待測信號查找系統及方法技術方案

一種待測信號查找系統及方法，該系統包括：第一加載模塊，用于加載電路板的硬件設計電路圖；查找模塊，用于查找電路板的各個待測信號在硬件設計電路圖上的圖面位置，根據各個待測信號在硬件設計電路圖上的圖面位置從硬件設計電路圖中獲得各個待測信號的子電路圖；存儲模塊，用于將各個待測信號及對應的子電路圖存儲至存儲設備；第二加載模塊，用于加載電路測試程序；確定模塊，用于當選擇電路測試程序中的測試指令時，確定該選擇的測試指令對應的待測信號，并從存儲設備中搜尋該確定的待測信號所對應的子電路圖；及顯示模塊，用于將搜尋到的子電路圖顯示在顯示設備上。本發明專利技術能夠快速準確地得到待測信號在硬件電路設計圖上的圖面位置。

【技術實現步驟摘要】

本專利技術涉及一種電路板測試系統及方法，特別是關于一種查找電路板的待測信號在硬件電路設計圖上位置的待測信號查找系統及方法。
技術介紹
在電路板開發過程中，為了驗證電路板是否工作正常，測試人員需要運行電路測試程序對各個待測信號進行測試。每個待測信號在硬件電路設計圖上有對應的圖面位置，為了從電路圖上得到待測信號的圖面位置，測試人員需要反復查找電路圖，因而耗費了大量的精力和時間。
技術實現思路
鑒于以上內容，有必要提供一種待測信號查找系統，能夠快速準確地得到電路板的待測信號在硬件電路設計圖上的圖面位置。此外，還有必要提供一種待測信號查找方法，能夠快速準確地得到電路板的待測信號在硬件電路設計圖上的圖面位置。一種待測信號查找系統，運行于數據處理設備中，該系統包括：第一加載模塊，用于加載電路板的硬件設計電路圖；查找模塊，用于查找電路板的各個待測信號在硬件設計電路圖上的圖面位置，根據各個待測信號在硬件設計電路圖上的圖面位置從硬件設計電路圖中獲得各個待測信號的子電路圖；存儲模塊，用于將各個待測信號及對應的子電路圖存儲至存儲設備；第二加載模塊，用于加載電路測試程序；確定模塊，用于當選擇電路測試程序中的測試指令時，確定該選擇的測試指令對應的待測信號，并從存儲設備中搜尋該確定的待測信號所對應的子電路圖；及顯示模塊，用于將搜尋到的子電路圖顯示在顯示設備上。一種待測信號查找方法，應用于數據處理設備中，該方法包括：第一加載步驟，加載電路板的硬件設計電路圖；查找步驟，查找電路板的各個待測信號在硬件設計電路圖上的圖面位置，根據各個待測信號在硬件設計電路圖上的圖面位置從硬件設計電路圖中獲得各個待測信號的子電路圖；存儲步驟，將各個待測信號及對應的子電路圖存儲至存儲設備；第二加載步驟，加載電路測試程序；確定步驟，當選擇電路測試程序中的測試指令時，確定該選擇的測試指令對應的待測信號，并從存儲設備中搜尋該確定的待測信號所對應的子電路圖；及顯示步驟，將搜尋到的子電路圖顯示在顯示設備上。本專利技術在利用電路測試程序對電路板進行測試時能夠快速準確地得到待測信號在硬件電路設計圖上的圖面位置，提高了測試效率，減少了測試時間。附圖說明圖1為本專利技術待測信號查找系統較佳實施例的應用環境示意圖。圖2為圖1中待測信號查找系統的功能模塊圖。圖3為本專利技術待測信號查找方法較佳實施例的流程圖。圖4為在顯示設備上顯示搜索到的待測信號的子電路圖的示意圖。主要元件符號說明待測信號查找系統10電路測試程序11數據處理設備12存儲設備13處理器14顯示設備15第一加載模塊200查找模塊210存儲模塊220第二加載模塊230確定模塊240顯示模塊250如下具體實施方式將結合上述附圖進一步說明本專利技術。具體實施方式參閱圖1所示，是本專利技術待測信號查找系統較佳實施例的應用環境示意圖。所述待測信號查找系統10及電路測試程序11運行于數據處理設備12中。該數據處理設備12還包括存儲設備13、處理器14及顯示設備15。所述存儲設備13存儲電路測試程序11及待測信號查找系統10的程序代碼及運行過程中所需的數據。所述處理器14執行待測信號查找系統10及電路測試程序11的程序代碼，以在利用電路測試程序11對電路板進行測試時能夠快速準確地獲得電路板的待測信號在硬件電路設計圖上的圖面位置。參閱圖2所示，是圖1中待測信號查找系統的功能模塊圖。所述待測信號查找系統10包括第一加載模塊200、查找模塊210、存儲模塊220、第二加載模塊230、確定模塊240及顯示模塊250。所述第一加載模塊200用于加載電路板的硬件設計電路圖。在本實施例中，所述硬件設計電路圖包括原理圖和布局布線圖。原理圖表示電路板包含的電子元件及電子元件的連線關系。布局布線圖表示電子元件在電路板的實際位置及連線。所述查找模塊210用于查找電路板的各個待測信號在硬件設計電路圖上的圖面位置，根據各個待測信號在硬件設計電路圖上的圖面位置從硬件設計電路圖中獲得各個待測信號的子電路圖。每個待測信號對應至少一個子電路圖。每個待測信號的子電路圖包含該待測信號。在本實施例中，所述硬件設計電路圖是數字圖像（例如JPG格式圖像），查找模塊210利用現有的圖像匹配算法查找各個待測信號在電路圖上的圖面位置，獲得各個待測信號的子電路圖。在本實施例中，預先將所述硬件設計電路圖分割為多個子電路圖，若一個子電路圖包含指定待測信號，則該子電路圖是該指定待測信號的子電路圖。在分割硬件設計電路圖時，可以以電子元件為單位進行分割。所述存儲模塊220用于將各個待測信號及對應的子電路圖存儲至存儲設備13。在本實施例中，所述存儲模塊220建立各個待測信號及對應的子電路圖的數據庫，將該數據庫存儲到存儲設備13。所述第二加載模塊230用于加載電路測試程序11。所述電路測試程序11包括多個測試指令，每個測試指令對應一個待測信號，用于對該待測信號進行測試。例如，電路測試程序11包括測試指令“Set?LOW?PS_ON1”，表示將待測信號PS_ON1設置為低電平。又如，電路測試程序11包括測試指令“Set?HIGH?PS_ON1”，表示將待測信號PS_ON1設置為高電平。所述確定模塊240用于當用戶選擇電路測試程序11中的測試指令時，確定該選擇的測試指令對應的待測信號，并從存儲設備13中搜尋該確定的待測信號所對應的子電路圖。例如，當用戶選擇測試指令“Set?LOW?PS_ON1”時，確定該選擇的測試指令對應的待測信號是PS_ON1，從存儲設備13中搜尋到該待測信號包括三個子電路圖FIG1_PS_ON1、FIG2_PS_ON1及FIG3_PS_ON1。所述顯示模塊250用于將搜尋到的待測信號的子電路圖顯示在顯示設備15上。例如，顯示模塊250將待測信號PS_ON1的三個子電路圖FIG1_PS_ON1、FIG2_PS_ON1及FIG3_PS_ON1顯示在顯示設備15上。參閱圖4所示，是在顯示設備15上顯示搜索到的待測信號的子電路圖的示意圖。此時，選擇的測試指令為“Set?LOW?PS_ON1”，對應的待測信號是PS_ON1，搜索到的子電路圖是FIG1_PS_ON1、FIG2_PS_ON1及FIG3_PS_ON1。參閱圖3所示，是本專利技術待測信號查找方法較佳實施例的流程圖。步驟S301，第一加載模塊200加載電路板的硬件設計電路圖。在本實施例中，所述硬件設計電路圖包括原理圖和布局布線圖。原理圖表示電路板包含的電子元件及電子元件的連線關系。布局布線圖表示電子元件在電路板的實際位置及連線。步驟S302，查找模塊210查找電路板的各個待測信號在硬件設計電路圖上的圖面位置，根據各個待測信號在硬件設計電路圖上的圖面位置從硬件設計電路圖中獲得各個待測信號的子電路圖。每個待測信號對應至少一個子電路圖。每個待測信號的子電路圖包含該待測信號。在本實施例中，所述硬件設計電路圖是數字圖像（例如JPG格式圖像），查找模塊210利用現有的圖像匹配算法查找各個待測信號在電路圖上的圖面位置，獲得各個待測信號的子本文檔來自技高網...

【技術保護點】
一種待測信號查找系統，運行于數據處理設備中，其特征在于，該系統包括：第一加載模塊，用于加載電路板的硬件設計電路圖；查找模塊，用于查找電路板的各個待測信號在硬件設計電路圖上的圖面位置，根據各個待測信號在硬件設計電路圖上的圖面位置從硬件設計電路圖中獲得各個待測信號的子電路圖；存儲模塊，用于將各個待測信號及對應的子電路圖存儲至存儲設備；第二加載模塊，用于加載電路測試程序；確定模塊，用于當選擇電路測試程序中的測試指令時，確定該選擇的測試指令對應的待測信號，并從存儲設備中搜尋該確定的待測信號所對應的子電路圖；及顯示模塊，用于將搜尋到的子電路圖顯示在顯示設備上。

【技術特征摘要】
1.一種待測信號查找系統，運行于數據處理設備中，其特征在于，該系統包括：
第一加載模塊，用于加載電路板的硬件設計電路圖；
查找模塊，用于查找電路板的各個待測信號在硬件設計電路圖上的圖面位置，根據各個待測信號在硬件設計電路圖上的圖面位置從硬件設計電路圖中獲得各個待測信號的子電路圖；
存儲模塊，用于將各個待測信號及對應的子電路圖存儲至存儲設備；
第二加載模塊，用于加載電路測試程序；
確定模塊，用于當選擇電路測試程序中的測試指令時，確定該選擇的測試指令對應的待測信號，并從存儲設備中搜尋該確定的待測信號所對應的子電路圖；及
顯示模塊，用于將搜尋到的子電路圖顯示在顯示設備上。
2.如權利要求1所述的待測信號查找系統，其特征在于，所述硬件設計電路圖包括原理圖和布局布線圖。
3.如權利要求1所述的待測信號查找系統，其特征在于，所述硬件設計電路圖被預先分割為多個子電路圖，若一個子電路圖包含指定待測信號，則該子電路圖是該指定待測信號的子電路圖。
4.如權利要求3所述的待測信號查找系統，其特征在于，所述硬件設計電路圖以電子元件為單位進行分...

【專利技術屬性】
技術研發人員：蘇圣偉，王柏崴，林伯鴻，
申請(專利權)人：鴻富錦精密工業深圳有限公司，鴻海精密工業股份有限公司，
類型：發明
國別省市：廣東;44