多路轉(zhuǎn)換型繼電器測(cè)試儀制造技術(shù)

本發(fā)明專利技術(shù)公開了多路轉(zhuǎn)換型繼電器測(cè)試儀，它包括AD采集處理電路、繼電器轉(zhuǎn)換接板、100mA恒流源加載電阻測(cè)試電路、10mA恒流源線圈電阻測(cè)試電路、1mA恒流源線圈電阻測(cè)試電路、觸點(diǎn)接觸電阻壓降測(cè)試電路、吸合釋放電壓測(cè)試電路、觸點(diǎn)彈跳測(cè)試電路以及控制主機(jī)。本發(fā)明專利技術(shù)的有益效果是：根據(jù)待測(cè)試?yán)^電器的測(cè)試技術(shù)條件，對(duì)繼電器選擇開關(guān)進(jìn)行閉合的設(shè)置，滿足了GJB和GB標(biāo)準(zhǔn)要求，同時(shí)對(duì)待測(cè)試?yán)^電器觸點(diǎn)進(jìn)行任意組合選擇，達(dá)到對(duì)待測(cè)試?yán)^電器的電氣參數(shù)進(jìn)行自動(dòng)測(cè)試的目的，適用于繼電器廠家和使用單位對(duì)繼電器性能的檢測(cè)，并具有結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單、使用方便的特點(diǎn)。

【技術(shù)實(shí)現(xiàn)步驟摘要】
多路轉(zhuǎn)換型繼電器測(cè)試儀
本專利技術(shù)涉及多路轉(zhuǎn)換型繼電器測(cè)試儀，特別涉及一種九路轉(zhuǎn)換型繼電器測(cè)試儀，屬于測(cè)試儀

技術(shù)介紹
隨著技術(shù)的發(fā)展，在航空、航天、民用等許多領(lǐng)域中，需要多路的繼電器待測(cè)試?yán)^電器進(jìn)行信號(hào)控制、轉(zhuǎn)換、傳遞，繼電器的生產(chǎn)廠家和使用單位對(duì)繼電器多路測(cè)試的要求越來越多。繼電器是自動(dòng)和遠(yuǎn)距離操縱用的一種控制器件,是航空、航天等飛行器重要的執(zhí)行元器件之一，應(yīng)用于操縱功率不太大的電路(一般小于25A)，擔(dān)負(fù)著信號(hào)控制、轉(zhuǎn)換、傳遞等重要的作用。繼電器的電氣性能參數(shù)是繼電器質(zhì)量的保證，包括電壓、電流、電阻、接觸電壓降、接觸電阻等參數(shù)，按照GJB和GB標(biāo)準(zhǔn)的要求和規(guī)定，測(cè)試繁瑣，手動(dòng)測(cè)試無法保證測(cè)試需求。目前市場(chǎng)上檢測(cè)繼電器的測(cè)試儀也有許多，但測(cè)試儀最多只能檢測(cè)4路的繼電器的電氣參數(shù)(電阻、吸合釋放電壓、常開常閉觸點(diǎn)接觸電阻、吸合釋放時(shí)間和彈跳時(shí)間和同步差)，且不能對(duì)繼電器額定電壓負(fù)載下的觸點(diǎn)壓降進(jìn)行測(cè)試，同時(shí)只能選擇單一的觸點(diǎn)類型(一次只能獨(dú)立選擇常開或常閉或轉(zhuǎn)換)，不能對(duì)觸點(diǎn)進(jìn)行組合(一路選常開，另一路選常閉或轉(zhuǎn)換)?，F(xiàn)市場(chǎng)上出現(xiàn)大量觸點(diǎn)路數(shù)大于四路多觸點(diǎn)類型的繼電器，傳統(tǒng)的繼電器測(cè)試儀只能測(cè)試4路和測(cè)試觸點(diǎn)的接觸電阻，無法測(cè)試額定電壓負(fù)載下的觸點(diǎn)壓降，達(dá)不到相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)的要求。
技術(shù)實(shí)現(xiàn)思路
本專利技術(shù)的目的在于提供一種多路轉(zhuǎn)換型繼電器測(cè)試儀，能克服現(xiàn)有技術(shù)的不足，滿足GJB和GB標(biāo)準(zhǔn)要求，能對(duì)待測(cè)試?yán)^電器觸點(diǎn)進(jìn)行任意組合選擇，對(duì)待測(cè)試?yán)^電器的電氣參數(shù)進(jìn)行自動(dòng)測(cè)試。本專利技術(shù)的目的是通過以下技術(shù)方案來實(shí)現(xiàn)的：多路轉(zhuǎn)換型繼電器測(cè)試儀，它包括AD采集處理電路、繼電器轉(zhuǎn)換接板、100mA恒流源加載電阻測(cè)試電路、10mA恒流源線圈電阻測(cè)試電路、1mA恒流源線圈電阻測(cè)試電路、觸點(diǎn)接觸電阻壓降測(cè)試電路、吸合釋放電壓測(cè)試電路、觸點(diǎn)彈跳測(cè)試電路以及控制主機(jī)，所述的繼電器轉(zhuǎn)換接板上設(shè)置有多路繼電器接口、繼電器線圈接口和多組測(cè)試電路接口，一路繼電器接口與一組測(cè)試電路接口相對(duì)應(yīng)且電聯(lián)接，繼電器轉(zhuǎn)換接板的輸出端與AD采集處理電路相連，AD采集處理電路輸出至控制主機(jī)，繼電器轉(zhuǎn)換接板的繼電器接口至少與一個(gè)待測(cè)試?yán)^電器的觸點(diǎn)相連，繼電器線圈接口與待測(cè)試?yán)^電器線圈相連，觸點(diǎn)彈跳測(cè)試電路分別通過測(cè)試時(shí)間選擇開關(guān)與測(cè)試電路接口相連，吸合釋放電壓測(cè)試電路通過接觸負(fù)載選擇開關(guān)KPA和繼電器觸點(diǎn)選擇開關(guān)與測(cè)試電路接口相連，100mA恒流源加載電阻測(cè)試電路通過接觸負(fù)載選擇開關(guān)KPB和繼電器觸點(diǎn)選擇開關(guān)與測(cè)試電路接口相連，10mA恒流源線圈電阻測(cè)試電路通過額定電壓負(fù)載選擇開關(guān)KPC和繼電器觸點(diǎn)選擇開關(guān)與測(cè)試電路接口相連，同時(shí)10mA恒流源線圈電阻測(cè)試電路通過線圈選擇開關(guān)與繼電器線圈接口相連，1mA恒流源線圈電阻測(cè)試電路通過線圈選擇開關(guān)與繼電器線圈接口相連，觸點(diǎn)接觸電阻壓降測(cè)試電路通過線圈選擇開關(guān)與繼電器線圈接口相連，測(cè)試時(shí)間選擇開關(guān)、接觸負(fù)載選擇開關(guān)KPA、繼電器觸點(diǎn)選擇開關(guān)、接觸負(fù)載選擇開關(guān)KPB、額定電壓負(fù)載選擇開關(guān)KPC以及線圈選擇開關(guān)與控制主機(jī)電聯(lián)并通過控制主機(jī)控制開關(guān)的閉合。所述的繼電器轉(zhuǎn)換接板上設(shè)置有九路繼電器接口。所述的測(cè)試電路接口由一進(jìn)一出兩個(gè)接口組成。所述的繼電器轉(zhuǎn)換接板上至少設(shè)置有一個(gè)繼電器線圈接口。本專利技術(shù)的有益效果在于：根據(jù)待測(cè)試?yán)^電器的測(cè)試技術(shù)條件，對(duì)繼電器選擇開關(guān)進(jìn)行閉合的設(shè)置，滿足了GJB和GB標(biāo)準(zhǔn)要求，同時(shí)對(duì)待測(cè)試?yán)^電器觸點(diǎn)進(jìn)行任意組合選擇，達(dá)到對(duì)待測(cè)試?yán)^電器的電氣參數(shù)(電阻、吸合釋放電壓、觸點(diǎn)接觸電阻或壓降(額定電壓負(fù)載下)、吸合釋放時(shí)間和彈跳時(shí)間和同步差)進(jìn)行自動(dòng)測(cè)試的目的，適用于繼電器廠家和使用單位對(duì)待測(cè)試?yán)^電器性能的檢測(cè)，并具有結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單、使用方便的特點(diǎn)。附圖說明圖1為本專利技術(shù)框架的結(jié)構(gòu)框圖；圖2為本專利技術(shù)的電氣原理圖；圖3為本專利技術(shù)線圈電阻測(cè)試原理圖；圖4為本專利技術(shù)觸點(diǎn)彈跳測(cè)試原理圖；圖5為本專利技術(shù)觸點(diǎn)接觸電阻壓降測(cè)試原理圖；圖6為本專利技術(shù)待測(cè)試?yán)^電器觸點(diǎn)任意組合的連接示意圖。具體實(shí)施方式下面結(jié)合附圖進(jìn)一步描述本專利技術(shù)的技術(shù)方案，但要求保護(hù)的范圍并不局限于所述。如圖1，多路轉(zhuǎn)換型繼電器測(cè)試儀，它包括AD采集處理電路、繼電器轉(zhuǎn)換接板、100mA恒流源加載電阻測(cè)試電路、10mA恒流源線圈電阻測(cè)試電路、1mA恒流源線圈電阻測(cè)試電路、觸點(diǎn)接觸電阻壓降測(cè)試電路、吸合釋放電壓測(cè)試電路、觸點(diǎn)彈跳測(cè)試電路以及控制主機(jī)，所述的繼電器轉(zhuǎn)換接板上設(shè)置有多路繼電器接口、繼電器線圈接口和多組測(cè)試電路接口，一路繼電器接口與一組測(cè)試電路接口相對(duì)應(yīng)且電聯(lián)接，繼電器轉(zhuǎn)換接板的輸出端與AD采集處理電路相連，AD采集處理電路輸出至控制主機(jī)，繼電器轉(zhuǎn)換接板的繼電器接口至少與一個(gè)待測(cè)試?yán)^電器的觸點(diǎn)相連，繼電器線圈接口與待測(cè)試?yán)^電器線圈相連，觸點(diǎn)彈跳測(cè)試電路分別通過測(cè)試時(shí)間選擇開關(guān)與測(cè)試電路接口相連，吸合釋放電壓測(cè)試電路通過接觸負(fù)載選擇開關(guān)KPA和繼電器觸點(diǎn)選擇開關(guān)與測(cè)試電路接口相連，100mA恒流源加載電阻測(cè)試電路通過接觸負(fù)載選擇開關(guān)KPB和繼電器觸點(diǎn)選擇開關(guān)與測(cè)試電路接口相連，10mA恒流源線圈電阻測(cè)試電路通過額定電壓負(fù)載選擇開關(guān)KPC和繼電器觸點(diǎn)選擇開關(guān)與測(cè)試電路接口相連，同時(shí)10mA恒流源線圈電阻測(cè)試電路通過線圈選擇開關(guān)與繼電器線圈接口相連，1mA恒流源線圈電阻測(cè)試電路通過線圈選擇開關(guān)與繼電器線圈接口相連，觸點(diǎn)接觸電阻壓降測(cè)試電路通過線圈選擇開關(guān)與繼電器線圈接口相連，測(cè)試時(shí)間選擇開關(guān)、接觸負(fù)載選擇開關(guān)KPA、繼電器觸點(diǎn)選擇開關(guān)、接觸負(fù)載選擇開關(guān)KPB、額定電壓負(fù)載選擇開關(guān)KPC以及線圈選擇開關(guān)與控制主機(jī)電聯(lián)并通過控制主機(jī)控制開關(guān)的閉合。如圖2，圖中的所有開關(guān)由控制主機(jī)進(jìn)行控制，對(duì)測(cè)試回路的接通與斷開進(jìn)行控制，KPA和KPB(接觸負(fù)載選擇開關(guān))、KPC(額定電壓負(fù)載選擇開關(guān))，K1-K9是測(cè)試時(shí)間選擇開關(guān)，KW1-KW9是繼電器觸點(diǎn)加載選擇開關(guān)，KLA、KLB、KLC、KPD、KPE、KPF是線圈選擇開關(guān)，即線圈吸合和釋放時(shí)的電壓選擇開關(guān)，Attenuators是線圈電阻、吸合釋放電壓、觸點(diǎn)壓降(接觸電阻)的調(diào)理模塊，調(diào)理的數(shù)據(jù)輸入到AD(PXI-6020)進(jìn)行采集處理。第一路到第九路(可以測(cè)試從一到九路轉(zhuǎn)換的待測(cè)試?yán)^電器，測(cè)試時(shí)根據(jù)待測(cè)試?yán)^電器路數(shù)設(shè)置)、線圈A和線圈B(繼電器有單線圈和雙線圈，測(cè)試時(shí)單雙線圈由控制主機(jī)設(shè)置)是待測(cè)試?yán)^電器的連接口。所述的繼電器轉(zhuǎn)換接板上設(shè)置有九路繼電器接口。所述的測(cè)試電路接口由一進(jìn)一出兩個(gè)接口組成。所述的繼電器轉(zhuǎn)換接板上至少設(shè)置有一個(gè)繼電器線圈接口。多路轉(zhuǎn)換型繼電器測(cè)試儀的工作原理，根據(jù)待測(cè)試?yán)^電器的測(cè)試技術(shù)條件，由控制主機(jī)對(duì)圖中的開關(guān)進(jìn)行閉合設(shè)置，在繼電器轉(zhuǎn)換接板上接入1-9個(gè)繼電器，100mA恒流源加載電阻測(cè)試電路、10mA恒流源線圈電阻測(cè)試電路、1mA恒流源線圈電阻測(cè)試電路、觸點(diǎn)接觸電阻壓降測(cè)試電路、吸合釋放電壓測(cè)試電路、觸點(diǎn)彈跳測(cè)試電路根據(jù)由控制主機(jī)控制的開機(jī)進(jìn)行閉合，完成待測(cè)試?yán)^電器電氣參數(shù)的采集，測(cè)試軟件最后對(duì)采集的數(shù)據(jù)進(jìn)行處理，同時(shí)對(duì)數(shù)據(jù)進(jìn)行顯示和保存。其中，如圖3，10mA恒流源線圈電阻測(cè)試電路和1mA恒流源線圈電阻測(cè)試電路是利用恒流源，輸入到待測(cè)試?yán)^電器的線圈，將線圈上產(chǎn)生的電壓進(jìn)行AD轉(zhuǎn)換環(huán)節(jié)，利本文檔來自技高網(wǎng)...

【技術(shù)保護(hù)點(diǎn)】
多路轉(zhuǎn)換型繼電器測(cè)試儀，其特征在于：它包括AD采集處理電路、繼電器轉(zhuǎn)換接板、100mA恒流源加載電阻測(cè)試電路、10mA恒流源線圈電阻測(cè)試電路、1mA恒流源線圈電阻測(cè)試電路、觸點(diǎn)接觸電阻壓降測(cè)試電路、吸合釋放電壓測(cè)試電路、觸點(diǎn)彈跳測(cè)試電路以及控制主機(jī)，所述的繼電器轉(zhuǎn)換接板上設(shè)置有多路繼電器接口、繼電器線圈接口和多組測(cè)試電路接口，一路繼電器接口與一組測(cè)試電路接口相對(duì)應(yīng)且電聯(lián)接，繼電器轉(zhuǎn)換接板的輸出端與AD采集處理電路相連，AD采集處理電路輸出至控制主機(jī)，繼電器轉(zhuǎn)換接板的繼電器接口至少與一個(gè)待測(cè)試?yán)^電器的觸點(diǎn)相連，繼電器線圈接口與待測(cè)試?yán)^電器線圈相連，觸點(diǎn)彈跳測(cè)試電路分別通過測(cè)試時(shí)間選擇開關(guān)與測(cè)試電路接口相連，吸合釋放電壓測(cè)試電路通過接觸負(fù)載選擇開關(guān)KPA和繼電器觸點(diǎn)選擇開關(guān)與測(cè)試電路接口相連，100mA恒流源加載電阻測(cè)試電路通過接觸負(fù)載選擇開關(guān)KPB和繼電器觸點(diǎn)選擇開關(guān)與測(cè)試電路接口相連，10mA恒流源線圈電阻測(cè)試電路通過額定電壓負(fù)載選擇開關(guān)KPC和繼電器觸點(diǎn)選擇開關(guān)與測(cè)試電路接口相連，同時(shí)10mA恒流源線圈電阻測(cè)試電路通過線圈選擇開關(guān)與繼電器線圈接口相連，1mA恒流源線圈電阻測(cè)試電路通過線圈選擇開關(guān)與繼電器線圈接口相連，觸點(diǎn)接觸電阻壓降測(cè)試電路通過線圈選擇開關(guān)與繼電器線圈接口相連，測(cè)試時(shí)間選擇開關(guān)、接觸負(fù)載選擇開關(guān)KPA、繼電器觸點(diǎn)選擇開關(guān)、接觸負(fù)載選擇開關(guān)KPB、額定電壓負(fù)載選擇開關(guān)KPC以及線圈選擇開關(guān)與控制主機(jī)電聯(lián)并通過控制主機(jī)控制開關(guān)的閉合。...

【技術(shù)特征摘要】
1.多路轉(zhuǎn)換型繼電器測(cè)試儀，其特征在于：它包括AD采集處理電路、繼電器轉(zhuǎn)換接板、100mA恒流源加載電阻測(cè)試電路、10mA恒流源線圈電阻測(cè)試電路、1mA恒流源線圈電阻測(cè)試電路、觸點(diǎn)接觸電阻壓降測(cè)試電路、吸合釋放電壓測(cè)試電路、觸點(diǎn)彈跳測(cè)試電路以及控制主機(jī)，所述的繼電器轉(zhuǎn)換接板上設(shè)置有多路繼電器接口、繼電器線圈接口和多組測(cè)試電路接口，一路繼電器接口與一組測(cè)試電路接口相對(duì)應(yīng)且電聯(lián)接，繼電器轉(zhuǎn)換接板的輸出端與AD采集處理電路相連，AD采集處理電路輸出至控制主機(jī)，繼電器轉(zhuǎn)換接板的繼電器接口至少與一個(gè)待測(cè)試?yán)^電器的觸點(diǎn)相連，繼電器線圈接口與待測(cè)試?yán)^電器線圈相連，觸點(diǎn)彈跳測(cè)試電路分別通過測(cè)試時(shí)間選擇開關(guān)與測(cè)試電路接口相連，吸合釋放電壓測(cè)試電路通過接觸負(fù)載選擇開關(guān)KPA和繼電器觸點(diǎn)選擇開關(guān)與測(cè)試電路接口相連，100mA恒流源加載電阻測(cè)試電路通過接觸負(fù)載選擇開關(guān)KPB和繼電器觸點(diǎn)選擇開關(guān)與測(cè)試電路接口...

【專利技術(shù)屬性】
技術(shù)研發(fā)人員：周容燦，易小輝，李章勝，
申請(qǐng)(專利權(quán))人：貴州天義電器有限責(zé)任公司，
類型：發(fā)明
國別省市：貴州;52