本實用新型專利技術提出一種配對晶體電光Q開關的測試支架，解決了現有技術中由于電光Q開關封裝簡單、電極外露而引起對測試人員安全性差的問題，一種配對晶體電光Q開關的測試支架，包括支架本體，所述支架本體設有頂端面、兩側端面、底端面，所述支架本體內設有空腔，便于放置電光Q開關，所述頂端面上設有圓孔和2個導線插孔，所述圓孔、導線插孔分別位于所述頂端面的中心處、邊緣處，所述支架本體的底端面上設有凹槽，所述凹槽的中部設有通孔，緊鄰所述導線插孔的側端面上固定有2個標準電極，測試支架內部中空，電光Q開關放置在支架內部，這種四周封閉設計，避免了在測試、調節的過程中，測試人員與裸露電極的誤接觸，導線由圓孔引出，放入導線插孔內，并固定，避免了在調節過程中，由于導線不固定引起的晃動、接觸導致的短路。（*該技術在2024年保護過期，可自由使用*）
【技術實現步驟摘要】
—種配對晶體電光Q開關的測試支架
本技術涉及激光元器件的脈沖激光調Q器件領域，特別是指一種配對晶體電光Q開關的測試支架。
技術介紹
電光Q開關是激光器中非常重要的一個組成部分，電光調Q技術是利用在晶體上施加電壓改變晶體的折射率，從而達到改變通過晶體激光的偏振態，與偏振片一起使用可以實現對激光的開關作用，利用了電光Q開關的脈沖激光，脈寬窄，峰值功率高。當前加工電光Q開關的晶體材料，有DKDP (磷酸二氘鉀)，LN(鈮酸鋰)，RTP (磷酸氧鈦銣)，KTP (磷酸氧鈦鉀)等。而針對RTP，KTP類雙軸晶體制作的電光Q開關，需兩片晶體配對使用，以便抵消單片晶體產生的對激光的自然雙折射，通用電極封裝形式如圖1所示，1、2為配對使用的第一晶體、第二晶體，3為第一電極、4為第二電極，此兩部分電極在電路中并聯，5為兩晶體的第三電極，起到固定開關，施加電壓的作用，電極5的兩側底角為45°的燕尾形，6為各部分電極引出的導線，在電極的底面設有螺紋孔，用于固定配對晶體電光Q開關，晶體與電極之間通過導電膠進行粘接。此種形式的封裝結構，電極和導線接頭部分都裸露在外，而且電光Q開關在測試和使用過程中，施加的電壓都在IkV以上，所以對測試人員的安全性影響很大。
技術實現思路
本技術提出一種配對晶體電光Q開關的測試支架，解決了現有技術中由于電光Q開關封裝簡單、電極外露而引起對測試人員安全性差的問題。本技術的技術方案是這樣實現的:一種配對晶體電光Q開關的測試支架，包括支架本體，所述支架本體設有頂端面、兩側端面、底端面，所述支架本體內設有空腔，便于放置電光Q開關，所述頂端面上設有圓孔和2個導線插孔，所述圓孔、導線插孔分別位于所述頂端面的中心處、邊緣處,所述支架本體的底端面上設有凹槽,所述凹槽的中部設有通孔，緊鄰所述導線插孔的側端面上固定有2個標準電極。作為優選的技術方案，所述凹槽的截面呈燕尾形，且所述凹槽的側邊與底邊呈45°夾角。作為優選的技術方案，緊鄰所述導線插孔的所述側端面上設有便于標準電極旋入的螺紋孔。本技術同
技術介紹
相比所產生的有益效果:測試支架內部中空，電光Q開關放置在支架內部，這種四周封閉設計，避免了在測試、調節的過程中，測試人員與裸露電極的誤接觸，導線由圓孔引出，放入導線插孔內，并固定，避免了測試人員的誤接觸，避免了在調節過程中，由于導線不固定引起的晃動、接觸導致的短路。【附圖說明】為了更清楚地說明本技術實施例或現有技術中的技術方案，下面將對實施例或現有技術描述中所需要使用的附圖作簡單地介紹，顯而易見地，下面描述中的附圖僅僅是本技術的一些實施例，對于本領域普通技術人員來講，在不付出創造性勞動性的前提下，還可以根據這些附圖獲得其他的附圖。圖1為配對晶體電光Q開關的結構示意圖；圖2為本技術一種配對晶體電光Q開關的測試支架結構示意圖。圖中:7_支架本體；8_凹槽；9-圓孔；10_第一導線插孔；11_第二導線插孔；12-第一標準電極；13_第二標準電極；14_通孔。【具體實施方式】下面將結合本技術實施例中的附圖，對本技術實施例中的技術方案進行清楚、完整地描述，顯然，所描述的實施例僅僅是本技術一部分實施例，而不是全部的實施例。基于本技術中的實施例，本領域普通技術人員在沒有作出創造性勞動前提下所獲得的所有其他實施例，都屬于本技術保護的范圍。如圖2所示，一種配對晶體電光Q開關的測試支架，包括支架本體7，支架本體7采用絕緣材料制成，如聚甲醛等，支架本體7設有頂端面、兩側端面、底端面，支架本體7內設有空腔，便于放置電光Q開關，頂端面上設有圓孔9和2個導線插孔，圓孔9、導線插孔分別位于頂端面的中心處、邊緣處，圓孔9用于引出導線，第一導線插孔為圖中10，第二導線插孔為圖中11，支架本體7的底端面上設有凹槽8，凹槽8的中部設有通孔14，通孔14用于將電光Q開關固定在測試支架上，緊鄰導線插孔的側端面上固定有2個標準電極，第一標準電極為圖中12，第一標準電極為圖中13，凹槽8的截面呈燕尾形，且凹槽的側邊與底邊呈45°夾角，緊鄰所述導線插孔的側端面上設有便于標準電極旋入的螺紋孔。實際使用中，將電光Q開關的電極5插入凹槽8內，使用螺絲通過通孔14擰緊到電光Q開關的螺紋孔內，將電光Q開關的兩條導線6，從圓孔9中引出，分別插入第一導線插孔10、第二導線插孔11中，導線無外皮部分全部插入孔內，將第一標準電極12、第二標準電極13旋入螺紋孔中，頂緊第一導線插孔10、第二導線插孔11內的導線，將兩標準電極與外部高壓電源相連，將支架本體固定在光學調整架上，放置于測試光路內，即可開始進行測試。以上所述僅為本技術的較佳實施例而已，并不用以限制本技術，凡在本技術的精神和原則之內，所作的任何修改、等同替換、改進等，均應包含在本技術的保護范圍之內。本文檔來自技高網...
【技術保護點】
一種配對晶體電光Q開關的測試支架，包括支架本體，所述支架本體設有頂端面、兩側端面、底端面，其特征在于：?所述支架本體內設有空腔，便于放置電光Q開關，?所述頂端面上設有圓孔和2個導線插孔，所述圓孔、導線插孔分別位于所述頂端面的中心處、邊緣處，?所述支架本體的底端面上設有凹槽，所述凹槽的中部設有通孔，?緊鄰所述導線插孔的側端面上固定有2個標準電極。
【技術特征摘要】
1.一種配對晶體電光Q開關的測試支架，包括支架本體，所述支架本體設有頂端面、兩側端面、底端面，其特征在于: 所述支架本體內設有空腔，便于放置電光Q開關， 所述頂端面上設有圓孔和2個導線插孔，所述圓孔、導線插孔分別位于所述頂端面的中心處、邊緣處， 所述支架本體的底端面上設有凹槽，所述凹槽的中部設有通孔， ...
【專利技術屬性】
技術研發人員：趙海泉，賈玉昌，王世武，
申請(專利權)人：青島海泰光電技術有限公司，
類型：新型
國別省市：山東;37
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