多激光平面度測量儀器制造技術(shù)

一種多激光平面度測量儀器，設(shè)置有架體和激光發(fā)射單元，架體設(shè)置有基座和測試平臺，基座位于測試平臺下方，激光發(fā)射單元裝配于基座，測試平臺位于激光發(fā)射單元上方，激光發(fā)射單元自下方發(fā)射激光對測試平臺上的測試樣品進行平面度檢測。還設(shè)置有位置調(diào)整機構(gòu)，位置調(diào)整機構(gòu)設(shè)置有驅(qū)動單元、滑動單元、移動座和絲桿。激光發(fā)射單元由多個激光發(fā)射器構(gòu)成，每個激光發(fā)射器距離所述測試平臺之間的間距均相等。激光發(fā)射單元還設(shè)置有激光間距調(diào)節(jié)單元，激光間距調(diào)節(jié)單元設(shè)置有調(diào)節(jié)板和多個激光裝配治具。該多激光平面度測量儀器能夠方便檢測不同厚度的測試樣品，具有結(jié)構(gòu)簡單、操作方便的特點。

【技術(shù)實現(xiàn)步驟摘要】
【專利摘要】一種多激光平面度測量儀器，設(shè)置有架體和激光發(fā)射單元，架體設(shè)置有基座和測試平臺，基座位于測試平臺下方，激光發(fā)射單元裝配于基座，測試平臺位于激光發(fā)射單元上方，激光發(fā)射單元自下方發(fā)射激光對測試平臺上的測試樣品進行平面度檢測。還設(shè)置有位置調(diào)整機構(gòu)，位置調(diào)整機構(gòu)設(shè)置有驅(qū)動單元、滑動單元、移動座和絲桿。激光發(fā)射單元由多個激光發(fā)射器構(gòu)成，每個激光發(fā)射器距離所述測試平臺之間的間距均相等。激光發(fā)射單元還設(shè)置有激光間距調(diào)節(jié)單元，激光間距調(diào)節(jié)單元設(shè)置有調(diào)節(jié)板和多個激光裝配治具。該多激光平面度測量儀器能夠方便檢測不同厚度的測試樣品，具有結(jié)構(gòu)簡單、操作方便的特點。【專利說明】多激光平面度測量儀器
本專利技術(shù)涉及激光測量儀器
，特別是涉及一種多激光平面度測量儀器。
技術(shù)介紹
平面度是反映平面的平整性的重要參數(shù)，通過平面度檢測可以獲得工件等表面的平整信息。進行表面平整度檢測通常是利用激光三角原理。進行物體表面平整度檢測，多以激光平面度測量儀器進行物體表面的平整度檢測。現(xiàn)有技術(shù)中，激光平面度檢測儀器通常包括一測試平面、位于測試平面上方的激光發(fā)射器。激光發(fā)射器與測試面之間的間距很短，因此，每次在檢測時都需要調(diào)節(jié)使激光發(fā)射器抬起，將測試樣品放置于測試平面，然后調(diào)整激光發(fā)射器與測試樣品測試面之間的間距。故，每次更換待測產(chǎn)品時需要把激光發(fā)射器抬起來才能進行更換，既不方便也浪費時間，影響了測量效率；同時每次下降時對不同厚度的產(chǎn)品，所需要下降的高度也不一樣，不免會存在一定的安全隱患，容易出現(xiàn)下降高度過多容易壓到待測工件從而損壞激光發(fā)射器等情況。因此，針對現(xiàn)有技術(shù)不足，提供一種結(jié)構(gòu)簡單、操作容易的多激光平面度測量儀器以克服現(xiàn)有技術(shù)不足甚為必要。
技術(shù)實現(xiàn)思路
本專利技術(shù)的目的在于避免現(xiàn)有技術(shù)的不足之處而提供一種多激光平面度測量儀器，該多激光平面度測量儀器具有結(jié)構(gòu)簡單、操作方便的特點。本專利技術(shù)的上述目的通過如下技術(shù)手段實現(xiàn)。 一種多激光平面度測量儀器，設(shè)置有架體和激光發(fā)射單元，所述架體設(shè)置有基座和用于放置測試樣品的測試平臺，所述基座位于所述測試平臺下方，所述激光發(fā)射單元裝配于所述基座，所述測試平臺位于所述激光發(fā)射單元上方，激光發(fā)射單元自下方發(fā)射激光對測試平臺上的測試樣品進行平面度檢測。上述多激光平面度測量儀器還設(shè)置有位置調(diào)整機構(gòu)，所述位置調(diào)整機構(gòu)裝配于所述基座， 所述位置調(diào)整機構(gòu)設(shè)置有驅(qū)動單元、滑動單元、移動座和絲桿； 所述活動座活動裝配于所述滑動單元，所述絲桿與所述移動座螺紋配合，所述驅(qū)動單元驅(qū)動所述絲桿轉(zhuǎn)動，所述激光發(fā)射單元固定裝配于所述移動座。上述滑動單元設(shè)置有滑軌和與所述滑軌匹配的滑槽，所述滑軌固定于所述基座，所述滑槽固定裝配于所述移動座。上述驅(qū)動單元設(shè)置為馬達(dá)或者氣缸。優(yōu)選的，上述激光發(fā)射單元由多個激光發(fā)射器構(gòu)成，每個激光發(fā)射器距離所述測試平臺之間的間距均相等。上述激光反射單元設(shè)置有三個激光發(fā)射器。上述激光發(fā)射單元還設(shè)置有激光間距調(diào)節(jié)單元，所述激光間距調(diào)節(jié)單元固定裝配于所述移動座，所述激光發(fā)射器裝配于所述激光間距調(diào)節(jié)單元。上述激光間距調(diào)節(jié)單元設(shè)置有調(diào)節(jié)板和多個激光裝配治具，所述激光發(fā)射器的數(shù)量與所述激光裝配治具的數(shù)量相等，每個激光發(fā)射器固定于對應(yīng)的一個激光裝配治具，所述調(diào)節(jié)板設(shè)置有矩形裝配框，所述激光裝配治具活動裝配于所述矩形裝配框并通過固定裝置定位。上述激光裝配治具設(shè)置有固定部及裝配部，所述裝配部與所述固定部固定連接，所述激光發(fā)射器固定于所述固定部，所述裝配部裝配于所述調(diào)節(jié)板。優(yōu)選的，上述多激光平面度測量儀器的架體還設(shè)置有基準(zhǔn)平面和多個相互之間平行的固定基準(zhǔn)，所述固定基準(zhǔn)一端與所述基座固定連接，所述固定基準(zhǔn)另一端與所述基準(zhǔn)平面固定連接，所述測試平臺設(shè)置于所述基準(zhǔn)平面。本專利技術(shù)的多激光平面度測量儀器，設(shè)置有架體和激光發(fā)射單元，所述架體設(shè)置有基座和用于放置測試樣品的測試平臺，所述基座位于所述測試平臺下方，所述激光發(fā)射單元裝配于所述基座，所述測試平臺位于所述激光發(fā)射單元上方，激光發(fā)射單元自下方發(fā)射激光對測試平臺上的測試樣品進行平面度檢測。該多激光平面度測量儀器將通過將激光發(fā)射單元放置于測試平臺下方，將激光發(fā)射單元與測試平臺之間的間距預(yù)先設(shè)置為等于激光發(fā)射器的工作間距，使得每次測試時激光發(fā)射單元與測試平臺之間的距離都是激光的工作間距，不需要像現(xiàn)有技術(shù)中那樣每次測試都必須抬起激光發(fā)射器并在放好樣品后調(diào)整樣品測試表面與激光發(fā)射器的距離，而是直接將測試樣品放于測試平臺即可進行測試，操作非常方便。此外，該多激光平面度測量儀器還具有結(jié)構(gòu)簡單的特點。【專利附圖】【附圖說明】利用附圖對本專利技術(shù)作進一步的說明，但附圖中的內(nèi)容不構(gòu)成對本專利技術(shù)的任何限制。圖1是本專利技術(shù)一種多激光平面度測量儀器實施例1的的結(jié)構(gòu)示意圖； 圖2是本專利技術(shù)一種多激光平面度測量儀器實施例2的結(jié)構(gòu)示意圖； 圖3是圖2的省略部分殼體后的結(jié)構(gòu)示意圖； 圖4是圖2的底座、激光發(fā)射單元及位置調(diào)整機構(gòu)部分的結(jié)構(gòu)示意圖； 圖5是圖4的分解不意圖； 圖6是本專利技術(shù)一種多激光平面度測量儀器實施例3的部分結(jié)構(gòu)示意圖。在圖1至圖6中，包括: 架體100、 基座110、 測試平臺120、 基準(zhǔn)平面130、 固定基準(zhǔn)140、 激光發(fā)射單元200、 激光發(fā)射器210、 調(diào)節(jié)板221、 激光裝配治具222、 固定部223、裝配部224、 驅(qū)動單元310、 滑軌321、滑槽322、 移動座330、 絲桿340、 測試樣品400。【具體實施方式】結(jié)合以下實施例對本專利技術(shù)作進一步描述。實施例1。一種多激光平面度測量儀器，如圖1所示，設(shè)置有架體100和激光發(fā)射單元200，架體100設(shè)置有基座110和用于放置測試樣品400的測試平臺120，基座110位于測試平臺120下方，激光發(fā)射單元200裝配于基座110，測試平臺120位于激光發(fā)射單元200上方，激光發(fā)射單元200自下方發(fā)射激光對測試平臺120上的測試樣品400進行平面度檢測。測試平臺120與激光發(fā)射單元200之間的間距只有符合激光發(fā)射器210的工作距離時，才能進行平面度檢測，這是激光進行平面度檢測的公知常識，在此不再贅述。激光發(fā)射單元200自下方發(fā)射激光至測試平臺120上的測試樣品400，因此，只要控制好激光發(fā)射單元200與測試平臺120之間的間距即可。調(diào)整激光發(fā)射單元200與測試平臺120之間的距離等于激光工作間距的方式有多種，如設(shè)置墊塊等。故，通過此結(jié)構(gòu)能夠容易控制激光發(fā)射單元200的工作間距，使用時不需要再進行調(diào)整。該多激光平面度測量儀器改變了傳統(tǒng)的激光發(fā)射單元200位于測試平臺120上方的常規(guī)思維局限，打破常規(guī)而將激光發(fā)射單元200置于測試平臺120下方，這樣，激光發(fā)射單元200與測試平臺120之間的間距容易控制為激光發(fā)射器210的工作間距，這樣每次測試時激光發(fā)射單元200與測試平臺120之間的距離都是激光的工作間距，不需要像現(xiàn)有技術(shù)中那樣每次測試都必須抬起激光發(fā)射器210并在放好樣品后調(diào)整樣品測試表面與激光發(fā)射器210的距離，而是直接將測試樣品400放于測試平臺120即可進行測試，操作非常方便。此外，該多激光平面度測量儀器還具有結(jié)構(gòu)簡單的特點。綜上所述，本專利技術(shù)的多激光平面度測量儀器具有操作方本文檔來自技高網(wǎng)...

【技術(shù)保護點】
一種多激光平面度測量儀器，其特征在于：設(shè)置有架體和激光發(fā)射單元，所述架體設(shè)置有基座和用于放置測試樣品的測試平臺，所述基座位于所述測試平臺下方，所述激光發(fā)射單元裝配于所述基座，所述測試平臺位于所述激光發(fā)射單元上方，激光發(fā)射單元自下方發(fā)射激光對測試平臺上的測試樣品進行平面度檢測。

【技術(shù)特征摘要】

【專利技術(shù)屬性】
技術(shù)研發(fā)人員：洪金龍，仇增華，
申請(專利權(quán))人：東莞市天勤儀器有限公司，
類型：發(fā)明
國別省市：廣東;44