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本發明實施例提供一種基于特征點匹配算法的極反缺陷檢測方法及檢測裝置，屬于工業視覺檢測技術領域。該方法包括：首先獲取PCB板的待檢測圖像、檢測模板圖像及檢測模板圖像中的待匹配點坐標；然后將待檢測圖像、檢測模板圖像及待匹配點坐標輸入至預設神經網...該專利屬于深圳智芯微電子科技有限公司所有，僅供學習研究參考，未經過深圳智芯微電子科技有限公司授權不得商用。
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