一種物體表面發射率現場校準方法技術

本發明專利技術公開了一種物體表面發射率現場校準方法。利用鉑電阻貼片測量涂料涂層的真實溫度值并進行發射率校準，作為校準標靶；將校準標靶緊密貼于現場校準物體上，使用紅外熱像儀對校準標靶為中心的局部現場校準物體的表面進行測溫，獲得現場物體表面的溫度以及校準標靶上涂料涂層的溫度數據；通過現場物體表面的溫度以及校準標靶上涂料涂層的溫度數據計算得到現場物體表面發射率數值并對現場物體表面發射率進行現場校準。本發明專利技術用測溫儀對現場校準對象測溫，具有測溫迅速，精度高，要求現場校準物體表面與校準標靶在同一平面，使背景因素和系統噪聲對現場校準目標和校準標靶的影響相同；適用于現場物體表面發射率進行校準，校準設備便于攜帶。

【技術實現步驟摘要】

【技術保護點】
一種物體表面發射率現場校準方法，其特征在于，該方法的步驟如下：a)首先利用A級鉑電阻貼片對發射率隨溫度變化幅度在±5％的涂料涂層的真實溫度值進行測量，并對涂料涂層進行發射率校準，校準完畢后將涂料涂層制作為校準標靶；b)現場校準物體表面發射率時，將校準標靶緊密貼于現場校準物體上，保持現場校準物體與校準標靶在同一背景同一平面，使用紅外熱像儀對校準標靶為中心的局部現場校準物體的表面進行測溫，得到現場校準物體表面的溫度以及校準標靶上涂料涂層的溫度數據；c)使用電子溫度計對環境溫度進行測量，獲得環境溫度數值；利用測得的校準標靶的涂料涂層溫度和環境溫度計算得到校準標靶的真實溫度；再利用紅外熱像儀測得的現場校準物體表面溫度和計算得到的現場校準物體真實溫度推導出準確的現場校準物體表面發射率數值并對現場校準物體表面發射率進行現場校準；公式如下：真實溫度：T0=f(ϵ0)=(T0′n-Tun)/ϵ0+Tun4]]>現場校準物體表面發射率：ϵ=f(ϵ0,Tu)=f(f(T0′)-f(Tu)f(T0)-f(Tu),Tu)]]>其中ε0為校準標靶涂料涂層的發射率，Tu為環境溫度，T0為現場校準物體真實溫度，T′0現場校準物體表面紅外熱像儀測溫所得溫度，n的取值根據紅外熱像儀探測器的不同取值不同。...

【技術特征摘要】

【專利技術屬性】
技術研發人員：陳樂，王則瑤，富雅瓊，
申請(專利權)人：中國計量學院，
類型：發明
國別省市：浙江;33