一種絕緣測試電路制造技術(shù)

本實用新型專利技術(shù)公開了一種絕緣測試電路，其限流保護電阻R8的兩端分別連接電源和控制開關(guān)Q1的漏極，源極引出后分成兩路，其一個支路連接控制開關(guān)Q3的漏極，源極連接鉗位分壓保護電阻R9后接地，控制開關(guān)Q3的控制端連接控制模塊C1，另一個支路連接被測絕緣電阻Rx1后連接控制開關(guān)Q2的漏極，源極引出后也分成兩路，其中一路連接過壓保護電阻VAR后接地，另一路依次連接采樣電阻R7和采樣電阻R6后接地，模擬復(fù)用開關(guān)芯片U1的管腳5和6分別接在采樣電阻R7和R6之間、控制開關(guān)Q2的源極和采樣電阻R7之間，模擬復(fù)用開關(guān)芯片U1的管腳4和10～13連接并經(jīng)過采樣參考電阻R5后接地。本實用新型專利技術(shù)能夠消除測試打火問題，并提高絕緣測試效率、測試分辨率和自身的保護能力。（*該技術(shù)在2024年保護過期，可自由使用*）

【技術(shù)實現(xiàn)步驟摘要】

本技術(shù)涉及電子測試
，更具體的說，特別涉及一種PCB光板自動化測試設(shè)備的高壓絕緣測試電路。
技術(shù)介紹
飛針測試機使用直流高壓測試源對PCB板進行絕緣測試時，兩組測試探針中分別需要選通高壓測試源、零電壓狀態(tài)電路；若提前選通，在被測網(wǎng)絡(luò)間存在短路時會造成電壓瞬間變化和放電、打火，損壞被測PCB板，造成生產(chǎn)成本浪費和額外賠償，產(chǎn)生的浪涌電流還會摧毀絕緣測試采樣電路；若待測試探針到位后再選通加載測試電路，需要增加軟件判斷時間和IO、開關(guān)的響應(yīng)時間，實際的測試效率降低。還有測試探針在非測試時或者系統(tǒng)維護、調(diào)試時帶有高壓是一種潛在危險，容易發(fā)生人身觸電的安全事故。另外，高壓絕緣測試采用單一的采樣電阻會存在測試分辨率低的問題，若被測網(wǎng)絡(luò)間的絕緣電阻處于設(shè)定閥值附近，則有可能發(fā)生誤測的不良現(xiàn)象；單個采樣電阻可實現(xiàn)的測試范圍也受到限制，對采樣通道的增益要求較多。
技術(shù)實現(xiàn)思路
本技術(shù)的目的在于針對現(xiàn)有技術(shù)存在的技術(shù)問題，提供一種絕緣測試電路，能夠提高絕緣測試效率，消除了測試的放電、打火問題，降低了觸電的可能性，同時提高了絕緣電阻的測試分辨率和絕緣測試電路自身的保護能力。為了解決以上提出的問題，本技術(shù)采用的技術(shù)方案為：一種絕緣測試電路，該測試電路包括限流保護電阻R8、控制開關(guān)Q1、控制開關(guān)Q2、控制開關(guān)Q3、鉗位分壓保護電阻R9、被測絕緣電阻Rx1、采樣電阻R6、采樣電阻R7、過壓保護電阻VAR、控制模塊C1和模擬復(fù)用開關(guān)芯片U1；所述限流保護電阻R8的一端連接電源，另一端連接控制開關(guān)Q1的漏極，控制開關(guān)Q1的源極引出后分成兩個之路，其中一個支路連接控制開關(guān)Q3的漏極，控制開關(guān)Q3的源極連接鉗位分壓保護電阻R9后接地，控制開關(guān)Q3的控制端連接控制模塊C1，控制開關(guān)Q1源極的另一個支路連接被測絕緣電阻Rx1后連接控制開關(guān)Q2的漏極，控制開關(guān)Q2的源極引出后也分成兩路，其中一路連接過壓保護電阻VAR后接地，控制開關(guān)Q2源極的另一路依次連接采樣電阻R7和采樣電阻R6后接地，采樣電阻R7和采樣電阻R6之間引出后連接模擬復(fù)用開關(guān)芯片U1的管腳5，控制開關(guān)Q2的源極和采樣電阻R7之間引出后連接模擬復(fù)用開關(guān)芯片U1的管腳6，模擬復(fù)用開關(guān)芯片U1的管腳4和管腳10～13連接后接地，控制開關(guān)Q1和控制開關(guān)Q2的控制端均連接外部控制組合IO信號。所述測試電路還包括采樣參考電阻R5，采樣參考電阻R5接在采樣電阻R6和地端之間，模擬復(fù)用開關(guān)芯片U1的管腳4和管腳10～13連接后接在采樣參考電阻R5和采樣電阻R6之間。所述模擬復(fù)用開關(guān)芯片U1的型號采用ADG509F。與現(xiàn)有技術(shù)相比，本技術(shù)的有益效果在于：本技術(shù)采用控制模塊、模擬復(fù)用開關(guān)芯片和控制開關(guān)組成絕緣測試電路，實現(xiàn)了測試探針組合能自動快速地加載測試信號，提高了測試效率，并能實現(xiàn)非測試時間不帶有高壓測試源，從而提高了整個電路的安全性能，消除了測試的放電、打火問題，也降低了觸電的可能性；采用采樣電阻和采樣參考電阻實現(xiàn)了整個電路的多電阻分段采樣，也提高了絕緣電阻測試分辨率和測試范圍；采用分壓電阻、限流保護電阻和過壓保護電阻為測試采樣電路提供有效的保護。附圖說明圖1為本技術(shù)絕緣測試電路的原理圖。具體實施方式為了便于理解本技術(shù)，下面將參照相關(guān)附圖對本技術(shù)進行更全面的描述。附圖中給出了本技術(shù)的較佳實施例。但是，本技術(shù)可以以許多不同的形式來實現(xiàn)，并不限于本文所描述的實施例。相反地，提供這些實施例的目的是使對本技術(shù)的公開內(nèi)容的理解更加透徹全面。除非另有定義，本文所使用的所有的技術(shù)和科學術(shù)語與屬于本實用新型的
的技術(shù)人員通常理解的含義相同。本文中在本技術(shù)的說明書中所使用的術(shù)語只是為了描述具體的實施例的目的，不是旨在于限制本技術(shù)。參閱圖1所示，本技術(shù)提供的一種絕緣測試電路，該測試電路包括限流保護電阻R8、控制開關(guān)Q1、控制開關(guān)Q2、控制開關(guān)Q3、鉗位分壓保護電阻R9、被測絕緣電阻Rx1、采樣參考電阻R5、采樣電阻R6、采樣電阻R7、過壓保護電阻VAR、控制模塊C1和模擬復(fù)用開關(guān)芯片U1，其中模擬復(fù)用開關(guān)芯片U1的型號采用ADG509F。整個電路的連接關(guān)系：所述限流保護電阻R8的一端連接電源，另一端連接控制開關(guān)Q1的漏極，控制開關(guān)Q1的源極引出后分成兩個之路，其中一個支路連接控制開關(guān)Q3的漏極，控制開關(guān)Q3的源極連接鉗位分壓保護電阻R9后接地，控制開關(guān)Q3的控制端連接控制模塊C1，控制開關(guān)Q1源極的另一個支路連接被測絕緣電阻Rx1后連接控制開關(guān)Q2的漏極，控制開關(guān)Q2的源極引出后也分成兩路，其中一路連接過壓保護電阻VAR后接地，控制開關(guān)Q2源極的另一路依次連接采樣電阻R7、采樣電阻R6、采樣參考電阻R5后接地，采樣電阻R7和采樣電阻R6之間引出后連接模擬復(fù)用開關(guān)芯片U1的管腳5，控制開關(guān)Q2的源極和采樣電阻R7之間引出后連接模擬復(fù)用開關(guān)芯片U1的管腳6，模擬復(fù)用開關(guān)芯片U1的管腳4和管腳10～13連接后接在采樣電阻R6和采樣參考電阻R5之間，控制開關(guān)Q1和控制開關(guān)Q2的控制端均連接外部控制組合IO信號。上述中，各部分的原理和功能如下：限流保護電阻R8主要功能是限流、分壓作用，防止高壓測試源在測試回路產(chǎn)生大電流，避免給測試電路加入超額的電壓。控制開關(guān)Q1受外部控制組合IO信號控制，是待測試的探針(即被測絕緣電阻Rx1)選通測試源的開關(guān)，主要作用是給待測試的探針加載高壓測試源和選擇加載測試源的探針。控制模塊C1是快速加載高壓測試源控制開關(guān)Q3的控制單元，能夠根據(jù)測試數(shù)據(jù)自動識別當前測試探針組合，并根據(jù)相關(guān)測試探針的傳感器信號自動判斷測試探針組合是否安全接觸到被測PCB板，并迅速輸出相應(yīng)的關(guān)閉和打開兩種IO信號；其所有部件都是使用硬件邏輯電路設(shè)計，響應(yīng)速度相當高，使用其輸出的IO信號即可快速實現(xiàn)探針加載測試信號的動作。其輸出的IO信號傳輸至快速加載高壓測試源控制開關(guān)Q3的控制端。控制開關(guān)Q3是用于控制快速加載到高壓測試源的探針的電壓。在探針不滿足測試條件的狀態(tài)下，該控制開關(guān)Q3受絕緣測試的控制模塊C1控制打開，開關(guān)連通鉗位分壓保護電阻R9，使探針保持在一個安全電壓上，避免探針接觸PCB板的瞬間發(fā)生打火、放電；當探針滿足測試條件時，控制開關(guān)Q3被迅速關(guān)閉，測試探針上迅速恢復(fù)到高壓狀態(tài)，實本文檔來自技高網(wǎng)...

【技術(shù)保護點】
一種絕緣測試電路，其特征在于：該測試電路包括限流保護電阻R8、控制開關(guān)Q1、控制開關(guān)Q2、控制開關(guān)Q3、鉗位分壓保護電阻R9、被測絕緣電阻Rx1、采樣電阻R6、采樣電阻R7、過壓保護電阻VAR、控制模塊C1和模擬復(fù)用開關(guān)芯片U1；所述限流保護電阻R8的一端連接電源，另一端連接控制開關(guān)Q1的漏極，控制開關(guān)Q1的源極引出后分成兩個之路，其中一個支路連接控制開關(guān)Q3的漏極，控制開關(guān)Q3的源極連接鉗位分壓保護電阻R9后接地，控制開關(guān)Q3的控制端連接控制模塊C1，控制開關(guān)Q1源極的另一個支路連接被測絕緣電阻Rx1后連接控制開關(guān)Q2的漏極，控制開關(guān)Q2的源極引出后也分成兩路，其中一路連接過壓保護電阻VAR后接地，控制開關(guān)Q2源極的另一路依次連接采樣電阻R7和采樣電阻R6后接地，采樣電阻R7和采樣電阻R6之間引出后連接模擬復(fù)用開關(guān)芯片U1的管腳5，控制開關(guān)Q2的源極和采樣電阻R7之間引出后連接模擬復(fù)用開關(guān)芯片U1的管腳6，模擬復(fù)用開關(guān)芯片U1的管腳4和管腳10～13連接后接地，控制開關(guān)Q1和控制開關(guān)Q2的控制端均連接外部控制組合IO信號。

【技術(shù)特征摘要】
1.一種絕緣測試電路，其特征在于：該測試電路包括限流保護電阻R8、
控制開關(guān)Q1、控制開關(guān)Q2、控制開關(guān)Q3、鉗位分壓保護電阻R9、被測絕緣
電阻Rx1、采樣電阻R6、采樣電阻R7、過壓保護電阻VAR、控制模塊C1和
模擬復(fù)用開關(guān)芯片U1；
所述限流保護電阻R8的一端連接電源，另一端連接控制開關(guān)Q1的漏極，
控制開關(guān)Q1的源極引出后分成兩個之路，其中一個支路連接控制開關(guān)Q3的
漏極，控制開關(guān)Q3的源極連接鉗位分壓保護電阻R9后接地，控制開關(guān)Q3
的控制端連接控制模塊C1，控制開關(guān)Q1源極的另一個支路連接被測絕緣電
阻Rx1后連接控制開關(guān)Q2的漏極，控制開關(guān)Q2的源極引出后也分成兩路，
其中一路連接過壓保護電阻VAR后接地，控制開關(guān)Q2源極的另一路依次連...

【專利技術(shù)屬性】
技術(shù)研發(fā)人員：黃俊華，王星，翟學濤，楊朝輝，高云峰，
申請(專利權(quán))人：深圳市大族激光科技股份有限公司，深圳市大族數(shù)控科技有限公司，
類型：新型
國別省市：廣東;44