一種微量分光光度計制造技術

本發明專利技術公開了一種微量分光光度計，包括相對設置且距離可調的上測量平臺和下測量平臺，上測量平臺和下測量平臺上設置有分別上下對正的投射光纖座和接收光纖座；用于調節上測量平臺與下測量平臺之間距離的調節桿，調節桿受驅動裝置驅動；還包括控制上測量平臺與下測量平臺之間距離的距離感應機構，包括感應裝置與感應件，感應裝置具有能發出信號的發射器，及在無阻情況下能接收到信號的接收器；感應件能夠進出于發射器和接收器之間。屬于分光光度計技術領域。該微量分光光度計解決了現有微量分光光度計光程發生改變而無法實現自動校正從而影響檢測結果的技術問題。特別適用于自動校正光程長度從而使光程長度保持在一個定值，保證樣品檢測結果的準確度。

【技術實現步驟摘要】

本專利技術屬于分光光度計領域，特別涉及一種微量分光光度計。
技術介紹
微量分光光度計可以廣泛應用于糖、核酸、酶或者蛋白等樣品的快速定量檢測，在使用微量分光光度計對樣品進行檢測時，其主要利用微量液體的張力牽引形成光通路，所以只需要很微量的待檢樣品即可以獲得準確的檢測數據，從而可以完全替代傳統的使用比色皿進行檢測，極具創新性和實用性。現有的微量分光光度計，包括由一個中心軸連接的上測量平臺和下測量平臺，所述上測量平臺可繞所述中心軸旋轉；在所述上測量平臺上設置有投射光纖座，在所述下測量平臺上設置有接收光纖座，被測樣品橋接在所述投射光纖座和所述接收光纖座之間，在所述下測量平臺與上測量平臺之間設有用于調節上下測量平臺之間距離的調節桿，所述調節桿通過設置于下測量平臺下側的電機驅動，穿過下測量平臺頂壓在上測量平臺上，工作時，驅動所述電機，使所述調節桿上下移動，進而使所述調節桿推抵所述上測量平臺上下轉動來調整上、下測量平臺之間的距離，實現投射光纖座和接收光纖座之間光程長度的調節。由于利用上述現有技術中的微量分光光度計對不同待檢樣品進行測定時，為了獲得準確的測量結果，需要在一個標準光程長度下進行測定。而在實際應用時，經過多次取樣后，上下測量平臺之間的距離會由于上測量平臺的不斷打開和閉合以及調節桿的長期使用磨損而產生微量變化，也就是說光度計的光程長度發生變化，此時為保證測量結果準確需要重新調節上、下測量平臺之間的距離，而由于上下測量平臺之間的距離最多也只有Imm左右的距離，利用手動技術進行微量調節不僅需要花費很多時間和精力，而且精確度完全沒有保障，所以就不可避免地影響實驗結果的準確度。如果要在長期使用后仍保證檢測準確性，用戶就不得不尋求廠家進行出廠設置的恢復。
技術實現思路
為此，本專利技術所要解決的技術問題在于現有技術中的微量分光光度計由于長期使用，很容易造成測量時光程長度的微量變化，利用手動調節很難完全對該微量變化進行校正，如果為了保證實驗結果的準確度就不得不進行出廠設置的恢復，從而提供一種可以自動校正光程長度從而使光程長度保持在一個定值的微量分光光度計。為解決上述技術問題，本專利技術的一種微量分光光度計，其包括相對設置且距離可調的上測量平臺和下測量平臺，所述上測量平臺上設置有投射光纖座或接收光纖座，所述下測量平臺上設置有接收光纖座或投射光纖座，所述投射光纖座以及所述接收光纖座分別與光纖相連接；所述投射光纖座以及所述接收光纖座上下對正，用于容納待檢樣品；用于調節所述上測量平臺與所述下測量平臺之間距離的調節桿，所述調節桿連接有驅動裝置，并受所述驅動裝置驅動而上下移動來直接或間接地推抵所述上測量平臺或所述下測量平臺；還包括控制所述上測量平臺與所述下測量平臺之間距離的距離感應機構，所述距離感應機構包括分別位于所述上測量平臺和所述下測量平臺上且相對設置的感應裝置與感應件，所述感應裝置具有相對設置的發射器和接收器，所述發射器能發出信號，在無阻情況下所述接收器能接收到信號；所述感應件能夠進出于所述發射器和所述接收器之間；所述投射光纖座與所述接收光纖座之間的光程為預設初始值時，所述感應件與所述感應裝置之間處于一個剛好不能遮擋所述發射器發出的信號的初始狀態，當所述調節桿和所述上測量平臺或所述下測量平臺之間發生磨損，導致光程變短時，所述感應件從所述發射器和所述接收器之間通過，所述發射器發出的信號被遮擋，所述感應裝置反饋控制信號至控制單元，控制單元控制所述驅動裝置使所述調節桿移動來調節所述上測量平臺與所述下測量平臺之間的距離，直至使所述感應件和所述感應裝置之間回復至初始狀態，此時光程恢復至預設初始值。所述感應裝置包括固定連接于所述上測量平臺或所述下測量平臺的感應裝置本體，所述感應裝置本體具有開口腔，所述發射器與所述接收器分別位于所述開口腔的相對腔壁上，所述感應件對應為連接于所述下測量平臺或所述上測量平臺上的感應軸，所述感應軸延伸至所述感應裝置本體內側。所述下測量平臺固定設置，所述上測量平臺的遠離所述投射光纖座或所述接收光纖座的一端樞轉連接于位于所述下測量平臺上側的樞轉連接件上。所述感應件設置在所述下測量平臺上，且上下位置可調。所述發射器與所述接收器設置在所述下測量平臺上，且上下位置可調。所述調節桿穿過所述下測量平臺并頂靠在所述上測量平臺上。所述驅動裝置為步進電機，所述調節桿與所述步進電機配合的一端為絲杠螺母機構。所述感應裝置為光電傳感器，所述發射器發出的信號為紅外光或可見光。本專利技術的上述技術方案相比現有技術具有以下優點:(I)本專利技術的一種微量分光光度計，設有控制上測量平臺與下測量平臺之間距離的距離感應機構，所述距離感應機構通過設置于上測量平臺或下測量平臺的感應裝置，感應對應設置于下測量平臺或上測量平臺的感應件，來控制和限定所述上測量平臺與所述下測量平臺之間的距離，并通過抵觸在上測量平臺或下測量平臺上的調節桿調節上下測量平臺之間的距離；因而不會受到所述調節桿與所述上測量平臺之間磨損的影響。可以實現光程長度的自動校正，無需進行出廠設置的恢復，即可使光程長度保持在預設初始值，從而確保樣品檢測結果的準確度。(2)本專利技術的微量分光光度計中，所述感應件設置在所述下測量平臺上，且上下位置可調，通過調節所述感應件的上下位置來改變所述感應裝置及所述上測量平臺的初始位置，進而改變所述投射光纖座與所述接收光纖座之間光程的預設初始值，根據需要而實現對預設初始值的改變，可以使本專利技術支持在不同的預定光程長度下進行樣品檢測，應用范圍更加廣泛。(3)本專利技術的微量分光光度計中，所述驅動裝置為步進電機，所述調節桿與所述步進電機配合的一端為絲杠螺母機構，這種配合方式使所述調節桿對所述上測量平臺和所述下測量平臺之間的距離的調節更精確。【附圖說明】為了使本專利技術的內容更容易被清楚的理解，下面根據本專利技術的具體實施例并結合附圖，對本專利技術作進一步詳細的說明，其中圖1是本專利技術的微量分光光度計上測量平臺打開狀態的立體圖；圖2是本專利技術的微量分光光度計上測量平臺打開狀態的俯視圖；圖3是本專利技術的微量分光光度計上測量平臺打開狀態的剖視圖；圖4是本專利技術的微量分光光度計上測量平臺閉合狀態的立體圖；圖5是本專利技術的微量分光光度計上測量平臺閉合狀態的俯視圖；圖6是本專利技術的微量分光光度計上測量平臺閉合狀態的剖視圖；圖7是本專利技術的微量分光光度計上測量平臺閉合狀態的主視圖。圖中附圖標記表示為:1_上測量平臺，2-下測量平臺，21-樞轉連接件，3-投射光纖座，4-接收光纖座，5-感應裝置，50-感應裝置本體，501-開口腔，51-發射器，52-接收器，6-感應件，7-調節桿，8-步進電機。【具體實施方式】以下將結合附圖，使用以下實施例對本專利技術進行進一步闡述。參閱圖1、圖2和圖4、圖5，本專利技術的一種微量分光光度計，包括上測量平臺1、下測量平臺2、調節桿7和距離感應機構。其中，參閱圖3、圖6和圖7，所述上測量平臺I和下測量平臺2相對設置且兩者之間的距離可調，所述上測量平臺I上設置有投射光纖座3，所述下測量平臺2上設置有接收光纖座4，所述投射光纖座3以及所述接收光纖座4分別與光纖相連接；所述投射光纖座3以及所述接收光纖座4上下對正，用于容納待檢樣品；所述調節桿7連接有驅動裝置，并受所述驅動裝置驅動而上下移動來直本文檔來自技高網...

【技術保護點】
一種微量分光光度計，其包括相對設置且距離可調的上測量平臺(1)和下測量平臺(2)，所述上測量平臺(1)上設置有投射光纖座(3)或接收光纖座(4)，所述下測量平臺(2)上設置有接收光纖座(4)或投射光纖座(3)，所述投射光纖座(3)以及所述接收光纖座(4)分別與光纖相連接；所述投射光纖座(3)以及所述接收光纖座(4)上下對正，用于容納待檢樣品；用于調節所述上測量平臺(1)與所述下測量平臺(2)之間距離的調節桿(7)，所述調節桿(7)連接有驅動裝置，并受所述驅動裝置驅動而上下移動來直接或間接地推抵所述上測量平臺(1)或所述下測量平臺(2)；其特征在于：還包括控制所述上測量平臺(1)與所述下測量平臺(2)之間距離的距離感應機構，所述距離感應機構包括分別位于所述上測量平臺(1)和所述下測量平臺(2)上且相對設置的感應裝置(5)與感應件(6)，所述感應裝置(5)具有相對設置的發射器(51)和接收器(52)，所述發射器(51)能發出信號，在無阻情況下所述接收器(52)能接收到信號；所述感應件(6)能夠進出于所述發射器(51)和所述接收器(52)之間；所述投射光纖座(3)與所述接收光纖座(4)之間的光程為預設初始值時，所述感應件(6)與所述感應裝置(5)之間處于一個剛好不能遮擋所述發射器(51)發出的信號的初始狀態，當所述調節桿(7)和所述上測量平臺(1)或所述下測量平臺(2)之間發生磨損，導致光程變短時，所述感應件(6)從所述發射器(51)和所述接收器(52)之間通過，所述發射器(51)發出的信號被遮擋，所述感應裝置(5)反饋控制信號至控制單元，控制單元控制所述驅動裝置使所述調節桿(7)移動來調節所述上測量平臺(1)與所述下測量平臺(2)之間的距離，直至使所述感應件(6)和所述感應裝置(5)之間回復至初始狀態，此時光程恢復至預設初始值。...

【技術特征摘要】

【專利技術屬性】
技術研發人員：鄧少銘，
申請(專利權)人：鄧少銘，
類型：發明
國別省市：北京;11