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本發(fā)明提供了一種可延長密封器件候檢時間的質(zhì)譜檢漏預(yù)充氦法，用于判斷被檢預(yù)充氦密封器件的漏率指標(biāo)是否合格，屬于真空檢漏與儀器技術(shù)領(lǐng)域。解決了候檢時間長，從而可能存在的大漏孔處于分子流狀態(tài)，不能靠粗檢鑒別的問題，從而保持了預(yù)充氦法的主導(dǎo)地位...

本發(fā)明公開一種軸向與徑向復(fù)合加載軸承試驗(yàn)裝置，試驗(yàn)裝置包括電機(jī)及電機(jī)支座、主軸、支撐軸承及其軸承座、測試軸承、用于加載軸向和徑向力的加載軸承、加載徑向力的彈簧裝置和加載軸向力的彈簧裝置；加載軸承設(shè)置于測試軸承和支撐軸承的外側(cè)，軸承外套底...

本發(fā)明公開一種成對軸承振動信號采集裝置，采集裝置包括電機(jī)、電機(jī)支座、聯(lián)軸器、主軸、鎖定圈、鎖定螺釘、加載隔圈和兩套軸承，電機(jī)固定于電機(jī)支座，電機(jī)軸通過聯(lián)軸器連接主軸；主軸上設(shè)有具有連接法蘭的鎖定圈，鎖定圈上設(shè)有可將鎖定圈鎖緊于主軸上的鎖...

本發(fā)明公開一種軸承振動信號采集試驗(yàn)裝置，試驗(yàn)裝置包括機(jī)座和連接電機(jī)軸的主軸，主軸由兩個固定于機(jī)座的軸承座上的軸承支撐，兩個軸承既為支撐軸承又為用于采集軸承內(nèi)圈轉(zhuǎn)速的測試軸承，兩個測試軸承之間的主軸上設(shè)有用于加載軸向力的加載軸承，主軸上加...

本發(fā)明針對空間用不同類型存儲器的單粒子效應(yīng)問題，設(shè)計(jì)了一種空間通用存儲器單粒子效應(yīng)監(jiān)測系統(tǒng)，包括上位機(jī)、嵌入式控制器、可編程直流電源、數(shù)據(jù)采集模塊、高速數(shù)字波形產(chǎn)生器及分析儀、溫度采集模塊、譯碼器A和譯碼器B、16個繼電器、針接口和測試...

本發(fā)明涉及一種在高能電子輻照下高壓電纜靜電放電試驗(yàn)的系統(tǒng)和方法，屬于測量領(lǐng)域。所述系統(tǒng)包括：束流積分儀、法拉第筒、電子加速器、真空室、真空抽氣系統(tǒng)、試驗(yàn)臺、樣品夾具、高壓電纜工作模擬系統(tǒng)。所述方法包括開啟真空抽氣系統(tǒng)對真空室抽真空、開啟...

本發(fā)明公開了一種監(jiān)測航天器表面電位振動電容式傳感器的布置與優(yōu)化方法，屬于抗輻射加固技術(shù)領(lǐng)域。所述方法步驟如下：（1）傳感器的幾何結(jié)構(gòu)布置，所述傳感器包括：電荷收集板、接地殼體、補(bǔ)償電極、接地電極、感應(yīng)電極和絕緣材料；（2）建立計(jì)算模型；...

本發(fā)明公開了一種測量真空容器容積比的裝置及方法，屬于測量技術(shù)領(lǐng)域。所述裝置包括：氣瓶、第一真空閥門、穩(wěn)壓室、第二真空閥門、未知容積的小容器、第一溫度計(jì)組、第三真空閥門、未知容積的大容器、第二溫度計(jì)組、真空計(jì)、第四真空閥門和抽氣系統(tǒng)。所述...

本發(fā)明屬于真空計(jì)量技術(shù)領(lǐng)域，具體涉及一種人為等離子體分布特性的測試系統(tǒng)。它包括：電推進(jìn)（1）、朗繆爾探針、阻滯勢分析儀、真空系統(tǒng)（6）及信號收集裝置；電推進(jìn)（1）安裝于真空系統(tǒng)（6）的內(nèi)部；朗繆爾探針的探頭表面采用離子濺射鍍金處理，所鍍...

本發(fā)明公開了一種真空或壓力標(biāo)準(zhǔn)裝置之間量值比對的方法，屬于測量技術(shù)領(lǐng)域。所述方法采用的裝置包括：第一抽氣系統(tǒng)、第一真空閥門、第一真空或壓力標(biāo)準(zhǔn)裝置、第二真空閥門、第三真空閥門、零點(diǎn)指示器、第四真空閥門、第二真空或壓力標(biāo)準(zhǔn)裝置、第五真空閥...

本發(fā)明涉及一種大功率部件內(nèi)部充放電特性模擬試驗(yàn)系統(tǒng)及方法，屬于空間測試技術(shù)領(lǐng)域。所述系統(tǒng)包括電子加速器、真空抽氣組、真空靶室、測試室，以及位于真空靶室和測試室之間的電流環(huán)；在真空靶室內(nèi)設(shè)有樣品臺、絕緣支架、非接觸式電位計(jì)探頭、法拉第杯；...

本發(fā)明涉及一種真空中非金屬材料質(zhì)量損失的原位監(jiān)測系統(tǒng)及方法，屬于材料特性測試領(lǐng)域。所述系統(tǒng)包括主真空室、連桿、抽氣裝置、副真空室、高真空插板閥、樣品舟、石英晶體微量天平、低溫冷沉；所述方法包括設(shè)定低溫冷沉和石英晶體微量天平的溫度，向副真...

本發(fā)明公開了一種空間低能電子和質(zhì)子的探測方法，具體涉及能量范圍為0.1~1MeV的負(fù)電子和質(zhì)子的探測方法，屬于空間帶電粒子探測領(lǐng)域。所述方法步驟如下：（1）讓空間中的粒子通過同一均勻磁場，負(fù)粒子和正粒子向不同的方向偏轉(zhuǎn)，實(shí)現(xiàn)負(fù)粒子和正粒...

本發(fā)明針對現(xiàn)有單粒子多位翻轉(zhuǎn)監(jiān)測系統(tǒng)的不足，設(shè)計(jì)了一種單粒子多位翻轉(zhuǎn)監(jiān)測系統(tǒng)。主要由上位機(jī)、高速測控單元、高可靠監(jiān)測單元、被測存儲器六部分組成，其中高可靠監(jiān)測單元包括高速緩沖接口、比對監(jiān)測器、存儲器回讀控制器、測控單元回讀控制器、數(shù)據(jù)緩...

本發(fā)明屬于真空計(jì)量技術(shù)領(lǐng)域，具體涉及一種高能電子充電電流的測試系統(tǒng)。它包括：真空系統(tǒng)（9）、放置在真空系統(tǒng)（9）內(nèi)的電子加速器（10）與電子屏蔽裝置、以及放置在真空系統(tǒng)（9）外部的靜電計(jì)；電子屏蔽裝置中包含4個測試極，電子加速器（10）...

本發(fā)明提出了一種導(dǎo)電黑色聚酰亞胺薄膜空間環(huán)境作用下失效分析方法，用于我國黑色聚酰亞胺薄膜空間環(huán)境作用下的失效分析。本發(fā)明利用地面環(huán)模設(shè)備對導(dǎo)電黑色聚酰亞胺薄膜進(jìn)行其空間環(huán)境效應(yīng)模擬試驗(yàn)，研究其在空間環(huán)境作用下的性能退化規(guī)律；用表面分析技...

本發(fā)明屬于真空計(jì)量技術(shù)領(lǐng)域，具體涉及一種二次電子發(fā)射角分布的測試系統(tǒng)。一種二次電子發(fā)射角分布的測試系統(tǒng)，其特征是，它包括：電子槍（1）、法拉第筒（2）、升降裝置（3）、二次電子收集環(huán)、絕緣環(huán)（8）、樣品架（9）、靜電計(jì)以及真空系統(tǒng)（11...

本發(fā)明公開了一種具有應(yīng)力消除作用的電容薄膜壓力傳感器，屬于真空計(jì)量技術(shù)領(lǐng)域。所述傳感器包括：金屬薄膜、金屬導(dǎo)電層、陶瓷圓盤、金屬外殼、電極外接導(dǎo)體、軸承固定結(jié)構(gòu)和滾柱軸承；滾柱軸承和軸承固定結(jié)構(gòu)構(gòu)成滾柱軸承結(jié)構(gòu)。所述傳感器有效減小了固定...

本發(fā)明公開了一種用氣體累積法測量真空容器容積比的溫度修正方法，屬于測量技術(shù)領(lǐng)域。所述方法通過對氣體累積法測量真空容器容積比過程中存在的溫度梯度和溫漂等溫度影響因素的修正，降低了運(yùn)用氣體累積法測量真空容器容積比的測量不確定度。采用本發(fā)明所...

本發(fā)明涉及一種介質(zhì)材料內(nèi)部電荷及電場分布原位測試系統(tǒng)及方法，具體涉及一種能夠原位測試星用介質(zhì)材料的內(nèi)部電荷及電場分布的系統(tǒng)及方法，屬于測量領(lǐng)域。所述系統(tǒng)包括真空罐、上電極、電磁閥、抽真空系統(tǒng)、直流高壓電源、測試信號線、工控機(jī)、示波器、屏...