一種太陽能晶硅電池漏電檢測分析儀制造技術

本實用新型專利技術公開了一種太陽能晶硅電池漏電檢測分析儀。它包括暗箱，暗箱內設置有金屬底座，金屬底座上設置有金屬夾針，金屬底座和金屬夾針連接電源，金屬底座的上方設置紅外熱像儀，紅外熱像儀下方設置有濾光片，紅外熱像儀形成的熱像圖能夠直觀地檢測出太陽能晶硅電池的漏電區，紅外熱像儀連接位于暗箱外的計算機，計算機內具有數據庫；所檢測出的漏電區能夠與圖紙對比找到電池漏電的位置和形狀，再與數據庫中漏電位置和形狀進行對比。其優點在于：可直接通過用紅外熱像儀對電池進行檢測，通過與預設的電池圖紙進行對比確定過小的并聯電阻在太陽能晶硅電池的具體位置和形狀，再與數據庫中漏電位置和形狀進行對比，得出具體的制程分析結果。

【技術實現步驟摘要】

本技術涉及一種太陽電池檢測分析設備，具體地說是一種太陽能晶硅電池漏電檢測分析儀。
技術介紹
太陽能晶硅電池的核心結構是PN結，在給PN結施加不超過極限反向電壓的情況下PN結不會導電，此時測量的電阻稱為太陽能晶硅電池的并聯電阻。因此并聯電阻是反映太陽能晶硅電池電性能的一個重要參數。目前，太陽能晶硅電池的并聯電阻是通過光照或黑暗條件下的IV曲線測試再計算得到的，無法具體判斷過小的并聯電阻在太陽能晶硅電池的具體部位和形狀，導致無法進行更為詳細的分析。過小的并聯電阻在外加較小的反偏電壓時會有漏電流通過，在PN結上有其它可導電的雜質或者缺陷會導致該處的并聯電阻減小，根據導體發熱公式Q = Wt = UIt,其中I=U/R，在電壓恒定的情況下導體電阻越小，通過的電流越大，則在導體上的發熱量越大，根據這種現象可以對太陽能晶硅電池給予一定的外加偏壓，并聯電阻過小的區域在有外加偏壓的條件下會形成較大漏電流，而這些局部漏電區會以局部高溫的形式表現出來，通過紅外探測手段，那么就可以判斷出并聯電阻過小的局部部位和形狀。現有技術中公開的漏電檢測設備雖然能夠直觀地檢測出太陽能晶硅電池的漏電區，但其結構設置的局限性，一方面，容易受到環境干擾，使結果不準確，另外一方面，使用探針固定電池和施加反向電流，容易對電池造成損傷；再一方面，難以對太陽能晶硅電池并聯電阻進行分析，不能為制程提供有效幫助。
技術實現思路
本技術要解決的技術問題是提供一種不但檢測結果準確，還能確定過小的并聯電阻在太陽能晶硅電池的具體位置和形狀，得出具體的制程分析結果的太陽能晶硅電池漏電檢測分析儀。為了解決上述技術問題，本技術的太陽能晶硅電池漏電檢測分析儀，包括暗箱，暗箱內設置有金屬底座，金屬底座上設置有用于夾持電池片的金屬夾針，金屬底座和金屬夾針連接位于暗箱外的電源，金屬底座的上方設置紅外熱像儀，紅外熱像儀下方設置有濾光片，紅外熱像儀形成的熱像圖能夠直觀地檢測出太陽能晶硅電池的漏電區，紅外熱像儀連接位于暗箱外的計算機，計算機內具有存儲有太陽能晶硅電池正面柵線外觀圖案的數據庫；所檢測出的太陽能晶硅電池漏電區能夠與繪制好的電池圖紙進行對比找到太陽能晶硅電池漏電的位置和形狀，再與數據庫中漏電位置和形狀進行對比。所述電源為穩壓直流電源。所述銅質底座上還具有固定設置在銅質底座上的定位卡塊。所述金屬底座為銅質底座，所述金屬夾針為銅質夾針。本技術的優點在于:由于設置的位于暗箱內的紅外熱像儀以及與紅外熱像儀連接的計算機，通過紅外熱成像相機可形成熱像圖，能顯示物體的表面溫度分布，利用紅外熱像儀形成的熱像圖可直觀地檢測出太陽能晶硅電池的漏電區，由此便可直接通過用紅外熱像儀對太陽能晶硅電池進行檢測，通過與預設的電池圖紙進行對比確定過小的并聯電阻在太陽能晶硅電池的具體位置和形狀，再與數據庫中漏電位置和形狀進行對比，得出具體的制程分析結果；同時采用銅質夾針與銅質底座可有效增加導電面積，提高檢測靈敏度，且對電池表面不會造成損傷。【附圖說明】圖1為本技術太陽能晶硅電池漏電檢測分析儀的結構示意圖；圖2為本技術中制絨或者刻蝕段Roller對太陽能晶硅電池造成的漏電狀態示意圖；圖3為本技術絲網印刷烘干段夾爪對太陽能晶硅電池造成的漏電狀態示意圖。【具體實施方式】下面結合附圖和【具體實施方式】，對本技術的太陽能晶硅電池漏電檢測分析儀作進一步詳細說明。如圖所示，本技術的太陽能晶硅電池漏電檢測分析儀，包括暗箱1，暗箱I內設置有金屬底座2，金屬底座2上設置有用于夾持電池片4的金屬夾針3，金屬底座2優選為銅質底座，金屬夾針3優選為銅質夾針，使用銅質底座和銅質夾針可提高檢測靈敏度，可根據電池主柵線的數量進行靈活更改，且不會像現有的探針對電池表面造成損傷；金屬底座2和金屬夾針3連接位于暗箱外的電源7，金屬底座2的上方設置紅外熱像儀5，紅外熱像儀5下方設置有700_的濾光片6，通過紅外熱像儀(紅外熱成像相機)對加載反偏壓的太陽能晶硅電池進行漏電檢測，并使用暗箱與700nm濾光片濾去環境干擾；紅外熱像儀5形成的熱像圖能夠直觀地檢測出太陽能晶硅電池的漏電區，紅外熱像儀5連接位于暗箱外的計算機8，計算機8內具有存儲有太陽能晶硅電池正面柵線外觀圖案的數據庫；所檢測出的太陽能晶硅電池漏電區能夠與繪制好的CAD電池圖紙進行對比找到太陽能晶硅電池漏電的位置和形狀，通過電池外觀CAD圖與熱成像圖疊加取得漏電具體位置和形狀，再與數據庫中漏電位置和形狀進行對比。本技術中所說的電源7為穩壓直流電源，銅質底座上還具有固定設置在銅質底座上的定位卡塊，將太陽能晶硅電池放置于銅質底座上，由定位卡塊固定位置，銅質夾針壓在太陽能晶硅電池正面主柵線上，銅質底座與銅質夾針連接穩壓直流電源，由穩壓直流電源提供穩定外加偏壓。使用時，漏電異常太陽能晶硅電池4放入本技術的太陽能晶硅電池漏電分析儀，掃描圖案為與主柵線垂直的兩條并排直線，與計算機中儲存的接觸位置對比結果為制絨或者刻蝕段Roller對太陽能晶硅電池4造成的異常導致漏電(見圖2)。電異常太陽能晶硅電池4放入本技術的太陽能晶硅電池漏電分析儀，掃描圖案為電池兩端對應的點狀圖案，位置對比結果為絲網印刷烘干段夾爪對太陽能晶硅電池成的異常導致漏電(見圖3)。從上述實施例可以看出，計算機內存儲有太陽能晶硅電池正面柵線外觀圖案，與接受到的紅外圖形進行重合，確定漏電處在太陽能晶硅電池上的具體位置，使用與電池接觸位CAD圖像對漏電位置進行對比，判斷出現異常的制程因素；由此使其根據測得太陽能晶硅電池表面熱量的差別，再與制程過程中與太陽能晶硅電池接觸位置的比對可以找到相應的制程問題，同時用紅外熱像儀對太陽能晶硅電池檢測為無損檢測方式，通過這種方式就可以對每一塊電池片進行檢測，保證了產品的質量，同時對產品本身也沒有損傷。【主權項】1.一種太陽能晶硅電池漏電檢測分析儀，其特征在于:包括暗箱(1)，暗箱(I)內設置有金屬底座(2)，金屬底座(2)上設置有用于夾持電池片(4)的金屬夾針(3)，所述金屬底座⑵和金屬夾針⑶連接位于暗箱外的電源(7)，所述金屬底座(2)的上方設置紅外熱像儀(5)，紅外熱像儀(5)下方設置有濾光片(6)，所述紅外熱像儀(5)形成的熱像圖能夠直觀地檢測出太陽能晶硅電池的漏電區，所述紅外熱像儀(5)連接位于暗箱外的計算機(8)，所述計算機(8)內具有存儲有太陽能晶硅電池正面柵線外觀圖案的數據庫；所檢測出的太陽能晶硅電池漏電區能夠與繪制好的電池圖紙進行對比找到太陽能晶硅電池漏電的位置和形狀，再與數據庫中漏電位置和形狀進行對比。2.按照權利要求1所述的太陽能晶硅電池漏電檢測分析儀，其特征在于:所述電源(7)為穩壓直流電源。3.按照權利要求1所述的太陽能晶硅電池漏電檢測分析儀，其特征在于:所述金屬底座(2)上還具有固定設置在金屬底座(2)上的定位卡塊。4.按照權利要求1所述的太陽能晶硅電池漏電檢測分析儀，其特征在于:所述金屬底座(2)為銅質底座，所述金屬夾針(3)為銅質夾針。【專利摘要】本技術公開了一種太陽能晶硅電池漏電檢測分析儀。它包括暗箱，暗箱內設置有金屬底座，金屬底座上設置有金屬夾針，金屬底座和金屬夾針連接電源，金屬底座的上方設置紅外熱像本文檔來自技高網...

【技術保護點】
一種太陽能晶硅電池漏電檢測分析儀，其特征在于：包括暗箱(1)，暗箱(1)內設置有金屬底座(2)，金屬底座(2)上設置有用于夾持電池片(4)的金屬夾針(3)，所述金屬底座(2)和金屬夾針(3)連接位于暗箱外的電源(7)，所述金屬底座(2)的上方設置紅外熱像儀(5)，紅外熱像儀(5)下方設置有濾光片(6)，所述紅外熱像儀(5)形成的熱像圖能夠直觀地檢測出太陽能晶硅電池的漏電區，所述紅外熱像儀(5)連接位于暗箱外的計算機(8)，所述計算機(8)內具有存儲有太陽能晶硅電池正面柵線外觀圖案的數據庫；所檢測出的太陽能晶硅電池漏電區能夠與繪制好的電池圖紙進行對比找到太陽能晶硅電池漏電的位置和形狀，再與數據庫中漏電位置和形狀進行對比。

【技術特征摘要】

【專利技術屬性】
技術研發人員：韓健鵬，
申請(專利權)人：晉能清潔能源科技有限公司，
類型：新型
國別省市：山西;14