臺(tái)的XYZ軸移動(dòng),帶動(dòng)探針移動(dòng)至工件的弧形輪廓的弧度最大值處,通過(guò)探針的過(guò)渡部測(cè)量工件的弧形輪廓的中心偏移值,更新弧形輪廓的中心值,進(jìn)而確定該弧形輪廓的上倒角和下倒角的中心位置;檢測(cè)機(jī)臺(tái)的XYZ軸移動(dòng),帶動(dòng)探針移動(dòng)至工件的弧形輪廓的下倒角的位置,通過(guò)探針的上測(cè)試部測(cè)量下倒角的輪廓值,檢測(cè)機(jī)臺(tái)記錄下倒角的輪廓值,將下倒角的輪廓值與預(yù)設(shè)的下倒角理論值比較,得出下倒角誤差值并記錄在檢測(cè)機(jī)臺(tái)的系統(tǒng)變量表中;檢測(cè)機(jī)臺(tái)的XYZ軸移動(dòng),帶動(dòng)探針移動(dòng)至工件的弧形輪廓的上倒角的位置,通過(guò)探針的下測(cè)試部測(cè)量上倒角的輪廓值,檢測(cè)機(jī)臺(tái)記錄上倒角的輪廓值,將上倒角的輪廓值與預(yù)設(shè)的上倒角理論值比較,得出上倒角誤差值并記錄在檢測(cè)機(jī)臺(tái)的系統(tǒng)變量表中。上述CNC加工探測(cè)方法,提供一種具有鼓形探頭的探針,該圓柱狀設(shè)置的過(guò)渡部用于對(duì)工件的弧形輪廓進(jìn)行分中,分中后確定弧形輪廓的上倒角和下倒角的中心位置。圓臺(tái)狀設(shè)置的上測(cè)試部的母線處斜面可以與弧形輪廓的下倒角的傾斜方向匹配,使得探針可以準(zhǔn)確測(cè)量出下倒角的輪廓值。倒圓臺(tái)狀設(shè)置的下測(cè)試部的母線處斜面可以與弧形輪廓的上倒角的傾斜方向匹配,使得探針可以準(zhǔn)確測(cè)量出上倒角的輪廓值。從而,提高探針的測(cè)量精度。附圖說(shuō)明圖1為本專利技術(shù)的一種實(shí)施例的探針的示意圖;圖2為圖1另一視角的示意圖;圖3為本專利技術(shù)的一種實(shí)施例的CNC加工探測(cè)方法的分中示意圖;圖4為圖3所示的CNC加工探測(cè)方法的下倒角測(cè)量示意圖;圖5為圖3所示的CNC加工探測(cè)方法的上倒角測(cè)量示意圖;圖6為圖3所示的CNC加工探測(cè)方法的高度值測(cè)量示意圖;附圖中各標(biāo)號(hào)的含義為:10-探針;20-主體,21-連接部,211-螺紋,212-鎖孔,22-軀干部,23-避空部;30-探頭,31-上測(cè)試部,311-鈍角α,32-過(guò)渡部,33-下測(cè)試部,331-鈍角β,34-高度值測(cè)試部;40-工件,41-上倒角,42-下倒角,43-弧形輪廓。具體實(shí)施方式為能進(jìn)一步了解本專利技術(shù)的特征、技術(shù)手段以及所達(dá)到的具體目的、功能,解析本專利技術(shù)的優(yōu)點(diǎn)與精神,藉由以下結(jié)合附圖與具體實(shí)施方式對(duì)本專利技術(shù)的詳述得到進(jìn)一步的了解。參見(jiàn)圖1,其為本專利技術(shù)的一種實(shí)施例的探針10。一種探針10,用于與檢測(cè)機(jī)臺(tái)連接以實(shí)現(xiàn)CNC加工探測(cè),該探針10包括:主體20,該主體20為圓柱狀設(shè)置。主體20包括連接部21、軀干部22和避空部23。該連接部21用于和檢測(cè)機(jī)臺(tái)連接,該連接部21設(shè)有螺紋211和鎖孔212。軀干部22和避空部23均為圓柱狀設(shè)置,且軀干部22的直徑大于避空部23的直徑。軀干部22的一端和連接部21連接,另一端與避空部23的一端連接。探頭30,該探頭30為鼓形設(shè)置,探頭30包括上測(cè)試部31、過(guò)渡部32、下測(cè)試部33以及高度值測(cè)試部34。上測(cè)試部31為圓臺(tái)狀設(shè)置,過(guò)渡部32為圓柱狀設(shè)置,下測(cè)試部33為倒圓臺(tái)狀設(shè)置。上測(cè)試部31的中軸線、過(guò)渡部32的中軸線、下測(cè)試部33的中軸線和主體20的中軸線均重合。上測(cè)試部31的頂端與避空部23的另一端連接,上測(cè)試部31的底端與過(guò)渡部32的一端連接。過(guò)渡部32的另一端與下測(cè)試部33的頂端連接。該高度值測(cè)試部34為圓柱狀設(shè)置且一端連接在下測(cè)試部33較窄的一端,高度值測(cè)試部34的中軸線與下測(cè)試部33的中軸線重合。上測(cè)試部31的母線與中軸線形成的鈍角α311的大小為130°~140°。下測(cè)試部33的母線與中軸線形成的鈍角β331的大小為130°~140°。具體地,在本實(shí)施例中,鈍角α311大小為135°,鈍角β331大小為135°。上述探針10,其探頭30為鼓形設(shè)置,該圓柱狀設(shè)置的過(guò)渡部32用于對(duì)工件的弧形輪廓進(jìn)行分中,分中后確定工件的弧形輪廓的上倒角和下倒角的中心位置,以區(qū)分出上倒角和下倒角的范圍。圓臺(tái)狀設(shè)置的上測(cè)試部31的母線處斜面可以與工件的弧形輪廓的下倒角的傾斜方向匹配,使本文檔來(lái)自技高網(wǎng)...
    探針及CNC加工探測(cè)方法

    【技術(shù)保護(hù)點(diǎn)】
    一種探針,用于與檢測(cè)機(jī)臺(tái)連接以實(shí)現(xiàn)CNC加工探測(cè),其特征在于,該探針包括:主體,該主體為圓柱狀設(shè)置,所述主體的一端設(shè)有連接部以與所述檢測(cè)機(jī)臺(tái)連接;探頭,該探頭包括上測(cè)試部、過(guò)渡部和下測(cè)試部;所述上測(cè)試部為圓臺(tái)狀設(shè)置,所述過(guò)渡部為圓柱狀設(shè)置,所述下測(cè)試部為倒圓臺(tái)狀設(shè)置;所述上測(cè)試部的中軸線、所述過(guò)渡部的中軸線、所述下測(cè)試部的中軸線和所述主體的中軸線均重合;所述上測(cè)試部的頂端與所述主體的另一端連接,所述上測(cè)試部的底端與所述過(guò)渡部的一端連接;所述過(guò)渡部的另一端與所述下測(cè)試部的頂端連接。

    【技術(shù)特征摘要】
    1.一種探針,用于與檢測(cè)機(jī)臺(tái)連接以實(shí)現(xiàn)CNC加工探測(cè),其特征在于,
    該探針包括:
    主體,該主體為圓柱狀設(shè)置,所述主體的一端設(shè)有連接部以與所述檢測(cè)機(jī)
    臺(tái)連接;
    探頭,該探頭包括上測(cè)試部、過(guò)渡部和下測(cè)試部;所述上測(cè)試部為圓臺(tái)狀
    設(shè)置,所述過(guò)渡部為圓柱狀設(shè)置,所述下測(cè)試部為倒圓臺(tái)狀設(shè)置;所述上測(cè)試
    部的中軸線、所述過(guò)渡部的中軸線、所述下測(cè)試部的中軸線和所述主體的中軸
    線均重合;所述上測(cè)試部的頂端與所述主體的另一端連接,所述上測(cè)試部的底
    端與所述過(guò)渡部的一端連接;所述過(guò)渡部的另一端與所述下測(cè)試部的頂端連接。
    2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的探針,其特征在于,所述探頭還包括高度值測(cè)試
    部,該高度值測(cè)試部為圓柱狀設(shè)置且一端連接在所述下測(cè)試部較窄的一端,所
    述高度值測(cè)試部的中軸線與所述下測(cè)試部的中軸線重合。
    3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的探針,其特征在于,所述上測(cè)試部的母線與中軸
    線形成的鈍角大小為130°~140°。
    4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的探針,其特征在于,所述下測(cè)試部的母線與中軸
    線形成的鈍角大小為130°~140°。
    5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的探針,其特征在于,所述主體還包括軀干部和避
    空部,所述軀干部和所述避空部均為圓柱狀設(shè)置,且所述軀干部的直徑大于所
    述避空部的直徑;所述軀干部的一端和所述連接部連接,另一端與所述避空部
    的一端連接;所述避空部的另一端與所述上測(cè)試部的頂端連接。
    6.一種CNC加工探測(cè)方法,其特征在于,包括步驟:
    提供一種探針,用于與檢測(cè)機(jī)臺(tái)連接以實(shí)現(xiàn)CNC加工探測(cè),該探針包括:
    主體,該主體為圓柱狀設(shè)置,所述主體的一端設(shè)有連接部以與所述檢測(cè)機(jī)臺(tái)連
    接;探頭,該探頭為鼓形設(shè)置,所述探頭包括上測(cè)試部、過(guò)渡部和下測(cè)試部;
    所述上測(cè)試部為圓臺(tái)狀設(shè)置,所述過(guò)渡部為圓柱狀設(shè)置,所述下測(cè)試部為倒圓
    臺(tái)狀設(shè)置;所述上測(cè)試部的中軸線、所述過(guò)渡部的中軸線、所述下測(cè)試部的中
    軸線和所述主體的中軸線均重合;所述上測(cè)試部的頂端與所述主體的另一端連
    接,所述上測(cè)試部的底端與所述過(guò)渡部的一端連接;所述過(guò)渡部的另一端與所

    \t述下測(cè)試部的頂端連接;
    將所述探針與所述檢測(cè)機(jī)臺(tái)連接;
    所述檢測(cè)機(jī)臺(tái)的XYZ軸移動(dòng),帶動(dòng)所述探針移動(dòng)至工件的弧形輪廓的弧度<...

    【專利技術(shù)屬性】
    技術(shù)研發(fā)人員:李留生
    申請(qǐng)(專利權(quán))人:廣東長(zhǎng)盈精密技術(shù)有限公司
    類型:發(fā)明
    國(guó)別省市:廣東;44

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