玻璃基板內(nèi)部缺陷檢查系統(tǒng)及所處高度位置的檢查方法技術方案

玻璃基板內(nèi)部缺陷檢查系統(tǒng)，解決現(xiàn)有技術中檢驗玻璃基板的內(nèi)部缺陷所處玻璃基板高度位置效率低、成本高的技術問題，采用的技術方案是：包括處在傳送裝置上的玻璃基板，還包括對稱設置在玻璃基板上下兩側的光源發(fā)射裝置、與光源發(fā)射裝置配套的采集成像裝置及與采集成像裝置相連接的裝有控制管理程序的工控機。本發(fā)明專利技術還提供了一種玻璃基板內(nèi)部缺陷所處高度位置的檢查方法，采用本發(fā)明專利技術不僅提高了玻璃基板檢查的自動化程度，同時進一步降低了成本、提高了產(chǎn)能。

【技術實現(xiàn)步驟摘要】

【技術保護點】
玻璃基板內(nèi)部缺陷檢查系統(tǒng)，包括處在傳送裝置上的玻璃基板（3），其特征在于：還包括對稱設置在玻璃基板（3）上下兩側的光源發(fā)射裝置（A，B）、與光源發(fā)射裝置（A，B）配套的采集成像裝置及與采集成像裝置相連接的裝有控制管理程序的工控機（5）。

【技術特征摘要】

【專利技術屬性】
技術研發(fā)人員：王建鑫，李杰，周波，王麗紅，
申請(專利權)人：東旭集團有限公司，
類型：發(fā)明
國別省市：河北;13