本發明公開了一種基于預校正光柵投影的三維面形測量方法，包括以下步驟：通過計算機產生標準的預校正光柵條紋圖像；利用投影儀將預校正光柵條紋圖像投影到被測量物體上，并確保投影到參考面上的光柵條紋等周期性分布；利用攝像機拍攝投影到被測量物體上對...